| 序号 | 专利名 | 申请号 | 申请日 | 公开（公告）号 | 公开（公告）日 | 发明人 |
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| 121 | 一种光源的调节方法及光源 | CN202010407759.7 | 2020-05-14 | CN111556609A | 2020-08-18 | 李携曦; 尹嘉豪; 罗雨萌 |
| 本发明公开了一种光源的调节方法及光源。该光源包括：PCB板、LED芯片以及主控元件；其中，LED芯片包括透明衬底，透明衬底安装于PCB板上；PCB板包括通孔，通孔贯穿PCB板露出透明衬底的部分表面；LED芯片与PCB板电连接，用于在发光阶段发光以及在测光阶段感测周围环境的光照强度；主控元件与PCB板电连接，用于根据LED芯片感测到的光照强度调节LED芯片的发光时长和测光时长。通过将LED芯片的透明衬底设置在PCB板上，且设置通孔贯穿PCB板露出透明衬底的部分表面，实现LED芯片在发光阶段发光以及在测光阶段感测周围环境的光照，进而主控元件根据LED芯片感测到的光照强度调节LED芯片的发光时长和测光时长，实现了发光功能和感光功能由同一器件实现，减小了电路复杂性。 | ||||||
| 122 | 一种检测光模块星座图的方法、装置及虚拟矢量分析仪 | CN201510340269.9 | 2015-06-18 | CN106257257B | 2019-11-29 | 毛明旺; 郭帅 |
| 本发明提供一种检测光模块星座图的方法、装置及虚拟矢量分析仪，解决了现有技术中使用仪表检测星座图需要拆开光模块测量模块内部信号，有可能造成光模块内部器件或光纤的损伤的问题。该检测光模块星座图的方法包括：发送检测命令到待测光模块；获取待测光模块的内部数据；对所述内部数据进行解析，得到解析结果；根据所述解析结果，绘制待测光模块的表示待测光模块的信号质量的星座图。该方法保护了光模块的完整性，节约了资源，且采用该方法分析光模块星座图，可对光模块星座图数据分为X偏振态和Y偏振态两路进行分析，更有益于检测光模块发送信号的质量。 | ||||||
| 123 | 一种低蛋白吸附免疫检测反应杯 | CN202220208452.9 | 2022-01-24 | CN216900566U | 2022-07-05 | 张忠伟; 刘昱; 李务喜; 卞利; 杨耿银; 殷强 |
| 本实用新型公开了一种低蛋白吸附免疫检测反应杯，包括：从上至下依次设置的杯口部、杯壁部、杯底部；所述杯口部与杯壁部横截面呈矩形，所述杯底部呈半椭圆形；所述杯口部上边缘对称设有横向延伸的侧片，所述杯口部于侧片下方设有从上至下逐渐向中部倾斜的斜坡壁；所述杯壁部于侧片下方的侧面设有测光面，所述测光面向下延伸出受力作用片，所述受力作用片最低处向下与杯底部最低处齐平。本实用新型的有益效果为：两个测光面随机独立区分方式可避免混匀敲打和磁铁接触时导致该测光面表面轻微的痕迹对测光信号至的波动干扰，又因为两个测光面特征基本一致，保证不同反应杯随机用任意测光面读取光信号值的稳定性。 | ||||||
| 124 | 数字摄像装置及其亮度校正方法 | CN200810189116.9 | 2008-12-29 | CN101771826A | 2010-07-07 | 周詹闵; 卢宗斌 |
| 一种数字摄像装置及其亮度校正方法，数字摄像装置利用闪光灯补偿在拍摄数字影像时对影像中的被摄对象进行亮度校正。设定数字摄像装置对被摄对象的放大倍率；撷取预摄影像，其中至少包括有被摄对象的影像；拍摄数字影像，触发闪光灯发出主闪光照射被摄物件；设定数字影像的多个测光区域；取得测光区域中被摄对象的相应物距；根据物距，建立遮蔽补偿表；加载遮蔽补偿表，调整数字影像的每一测光区域的亮度。 | ||||||
| 125 | 一种曝光参数调整方法、装置、存储介质及电子设备 | CN202210481753.3 | 2022-05-05 | CN115037883A | 2022-09-09 | 谢炜 |
| 本申请公开了一种曝光参数调整方法、装置、存储介质及电子设备，其中，方法包括：获取图像传感器所采集的第一图像数据，基于设定区域集合在所述第一图像数据中提取目标区域，所述设定区域集合为预先设置的在不同拍摄场景下的样本区域集合，基于所述目标区域在所述第一图像数据中的位置信息，获取所述目标区域对应的测光表权重值，基于所述第一图像数据以及所述测光表权重值对所述图像传感器的曝光参数进行调整。采用本申请，在拍摄图像的过程中根据拍摄图像中的目标区域动态调整测光表权重值以及图像传感器的曝光参数，以实现拍摄图像的正常曝光。 | ||||||
