专利汇可以提供以THz波为光源的红外热波检测系统专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 涉及一种新的热波检测系统,它采用THz波作为热源对物体进行加热,并使用热成像仪监测试件表面 温度 场的变化和这种变化的出现与所施加的THz波热源在位相上的关系。其中采用同步或时序 控制器 来控制THz波的发射和成像仪的检测。利用计算机对所获得的数据进行热波传输计算处理和数据拟合,从得到的温度场变化信息获得材料内部 缺陷 和非均匀性信息。,下面是以THz波为光源的红外热波检测系统专利的具体信息内容。
1.一种用于勘测物体内各种缺陷的红外热波检测系统,其特征是:所述检 测系统由三个分系统组成,THz波光源产生系统、THz波照射加热系统、THz波 成像系统,各分系统通过光路实现协同工作。
2.根据权利要求1所述的红外热波检测系统,其中所述的THz波光源产生 系统可采用自由电子激光器、耿氏振荡器、光导天线、电光晶体即光整流、气 体激光器、半导体激光器产生THz波。
3.根据权利要求2所述的红外热波检测系统,其中所述的THz波是由一束 飞秒激光照射到电光晶体[5]上而产生的。
4.根据权利要求3所述的红外热波检测系统,其中所使用的激光波长为 780-830nm,脉宽为10-150fs。
5.根据权利要求3所述的红外热波检测系统,其中所述的电光晶体[5]为 ZnTe、GaAs、InAs、InP和GaAsP之一。
6.根据权利要求3-5任一项所述的红外热波检测系统,其中所述的THz波 成像系统包括光电转换器、二极管、锁相放大器和计算机。
7.根据权利要求3-5任一项所述的红外热波检测系统,其中所述的THz波 的产生系统与THz波的成像系统融为一体,将一激光束分为两束,其中一束用 于产生THz波,另一束用于对THz波的成像。
8.根据权利要求7所述的红外热波检测系统,其中所述的另一束激光经过 一个由反射镜[10、11、12]组成的延迟光路,与从物体[9]上反射的THz波在晶 体[5]中汇聚并受到返回的THz波的调制,最后进入成像系统。
9.根据权利要求8所述的红外热波检测系统,使用斩波器[7]为控制THz 波的控制器。
本发明涉及无损探伤检测技术领域,尤其涉及红外热波检测的方法和仪器。
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