共焦分立荧光光谱及荧光寿命探测方法与装置
专利汇可以提供共焦分立荧光光谱及荧光寿命探测方法与装置专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 属于化学物质检测技术领域，涉及一种共焦分立 荧光 光谱 及 荧光寿命 探测方法与装置。该方法将共焦物体表面 定位 技术和分立荧光光谱和荧光寿命测量技术相融合；利用共焦技术解决待测样品表面三维形貌的高 精度 测量，同时利用分立荧光光谱及荧光寿命探测技术解决待测样品表面各点的荧光光谱及荧光寿命的高灵敏度检测，进而得到三维高分辨空间物质成分分布信息。本发明首次将共焦测量技术和分立荧光物质成分探测技术相融合，保证荧光成像系统在待测样品表面每一个 位置 都具有相同的横向 分辨率 ，并最终将测得的荧光光谱分布和三维形貌进行精确的对应。此技术在 生物 学，医学，材料科学以及临床医学诊断领域具有广泛的应用前景。，下面是共焦分立荧光光谱及荧光寿命探测方法与装置专利的具体信息内容。
1.共焦分立荧光光谱及荧光寿命探测方法，其特征在于：
(a)通过第一分光镜将脉冲激光光源发出的脉冲激光和连续激光光源发出的连续激光进行合并，形成合成光束，所述脉冲激光和连续激光波长相同；所述合成光束经过扩束镜扩束后透过第二分光镜，由物镜会聚形成探测光束照射在待测样品上；定义垂直于所述探测光束光轴的两正交方向分别为x和y方向，沿探测光束光轴的方向为z方向；
(b)所述探测光束照射待测样品产生的后向散射光和从待测样品激发出来的荧光一起通过物镜收集后由第二分光镜反射；由第二分光镜反射的光束经过一号二向色分光镜后分成两路，一路为波长和探测光束波长相同的本征光束，另一路为波长不同于探测光束波长的荧光光束；所述本征光束进入共焦探测系统，所述荧光光束进入分立荧光光谱及荧光寿命探测系统；
(c)打开连续激光光源，沿x和y方向移动待测样品至横向扫描起始位置(x1, y1)，然后在该位置沿z方向扫描待测样品，利用共焦探测系统测得随扫描位置变化的共焦响应曲线I(z)，进而根据共焦响应曲线I(z)的峰值响应点精确确定探测光束聚焦在待测样品的表面位置；
(d)关闭连续激光光源，根据步骤(c)的测量结果移动待测样品，使得探测光束聚焦在待测样品表面，控制脉冲激光光源发出脉冲激光，由脉冲激光在待测样品表面上激发出荧光，通过分立荧光光谱及荧光寿命探测系统，探测得到不同波长下随时间变化的荧光光强信息，并对所述信息进行数据分析后得到不同波长下的荧光寿命；
(e)沿x和y方向扫描待测样品，重复上述步骤，在每一个扫描点(xi, yi)位置处利用共焦探测系统确定待测样品在该位置处的表面信息，利用分立荧光光谱及荧光寿命探测系统测量从该位置处待测样品表面激发出来的荧光在不同波长下的荧光寿命；
(f)将得到的待测样品在每一个扫描点(xi, yi)位置的表面高度信息和对应的荧光寿命信息进行重构，同时得到被测样品的三维形貌轮廓及其表面各点在不同波长下的荧光寿命。
2.根据权利要求1所述的共焦分立荧光光谱及荧光寿命探测方法，其特征在于：所述共焦曲线I(z)的最大值对应所述探测光束光斑精确聚焦在探测样品表面，此处聚焦光斑尺寸最小，探测区域最小，所述共焦曲线I(z)的其他值对应所述探测光束聚焦在偏离表面的位置处，光斑尺寸随着共焦曲线I(z)的值减小而增大；当测量某表面位置处不同波长下的荧光寿命信息时，根据所述共焦响应曲线I(z)控制探测光束在待测样品的表面光斑大小，进而根据实际测量需求控制聚焦光斑的尺寸，实现对待测样品探测区域大小的可控。
