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再现装置和再现方法
申请号	CN200910222890.X	申请日	2009-11-20	公开(公告)号	CN101740049B	公开(公告)日	2012-07-04
申请人	索尼株式会社;			发明人	村山敏之; 饭野浩;
摘要	本发明公开了再现装置和再现方法。一种再现装置，包括再现单元，以记录单位读取被记录在光盘上的数据的再现信号；再现信号处理单元，利用预定参数值执行对再现信号的ECC解码；存储单元，存储与当前设置的参数值相关联的参数序号和列出了参数值和相关联的参数序号的参数表；以及控制单元，控制再现单元和再现信号处理单元。控制单元在ECC解码失败时，按照参数序号的顺序改变参数值，并控制再现信号处理单元，直到在重试再现处理中ECC解码成功为止，并且控制单元在ECC解码成功时，存储与当前设置的参数值相关联的参数序号，并在下一次重试再现处理中把与所存储的参数序号相关联的参数值设置在再现信号处理单元中。
权利要求	1.一种再现装置，包括：再现单元，该再现单元以记录单位读取被记录在光盘上的数据的再现信号；再现信号处理单元，该再现信号处理单元利用被设置用于ECC解码的预定参数值执行对所述再现信号的ECC解码；存储单元，该存储单元存储与当前设置的参数值相关联的参数序号和参数表，该参数表列出了多个参数值和指示所述参数值的应用顺序的相关联的参数序号；以及控制单元，该控制单元控制所述再现单元和所述再现信号处理单元；其中，所述控制单元在所述ECC解码未被成功完成时，按照所述参数表中所列出的所述参数序号的顺序来顺序地改变用于ECC解码的参数设置，并控制所述再现信号处理单元，以便执行作为重试再现处理的ECC解码，直到所述ECC解码被成功完成为止，并且所述控制单元在所述ECC解码成功完成时，将与所述当前设置的参数值相关联的参数序号存储在所述存储单元中，并在下一次重试再现处理中把与所存储的参数序号相关联的参数值设置在再现信号处理单元中。 2.根据权利要求1所述的再现装置，其中所述再现信号处理单元包括：高通滤波器，该高通滤波器抑制所述再现信号的低频成分；以及 AGC电路，该AGC电路自动将所述再现信号电平控制为恒定的；其中所述参数值被用于设置用于所述高通滤波器的低频截止频率以及用于所述AGC电路的时间常数。 3.根据权利要求1所述的再现装置，其中多个相同的参数值被顺序地列在所述参数表中。 4.根据权利要求1所述的再现装置，其中所述控制单元控制所述再现信号处理单元，以便在对所述光盘的表面状况进行检测的启动处理中即使在所述正常再现处理中未成功完成所述ECC解码也防止发生所述重试再现处理。 5.一种再现方法，包括以下步骤：再现步骤，通过按照记录单位读取被记录在光盘上的数据的再现信号来执行再现；再现信号处理步骤，通过利用被设置用于ECC解码的预定参数值执行对从所述光盘中读出的所述再现信号的ECC解码来处理所述再现信号；在存储单元中存储与当前设置的参数值相关联的参数序号和参数表，该参数表列出了多个参数值和指示所述参数值的应用顺序的相关联的参数序号；以及控制所述再现步骤和所述再现信号处理步骤；其中，所述控制步骤在所述ECC解码未被成功完成时，按照所述参数表中所列出的所述参数序号的顺序改变用于ECC解码的参数设置，并控制所述再现信号处理步骤，以便执行作为重试再现处理的ECC解码，直到所述ECC解码被成功完成为止，并且所述控制步骤在所述ECC解码被成功完成时，将与所述当前设置的参数值相关联的参数序号存储在所述存储单元中，并将与所存储的参数序号相关联的参数值设置在下一次重试再现处理中。
