技术领域
[0001] 本
发明属于陶瓷
金属化领域，特别涉及一种基于PVD沉积方法的氮化铝陶瓷板和金属的连接方法。
背景技术
[0002] 高功率、高
密度和高集成
电子器件的
散热问题严重影响器件的使用效率和寿命，是制约器件发展的主要问题。氮化铝(AlN)陶瓷具有很好的导热性能(导热系数可达150～300W/m·K)，以及较高的机械强度和无毒性等优良性能，是新一代电子器件封装理想的
基板材料。
[0003] 但是氮化铝陶瓷因其很强的共价键，很难与电子芯片或者金属
铜热沉实现有效连接，从而限制了氮化铝陶瓷作为封装基板的使用。目前通用的技术都是利用直接覆铜法(DBC法)将氮化铝陶瓷和金属的连接。直接覆铜法依靠将铜表面
氧化的氧化亚铜(Cu2O)和氮化铝表面氧化的氧化铝(Al2O3)在一定
温度下生成CuAlO2中间产物而实现氮化铝陶瓷和铜的连接。但陶瓷基板与金属反应能
力低，
润湿性差导致连接强度不高，且CuAlO2中间产物导热率极低严重降低了整体的导热性能，同时还因为大量氧的引入，还降低了器件封装的气密性。
[0004] 还有一种传统技术通过引入氧化物
中间层的方法解决氮化铝陶瓷和铜的结合。但是氧化物中间层的热导率很低，大大降低了氮化铝陶瓷基板的性能。还有通过将固相反应合成所得到的含有活泼金属的非氧化物共晶
合金粉末置于氮化铝陶瓷和铜之间，然后经过高温处理实现氮化铝陶瓷和铜的直接结合。这种方法的过程较为繁琐，且须经过高温处理。还有提供了一种使用
磁控溅射沉积NiCr结合过渡层然后在NiCr结合过渡层上利用脉冲磁控溅射铜层，得到氮化铝陶瓷覆铜板的方法，指出NiCr与氮化铝陶瓷的反应区只有一两个
原子层厚，且氧也在结合中起到重要作用，所以这种方法仅对连接较薄的铜层有效，且也会降低氮化铝陶瓷板的导热性能。
发明内容
[0005] 本发明的目的在于提供一种基于PVD沉积方法的氮化铝陶瓷板和金属的连接方法，以解决上述问题。
[0006] 为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：
[0007] 一种基于PVD沉积方法的氮化铝陶瓷板和金属的连接方法，包括以下步骤：
[0008] 步骤1，对待使用的氮化铝陶瓷基板进行清洗；
[0009] 步骤2，在氮化铝陶瓷板上利用磁控溅射沉积一层
钛过渡层；
[0010] 步骤3，在
镀好的钛过渡层上再沉积一定厚度的
银锡焊料层；
[0011] 步骤4，将氮化铝陶瓷板与镀有铜膜的金属贴合，在
真空退火炉中加热并保温，完成氮化铝陶瓷板和金属的连接。
[0012] 进一步的，步骤2中，进行钛过渡层沉积时，磁控溅射腔室的本底真空度为1×10-4Pa～3×10-4Pa，溅射气体为纯度为99.99％的氩气，气压为0.3Pa～0.5Pa，钛靶采用直流电源功率150W，先对纯度为99.99％的钛靶溅射15min～25min，然后加基底负
偏压为﹣50V～﹣
100V，基底加温100℃～400℃，沉积80nm～120nm后完成钛过渡层的沉积制备。
[0013] 进一步的，步骤3中，磁控溅射沉积银锡膜焊料层时，通入纯度为99.99％的氩气，气流20sccm～40sccm，气压为0.3Pa～0.5Pa，银锡靶采用直流电源功率130W～160W，基底负偏压为﹣60V～﹣100V，沉积80min～100min完成银
锡焊料层的制备。
