专利汇可以提供一种高斯光综合实验教学系统及其实验方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种高斯光综合实验教学系统及其实验方法,该系统包括高斯模式产生模 块 Ⅰ、模式互相转化模块Ⅱ和模式采集模块Ⅲ;高斯模式产生模块Ⅰ包括 激光器 、衰减片、扩束系统、非偏振分束器等;模式互相转化模块Ⅱ包括一体化高斯光模式转换器等;模式采集模块Ⅲ为电荷 耦合器 件图像 传感器 ;激光器用于产生基模高斯光,经衰减片减弱光强,接着利用扩束系统增大光斑大小,然后经过半波片调整光束的偏振成分,经过非偏振分束器后均匀且垂直入射空间光 调制器 ,之后经过一个光学4F系统结合小孔,选出的第一级衍射光就是最终产生的高斯模式;第一级衍射光经反射镜反射后,依次通过调节透镜和一体化高斯光模式转换器,最后进入电荷耦合器件图像传感器。,下面是一种高斯光综合实验教学系统及其实验方法专利的具体信息内容。
1.一种高斯光综合实验教学系统,其特征在于,包括高斯模式产生模块Ⅰ、模式互相转化模块Ⅱ和模式采集模块Ⅲ;其中,
高斯模式产生模块Ⅰ包括激光器、衰减片(2)、扩束系统(3)、半波片(4)、非偏振分束器(5)、空间光调制器(6)、光学4F系统(7)和小孔(8);模式互相转化模块Ⅱ包括调节透镜(10)和一体化高斯光模式转换器(11);模式采集模块Ⅲ为电荷耦合器件图像传感器(12);
激光器用于产生基模高斯光(1),经衰减片(2)减弱光强,接着利用扩束系统(3)增大光斑大小,然后经过半波片(4)调整光束的偏振成分,经过非偏振分束器(5)后均匀且垂直入射空间光调制器(6),之后经过一个光学4F系统(7)结合小孔(8),选出的第一级衍射光就是最终产生的高斯模式;第一级衍射光经反射镜(9)反射后,依次通过调节透镜(10)和一体化高斯光模式转换器(11),最后进入电荷耦合器件图像传感器(12)。
2.根据权利要求1所述的一种高斯光综合实验教学系统,其特征在于,空间光调制器(6)上加载有能够产生不同高斯模式所对应的计算全息光栅,其由电脑程序完全控制,根据需要调整相应的参数,生成对应的光栅。
3.根据权利要求1所述的一种高斯光综合实验教学系统,其特征在于,一体化高斯光模式转换器(11)相当于是两个柱面透镜合成,当其焦距一定时,改变前边调节透镜(10)的焦距以及与一体化高斯光模式转换器(11)之间的距离,使光束经过模式转化模块Ⅱ后有一个合适的相位差,即实现厄米-高斯模式与拉盖尔-高斯模式之间的互相转换。
4.根据权利要求1所述的一种高斯光综合实验教学系统,其特征在于,调节透镜(10)是一个凸透镜,或者是多个透镜组成的束腰调节系统,用于将入射光束的束腰大小和束腰位置与一体化柱状透镜相匹配,以便于实现模式转换以及保证转化后的高斯模式的质量。
5.根据权利要求1所述的一种高斯光综合实验教学系统,其特征在于,电荷耦合器件图像传感器(12)用于对转化后的高斯光束进行观察和采集,分析处理实验数据,评价模式转化效果。
6.权利要求1至5中任一项所述的一种高斯光综合实验教学系统的实验方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)将激光器的功率调到最低,打开电源,将激光功率调到合适值;
(2)调节激光光束的高度及水平,使其射出的光束与实验中所用光学元件的中心高度一致;
(3)旋转衰减片(2),实现光强调节;
(4)调节由两个透镜组成的扩束系统(3),将光斑调至合适大小,观察光斑的变化规律;
(5)调节半波片(4),控制激光器的偏振输出;
(6)设计产生不同阶HG模式光或LG模式光的计算全息光栅,加载在空间光调制器(6)上,利用电荷耦合器件图像传感器(12),观察分析HG模式光或LG模式光的光强分布;
(7)光束经过一个光学4F系统(7),结合小孔(8)选出的第一级衍射光,即实验所需的高斯模式;
(8)调整调节透镜(10)的位置或束腰调节系统,利用电荷耦合器件图像传感器(12)观察HG模式和LG模式之间的转换,并对模式转换效果进行分析。
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