3.共焦分立荧光光谱及荧光寿命探测装置，包括脉冲激光光源和连续激光光源，其特征在于：包括第一分光镜、扩束镜、第二分光镜、物镜、一号二向色分光镜、共焦探测系统、分立荧光光谱及荧光寿命探测系统、三维平移台、信号采集器以及计算机；
其中，第一分光镜将脉冲激光光源发出的脉冲激光和连续激光光源发出的连续激光进行合并，形成合成光束；扩束镜、第二分光镜和物镜依次位于所述合成光束的出射方向上，扩束镜将合成光束进行扩束，物镜将合成光束会聚后形成探测光束照射在待测样品上；探测光束照射待测样品产生的后向散射光和从待测样品激发出来的荧光一起通过物镜收集后由第二分光镜反射；从所述第二分光镜反射后的光束由一号二向色分光镜分光，一路为波长和探测光束波长相同的本征光束，进入共焦探测系统，另一路为波长不同于探测光束波长的荧光光束，进入分立荧光光谱及荧光寿命探测系统；
待测样品放置在三维平移台上，通过计算机控制三维平移台带动待测样品沿空间三个方向进行扫描；信号采集器将共焦探测系统探测得到的随待测样品位置变化的共焦光强响应值及分立荧光光谱及荧光寿命探测系统测得的N个不同波长下随时间变化的荧光光强信息转化后传输给计算机，由所述计算机分析得到共焦响应曲线和不同中心波长下荧光寿命及相对荧光强度谱。
4.根据权利要求3所述的共焦分立荧光光谱及荧光寿命探测装置，其特征在于：所述共焦探测系统包括共焦会聚透镜、共焦针孔和共焦光强传感器：共焦针孔放置于共焦会聚透镜的焦点位置处，由共焦会聚透镜将进入共焦探测系统的光束聚焦后照射在共焦针孔上，光束由共焦针孔进行空间滤波后被共焦光强传感器探测接收。
5.根据权利要求3所述的共焦分立荧光光谱及荧光寿命探测装置，所述分立荧光光谱及荧光寿命探测系统包括（N-1）个二向色分光镜、N个窄带滤光片、N个光强传感器：由所述（N-1）个二向色分光镜将从待测样品激发出来的荧光光束进行（N-1）次分光，得到N路不同波长带的荧光光束；所述N路不同波长带的荧光光束分别经N个窄带滤光片滤光后由N个光强传感器探测接收，得到N个不同波长下随时间变化的荧光光强信息；各窄带滤光片对应的中心波长为λn，带通宽度为δλn，其中，n=1, 2, …, N。
6.根据权利要求5所述的共焦分立荧光光谱及荧光寿命探测装置，其特征在于：用多光强传感器组替代所述使用的N个光强传感器：多光强传感器组由N个光强传感器组成，用多光强传感器组中的各光强传感器分别探测得到对应的荧光强度信息。
7.根据权利要求3所述的共焦分立荧光光谱及荧光寿命探测装置，其特征在于：所述分立荧光光谱及荧光寿命探测系统包括（N-1）个二向色分光镜、N个窄带滤光片、N个光纤聚焦透镜、N个具有不同延时时间的光纤延时线以及一个（N+1）号光强传感器：由所述（N-1）个二向色分光镜将从待测样品激发出来的荧光光束进行（N-1）次分光，得到N路不同波长带的荧光光束；所述N路不同波长带的荧光光束分别经N个窄带滤光片滤光后由N个光纤聚焦透镜耦合进入N个具有不同延时时间的光纤延时线；经过光纤延时线延时后的N路荧光在光纤延时线末端合成输出，由（N+1）号光强传感器探测接收；此时不同波长的荧光将在不同时刻到达（N+1）号光强传感器，因此可以根据不同的时段将不同波长下的荧光信息分开。
