| 序号 | 专利名 | 申请号 | 申请日 | 公开（公告）号 | 公开（公告）日 | 发明人 |
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| 161 | 机场嵌入式助航灯具现场测光设备 | CN92222320.3 | 1992-05-23 | CN2124873U | 1992-12-16 | 刘滏 |
| 本实用新型涉及飞机场助航照明灯光系统中的嵌入式灯具的现场测光设备。本测光设备由暗室、隔板、反光镜、均光屏、测光室及测光表组成，在暗室内从进光口起等距离地设有4块门形隔板，由该4块隔板组成的光通道将由灯具出光口发射出来的光束限制在：垂直方向为0～7°；水平方向为±5°。本设备结构简单、使用方便、便于携带，完全可满足机场助航灯具配光角度、光强、一致性等主要指标的测试要求。 | ||||||
| 162 | 一种光模块劣化测试方法、系统、设备和存储介质 | PCT/CN2020/135846 | 2020-12-11 | WO2021115445A1 | 2021-06-17 | 刘文海; 陈刚; 涂明强; 张璋; 胡小念 |
一种光模块劣化测试方法、系统、设备和存储介质。该方法包括：根据预先采集的待测光模块的H偏振态误码计数和V偏振态误码计数确定对应的H偏振态误码率和V偏振态误码率(S110)；根据H偏振态误码率和V偏振态误码率确定对应的H偏振态误码卡方表征量和V偏振态误码卡方表征量(S120)；根据H偏振态误码卡方表征量和V偏振态误码卡方表征量确定偏振态信号质量差异表征量(S130)；根据偏振态信号质量差异表征量确定待测光模块的劣化程度(S140)。 |
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| 163 | 大面积基底上的光介质薄膜应力分布互检型检测方法 | CN202410824048.8 | 2024-06-25 | CN118776717A | 2024-10-15 | 孙德贵; 王梓; 薛常喜; 于淼; 王雪萍 |
| 大面积基底上的光介质薄膜应力分布互检型检测方法属于光介质薄膜物理参量精确测量技术领域。现有技术未能快速、精确检测薄膜应力分布。本发明在被测光介质薄膜表面上等距确定n个测试点xi，能够获取更多的原始检测数据，根据这些原始检测数据得到的被测光介质薄膜应力分布具有全面、准确的特点。本发明先后以光束干涉、棱镜耦合的方式检测被测光介质薄膜的应力分布，所采用的检测装置几乎相同，从而能够实现低成本、快速、准确的应力分布检测；特别是将光束干涉、棱镜耦合所得到的两种检测结果互检，根据中间互检结果，调整薄膜制作工艺参数，有限次循环，得到的最终薄膜应力分布检测结果具有更高的准确度。 | ||||||
| 164 | 吸波器及图像传感器 | CN202110218793.4 | 2021-02-26 | CN113224092B | 2024-07-02 | 王星泽 |
| 本发明公开了一种图像传感器，其包括硅器件，该硅器件具有由硅部分和非硅部分组成的表面周期性结构，该周期性结构由多个超级单元以二维晶格模式重复形成。该传感器的每个像素具有至少2x2的超级单元。晶格常数由待测光波长范围所决定。每个超级单元内，非硅部分为光提供了随着深度逐渐变化的有效折射率。超级单元中的非硅部分的水平轴向特征尺寸小于待测光的波长，而垂直特征尺寸大于待测光的波长。一些案例中，超级单元包括至少两个具有不同底座尺寸和/或高度的倒金字塔。电介质填充周期性结构的非硅部分并覆盖硅器件。本技术方案相对现有技术能够提升图像传感器的像素的光捕捉能力，进而提升图像传感器的性能。 | ||||||