[0014] 进一步的，步骤4中，通过夹持模具将氮化铝陶瓷板与镀有铜膜的金属贴合，氮化铝陶瓷板与金属贴合时夹持模具施加的压力为1MPa～3MPa，加热前
真空退火炉腔室的气压在5×10-4Pa以下，加热温度为370℃～400℃，保温时间10min～15min，待腔室温度低于40℃后取出并卸去加载力，完成氮化铝陶瓷板和金属的连接。
[0015] 进一步的，步骤1中氮化铝陶瓷板的清洗为：在无
水乙醇中浸泡后，依次在丙
酮和无水乙醇中超声10min～15min，烘干后在磁控溅射腔室中利用射频
等离子体清洗20min～30min。
[0016] 进一步的，步骤3中，步骤3中，焊料层为能够润湿金属的锡-银系无铅焊料。
[0017] 进一步的，步骤4中，金属基板表面用PVD沉积铜膜。
[0018] 与
现有技术相比，本发明有以下技术效果：
[0019] 本发明克服了目前氮化铝陶瓷板与金属连接强度普遍较低，导热性能严重降低，工艺过程复杂，需要高温处理耗能大等缺点。主要体现在：
[0020] 一.采用
物理气相沉积钛膜、银锡膜，在普通的真空
退火炉加热连接，这些步骤都是设备通用、工艺成熟、控制条件简单、工艺兼容性强、全过程无污染，可以在目前通用的磁控溅射
镀膜设备和真空退火炉上实现同样的效果。
[0021] 二.采用钛层做过渡层，并在沉积时进行基底低温加热，无需后续
热处理即可实现一定的钛膜和氮化铝陶瓷板的
冶金结合，提高了结合强度，因为没有引入氧，不仅没有降低氮化铝陶瓷板导热性能，而且还使得经金属化后陶瓷板的导热性能有所提高。同时通过引入钛过渡层和银锡焊料层降低了氮化铝与铜
热膨胀失配的程度，减少了因热
应力而开裂的情况。
[0022] 三.由于将银锡焊料以磁控溅射的方式沉积在金属化后的氮化铝陶瓷基板表面，连接的尺寸
精度高，用料可控，
焊接后焊料溢流现象少。此外，还可以连接除铜以外可以被银锡润湿的其他金属材料。
[0023] 四.金属表面镀铜，可以连接的金属种类多，无需因改变金属而更换焊料，工艺适应性高。
附图说明
[0024] 图1为本发明基于PVD沉积方法的氮化铝陶瓷板和金属连接的方法工艺
流程图。
[0025] 图2为本发明氮化铝陶瓷板和金属连接后的结构示意图：
[0026] 图中：氮化铝陶瓷板1、钛镀层2、银锡镀层3、铜层4、金属板5。
具体实施方式
[0027] 以下结合附图对本发明进一步说明：
[0028] 请参阅图1，基于PVD沉积方法的氮化铝陶瓷板和金属连接的方法，包括以下步骤：
[0029] 步骤1，对待使用的氮化铝陶瓷基板进行清洗；
[0030] 步骤2，在氮化铝陶瓷板上利拥磁控溅射沉积一层钛过渡层；
[0031] 步骤3，在镀好的钛层上再沉积一定厚度的银锡焊料层；
[0032] 步骤4，利用夹持模具将氮化铝陶瓷板与镀有铜膜的金属贴合，在真空退火炉中加热并保温，完成氮化铝陶瓷板和金属的连接。
[0033] 步骤1中氮化铝陶瓷板的清洗为：在无水乙醇中浸泡后，依次在丙酮和无水乙醇中超声10min～15min，烘干后在磁控溅射腔室中利用射频等离子体清洗20min～30min；
[0034] 步骤2中进行钛膜制备时，磁控溅射腔室的本底真空度为1×10-4～3×10-4Pa,溅射气体为纯度为99.99％的氩气，气流20sccm～40sccm,气压0.3Pa～0.5Pa，钛靶采用直流电源功率120W～150W，先对纯度为99.99％的钛靶溅射15min～25min，然后加基底负偏压-50V～-100V，基底加温100℃～400℃，沉积80nm～120nm后完成钛过渡层的制备；