8.根据权利要求3所述的共焦分立荧光光谱及荧光寿命探测装置，其特征在于：所述分立荧光光谱及荧光寿命探测系统包括滤光片转轮和（N+2）号光强传感器：所述滤光片转轮由N个具有不同中心波长的窄带滤光片组成，滤光片转轮每转动一下，脉冲激光光源发出一个脉冲激光，从待测样品激发出来的荧光光束透过对应中心波长下的窄带滤光片，（N+2）号光强传感器测得相应波长下随时间变化的荧光光强信息；滤光片转轮转动N次后可以得到N个不同波长下随时间变化的荧光光强信息。
9.根据权利要求5或8所述的共焦分立荧光光谱及荧光寿命探测装置，其特征在于：在所述分立荧光光谱及荧光寿命探测系统的各光强传感器前分别加上会聚透镜和针孔：针孔放置在会聚透镜的焦点位置处，会聚透镜将各不同波长的荧光光束会聚后通过针孔进行空间滤波，所述各光强传感器探测滤波后的荧光光强信息。
10.共焦分立荧光光谱及荧光寿命探测方法，其特征在于：
(a)通过第一分光镜将脉冲激光光源发出的脉冲激光和连续激光光源发出的连续激光进行合并，形成合成光束，所述脉冲激光和连续激光波长相同；所述合成光束经过扩束镜扩束后透过第二分光镜，由物镜会聚形成探测光束照射在待测样品上；定义垂直于所述探测光束光轴的两正交方向分别为x和y方向，沿探测光束光轴的方向为z方向；
(b) 所述探测光束照射待测样品产生的后向散射光和从待测样品激发出来的荧光一起通过物镜收集后由第二分光镜反射；由第二分光镜反射的光束经过一号二向色分光镜后分成两路，一路为波长和探测光束波长相同的本征光束，另一路为波长不同于探测光束波长的荧光光束；所述本征光束进入共焦探测系统，所述荧光光束进入分立荧光光谱及荧光寿命探测系统；
(c)打开连续激光光源，沿x和y方向移动待测样品至横向扫描起始位置(x1, y1)，然后在该位置沿z方向扫描待测样品，利用共焦探测系统测得随扫描位置变化的共焦响应曲线I(z)，进而根据共焦响应曲线I(z)的峰值响应点精确确定探测光束聚焦在待测样品的表面位置；
(d)根据步骤(c)测量结果移动待测样品，使得探测光束聚焦在待测样品表面，由连续激光光源发出的连续激光在待测样品表面上激发出荧光，通过分立荧光光谱及荧光寿命探测系统，探测得到不同波长对应的荧光光强信息，并对其进行分析得到分立荧光光谱信息；
(e)沿x和y方向扫描待测样品，重复上述步骤，在每一个扫描点(xi, yi)位置处利用共焦探测系统确定待测样品在该位置处的表面信息，并利用分立荧光光谱及荧光寿命探测系统测得从该位置处激发出来的分立荧光光谱信息；
(f)将得到的待测样品在每一个扫描点(xi, yi)位置的表面高度信息和对应的分立荧光光谱信息进行重构，同时得到被测样品的三维形貌轮廓及其表面各点的分立荧光光谱。
共焦分立荧光光谱及荧光寿命探测方法与装置
技术领域
背景技术
发明内容
(b)所述探测光束照射待测样品产生的后向散射光和从待测样品激发出来的荧光一起通过物镜收集后由第二分光镜反射；由第二分光镜反射的光束经过一号二向色分光镜后分成两路，一路为波长和探测光束波长相同的本征光束，另一路为波长不同于探测光束波长的荧光光束；所述本征光束进入共焦探测系统，所述荧光光束进入分立荧光光谱及荧光寿命探测系统；
(c)打开连续激光光源，沿x和y方向移动待测样品至横向扫描起始位置(x1, y1)，然后在该位置沿z方向扫描待测样品，利用共焦探测系统测得随扫描位置变化的共焦响应曲线I(z)，进而根据共焦响应曲线I(z)的峰值响应点精确确定探测光束聚焦在待测样品的表面位置；