| 126 | 一种用于检测污水澄清度的透光检测器 | CN201610872344.0 | 2016-10-06 | CN106198462B | 2018-11-02 | 张俊杰; 其他发明人请求不公开姓名 |
| 本发明涉及一种印染污水控制系统用的透光度检测器。一种用于检测污水澄清度的透光检测器，由主壳体、检测三通管、发光组件、带信号输出的测光组件和排水套壳组成；检测三通管、发光组件、带信号输出的测光组件均安装于主壳体内，且检测三通管位于发光组件和测光组件之间；主壳体顶部设有平行排列的水样进水管、第一进气管和第二进气管，检测三通管包括上端进水管和左、右出水管，发光组件与左出水管之间留有第一空隙，测光组件与右出水管之间留有第二空隙；第一、第二进气管的输出口朝下并分别位于第一、第二空隙上方。本发明的透光度检测器可以防止表面结污影响检测准确性和稳定性，降低清洗和维修频率，提高检测器检测准确性和稳定性。 | ||||||
| 127 | 一种用于检测污水澄清度的透光检测器 | CN201610872344.0 | 2016-10-06 | CN106198462A | 2016-12-07 | 张俊杰; 其他发明人请求不公开姓名 |
| 本发明涉及一种印染污水控制系统用的透光度检测器。一种用于检测污水澄清度的透光检测器，由主壳体、检测三通管、发光组件、带信号输出的测光组件和排水套壳组成；检测三通管、发光组件、带信号输出的测光组件均安装于主壳体内，且检测三通管位于发光组件和测光组件之间；主壳体顶部设有平行排列的水样进水管、第一进气管和第二进气管，检测三通管包括上端进水管和左、右出水管，发光组件与左出水管之间留有第一空隙，测光组件与右出水管之间留有第二空隙；第一、第二进气管的输出口朝下并分别位于第一、第二空隙上方。本发明的透光度检测器可以防止表面结污影响检测准确性和稳定性，降低清洗和维修频率，提高检测器检测准确性和稳定性。 | ||||||
| 128 | 偏振光的检测方法 | CN201310042255.X | 2013-02-04 | CN103968948B | 2016-04-27 | 刘军库; 李关红; 李群庆; 范守善 |
| 本发明提供一种偏振光的检测方法，具体包括以下步骤：提供一偏振光检测系统，其包括一光敏电阻、一电源及一检测装置，所述光敏电阻包括一第一电极层和一光敏材料层，所述检测装置包括一电流检测元件及一计算机分析系统；将一待测光照射到所述光敏电阻的表面；利用所述光敏电阻对该待测光进行偏振识别；利用所述电流检测元件检测所述光敏电阻中的电流变化；以及利用所述计算机分析系统分析得到该待测光的偏振信息。 | ||||||
| 129 | 运动检测装置及方法 | CN200610094036.6 | 2006-06-20 | CN101093255A | 2007-12-26 | 郑家驹; 林诗珩; 周荣华; 陈昭宇 |
| 一种感测器运动检测装置及方法，其使用线性感测器。该运动检测装置包括两条线性感测器，以非平行方式设置，用于感测光信号数据。并且由一运算单元通过两条线性感测器所感测的光信号数据序列执行相关性、判断运动方向及速度的运算等，从而得知运动检测装置相对于检测表面的移动方向及速度。由于本发明采用了两条线性感测器感测光信号数据序列，所以运算数据量比以往利用面型感测器感测光信号数据少，可有效提高运动检测装置的运算速度及降低硬件成本。 | ||||||
| 130 | 谱面成像检测系统和方法 | CN202411570902.9 | 2024-11-06 | CN119310051A | 2025-01-14 | 姚宪; 孙逸; 孙培; 姚夏 |
| 本申请涉及一种谱面成像检测系统和方法，包括：用于发出激发光的光源；分光合光元件，接收来自光源的激发光并将来自光源的激发光引导至镜头，以及接收来自镜头的目标物探测光并将目标物探测光引导至滤光片；镜头，用于调节入射到目标物的激发光、目标物反射的激发光以及目标物被激发的目标物探测光；目标物包括光致发光材料；滤光片，用于滤除目标物反射的激发光并透过目标物探测光；线光谱扫描模块，对目标物进行线扫描，从而获得目标物的线扫描光谱；目标物的线扫描光谱包括目标物每一点的光致发光光谱。本申请的检测系统和方法能够基于获得的光致发光光谱，对产品表面、材料特征等进行分析，得到材料的质量、缺陷浓度和掺杂情况等。 | ||||||
| 131 | 一种基于线性光网络的多光子态层析方法 | CN202311445225.3 | 2023-11-01 | CN117391211B | 2024-02-27 | 徐慧超 |