[0035] 步骤3中进行银锡镀层的沉积时，溅射气体为纯度为99.99％的氩气，气流20～40sccm,气压0.3～0.5Pa，银锡靶采用直流电源功率130～160W，先对银锡靶溅射10min，然后加基底负偏压﹣60～-100V，沉积80～100min完成银锡膜层的的制备。
[0036] 步骤4中进行氮化铝陶瓷板和金属连接时，首先将机加工后的铜表面进行打磨后
抛光至表面粗糙度小于2.00μm，接着在其表面利用PVD沉积10μm的Cu膜，然后将氮化铝陶瓷板镀膜面和金属镀铜面贴合放入夹持模具中，施加1～2MPa的压力，将夹持模具放入真空退火炉中，待炉腔的真空度小于5×10-4Pa时，开始加热至370℃～400℃，保温时间10～15min，待炉温度低于40℃后取出并卸去加载力，完成氮化铝陶瓷板和金属的连接。
[0038] 如图1所示，基于PVD沉积方法的氮化铝陶瓷板和金属连接的方法，包括以下步骤：
[0039] 步骤1，对氮化铝陶瓷板进行清洗：在无水乙醇中浸泡后，依次在丙酮和无水乙醇中超声10～15min，烘干后在磁控溅射腔室中利用射频等离子体清洗20～30min；
[0040] 步骤2，用腔室样品
挡板将氮化铝陶瓷基板遮挡，通入纯度为99.99％的氩气，气流20sccm，调节腔室内气压为0.3Pa，采用直流电源功率130W对纯度为99.99％的钛靶表面进行等离子体清洗，清洗15min，然后加基底负偏压﹣50V，接着打开钛靶挡板样品挡板，开始溅射沉积，沉积80nm后关闭样品挡板和钛靶挡板，完成钛过渡层的制备。
[0041] 步骤3，腔室气压依然保持在0.3Pa，采用直流电源功率150W对银锡靶表面进行等离子清洗，清洗10min，然后加基底负偏压﹣70V，接着打开钛靶挡板样品挡板，开始溅射沉积，银锡为低熔点共晶材料不能长时间溅射，每溅射20min后，溅射暂停20min然后接着溅射，沉积80min后关闭样品挡板和钛靶挡板，待腔室温度降至室温后将样品取出，氮化铝表面镀膜过程完成。
[0042] 步骤4，将切割好的金属在丙酮溶液中以50Hz
超声波清洗10min，接着在无水乙醇中以50Hz
超声波清洗10min，然后用吹
风机吹干，接着在
砂纸上打磨后抛光至表面粗糙度小于2μm，接着在其表面利用PVD沉积10μm的Cu膜，将氮化铝陶瓷板镀膜面与金属镀铜面贴合放入夹持模具中，对模具施加1MPa的压力，然后放入真空退火炉中，待炉腔内的气压小于5×10-4Pa后开始加热，升温至370℃后保温10min，待炉腔温度低于40℃后破真空取出样品，并卸去加载力，完成氮化铝陶瓷板和金属的连接。
[0043] 实施例2：
[0044] 如图1所示，基于PVD沉积方法的氮化铝陶瓷板和金属连接的方法，包括以下步骤：
[0045] 步骤1，对氮化铝陶瓷板进行清洗：在无水乙醇中浸泡后，依次在丙酮和无水乙醇中超声10～15min，烘干后在磁控溅射腔室中利用射频等离子体清洗20～30min；
[0046] 步骤2，用腔室样品挡板将氮化铝陶瓷基板遮挡，通入纯度为99.99％的氩气，气流30sccm，调节腔室内气压为0.3Pa，采用直流电源功率150W对纯度为99.99％的钛靶表面进行等离子体清洗，清洗20min，然后加基底负偏压﹣70V，接着打开钛靶挡板样品挡板，开始溅射沉积，沉积100nm后关闭样品挡板和钛靶挡板，完成钛过渡层的制备。