(d)关闭连续激光光源，根据步骤(c)的测量结果移动待测样品，使得探测光束聚焦在待测样品表面，控制脉冲激光光源发出脉冲激光，由脉冲激光在待测样品表面上激发出荧光，通过分立荧光光谱及荧光寿命探测系统，探测得到不同波长下随时间变化的荧光光强信息，并对所述信息进行数据分析后得到不同波长下的荧光寿命；
(e)沿x和y方向扫描待测样品，重复上述步骤，在每一个扫描点(xi, yi)位置处利用共焦探测系统确定待测样品在该位置处的表面信息，利用分立荧光光谱及荧光寿命探测系统测量从该位置处待测样品表面激发出来的荧光在不同波长下的荧光寿命；
(f)将得到的待测样品在每一个扫描点(xi, yi)位置的表面高度信息和对应的荧光寿命信息进行重构，同时得到被测样品的三维形貌轮廓及其表面各点在不同波长下的荧光寿命。
待测样品放置在三维平移台上，通过计算机控制三维平移台带动待测样品沿空间三个方向进行扫描；信号采集器将共焦探测系统探测得到的随待测样品位置变化的共焦光强响应值及分立荧光光谱及荧光寿命探测系统测得的N个不同波长下随时间变化的荧光光强信息转化后传输给计算机，由所述计算机分析得到共焦响应曲线和不同中心波长下荧光寿命及相对荧光强度谱。
2.在测量过程中，共焦探测系统利用了荧光检测过程中被废弃的与激发光具有相同波长的本征光，因此不会对荧光检测造成任何影响，充分合理地利用了从待测样品反射回来的各个波段的光信息；
3.使用多个光强传感器同时探测不同波长下荧光光谱和荧光寿命，并基于此鉴别待测样品化学成分，显著提高系统的鉴别速度及鉴别精度。
2.本发明对荧光的测量灵敏度高，可用于测量待测样品发出的非常微弱的自发荧光信息，并基于此分析其化学成分，无需使用荧光标记物，简化测量过程；
3.在分立荧光光谱和荧光寿命探测过程中，利用多探测器同时测量可以消除各激光脉冲之间强度不稳定因素造成的测量精度受限问题；
4.可同时探测待测样品在不同波长下的荧光寿命及相对荧光强度谱信息，为物质成分的检测同时提供了两个不同的方法。
附图说明
图3为本发明共焦探测系统的示意图；
图4为本发明利用二向色分光镜、窄带滤光片和光强传感器组成的分立荧光光谱及荧光寿命探测系统；
图5 为本发明利用二向色分光镜、窄带滤光片、会聚透镜、针孔和光强传感器组成的分立荧光光谱及荧光寿命探测系统；
图6为本发明分立荧光光谱及荧光寿命探测系统中用多光强传感器组替代N个光强传感器的示意图；
图7为本发明利用二向色分光镜、窄带滤光片、光纤聚焦透镜、光纤延时线以及光强传感器组成的分立荧光光谱及荧光寿命探测系统；
图8为本发明利用滤光片转轮和光强传感器组成的分立荧光光谱及荧光寿命探测系统；
图9为本发明共焦分立荧光光谱及荧光寿命探测实施例的示意图；
图10为本发明共焦响应曲线I(z)的示意图；
其中：1-脉冲激光光源、2-连续激光光源、3-第一分光镜、4-扩束镜、5-第二分光镜、6-物镜、7-待测样品、8-三维平移台、9-一号二向色分光镜、10-共焦探测系统、11-分立荧光光谱及荧光寿命探测系统、12-信号采集器、13-计算机、14-共焦会聚透镜、15-共焦针孔、16-共焦光强传感器、17-二号二向色分光镜、18-三号二向色分光镜、19-N号二向色分光镜、20-一号窄带滤光片、21-二号窄带滤光片、22-（N-1）号窄带滤光片、23-N号窄带滤光片、24-一号光强传感器、25-二号光强传感器、26-（N-1）号光强传感器、27-N号光强传感器、28-一号会聚透镜、29-二号会聚透镜