专利汇可以提供利用AFM的探针制备图形衬底的定位纳米压印系统专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且一种利用AFM的探针制备图形衬底的 定位 纳米压印系统,该系统包括:一与其他 真空 生长设备相兼容的超高真空室;一 原子 力 显微镜 ,其固定在超高真空室的底部;一衬底托固定装置,其固定在 原子力显微镜 的上面,该衬底托固定装置的中间有一孔洞;一衬底托,其位于衬底托固定装置中间的孔洞上面;一 机械臂 ,其固定在超高真空室的上面,用于衬底托的传递;一探针置换腔,其固定在超高真空室的 侧壁 上,用于原子力显微镜探针的更换;一 监控系统 ,用于原子力显微镜制备压印图形的控制。本 发明 具有图形 精度 高(高于50nm)、 外延 损伤小和利于制备高集成度阵列光 电子 器件等特点。,下面是利用AFM的探针制备图形衬底的定位纳米压印系统专利的具体信息内容。
1.一种利用原子力显微镜探针制备图形衬底的定位纳米压印系统,该系统包括:
一与其他真空生长设备相兼容的超高真空室;
一原子力显微镜,其固定在超高真空室的底部;
一衬底托固定装置,其固定在原子力显微镜的上面,该衬底托固定装置的中间有一孔洞;
一衬底托,其位于衬底托固定装置中间的孔洞上面;
一机械臂,其固定在超高真空室的上面,用于衬底托的传递;
一探针置换腔,其固定在超高真空室的侧壁上,用于原子力显微镜探针的更换;
一监控系统,用于原子力显微镜制备压印图形的控制。
2.根据权利要求1所述的利用原子力显微镜探针制备图形衬底的定位纳米压印系统,其中的超高真空室真空度为1E-8Torr到1E-10Torr,利于维持外延衬底的清洁度。
3.根据权利要求1所述的利用原子力显微镜探针制备图形衬底的定位纳米压印系统,其中原子力显微镜具有纳米压印功能,该原子力显微镜的探针方向朝上,探针的材料为SiN强度较大的材料。
4.根据权利要求1所述的利用原子力显微镜探针制备图形衬底的定位纳米压印系统,其中监控系统包括对纳米压印的设定、控制以及衬底托上的衬底表面的成像。
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