专利汇可以提供选择性离子筛除飞行时间质量分析器及其实现方法与应用专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 涉及一种选择性离子筛除飞行时间 质量 分析器,包括依次相连的推斥区、 加速 区、无场漂移区、反射区和检测区,推斥区、反射区与检测区呈“V”型组合排列,反射区内设有反射板,反射板上引入时序脉冲 电压 。本发明还涉及选择性离子筛除飞行时间质量分析器的实现方法和应用。本发明利用反射板中接入时序脉冲电压,对待测离子反射至检测区,对需筛除的离子加速引向反射板导走,从而实现对背景或载气离子的筛除,有利于消除这些气体对质谱检测的干扰,提升检测器动态范围,同时大大提高检测器(MCP)使用寿命,其方法实现简单方便,效果好,成本低。本发明可应用于气体分析仪器检测。,下面是选择性离子筛除飞行时间质量分析器及其实现方法与应用专利的具体信息内容。
1.一种选择性离子筛除飞行时间质量分析器的离子筛除方法,其特征在于:包括依次相连的推斥区(1)、加速区(2)、无场漂移区(3)、反射区(4)和检测区(5),所述推斥区(1)、反射区(4)与检测区(5)呈“V”型组合排列,所述反射区(4)内设有反射板(6),所述反射板(6)上引入时序脉冲电压;
在反射板(6)引入时序脉冲电压,当待测离子通过反射区(4)时,反射电压幅值处于正常反射值,在反射区(4)形成反射电场,待测离子经反射后继续飞行至检测区(5)得以检测,当需筛除的离子进入反射区(4)时,反射电压切换至反射脉冲,在反射区(4)形成筛除电场,将离子加速引向反射板(6),并最终撞上反射板(6)被导走。
2.根据权利要求1所述的选择性离子筛除飞行时间质量分析器的离子筛除方法,其特征在于:需筛除的离子进入反射区(4)时,反射板(6)施加低压反射脉冲,使反射区(4)的电场迅速减小或变为向下的电场。
3.根据权利要求1所述的选择性离子筛除飞行时间质量分析器的离子筛除方法,其特征在于:根据不同质荷比离子到达反射区(4)时间对反射脉冲电压的延迟、幅值及宽度进行调整,实现选择性筛除。
4.根据权利要求2所述的选择性离子筛除飞行时间质量分析器的离子筛除方法,其特征在于:离子引入推斥区(1)方向与离子推斥及加速方向垂直。
5.根据权利要求2所述的选择性离子筛除飞行时间质量分析器的离子筛除方法,其特征在于:在所述推斥区(1)施加脉冲推斥电压,将离子引入加速区(2)。
6.根据权利要求1所述的选择性离子筛除飞行时间质量分析器的离子筛除方法,其特征在于:所述检测区(5)设有由双片微通道板组成的离子检测器(7)。
7.根据权利要求1所述的选择性离子筛除飞行时间质量分析器的离子筛除方法,其特征在于:所述推斥区(1)、加速区(2)、反射区(4)均设有栅网结构,保证各区域电场相互隔离独立。
8.根据权利要求1所述的选择性离子筛除飞行时间质量分析器的离子筛除方法,其特征在于:所述反射区(4)包括接在无场漂移区(3)后端的第一反射区(41)和接在第一反射区(41)后端的第二反射区(42),所述反射板(6)位于第二反射区(42)。
标题 | 发布/更新时间 | 阅读量 |
---|---|---|
一种宽能谱白光中子共振照相探测器及探测方法 | 2020-05-08 | 520 |
一种用于培养肝癌切片的微流控芯片及其使用方法 | 2020-05-14 | 897 |
微通道板及电子倍增体 | 2020-05-15 | 169 |
一种测量分子转动能级结构的方法 | 2020-05-08 | 579 |
一种锂电池微纳米正极材料的制备方法 | 2020-05-11 | 449 |
基于二值调制的成像加速方法及装置 | 2020-05-12 | 728 |
一种溶液自动引入型电泳微芯片 | 2020-05-08 | 323 |
一种基于微通道板结构的光电倍增管的防水封装 | 2020-05-14 | 693 |
一种可便携的组合式X光机 | 2020-05-16 | 69 |
一种多阵面辐射料位计 | 2020-05-15 | 700 |
高效检索全球专利专利汇是专利免费检索,专利查询,专利分析-国家发明专利查询检索分析平台,是提供专利分析,专利查询,专利检索等数据服务功能的知识产权数据服务商。
我们的产品包含105个国家的1.26亿组数据,免费查、免费专利分析。
专利汇分析报告产品可以对行业情报数据进行梳理分析,涉及维度包括行业专利基本状况分析、地域分析、技术分析、发明人分析、申请人分析、专利权人分析、失效分析、核心专利分析、法律分析、研发重点分析、企业专利处境分析、技术处境分析、专利寿命分析、企业定位分析、引证分析等超过60个分析角度,系统通过AI智能系统对图表进行解读,只需1分钟,一键生成行业专利分析报告。