| 本申请实施例提供了一种基于线性光网络的多光子态层析方法，该方法包括：获取待测光信号；待测光信号对应的量子系统包括多个偏振纠缠光子对，量子系统的量子态是纯态或混合态；将待测光信号输入线性光网络，并利用一组正定算子测量算符所对应的光学路径对多个偏振纠缠光子对进行量子操作，得到线性光网络对应的输出量子态；利用光子数可分辨探测器获取光学路径的测量结果，并对目标次数测量待测光信号得到的多个光学路径的测量结果进行概率统计，得到量子系统的量子态对应的密度矩阵；密度矩阵用于表示纯态或混合态。本申请通过使用光学路径进行量子操作实现基于一组正定算子测量算符对量子态进行测量的功能，可以提高多光子态层析的效率。 | ||||||
| 132 | 一种基于大数据的光芯片生产管理系统及方法 | CN202310138242.6 | 2023-02-20 | CN116385355A | 2023-07-04 | 李欣宁; 陈忠春; 谢尚策; 王斌 |
| 本发明涉及芯片的生产管理领域，具体为一种基于大数据的光芯片生产管理系统及方法，包括使用不同拍摄光源对样本光芯片的表面投射灯光，在不同拍摄光源下，对样本光芯片在不同拍摄角度上进行拍摄，将样本光芯片图像进行记录汇集；对记录的样本光芯片图像进行筛选，符合要求的样本光芯片图像组；对待测光芯片进行拍摄，获取待测光芯片的图像；将图像上传给芯片工程师进行分析，获取待测光芯片的芯片信息；计算待测光芯片图像组对应拍摄角度和拍摄灯光下的检测错误值；根据检测错误值，获取光芯片的最佳拍摄角度和最佳拍摄光源；对生产出的光芯片按照最佳拍摄角度和拍摄光源进行拍摄，根据图像对光芯片进行检验。 | ||||||
| 133 | 一种检测光模块星座图的方法、装置及虚拟矢量分析仪 | CN201510340269.9 | 2015-06-18 | CN106257257A | 2016-12-28 | 毛明旺; 郭帅 |
| 本发明提供一种检测光模块星座图的方法、装置及虚拟矢量分析仪，解决了现有技术中使用仪表检测星座图需要拆开光模块测量模块内部信号，有可能造成光模块内部器件或光纤的损伤的问题。该检测光模块星座图的方法包括：发送检测命令到待测光模块；获取待测光模块的内部数据；对所述内部数据进行解析，得到解析结果；根据所述解析结果，绘制待测光模块的表示待测光模块的信号质量的星座图。该方法保护了光模块的完整性，节约了资源，且采用该方法分析光模块星座图，可对光模块星座图数据分为X偏振态和Y偏振态两路进行分析，更有益于检测光模块发送信号的质量。 | ||||||
| 134 | 人眼追踪系统和虚拟现实显示装置 | CN202110942061.X | 2021-08-17 | CN113589940B | 2023-11-14 | 王世育 |
| 本申请提供一种人眼追踪系统，包括：透镜；感测组件，位于所述透镜的一表面，所述感测组件包括多颗微型发光二极管，每一所述微型发光二极管用于发射光源光，所述光源光用于入射至人眼并被所述人眼反射，所述人眼反射的光为感测光，每一所述微型发光二极管还用于接收所述感测光并根据所述感测光产生感测信号；控制器，电连接每一所述微型发光二极管，用于根据所述感测信号获取所述人眼的位置信息。本申请还提供一种虚拟现实显示装置。 | ||||||
| 135 | 分析装置 | CN201910711893.3 | 2019-07-31 | CN110308293A | 2019-10-08 | 王海; 鲍茂然; 吴文超 |
| 本发明提供一种分析装置，所述分析装置包括工作台、检测用品放置区、孵育机构、磁分离机构、运动机构、加样机构和测光机构，所述检测用品放置区至少放置有试剂条，所述检测用品放置区、所述孵育机构和所述磁分离机构设于所述工作台的表面上，所述加样机构和所述测光机构设于所述运动机构上并位于所述工作台上方，所述加样机构和所述测光机构可通过所述运动机构运动至所述检测用品放置区和所述孵育机构上对所述试剂条进行相应操作，而实现对待检测样品的分析检测。本发明提供的分析装置，避免了现有技术中分析装置具有结构复杂和体积大等问题。 | ||||||
| 136 | 一种检测辊轴及安装有该检测辊轴的光学膜成型机 | CN202020520736.2 | 2020-04-10 | CN212446303U | 2021-02-02 | 李小禹 |