、30-(N-1)号会聚透镜、31-N号会聚透镜、32-一号针孔、33-二号针孔、34-（N-1）号针孔、35-N号针孔、36-反射镜、37-多光强传感器组、38-第一光纤聚焦透镜、39-第二光纤聚焦透镜、40-第（N-1）光纤聚焦透镜，41-第N光纤聚焦透镜、42-第一光纤延迟线、43-第二光纤延迟线、44-第（N-1）光纤延迟线、45-第N光纤延迟线、46-（N+1）号光强传感器、47-滤光片转轮、48-（N+2）号光强传感器、49-四号二向色分光镜、50-三号窄带滤波片、51-四号窄带滤光片、52-第一光电倍增管、53-第二光电倍增管、54-第三光电倍增管、
55-第四光电倍增管。
具体实施方式
11的光束进行3次分光，得到4路不同波长带的荧光光束。这4路不同波长带的荧光光束分别经一号窄带滤光片20、二号窄带滤光片21、三号窄带滤光片50和四号窄带滤光片51后由第一光电倍增管52、第二光电倍增管53、第三光电倍增管54和第四光电倍增管55探测接收。各窄带滤光片对应的中心波长分别是400 nm，450 nm，530 nm和580 nm。信号采集器12用来采集共焦探测系统10和分立荧光光谱及荧光寿命探测系统11中各光强传感器采集得到的光强信息，并将其转化后传输给计算机13。计算机13对采集得到的光强信息进行分析后得到共焦响应曲线和各波长下随时间变化的荧光光强信息。定义垂直于所述探测光束光轴的两正交方向分别为x和y方向，沿探测光束光轴的方向为z方向。
(b) 关闭连续激光光源，根据步骤(a)测量结果移动待测样品7，使得探测光束聚焦在待测样品7表面，控制脉冲激光光源1发出脉冲激光，由脉冲激光在待测样品7表面上激发出荧光，所激发出来的荧光由物镜6收集后被第二分光镜5反射，然后透过一号二向色分光镜9进入分立荧光光谱及荧光寿命探测系统11。进入分立荧光光谱及荧光寿命探测系统11的荧光经过二号二向色分光镜17后分成两路，其中反射光束的波长范围为360 nm 430 nm，透过~
光束的波长范围为430 nm 700 nm；从二号二向色分光镜17透过的光束经过三号二向色分~
光镜18后又分成两路，其中反射光束的波长范围为430 nm 480 nm，透过光束的波长范围为~
480 nm 700 nm；从三号二向色分光镜18透过的光束经过四号二向色分光镜49后又分成两~
路，其中反射光束的波长范围为480 nm 550 nm，透过光束的波长范围为550 nm 700 nm。由~ ~
二号二向色分光镜17反射的光束透过第一窄带滤光片20后照射在第一光电倍增管52上。第一滤光片52的中心波长为400 nm，带通宽度为10 nm。因此由第一光电倍增管52接收的荧光的中心波长为400 nm。由三号二向色分光镜18反射的光束透过第二窄带滤光片21后照射在第二光电倍增管53上。第二窄带滤光片21的中心波长为450 nm，带通宽度为10 nm。因此由第二光电倍增管53接收的荧光的中心波长为450 nm。由四号二向色分光镜49反射的光束透过第三窄带滤光片50后照射在第三光电倍增管54上；第三窄带滤光片54的中心波长为530 nm，带通宽度为10 nm。因此由第三光电倍增管54接收的荧光的中心波长为530 nm。第四窄带滤光片51的中心波长为580 nm，带通宽度为10 nm；因此由第四光电倍增管55接收的荧光的中心波长为580 nm。
