Optical disk device

申请号 JP33150995 申请日 1995-12-20 公开(公告)号 JP3123591B2 公开(公告)日 2001-01-15
申请人 富士通周辺機株式会社; 富士通株式会社; 发明人 禎 佐川; 聡 古田; 茂知 柳; 政春 森次; 徹 藤原;
摘要
权利要求 (57)【特許請求の範囲】
  • 【請求項1】 光ディスク上に予め設けられた特定の領
    域に、ドメイン密度が一定でない特定のパターンをテス
    トライトする書き込み制御手段と、 光ディスクよりのアナログ情報を所定のスライスレベル
    で2値化して再生する再生手段と、 上記特定パターンを再生するに際して、上記所定のスラ
    イスレベルに対して、複数のオフセット値を与えて、ス
    ライスレベルを変更するスライスレベル変更手段と、 各スライスレベルについての再生データのエラーレイト
    を求めるエラーレイト算出手段と、上記算出されたエラーレイトに基づいて、 ディスクの適正スライスレベルを得るためのオフセット値を決定するスライスレベル補正手段と、 を備えたことを特徴とする 光ディスク装置。
  • 【請求項2】 上記ドメインの密度が一定でない特定の
    パターンが、 高密度から低密度に、あるいは低密度から高密度に変化
    することを具備する請求項1に記載の光ディスク装置。
  • 【請求項3】 光ディスク装置において、 光ディスクよりのアナログ情報を所定のスライスレベル
    で2値化して再生する再生手段と、 光ディスクの特定領域に書き込んだ特定パターンを再生
    するに際して、上記所定のスライスレベルに対して、複
    数のオフセット値を与えて、スライスレベルを変更する
    スライスレベル変更手段と、 各スライスレベルについての再生データのエラーレイト
    を求めるエラーレイト算出手段と、 上記エラーレイトが許容値以下であるスライスレベルの
    上限と下限のマージンが大きいときに再生条件を変化さ
    せて、上記マージンを小さくする再生条件制御手段と、 上記算出されたエラーレイトに基づいて、光ディスクの
    適正スライスレベルを得るためのオフセット値を決定す
    るスライスレベル補正手段と、 を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
  • 【請求項4】 光ディスク上に予め設けられた特定の領
    域に、ドメイン密度が一定でないテストパターンをテス
    トライトする書き込み制御手段が備えられた請求項3に
    記載の光ディスク装置。
  • 说明书全文

    【発明の詳細な説明】

    【0001】

    【発明の属する技術分野】本発明はディスク装置に関し、特に、マークエッジ記録方式の光ディスク再生装置に関するものである。

    【0002】

    【従来技術】光磁気ディスク等光ディスクの記録方式には、マークピット記録方式とマークエッジ記録方式がある。 マークピット記録方式は情報処理に用いるNRZ符号をそのまま光ディスク上に記録する(“1”がピットあり、“0”がピットなし)のでエラーが少ないが、
    “1”が連続するときに隣接する“1”を電気的に区分する必要上、記録密度を上げることができない欠点がある。

    【0003】一方、マークエッジ記録方式はNRZ符号を“1”が連続しない形式の符号(例えば1/7バイト符号)に変換し、ピットのエッジの位置を“1”に、また、エッジ間を零に対応させる記録方式であり、“1”
    と“1”の間の長さに応じて零の数が決定できる。 この方式によると駆動クロックの周波数をあげると記録密度を高くすることができるので、上記マークピット方式に代わって用いられようとしている。

    【0004】ところが、この方式を用いると“1”の位置及び“1”と“1”の長さが記録データ及び再生データに対応するのであるから、記録データの“1”、
    “0”の配列状態を正確にディスク面上の記録状態に反映することはもちろん、記録されたピットのエッジ位置を電気的に正確に再生することが必要になる。

    【0005】上記マークエッジ記録方式の記録に際して単純に“1”と“1”の間を図6(b) に示すように、所定のパワー(レベル1)のレーザ光で媒体を照射する場合は、図6(a) に示すように形成されるドメインDsが理想の状態Dpからかけ離れるので、図7に示すパルストレイン方式が用いられる。