| 一种检测辊轴及安装有该检测辊轴的光学膜成型机，所述检测辊轴包括辊轴本体和测光装置，所述辊轴本体设有开口腔，所述开口腔内安装测光装置，所述测光装置连接外部的控制主机，所述测光装置用于检测接收光信号并将信号信息传输至外部的控制主机，所述开口腔的开口处设有与辊轴本体表面配合的弧形透光板，所述弧形透光板对应测光装置，当弧形透光板对应外界的光源照射时，光源依次穿过连接辊轴本体的膜料和位于辊轴本体上的弧形透光板进入测光装置内，测光装置接收光信号，并将信号传递至外界的控制主机。本检测辊轴通过辊轴本体和测光装置，除了可以对膜料进行传输或模压，还可以在辊轴本体的转动中通过测光装置对膜料本身是或否达标进行实时测试，从而显著提高了膜料的成品精度。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利 | ||||||
| 137 | 一种基于线性光网络的多光子态层析方法 | CN202311445225.3 | 2023-11-01 | CN117391211A | 2024-01-12 | 徐慧超 |
| 本申请实施例提供了一种基于线性光网络的多光子态层析方法，该方法包括：获取待测光信号；待测光信号对应的量子系统包括多个偏振纠缠光子对，量子系统的量子态是纯态或混合态；将待测光信号输入线性光网络，并利用一组正定算子测量算符所对应的光学路径对多个偏振纠缠光子对进行量子操作，得到线性光网络对应的输出量子态；利用光子数可分辨探测器获取光学路径的测量结果，并对目标次数测量待测光信号得到的多个光学路径的测量结果进行概率统计，得到量子系统的量子态对应的密度矩阵；密度矩阵用于表示纯态或混合态。本申请通过使用光学路径进行量子操作实现基于一组正定算子测量算符对量子态进行测量的功能，可以提高多光子态层析的效率。 | ||||||
| 138 | 光纤激光装置和检测方法 | CN202110502079.8 | 2021-05-08 | CN115383284A | 2022-11-25 | 马淑贞; 郭亚银; 杨继明; 陈焱; 高云峰 |
| 本发明公开一种光纤激光装置和检测方法，该光纤激光装置，包括控制模块，以及与控制模块相连的激光生成模块、耦合器件、信号光模块、光电探测器和加工头；耦合器件的输入端与激光生成模块和信号光模块相连，用于根据激光和信号光，形成加工光；通过加工头向待加工件发送加工光，加工光在待加工件表面反射后，形成待测光；光电探测器，与耦合器件的输入端相连，用于探测待测光，并对待测光进行处理，形成探测数据，将探测数据发送给控制模块；控制模块，用于根据接收到的探测数据，控制目标执行部件工作。本发明通过耦合器件、信号光模块和光电探测器配合，实现对待测光进行精准探测，确保探测数据更加精准，为控制模块的高精准控制提供技术支持。 | ||||||
| 139 | 光学玻璃耐腐蚀性测试装置及其测试方法 | CN201110133717.X | 2011-05-23 | CN102305760B | 2013-10-02 | 周佺佺; 吴志强; 王竑; 许波 |
| 本发明所要解决的技术问题是提供一种高精度、可以定量测试的光学玻璃耐腐蚀性测试装置。光学玻璃耐腐蚀性测试装置，沿光路依次设置光源、平行光管、转盘、测光积分球、光捕获器、白板和光探测器，所述测光积分球上开有四个开口，其中，第一个开口作为入射光的入口；第二个开口位于与入光口成180°的位置上，第三个和第四个开口互成90°，并且也分别与入光口互成90°，入光口处放置样品，其余三个开口处分别放置光捕获器、白板和光探测器。本发明方便巧妙地排除了入射光不平行性、样品以及测光积分球多次反射和透射损失，以及测光积分球内光残留、装置几何偏差造成的误差影响，实现了对光学玻璃表面腐蚀情况高精度的细分判定。 | ||||||
| 140 | 光学玻璃耐腐蚀性测试装置及其测试方法 | CN201110133717.X | 2011-05-23 | CN102305760A | 2012-01-04 | 周佺佺; 吴志强; 王竑; 许波 |
| 本发明所要解决的技术问题是提供一种高精度、可以定量测试的光学玻璃耐腐蚀性测试装置。光学玻璃耐腐蚀性测试装置，沿光路依次设置光源、平行光管、转盘、测光积分球、光捕获器、白板和光探测器，所述测光积分球上开有四个开口，其中，第一个开口作为入射光的入口；第二个开口位于与入光口成180°的位置上，第三个和第四个开口互成90°，并且也分别与入光口互成90°，入光口处放置样品，其余三个开口处分别放置光捕获器、白板和光探测器。本发明方便巧妙地排除了入射光不平行性、样品以及测光积分球多次反射和透射损失，以及测光积分球内光残留、装置几何偏差造成的误差影响，实现了对光学玻璃表面腐蚀情况高精度的细分判定。 | ||||||
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