说明书全文	再现装置和再现方法技术领域 [0001] 本发明涉及用于再现被记录在光盘上的数据的再现装置和方法，并且更具体地涉及用于高效地从光盘上的缺陷位置读取数据的再现装置和方法。背景技术 [0002] 再现被记录在光盘上的数据的再现装置以RUB(读取单元块)为单位读取数据，所述RUB是光盘上的最小记录单位。 [0003] 在这种类型的再现装置中，从光盘上的特定RUB读出的数据可能会由于对用于所述数据的纠错码(ECC)解码失败而被丢失。ECC解码可能会因为光盘表面上的缺陷而失败，所述缺陷例如划痕、灰尘、指纹污渍和光盘被成型时所产生的微小气泡。 [0004] 在相关技术的再现装置中，为了防止由于这些缺陷而导致的数据丢失，用于再现处理的参数被设置，并且通过将这些参数应用于从光盘中读出的数据来尝试ECC解码。通常，这些参数可以根据缺陷的类型而被改变以提高数据读取性能。 [0005] 例如，日本未审查专利申请公开No.2006-286112描述了通过确定缺陷的有/无以及基于缺陷的细微度和大小确定缺陷的种类来设置最佳参数的再现技术。 [0006] 除了日本未审查专利申请公开No.2006-286112中所描述的再现技术以外，另一种再现技术也是在实际使用的，其中用于多种缺陷的多个参数被预先准备好，并且通过顺序地改变参数来尝试ECC解码。在这种再现技术中，预先被准备好的参数预先以特定的顺序被排列，并且通过按此顺序改变参数来重试ECC解码，一直到ECC解码被成功完成为止。 [0007] 现在将更具体地描述相关技术中的这种再现装置中的数据再现技术。在这种再现装置中，数据从RUB中被顺序地读取，所述RUB例如以类似年轮的结构被布置在记录介质上。在针对从特定RUB读出的数据的第一再现处理(下面视情况被称为“正常再现处理”)中，参数被设置为其初始值并且针对所述的数据的ECC解码被尝试。如果在正常再现处理中ECC解码未被成功完成，则再现装置改变参数设置并重试再现处理(下面视情况被称为“重试再现处理”)。 [0008] 重试再现处理中所使用的参数值被列在参数表中。例如，多个参数值按照应用于ECC解码的顺序被列出。更具体而言，例如，针对光盘上的划痕有效的参数值第一个被列在参数表中，并且针对灰尘有效的参数值第二个被列出。针对光盘上的气泡有效的参数值第三个被列出并且针对指纹污渍有效的参数值第三个被列出。 [0009] 如果在正常再现处理中ECC解码失败，则再现装置通过查找参数表来顺序地改变参数值并重复重试再现处理，直到ECC解码被成功完成。一旦ECC解码完成，数据就从下一个RUB中被读出并且针对该数据的ECC解码在正常再现处理中被尝试。由于缺陷通常出现在光盘上非常有限的区域内，所以在针对特定RUB的ECC解码完成之后，参数被重置为其初始值。 [0010] 如上所述，在例如被安装在个人计算机(PC)中的相关技术中的再现装置中，如果在正常再现处理中ECC解码未被成功完成，则重试再现处理被重复进行所允许的次数以完成ECC解码。 [0011] 假设缺陷存在于特定的RUB中并且针对从该RUB中读出的数据的ECC解码被利用参数表中的第四个参数值而成功完成，就是说，ECC解码在正常再现处理中未被成功完成，而在第四次重试再现处理中被成功完成。 [0012] 在针对从特定RUB中读出的数据的ECC解码利用第四个参数值被完成之后，再现装置将参数重置为其初始值，从下一个RUB中读出数据，并尝试针对该数据的ECC解码。按照这种方式，针对从每个RUB中读出的数据独立地尝试ECC解码。 [0013] 假设在再现装置的光学头已经利用旋转读取了光盘上的数据之后，针对从与在重试再现处理先前被执行的地方的RUB在径向上相邻的RUB中读取的数据的ECC解码被尝试。如果当前的RUB也是有缺陷的并且再现处理被重试，则当前RUB中的缺陷类型很可能与重试再现处理先前被执行的地方的RUB中的缺陷类型一样，因为缺陷通常在多个径向相邻的RUB上延伸。在这种情况下，如果第四个参数值被使用，则针对当前RUB的ECC解码将很可能被成功完成。发明内容 [0014] 在相关技术的再现装置中，在针对从有缺陷的RUB中读出的数据的ECC解码完成之后，参数被重置为其初始值，如上所述。当针对从下一个有缺陷的RUB中读出的数据的ECC解码被尝试时，参数值从其初始值开始被顺序地改变，即使缺陷的类型与前一个缺陷的类型一样也是如此。 [0015] 就是说，在该示例中，即使缺陷的类型是可预测的，正常再现处理还是被最先执行，然后，重试再现处理被重复四次一直到ECC解码完成为止。利用不同的参数值来完成ECC解码要花很长的时间，这就可能相应地导致再现比特率被降低。在使用实时操作的广播站或其它系统中，用于再现的时间的增加将引起很大的问题。 [0016] 在相关技术的再现装置中，如果缺陷存在，则通过从初始值开始改变参数值来重复地尝试ECC解码，如上所述。这就增加了重试再现处理的重复次数并因而增加了完成ECC解码的时间。 [0017] 另外，由于重试再现处理的次数的增加而导致的用于ECC解码的时间的增加，会导致用于ECC解码的功率消耗的增加。增加的功率消耗会引起很大的问题，尤其是对于诸如笔记本PC之类的电池驱动的移动电子设备。 [0018] 因此，希望提供一种再现装置和方法，用于高效地完成针对被记录在记录介质上的缺陷位置中的数据的ECC解码，并且从而减少用于ECC解码的时间。 [0019] 根据本发明的实施例，提供了一种再现装置，包括再现单元，以记录单位读取被记录在光盘上的数据的再现信号；再现信号处理单元，利用被设置用于ECC解码的预定参数值执行对再现信号的ECC解码；存储单元，存储与当前设置的参数值相关联的参数序号和列出了多个参数值和指示参数值的应用顺序的相关联的参数序号的参数表；以及控制单元，控制再现单元和再现信号处理单元。控制单元在ECC解码未被成功完成时，按照参数表中所列出的参数序号的顺序顺序地改变参数值，并控制再现信号处理单元，以便执行作为重试再现处理的ECC解码，直到ECC解码被成功完成为止，并且控制单元在ECC解码被成功完成时，将与当前设置的参数值相关联的参数序号存储在存储单元中，并在下一次重试再现处理中把与所存储的参数序号相关联的参数值设置在再现信号处理单元中。 [0020] 根据本发明的另一实施例，提供了一种再现方法，包括以下步骤：以记录单位读取被记录在光盘上的数据的再现信号；通过利用被设置用于ECC解码的预定参数值执行对从光盘中读出的再现信号的ECC解码来处理再现信号；在存储单元中存储与当前设置的参数值相关联的参数序号和列出了多个参数值和指示参数值的应用顺序的相关联的参数序号的参数表；以及控制执行再现的步骤和处理再现信号的步骤。控制步骤在ECC解码未被成功完成时，按照参数表中所列出的参数序号的顺序顺序地改变参数设置，并控制处理再现信号的步骤，以便执行作为重试再现处理的ECC解码，直到ECC解码被成功完成为止，并且控制步骤在ECC解码被成功完成时，将与当前设置的参数值相关联的参数序号存储在存储单元中，并将与所存储的参数序号相关联的参数值设置在下一次重试再现处理中。 [0021] 如上所述，根据本发明的实施例，再现信号以记录单位从光盘中被读出；参数被设置为针对从光盘中读出的再现信号的ECC解码所预定的值；针对再现信号的ECC解码被尝试；与当前设置的参数值相关联的参数序号以及列出了多个参数值和指示这些参数值的应用顺序的参数序号的参数表被存储在存储单元中；如果ECE解码未被成功完成，则参数设置按照参数表中所列出的参数序号的顺序被改变，并且处理再现信号的步骤被控制以在重试再现处理中尝试ECC解码，一直到ECC解码被成功完成为止；并且如果ECC解码被成功完成，则与当前设置的参数值相关联的参数序号被存储在存储单元中，并且与所存储的参数序号相关联的参数值被设置在下一次重试再现处理中以使得ECC解码在重试再现处理中被高效地完成。 [0022] 根据本发明的实施例，与在成功完成ECC解码的重试再现处理中设置的参数值相关联的参数序号被存储用于下一次重试再现处理中的ECC解码。在下一次重试再现处理中，通过从与所存储的参数序号相关联的参数值开始顺序地改变参数值，来尝试ECC解码。因为被认定为针对当前缺陷最有效的参数值被最先设置在重试再现处理中，所以在重试再现处理中，ECC解码被在短时间内高效地完成。