    【0006】すなわち、図7(c) に示すよう、ピットを形成しないときはきわめて低いレベルのアシストレベル(レベル0)に書込みレーザの出を保持しておき、ピット形成時にはピットを形成するに足る比較的高いレベル(レベル1)(後述のレベル3の2/3程度)の、しかも長い(図7(b) に示す駆動パルスの3/2周期)パルスに移行し、次いで、より高く短い(駆動パルスの1
    /2周期)パルス(レベル2)で書き込みを行うものである。 この方式によると図7(a) に示すように、理想のドメインDpの形状に比較的近い形状のドメインDsが形成され、記録データと記録ドメインの整合性が保てることになる。

    【0007】図8はマークエッジ記録方式の光ディスクの再生装置の1例を示すブロック図である。 光ディスク1たとえば光磁気ディスクよりの反射光は、光学ヘッド11に備えた図示しない光ディテクタにより電気信号に変換され、この後、アンプ12で増幅され、更に、ローパスフィルタ13で信号の包絡線を得て、図9(a) に示すようなアナログ信号を得るとともに、所定トラック(あるいは特定時間)より得られる上記アナログ信号のピークレベルとボトムレベルを確認して、その値をピークボトムホルダ14に保持して、その中間の値をスライスレベルL 0として決定する。 次いで、2値化回路1
    5で図9(b) に示すように、スライスレベルL 0より高い部分を“1”、低い部分を“0”とする(2値化する)とともに、図9(c),(d) に示すように、上記2値化信号よりその立ち上がりと立ち下がりを現すデュアルデータ(PDATA),(NDATA) を得る。 このデュアルデータを論理和することによって、記録データの再生データを得ることができ、更にこのようにして得られた信号をデコーダ16で通常のデータ処理に必要なNRZデータにデコードして使用することになる。

    【0008】

    【発明が解決しようとする課題】上記のようにマークエッジ記録方式は記録密度が高い点で有益であるが、記録信号の表わす“1”の位置と、“1”と“1”の間隔が該記録信号に対応するように記録され、また再生されることが必要である。

    【0009】ところで、所定のメーカの所定の種類の光ディスクのみを使用する場合には、エラーの少ない最適記録条件を一義的に定めることができるが、光ディスクに使用される材料や磁気膜等の膜厚はメーカによって少しずつ異なっており、上記パルストレイン方式による記録時のレーザ光の各レベル(レベル0〜2)を同じにしても形成されるピットの状態は光ディスクの種類やメーカが異なると少しずつ異なり、最適書き込み条件を一義的に定めることができない。

    【0010】すなわち、上記パルストレイン記録方式によると、適正な記録を得るために、上記3段階のレーザ光のレベルのそれぞれを調整する必要があり、適正なライトパワーを決めるのに時間を要することになる。

    【0011】一方、再生側での再生エラーを少なくする方法も種々提案されている。 例えば、特開平3−911
    35号では、増幅回路の増幅率や遅延回路の遅延量を再生状態に応じて最適の状態に決める方法が提案されているが、増幅率や遅延量の変化は図9(a) に対応する再生波形の変化をも持たらし、例えば増幅率を上げるとエラーレートが少なくなるといった単純な考え方で対処できず、しかも遅延量と増幅率の2つの要素を調整するとなると、更に処理が複雑になる。

    【0012】更に、上記従来の構成で2値化時のスライスレベルを決定にするに際して特定のトラックより再生されたアナログデータのピークレベルとボトムレベルの中点をとるようにしている。 しかしながら、このように単純に中点を採る方法は、図10(a) あるいは(b) に示すようにドメイン部分と非ドメイン部分が比較的均一に分布しているデータ(この場合1/7データ)の場合、
    スライスレベルLa、Lbの変動も少なく、エラーレートも小さいが、図10(c) に示すようにドメイン形成部分の密度が高い状態から、ドメイン形成部分の密度の低い状態に急激に変化する場合には、スライスレベルLc
    の変動を来たすことがあり、このスライスレベルの変動が原因でエラーレートが増加することになる。

    【0013】本発明は上記従来の事情に鑑みて提案されたものであって、光ディスク装置の再生時のスライスレベルを適正にすることによって、より正確でエラーレートの少ない再生をすることができる光ディスク再生装置を提供することを目的とするものである。

    【0014】

    【課題を解決するための手段】一般に図5に示すようなアナログの再生データを順次大きくなるA、B、C、
    D、Eの各レベルでスライスした場合のエラーレートは図4に示すような放物線状の曲線になり、該曲線の先端部で、かつ、エラーレートが10 -6以下になるようにスライスレベルを定めるのが理想であり、このスライスレベルは必ずしも、上記した再生信号のピークレベルとボトムレベルの中点とは一致しない。 従って、ピークレベルとボトムレベルの中点がレベルP 0であったとき、補正値V 0のオフセットを加えて最適スライスレベルCにする必要がある。

