专利汇可以提供局部放电检测设备校验仪专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且一种局部放电检测设备校验仪,用于对局放检测设备的多项性能进行校正。其技术方案是:所述校验仪由 单片机 、校准脉冲 信号 发生器、测试网络、 正弦波 信号发生器和冲击 电压 发生器组成,所述校准脉冲信号发生器的 控制信号 输入端接单片机,脉冲信号输出端经测试网络接局放检测设备;所述正弦波信号发生器和 冲击电压发生器 的控制信号输入端接单片机,输出端接局放检测设备。本实用新型将校准脉冲信号发生器、测试网络、正弦波信号发生器和冲击电压发生器有机地组合在一起,由单片机统一控制,能输出多种校准信号,可对局部放电检测设备的多种性能进行校验,大大简化了校验操作过程,提高了校验的准确性和工作效率。,下面是局部放电检测设备校验仪专利的具体信息内容。
1.一种局部放电检测设备校验仪,其特征是,它由单片机(U1)、校准脉冲信号发生器、测试网络、正弦波信号发生器和冲击电压发生器组成,所述校准脉冲信号发生器的控制信号输入端接单片机(U1),脉冲信号输出端经测试网络接局放检测设备;所述正弦波信号发生器和冲击电压发生器的控制信号输入端接单片机(U1),输出端接局放检测设备。
2.根据权利要求1所述局部放电检测设备校验仪,其特征是,所述校准脉冲信号发生器由第一运算放大器(F1)、第一水银继电器(J1)、第二水银继电器(J2)、第一电容(C1)和两个电阻组成,所述第一运算放大器(F1)的同相输入端接单片机(U1)的DAC1端口,输出端依次经第一水银继电器(J1)和第二水银继电器(J2)的常开触点接测试网络,反相输入端经第一电阻(R1)接输出端并经第二电阻(R2)接地,所述第一电容(C1)一端接地,一端接第一水银继电器(J1)与第二水银继电器(J2)的常开触点的串接点,第一水银继电器(J1)和第二水银继电器(J2)的控制线圈分别接单片机(U1)的P0.1和P0.0端口。
3.根据权利要求1或2所述局部放电检测设备校验仪,其特征是,所述正弦波信号发生器由DDS芯片(U2)、滤波器(LB)、第二运算放大器(F2)、数字电位器(U3)和两个电阻组成,所述DDS芯片(U2)的D7端接单片机(U1)的P0.4端口,Iout端输出的正弦波信号依次经滤波器(LB)和第三电阻(R3)接至第二运算放大器(F2)的同相输入端,所述第二运算放大器(F2)的输出端接局放检测设备,反相输入端经第四电阻(R4)接地,所述数字电位器(U3)的WB端接滤波器(LB)的输出端,HB端接第二运算放大器(F2)的输出端,DIN端接单片机(U1)的P3.1端口。
4.根据权利要求3所述局部放电检测设备校验仪,其特征是,所述冲击电压发生器由继电器(J5)、电感(L)、两个晶闸管、两个电容和两个电位器组成,第二电容(C2)一端接地,一端经继电器(J5)的常开触点与电源正极连接,继电器(J5)的控制线圈接单片机(U1)的P3.6端口,第一晶闸管(VT1)的阳极接第二电容(C2)的非接地端,阴极经第一电位器(W1)接地并依次经第二电位器(W2)、电感(L)和第三电容(C3)接地,控制极接单片机(U1)的P3.5端口,第三电容(C3)两端输出的冲击电压信号接局放检测设备,第二晶闸管(VT2)并接在第三电容(C3)上,其控制极接单片机(U1)的P3.3端口。
5.根据权利要求4所述局部放电检测设备校验仪,其特征是,所述测试网络由八个电容、两个转换开关和局放检测输入变压器(Z)组成,第一转换开关(S1)的主触头接校准脉冲信号发生器的输出端,四个分触头分别经四个电容接地,第二转换开关(S2)的主触头经局放检测输入变压器(Z)接局放检测设备,四个分触头分别经四个电容接脉冲发生器的输出端。
6.根据权利要求5所述局部放电检测设备校验仪,其特征是,所述校准脉冲信号发生器的构成中还包括第三水银继电器(J3)、第四水银继电器(J4)和第四电容(C4),第三水银继电器(J3)与第四水银继电器(J4)的常开触点串联连接后接于第一运算放大器(F1)的输出端与测试网络之间,它们的控制线圈分别接单片机(U1)的P0.2和P0.3端口,所述第四电容(C4)一端接地,一端接第三水银继电器(J3)与第四水银继电器(J4)的常开触点的串接点。
7.根据权利要求6所述局部放电检测设备校验仪,其特征是,构成中还包括输出脉冲信号采集电路,所述输出脉冲信号采集电路由第五电阻(R5)和两个二极管构成,所述两个二极管反并联连接后一端接地,一端接单片机(U1)的AIN0端口并经第五电阻(R5)接第二转换开关(S2)的主触头。
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