13。计算机13通过对这些不同中心波长下随时间变化的荧光信号进行处理，得到各波长对应的荧光寿命。其中，中心波长400 nm对应的荧光寿命为10.5 ns，中心波长450 nm对应的荧光寿命为7.3 ns，中心波长530 nm对应的荧光寿命为13.3 ns，中心波长580 nm对应的荧光寿命为6.7 ns。
为12 ns 15 ns之间，波长580 nm对应的荧光寿命为11 ns 14 ns之间；肿瘤组织在各波长~ ~
下荧光的荧光寿命：波长400 nm对应的荧光寿命为8 ns 11 ns之间，波长450 nm对应的荧~
光寿命为6 ns 8 ns之间，波长530 nm对应的荧光寿命为13 ns 16 ns之间，波长580 nm对~ ~
应的荧光寿命为5 ns 7 ns之间；可以确定从待测样品7表面（x1, y1, z1）处激发出来的荧~
光寿命信息与肿瘤组织的荧光寿命完全匹配，因而可以判断在（x1, y1, z1）处的组织为肿瘤组织。
(a)打开连续激光光源2，沿x和y方向移动待测样品7至横向扫描起始位置(x1, y1)，然后在该位置沿z方向扫描待测样品7。利用共焦探测系统10, 测得随扫描位置变化的如附图
10所示的共焦响应曲线I(z)，进而根据共焦响应曲线I(z)的峰值响应点精确确定探测光束聚焦在待测样品的表面位置，记录该扫描位置(x1, y1)处被测样品7的表面位置高度为z1。
中反射光束的波长范围为430 nm 480 nm，透过光束的波长范围为480 nm 700 nm；从三号~ ~
二向色分光镜18透过的光束经过四号二向色分光镜49后又分成两路，其中反射光束的波长范围为480 nm 550 nm，透过光束的波长范围为550 nm 700 nm。由二号二向色分光镜17反~ ~
射的光束透过第一窄带滤光片20后照射在第一光电倍增管52上。第一窄带滤光片20的中心波长为400 nm，带通宽度为10 nm。因此由第一光电倍增管52接收的荧光的中心波长为400 nm。由三号二向色分光镜18反射的光束透过第二窄带滤光片21后照射在第二光电倍增管53上。第二窄带滤光片21的中心波长为450 nm，带通宽度为10 nm。因此由第二光电倍增管53接收的荧光的中心波长为450 nm。由四号二向色分光镜49反射的光束透过第三窄带滤光片
50后照射在第三光电倍增管54上；第三窄带滤光片54的中心波长为530 nm，带通宽度为10 nm。因此由第三光电倍增管54接收的荧光的中心波长为530 nm。第四窄带滤光片51的中心波长为580 nm，带通宽度为10 nm；因此由第四光电倍增管55接收的荧光的中心波长为580 nm。计算机13通过对这些不同中心波长下的荧光信号进行处理，得到各波长对应的荧光强度信息。其中，中心波长400nm对应的荧光强度为5.6µW；中心波长450nm对应的荧光强度为
8.4µW；中心波长530nm对应的荧光强度为4.5µW；中心波长580nm对应的荧光强度为9.8µW。
进而可以得到该待测样品7在400nm、450nm、530nm和580nm下的相对荧光强度谱为0.57:
0.86:0.46:1。
46探测接收。此时不同波长的荧光将在不同时刻到达（N+1）号光强传感器46，因此可以根据不同的时段将不同波长下的荧光信息分开。这种方式有利于简化系统结构，缩小系统体积，降低系统成本。
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