Rasterkraftmikroskop
专利汇可以提供Rasterkraftmikroskop专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且Für ein Rasterkraftmikroskop mit einer federnd gelagerten Tastspitze, die mit Abstand zu einer Objektoberfläche gehalten ist und relativ zur Objektoberfläche bewegbar ist, wird zur Registrierung der Relativbewegung zwischen Tastspitze und Objektoberfläche eine die Bewegung elektrisch kapazitiv erfassende Meßeinrichtung eingesetzt. Die Tastspitze 4 ist mit einer Kondensatorelektrode 10 fest verbunden, die gegenüber einer bewegbaren Referenzelektrode 11 elektrisch isoliert angeordnet ist. Die sich verändernde elektrische Kapazität zwischen Kondensatorelektrode 10 und Referenzelektrode 11 wird von der Meßeinrichtung registriert.，下面是Rasterkraftmikroskop专利的具体信息内容。
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