Testing apparatus for integrated circuit
专利汇可以提供Testing apparatus for integrated circuit专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且PURPOSE: To reduce labor for preparing test data and to shorten a testing time.
CONSTITUTION: A field programmable gate array 3 has procedure data for testing an integrated circuit stored therein and generates the test pattern and expected value pattern inputted to the integrated circuit according to the procedure data and compares the output pattern from an integrated circuit 5 to be tested to which the test pattern is inputted with the expected value pattern to output the comparison result. A load means 2 outputs the procedure data for testing the integrated circuit to the field programmable gate array 3. A connection means 4 connects the integrated circuit 5 to be tested to the field programmable gate array 3 and an output means 6 outputs the test result obtained from the field programmable gate array 3 to the outside.
COPYRIGHT: (C)1992,JPO&Japio，下面是Testing apparatus for integrated circuit专利的具体信息内容。
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