| 165 | 吸波器及图像传感器 | CN202110218793.4 | 2021-02-26 | CN113224092A | 2021-08-06 | 王星泽 |
| 本发明公开了一种图像传感器，其包括硅器件，该硅器件具有由硅部分和非硅部分组成的表面周期性结构，该周期性结构由多个超级单元以二维晶格模式重复形成。该传感器的每个像素具有至少2x2的超级单元。晶格常数由待测光波长范围所决定。每个超级单元内，非硅部分为光提供了随着深度逐渐变化的有效折射率。超级单元中的非硅部分的水平轴向特征尺寸小于待测光的波长，而垂直特征尺寸大于待测光的波长。一些案例中，超级单元包括至少两个具有不同底座尺寸和/或高度的倒金字塔。电介质填充周期性结构的非硅部分并覆盖硅器件。本技术方案相对现有技术能够提升图像传感器的像素的光捕捉能力，进而提升图像传感器的性能。 | ||||||
| 166 | 光波长检测器及使用方法 | CN201610042563.6 | 2016-01-22 | CN106996832B | 2019-09-27 | 张凌; 吴扬; 姜开利; 刘长洪; 王佳平; 范守善 |
| 本发明涉及一种光波长检测器，其包括：一探测元件，所述探测元件用于接收待测光一测量装置，所述测量装置与所述探测元件电连接；其中，所述探测元件包括一碳纳米管结构，该碳纳米管结构包括多个碳纳米管沿同一方向延伸；所述光波长检测器进一步包括一偏振片，所述偏振片用于将待测光起偏为偏振光后入射到碳纳米管结构的部分表面，所述测量装置用于测量由于偏振光的照射在所述碳纳米管结构中产生的温度差或电势差，该偏振片与所述碳纳米管结构可相对旋转，从而改变偏振光的方向与所述碳纳米管的延伸方向之间的夹角角度，通过比较不同夹角时测量得到的温度差或电势差获得所述待测光的波长值。本发明还涉及一种光波长检测器的使用方法。 | ||||||
| 167 | 具有同步控制功能的点源透过率杂光测试系统及方法 | CN201610969961.2 | 2016-10-28 | CN106596053A | 2017-04-26 | 马臻; 陈钦芳; 白永林; 樊学武 |
| 本发明公开一种具有同步控制功能的点源透过率杂光测试系统及方法，属于杂光测试领域。光源出射的脉冲激光经平行光管准直后出射平行光，一部分光直接进入待测光机系统，该部分光为信号光；其中一部分光经待测光机系统表面散射后照亮环境内壁，再由内壁散射返回待测光机系统，该部分光为环境光污染。相对于信号光，环境光污染须经历更长的光程和时间到达系统像面，具有一定的时间滞后，当信号光达到系统焦面时，同步控制系统控制探测器快门打开，接收信号光；而当环境光污染到达系统焦面时，快门处于关闭状态。本发明可有效抑制环境光污染，提高点源透过率杂光测试系统的精度。 | ||||||
| 168 | 用于化学发光免疫分析仪的一体式温育测光装置 | CN201920239956.5 | 2019-02-26 | CN209542458U | 2019-10-25 | 赵鹏; 潘洋; 刘海鹰; 王超; 刘聪 |
| 本实用新型公开了一种用于化学发光免疫分析仪的一体式温育测光装置，包括温育单元，温育单元包括基板，基板上的保护壳内转动设置有开设有温育槽的温育盘，保护壳上设置有测光单元，测光单元包括安装盘，安装盘外表面设置有光电倍增管，与光电倍增管对应处的保护壳侧壁和盖板上均开设有透光孔；安装盘内表面的凹槽内转动设置有带有滤光片的转动盘。本实用新型优点在于将测光单元集成在温育单元的保护壳上，节约安装空间，实现了同步温育和测光，提高检测效率；顶盖反应杯取放窗口上的活动遮光板沿滑槽往返滑动，不仅便于取放反应杯，还具有遮光作用，提高了样本检测结果的可靠性和准确性，进而保证化学发光免疫分析仪的重复性。 | ||||||
