专利汇可以提供一种微波快速测量物料水分的装置专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本实用新型公开了一种 微波 快速测量物料 水 分的装置,包括微波加热装置、 质量 测量装置和数控显示系统,微波加热装置包括炉体和炉 门 ,炉门转动安装在炉体上,炉体内部设有炉腔和微波发射装置,炉门与炉腔匹配盖合,微波发射装置分别位于炉腔的左侧和后侧,炉腔设有保温材料夹层,质量测量装置包括测量组件 外壳 、稳定组件、测量组件、天平托盘及其悬挂组件,数控显示系统包括 控制器 和控制面板,控制面板上设置有各种操作按键以及 液晶 显示屏,控制面板、测量组件分别与控制器电性连接,控制器与微波发射装置 信号 连接。本实用新型利用微波选择性加热特性,快速测量样品水分,缩短了测量周期;测量组件实时监测样品 温度 和质量的变化,提高了测量 精度 。(ESM)同样的 发明 创造已同日 申请 发明 专利,下面是一种微波快速测量物料水分的装置专利的具体信息内容。
1.一种微波快速测量物料水分的装置,其特征在于,包括微波加热装置、质量测量装置和数控显示系统,
所述微波加热装置包括炉体(1)和炉门(2),所述炉门(2)转动安装在炉体(1)上,所述炉体(1)内部设有炉腔(3)和微波发射装置(4),所述炉门(2)与炉腔(3)匹配盖合,所述微波发射装置(4)分别位于所述炉腔(3)的左侧和后侧,所述炉腔(3)设有夹层,夹层内充填有保温材料(5),
所述质量测量装置包括测量组件外壳(6)、稳定组件(7)、测量组件(8)、天平托盘(9)及其悬挂组件(10),所述测量组件外壳(6)设置在所述炉体(1)的上表面、炉腔(3)的正上方,所述稳定组件(7)设置在所述测量组件外壳(6)的壳体内部,所述测量组件(8)的主体嵌在稳定组件(7)中,测量组件(8)的下端穿过炉体(1)并延伸进炉腔(3)内,所述天平托盘(9)通过悬挂组件(10)与测量组件(8)的下端连接,天平托盘(9)悬挂于炉腔(3)中心位置,所述数控显示系统包括控制器(11)和控制面板(12),所述控制器(11)设置在炉体(1)内,所述控制面板(12)设置在炉体(1)的外壁上,所述控制面板(12)上设置有操作按键(121)以及液晶显示屏(122),所述控制面板(12)、测量组件(8)分别与控制器(11)电性连接,所述控制器(11)与所述微波发射装置(4)信号连接。
2.根据权利要求1所述的一种微波快速测量物料水分的装置,其特征在于,在所述炉腔(3)右侧左下方设有一排进气孔(13),在所述炉腔(3)右侧右上方设有一排出气孔(14)。
3.根据权利要求2所述的一种微波快速测量物料水分的装置,其特征在于,所述进气孔(13)和出气孔(14)均采用四方格栅栏结构。
4.根据权利要求1所述的一种微波快速测量物料水分的装置,其特征在于,所述天平托盘(9)及悬挂组件(10)均采用聚四氟透波材质。
5.根据权利要求1所述的一种微波快速测量物料水分的装置,其特征在于,所述炉体(1)为长方体形,所述炉腔(3)为立方体形。
6.根据权利要求1所述的一种微波快速测量物料水分的装置,其特征在于,所述炉门(2)为侧开门结构、上开门结构或下拉门结构。
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