    【0015】図1は上記最適スライスレベルCを得るための原理ブロック図である。 再生手段10の2値化回路15には図8で説明したのと同様、アナログの再生信号が入力されるとともに、該アナログの再生信号のピークレベルとボトムレベルの中点がスライスレベルとして入力されている。 更に、本発明ではスライスレベル変更手段20より上記2値化回路15に対して、上記スライスレベルを複数段階に変更するためのオフセット値が入力され、該複数のスライスレベルで予め決められた特定パターンを読み出す。

    【0016】そして、エラーレート算出手段30は上記各スライスレベルについて読み出した再生・復調信号についてのエラーレートを算出する。 スライスレベル補正手段40では、このように算出されたエラーレートの中、許容値以下のスライスレベルの上下限を求め、更にその中点を最適スライスレベルとする。 このように最適スライスレベルが決定されると該最適スライスレベルに対応するピークボトムホルダ14よりのスライスレベルに対する補正値(オフセット値)が決定でき、上記2値化回路に入力される。

    【0017】上記エラーレートが許容値以下のスライスレベルの上下限のマージンが広いときには、より狭くした方が最適スライスレベルを決定しやすくなる。 そこで、再生条件制御手段50は再生回路の図示しないローパスフィルタの透過周波数を変えたり、あるいは図示しない電子フィルタのブースト値を変えたりすることによって、わざとエラーレートの悪い再生信号を形成し、上記マージンをせばめるようにして最適スライスレベルを決定しやすくする。

    【0018】

    【実施の形態】図2は本発明の一実施例を示す機能ブロック図であり、図3はその動作手順を示すフロー図である。

    【0019】まず、電源がONされるとMPU100の初期設定手段60が作動し、当該光ディスク装置が本来サポートしている光ディスク1に対応するアンプ12の増幅率、ローパスフィルタ13の透過周波数等のデフォルト値を設定する。 もちろん、このとき再生系だけでなく記録系のデフォルト値(すなわち図7に示したアシストレベル、レベル1、レベル2の3段階のレベル等)も設定される(図3、ステップS1)。

    【0020】ディスク装置に光ディスク1が載置されると、媒体判定手段70は当該装置がサポートしている種類の光ディスクであるか否かを判定する(図3、ステップS2)。 ここで、当該装置が当該光ディスク1をサポートしている場合は、上記デフォルト値に従って記録再生がなされることになる。

    【0021】当該光ディスクがサポートされていない場合には、書き込み制御手段80が作動して、光ディスクの所定の領域にテストパターンメモリ90に収納された特定のパターンを書き込む(図3、ステップS3)。 この書き込み時の上記アシストレベル、あるいはレベル1、レベル2(図7参照)等の書き込み条件はデフォルト値に従う。 また、ここでは図10(c) に示したような、できるだけエラーの発生率が高いパターンを書き込む。

    【0022】この書き込みが終了すると、図示しない再生制御手段が作動して、光学ヘッドの再生用レーザがO
    Nの状態になり、上記書き込まれたテストパターンをテストリードする。 このとき再生手段10の各回路の動作は図8に示した従来の場合と同様でありピークボトムホルダ14より、アナログ再生信号のピークレベルとボトムレベルの中心値がスライスレベルとして2値化回路に入力されている。

    【0023】更に、本発明では、上記再生時にMPU1
    00のスライスレベル変更手段20が作動し、上記ピークボトムホルダ14より入力されるスライスレベルに対して、例えば図5のレベルAになるようにオフセット値を2値化回路15に入力し、該スライスレベルAで再生を試みる(図3、ステップS4)。 このようにして得られた2値化信号より、図9(c),(d) に示すデュアルデータに変換され、デコーダ16で情報処理に必要なNRZ
    データに変換する。

    【0024】エラーレート算出手段30は上記デコーダ16の出力に予めテストパターンメモリ90内に記憶されているテストパターンと比較してエラーレートEraが算出され、この結果がスライスレベルAとともにレジスタRaに格納される(図3、ステップS5)。 次に上記レベルAより高いスラスイレベルBで上記同様にエラーレートErbを算出して、レジスタRbに収納する。 このようにして順次スライスレベルをA→B→C→D→Eと高くしながら、各スライスレベルでのエラーレートEr
    a、Erb、Erc、Erd、Ereを対応するレジスタRa、
    Rb、Rc、Rd、Reに収納していく(以上図3、ステップS4→S5→S6の繰り返し)。