| 169 | 一种基于区域网格化格点归类的测光站覆盖范围分析方法 | CN201410064905.5 | 2014-02-25 | CN104050345A | 2014-09-17 | 汪宁渤; 路亮; 周强; 赵龙; 马彦宏; 马明; 王明松 |
| 本发明公开了一种基于区域网格化格点归类的测光站覆盖范围分析方法，主要包括：将待测区域按照经纬度进行网格化，获取网格点处的地理因素和气象环境因素的测量数据；根据上述测量数据绘图，获取待测区域的海拔和地表反射率，对包含格点所处位置的海拔高度和地表反射率的地理因素相关性进行综合分析，进行格点归类；基于上述格点归来结果，对格点数据相关性分析及归类；基于上述对格点数据相关性分析及归类结果，确定测光站测量范围。本发明所述基于区域网格化格点归类的测光站覆盖范围分析方法，可以克服现有技术中稳定性差、能量转换效率低和环保性差等缺陷，以实现稳定性好、能量转换效率高和环保性好的优点。 | ||||||
| 170 | 自动光学检查设备及其测光工具板和调光方法 | CN201010172904.4 | 2010-05-06 | CN101852593A | 2010-10-06 | 王晓波 |
| 本发明公开了一种自动光学检查设备及其测光工具板和调光方法。所述设备包括：检测平台；放置于所述检测平台上的测光工具板，所述测光工具板表面设有自表面圆弧隆起或凹下的参照物；位于所述检测平台上方的光源、扫描器，所述光源发出的光线投射至所述参照物，所述扫描器用于利用所述参照物对所述光线的反射对所述参照物进行扫描，并得到扫描图像；调节装置，用于分析所述扫描图像，根据所述扫描图像判断所述光源投射至参照物的光线的是否满足预设的强度、角度和/或反射光的均匀度，在不满足时调节所述光源光线的强度和/或角度直至满足要求。本发明可以根据检测产品的实际需要来调整检测光情况，调节设备的检测效果，提高设备的生产效率和产能。 | ||||||
| 171 | 一种光伏组件的性能测试设备、方法及系统 | CN202310756193.2 | 2023-06-25 | CN116743081A | 2023-09-12 | 陈大英; 张立英; 冯笑丹; 徐志伟; 陈明; 王文祥; 彭子剑; 黄力哲; 贾宜萌; 杜闯; 王伟; 吕贝; 高培鑫; 万月; 林盘盘 |
| 本发明提供了一种光伏组件的性能测试设备、方法及系统，获取由顶部测光模块测量得到的环境辐照度；在环境辐照度满足预设的第一测试条件的情况下，基于环境辐照度和待测辐照度计算待测辐照度所需的目标透光率；将遮光板的透光率调整为目标透光率以将照射到光伏组件表面的辐照度调整为待测辐照度，获取由下部测光模块测量得到的光伏组件表面的辐照度；在光伏组件表面的辐照度满足预设的第二测试条件的情况下，控制测试仪测试光伏组件的性能。本方案能够在自然环境下调整照射到光伏组件表面的辐照度并测试光伏组件的性能，从而提高测试准确性。 | ||||||
| 172 | 一种混合等离子体波导的光电探测器 | CN202010641914.1 | 2020-07-06 | CN111952400A | 2020-11-17 | 黄旭光; 张新; 梁勇 |
| 本发明公开了一种混合等离子体波导的光电探测器，包括：衬底，所述衬底的上表面铺设有硅波导和第一金属电极，所述硅波导的上表面设有由黑砷磷薄膜和石墨烯薄膜相接触组成的异质结，所述异质结的上表面设有第二金属电极，所述石墨烯薄膜的一部分延伸离开硅波导，并与第一金属电极的上表面接触。待测光沿着硅波导进行长距离传输，在进行传输的过程中，待测光的消逝波会进入到石墨烯薄膜和黑砷磷薄膜所形成的异质结，从而被所述异质结吸收并进行光电转换。通过这样的结构使得整个光电探测器响应灵敏度高，具有高探测效率。本发明用于光电探测器技术领域。 | ||||||