[0047] 步骤3，腔室气压依然保持在0.3Pa，采用直流电源功率150W对银锡靶表面进行等离子清洗，清洗10min，然后加基底负偏压﹣80V，接着打开钛靶挡板样品挡板，开始溅射沉积，银锡为低熔点共晶材料不能长时间溅射，每溅射20min后，溅射暂停20min然后接着溅射，沉积90min后关闭样品挡板和钛靶挡板，待腔室温度降至室温后将样品取出，氮化铝表面镀膜过程完成。
[0048] 步骤4，将切割好的金属在丙酮溶液中以50Hz超声波清洗10min，接着在无水乙醇中以50Hz超声波清洗10min，然后用
吹风机吹干，接着在砂纸上打磨后进行抛光至表面粗糙度小于2μm，接着在其表面利用PVD沉积10μm的Cu膜，将氮化铝陶瓷板镀膜面与金属镀铜面贴合放入夹持模具中，对模具施加2MPa的压力，然后放入真空退火炉中，待炉腔内的气压小于5×10-4Pa后开始加热，升温至380℃后保温10min，待炉腔温度低于40℃后破真空取出样品，并卸去加载力，完成氮化铝陶瓷板和金属的连接。
[0049] 实施例3：
[0050] 如图1所示，基于PVD沉积方法的氮化铝陶瓷板和金属连接的方法，包括以下步骤：
[0051] 步骤1，对氮化铝陶瓷板进行清洗在无水乙醇中浸泡后，依次在丙酮和无水乙醇中超声10～15min，烘干后在磁控溅射腔室中利用射频等离子体清洗20～30min；
[0052] 步骤2，用腔室样品挡板将氮化铝陶瓷基板遮挡，通入纯度为99.99％的氩气，气流30sccm，调节腔室内气压为0.3Pa，采用直流电源功率150W对纯度为99.99％的钛靶表面进行等离子体清洗，清洗25min，然后加基底负偏压﹣100V，接着打开钛靶挡板样品挡板，开始溅射沉积，沉积120nm后关闭样品挡板和钛靶挡板，完成钛过渡层的制备。
[0053] 步骤3，腔室气压依然保持在0.3Pa，采用直流电源功率160W对银锡靶表面进行等离子清洗，清洗10min，然后加基底负偏压﹣80V，接着打开钛靶挡板样品挡板，开始溅射沉积，银锡为低熔点共晶材料不能长时间溅射，每溅射20min后，溅射暂停20min然后接着溅射，沉积100min后关闭样品挡板和钛靶挡板，待腔室温度降至室温后将样品取出，氮化铝表面镀膜过程完成。
[0054] 步骤4，将切割好的金属在丙酮溶液中以50Hz超声波清洗10min，接着在无水乙醇中以50Hz超声波清洗10min，然后用吹风机吹干，接着在砂纸上打磨后进行抛光至表面粗糙度小于2μm，接着在其表面利用PVD沉积10μm的Cu膜，将氮化铝陶瓷板镀膜面与金属镀铜面贴合放入夹持模具中，对模具施加2MPa的压力，然后放入真空退火炉中，待炉腔内的气压小于5×10-4Pa后开始加热，升温至400℃后保温15min，待炉腔温度低于40℃后破真空取出样品，并卸去加载力，完成氮化铝陶瓷板和金属的连接。
[0055] 纯度为99.99％的氩气为99.999vol％Ar2，0.0005vol％N2，0.0002vol％O2，0.0002vol％H2O，0.0001vol％H2的混合气体；纯度为99.99％的钛靶为含有0.0017wt％C，
0.0011wt％Fe，0.0008wt％Cu,0.0006wt％Ni，99.9958wt％Ti的钛靶。