    【0025】次いで、スライスレベル手段40は各レジスタRa〜Reに収納されたエラーレートを比較して、
    エラーレートが許容値以下のスライスレベルの上限値と下限値を決定する(図3、ステップS7)。

    【0026】更に、上記上限値、下限値の中間の値を最適スライスレベルとし、ピークボトムホルダ14より出力されるピークレベルとボトムレベルの中点が最適スライスレベルとなる補正値を該中点に対するオフセット値としてオフセット値メモリ41に収納する。 これによって最適スライスレベルが得られたことになり(図3、ステップS9)、以降の通常の再生はピークボトムホルダ14より出力されるピークレベルとボトムレベルの中点に対して常に上記補正値がオフセットされたスライスレベルでの再生がなされる。

    【0027】以上のようにして最適スライスレベルを決定することができるが、上記テストパターンがエラー発生率の高いパターンであっても、媒体の種類によって、
    現実のエラーレートは異なることになる。 従って、図4
    に示す曲線で上記スライスレベルの上限値と下限値のマージン(図4、マージンV 1参照)は、媒体によって異なることになり、このマージンが広い場合には、曲線のカーブも緩やかとなり、その中央のレベルを決定し難いことがある。

    【0028】そこで、再生条件制御手段50が電子フィルタ17の設定値を可変にしてブースト値を変化させて、エラーを発生し易い波形を作って、上記上限と下限のレベルの幅を狭くする。 上記のように電子フィルタ1
    7のブースト値の変更に代えて、ローパスフィルタ13
    の透過周波数を変化させるようにしてもよい(図3、ステップS8→S10)。

    【0029】以上のように特定種の光ディスクに対してスライスレベルやその他の読み出し条件が決定すると、
    該条件を上記光ディスクの種類とともに記憶手段に記憶しておき、上記媒体判定手段70での判定条件とする。
    ここで、過去にテストライトされて最適スライスレベルが決定されているときであって、上記S1のステップでデフォルト値が設定された媒体でないときには、上記ステップS1で書き込まれたデフォルト値を書き換えて通常処理を行う(図3ステップS10→S11)。

    【0030】尚、上記に説明したエラーレートの算出、
    補正値(オフセット値)の決定手順は複数回のエラーレートの算出に基づいて行うと更に、精度の高い再生を行うことができる。 また、最適スライスレベルを、エラーレートが許容値以下のスライスレベルの上限値と下限値の中点としているが、上記スライスレベル変更手段20
    によるスライスレベルの変更ピッチをより小さくして、
    図4の曲線の最低エラーレートに対応するスライスレベルを求めてもよい。

    【0031】

    【発明の効果】以上説明したように本発明は、光ディスクの再生に際して、アナログ信号に対するスライスレベルを、アナログ信号のピーク値とボトム値の中点に対してエラーレートの最も小さいレベルとなるように補正をかけて決定し、しかも、このスライスレベルの決定は光ディスクの種類毎になされるので、種類の異なった光ディスクが用いられても常にエラーに少ない再生状態を確保することができる。

    【図面の簡単な説明】

    【図1】本発明の原理ブロック図である。

    【図2】本発明の1実施例機能ブロック図である。

    【図3】本発明の手順を示すフロー図である。

    【図4】エラーレートとスライスレベルとの関係を示すグラフである。

    【図5】アナログ再生信号とスライスレベルの関係図である。

    【図6】光ディスクの記録ドメインである。

    【図7】光ディスクの記録ドメインである。

    【図8】従来の機能ブロック図である。

    【図9】図10の波形図である。

    【図10】NRZ符号、1/7バイト、記録パターン、
    再生アナログ信号の関係図である。

    【符号の説明】

    1 光ディスク 10 再生手段 20 スライスレベル変更手段 30 エラーレート算出手段 40 スライスレベル補正手段と、 50 再生条件制御手段

    ───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 柳 茂知 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 佐川 禎 山形県東根市大字東根元東根字大森5400 番2(番地なし) 株式会社山形富士通 内 (72)発明者 森次 政春 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (56)参考文献 特開 平5−210913(JP,A) 特開 平6−187643(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl. 7 ,DB名) G11B 20/10 321 G11B 7/00

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