| 173 | 一种拍摄调整方法、装置、电子设备及存储介质 | CN201811162075.4 | 2018-09-30 | CN110971814A | 2020-04-07 | 郭鹤 |
| 本公开公开了一种拍摄调整方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：识别拍摄区域内的人脸区域；根据人脸区域与拍摄区域的比重，确定人脸区域对应的补偿区域；根据对焦区域列表中各区域的权重系数对各区域进行对焦，并且根据测光区域列表中各区域的权重系数调整各区域的亮度，以对拍摄区域进行拍摄，对焦区域列表和测光区域列表分别包括人脸区域和补偿区域。本公开实施例实现了对对焦区域进行精准对焦，以及对拍摄区域的亮度调节进行精准控制，从而保证了人脸区域的清晰度和亮度，提高了拍摄区域的整体视觉效果，提升了用户的使用体验。 | ||||||
| 174 | 用于检查化学分析仪的搅拌质量的装置和方法 | CN202310840326.4 | 2023-07-10 | CN117388192A | 2024-01-12 | 纸本祥希; 山田训久 |
| 本公开提供了一种用于检查化学分析仪(100)的搅拌质量的装置(200)和方法。该装置包括搅拌器(202)，其被配置为使盛装在第一比色皿(212)中的测试液体(210)产生搅动。该装置包括对流发生器(208)，其被配置为产生测试液体的热对流。热对流是由于通过向第一比色皿提供不同温度造成的温度差而产生的。该装置包括测光设备(204)，其被配置为经由测试液体来辐射光，并且在接收经由测试液体的辐射光后连续地产生输出信号。此外，该装置包括确定模块(206)，其被配置为确定与测试液体的吸光度值相关联的测光数据。确定模块被配置为基于测光数据来确定代表测试液体的搅拌质量的至少一个度量。 | ||||||
| 175 | 一种利用光敏电阻实现节能环保的图像处理检测装置 | CN202011043645.5 | 2020-09-28 | CN112179627A | 2021-01-05 | 罗林祥 |
| 本发明涉及图像处理技术领域，提供一种利用光敏电阻实现节能环保的图像处理检测装置，包括检测装置，所述检测装置的左右两侧均固定连接有光源，所述检测装置的左右两侧均通过光源固定连接有光路处理板，所述检测装置的底端活动连接有拉伸架构，该利用光敏电阻实现节能环保的图像处理检测装置，通过手动打开设备的开关，光源将成像光通过光路处理板处理传至测光箱的外表面，测光箱与光路处理板之间的间距为成人正常观赏电视的距离，则图像成形像素越高，且越清晰，其图像处理对于光源的集中性较好，根据测光箱的特性，光敏电阻有两种种类，此处选择的种类特性为入射光强，电阻减小，入射光弱，电阻增大。 | ||||||
| 176 | 光波长检测器及使用方法 | CN201610042563.6 | 2016-01-22 | CN106996832A | 2017-08-01 | 张凌; 吴扬; 姜开利; 刘长洪; 王佳平; 范守善 |
| 本发明涉及一种光波长检测器，其包括：一探测元件，所述探测元件用于接收待测光一测量装置，所述测量装置与所述探测元件电连接；其中，所述探测元件包括一碳纳米管结构，该碳纳米管结构包括多个碳纳米管沿同一方向延伸；所述光波长检测器进一步包括一偏振片，所述偏振片用于将待测光起偏为偏振光后入射到碳纳米管结构的部分表面，所述测量装置用于测量由于偏振光的照射在所述碳纳米管结构中产生的温度差或电势差，该偏振片与所述碳纳米管结构可相对旋转，从而改变偏振光的方向与所述碳纳米管的延伸方向之间的夹角角度，通过比较不同夹角时测量得到的温度差或电势差获得所述待测光的波长值。本发明还涉及一种光波长检测器的使用方法。 | ||||||
