专利汇可以提供相变薄膜微区光谱测量装置专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且一种 相变 薄膜 微区 光谱 测量装置,该装置由 光源 、光阑、斩光器、第二半反半透镜、第三半反半透镜、物镜、成像透镜、第一透镜、第一光谱仪、第一光电探测器、 锁 相 放大器 、第二光电探测器、第二光谱仪、第二透镜、第三透镜、声光器件、第四透镜、扩束镜、 激光器 和计算机构成,本实用新型可以测试待测样品在激光不同激 发条 件下,包括不同激光功率、脉宽、重复 频率 、作用次数的激光诱导相变前后的微区 透射光 谱和反射光谱。可用于评价相变薄膜的微区光学响应特性和光热 稳定性 。,下面是相变薄膜微区光谱测量装置专利的具体信息内容。
1、一种相变薄膜微区光谱测量装置,其特征在于:该装置由光源(1)、光阑(2)、斩光器(3)、第二半反半透镜(5)、第三半反半透镜(6)、物镜(7)、成像透镜(9)、第一透镜(10)、第一光谱仪(11)、第一光电探测器(12)、锁相放大器(13)、第二光电探测器(14)、第二光谱仪(15)、第二透镜(16)、第三透镜(17)、声光器件(18)、第四透镜(19)、扩束镜(20)、激光器(21)和计算机(24)构成,其位置关系如下:由所述的光源(1)出射的光经光阑(2),通过斩光器(3)的调制,再依次经过第二半反半透镜(5)、第三半反半透镜(6)透过的光经过物镜(7)聚焦照射到样品台上的样品(8)的表面上,透过所述的样品(8)的光经过成像透镜(9)和第一透镜(10)进入第一光谱仪(11),光谱信号由第一光电探测器(12)探测;被所述的样品(8)反射的光经过所述的物镜(7)返回成像,然后经所述的第三半反半透镜(6)的反射后,经第二透镜(16)的聚焦进入所述的第二光谱仪(15),光谱的信号由第二光电探测器(14)探测,所述的第一光电探测器(12)和第二光电探测器(14)的输出端与锁相放大器(13)的输入端相连,所述的第一光电探测器(12)和第二光电探测器(14)的第二输出端与计算机(24)相连,该计算机(24)的输出端接所述的锁相放大器(13)的第三输入端,该锁相放大器(13)参考输入端接所述的斩光器(3),在所述的第二半反半透镜(5)的反射光方向依次是第三透镜(17)、声光器件(18)、第四透镜(19)、扩束镜(20)和激光器(21)。
2、 根据权利要求1所述的相变薄膜微区光谱测量装置,其特征在于所述的待 测样品(8)置于三维平移台上。
3、 根据权利要求1所述的相变薄膜微区光谱测量装置,其特征是在所述的斩 光器(3)和第二半反半透镜(5)之间设有第一半反半透镜(4),在该第一半反半透 镜(4)的反射光方向依次有衰减片(22)和CCD探测器(23)。
4、 根据权利要求1所述的相变薄膜微区光谱测量装置,其特征在于在所述的 激光器(21)是He—Ne激光器。
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