| 177 | 从煤中分离壳质组后的检验方法及其检验装置 | CN201510122189.6 | 2015-03-13 | CN104713832A | 2015-06-17 | 孙玉壮; 石杰; 李彦恒; 王金喜; 赵存良; 张海岛; 孟志强 |
| 一种从煤中分离壳质组后的检验方法及其检验装置，该从煤中分离壳质组后的检验方法包括顺序进行的以下工艺步骤：(A)检验已完全分离；(B)检验所分离壳质组的浓度。该检验方法所用的检验装置由壳质组荧光灯和感光测光器组成，壳质组荧光灯由底座I、齿轮活动关节、调节杆、UVA波段紫外光光源、电源插座构成，感光测光器由底座II、可伸缩杆、硅光电池测光表构成。其优点为，该从煤中分离壳质组后的检验方法，简单、实用，并且可以快速地检验出煤中壳质组是否被完全分离、精确地指示出所分离壳质组在石英玻璃分层罐中的高度以及所分离壳质组的浓度。该检验方法所用的检验装置，结构简单，使用方便，检测直观、准确、快捷。 | ||||||
| 178 | 一种光模块劣化测试方法、系统、设备和存储介质 | CN201911273288.9 | 2019-12-12 | CN112994786B | 2024-02-23 | 刘文海; 陈刚; 涂明强; 张璋; 胡小念 |
| 本申请提出一种光模块劣化测试方法、系统、设备和存储介质。该方法包括:根据预先采集的待测光模块的H偏振态误码计数和V偏振态误码计数确定对应的H偏振态误码率和V偏振态误码率;根据H偏振态误码率和V偏振态误码率确定对应的H偏振态误码卡方表征量和V偏振态误码卡方表征量;根据H偏振态误码卡方表征量和V偏振态误码卡方表征量确定偏振态信号质量差异表征量;根据偏振态信号质量差异表征量确定待测光模块的劣化程度。 | ||||||
| 179 | 光模块测试装置 | CN202122642132.2 | 2021-10-30 | CN216207121U | 2022-04-05 | 安宏鹏 |
| 本实用新型公开了一种光模块测试装置，包括箱体、测试板、联动部、操作部和测温部。测试板用于与待测光模块样品电连接，并为待测光模块样品提供电源信号和通讯信号。联动部包括第一联动件和第二联动件，测温部包括第一测温件和第二测温件，第一测温件与第一测温部连接，第二测温件与第二测温部连接。操作杆与第一联动件和第二联动件均连接，操作杆用于带动第一联动件和第二联动件运动，以使第一测温件和第二测温件分别与待测光模块样品相对两个表面接触，从而对待测光模块样品进行测温。本实用新型提供的光模块测试装置可以解决现有光模块测试装置对待测光模块样品的温度测试不准确和检测效率低的技术问题。 | ||||||
| 180 | 光模块抗静电放电性能测试系统 | CN201620452007.1 | 2016-05-18 | CN205792592U | 2016-12-07 | 王海霞 |
| 本实用新型提供一种光模块抗静电放电性能测试系统，涉及电子产品测试技术领域。该测试系统包括：PCB板、金属屏蔽盒、误码仪、电源、标准光模块、光纤；所述标准光模块通过光纤向被测光模块输送标准光信号；被测光模块将标准光信号转换成标准电信号输送至PCB板；PCB板将标准电信号输送至被测光模块；被测光模块将PCB板输送的标准电信号转换成新光信号，再将新光信号通过光纤输送至标准光模块；误码仪对标准光模块输出的标准光信号与输入标准光模块的新光信号进行对比计算，判断是否有误码，从而判断被测光模块的防静电性能。本测试系统的优点主要表现在：不容易受到电磁辐射干扰，不会引起丢包，测试系统简单。 | ||||||
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