附图说明 [0023] 图1是示出了可应用于本发明实施例的示例性再现装置的配置的框图； [0024] 图2是示出了示例性再现信号处理单元的配置的框图； [0025] 图3是示出了示例性旁路滤波器的配置的示意图； [0026] 图4是示出了示例性参数表的示意图； [0027] 图5是图示出可应用于本发明实施例的再现方法的示意图； [0028] 图6是图示出重试次数与读取完成百分比之间的关系的示意图； [0029] 图7是示出了示例性参数表的示意图； [0030] 图8是图示出用于第一次从光盘中读取数据的再现处理的流程图； [0031] 图9是图示出用于从另一RUB读取数据的再现处理的流程图； [0032] 图10是可应用于本发明实施例的修改版本的再现装置的示例性操作流程； [0033] 图11是图示出可应用于本发明实施例的修改版本的再现处理的流程图。具体实施方式 [0034] 现在将按照这样的顺序来描述本发明的实施例： [0035] 1.实施例 [0036] 2.实施例的修改版本 [0037] <1.实施例> [0038] 将参考附图描述本发明的实施例。根据实施例，当缺陷出现在诸如光盘之类的记录介质的表面上时，通过顺序地改变参数来重试再现处理，一直到ECC解码被成功完成为止。在其中完成ECC解码的重试再现处理中设置的参数被存储。当数据从下一个缺陷位置被读出时，通过从所存储的参数开始顺序地改变参数来尝试ECC解码。 [0039] [再现装置的配置] [0040] 图1示出了可应用于本发明实施例的示例性再现装置1的配置。在图1中所示的示例中，只有那些与本发明实施例紧密相关的元件被描述，而其它元件被省略，不在附图和描述中出现。再现装置1包括主轴电机11、光学拾取器12、移动电机13、射频(RF)单元14、再现信号处理单元15、中央处理单元(CPU)16、双轴控制单元17、伺服控制单元18、放大器19和存储单元20. [0041] 主轴电机11的驱动轴被集成有用于安装光盘10的光盘座。主轴电机11通过响应于从下面要描述的伺服控制单元18提供的驱动信号旋转驱动轴来旋转被安装在光盘座上的光盘10。例如，主轴电机11按照恒定的线速率(CLV)或按照恒定的角速率(CAV)来旋转驱动轴。伺服控制单元18生成用于驱动主轴电机11的驱动信号，并通过放大器19将它们提供给主轴电机11。 [0042] 光学拾取器12将激光束引导至光盘10上，并接收从光盘10反射回来的激光。虽然未被示出，但是光学拾取器12还包括作为激光源的激光二极管、驱动激光二极管的激光二极管驱动器、将从激光二极管发出的激光聚焦为被引导至光盘10上的记录层上的激光束的光学系统、以及检测从光盘10反射的激光的光检测器。光学系统是在光盘表面方向和光盘径向两个方向上被双轴驱动的，以响应于从双轴控制单元17提供的驱动信号控制聚焦和跟踪。 [0043] 光学系统通过光栅或类似元件将一个激光束分成一个零阶光束和两个一阶光束，并将这些光束引导至光盘10上。光检测器例如包括分别具有两个等分光接收表面的两个平分检测器，以及具有四个象限光接收表面的象限检测器。光检测器在两个平分检测器上分别接收两个被反射的一阶光束，并且在象限检测器上接收一个被反射的零阶光束，并输出在光接收表面上检测到的信号。 [0044] RF单元14接收在光检测器的每个光接收表面上被检测到并从光学拾取器12被输出的信号。RF单元14放大所接收的信号并通过执行信号之间的预定计算来生成聚焦误差信号和跟踪误差信号。RF单元14还根据从光盘10反射的激光生成再现RF信号。RF单元14所生成的再现RF信号、聚焦误差信号和跟踪误差信号被提供给再现信号处理单元15。 [0045] 此外，RF单元14基于从光学拾取器12提供的信号生成光量(lightquantity)控制信号，并将光量控制信号提供给光学拾取器12中的激光二极管驱动器以控制被引导至光盘10上的激光束的光量。 [0046] 在再现期间，再现信号处理单元15在CPU 16的控制下对从RF单元14提供的再现RF信号执行预定的信号处理。在预定的信号处理之后，再现信号处理单元15对再现RF信号执行A/D转换，并对纠错码和再现数据的被记录码进行解码。在被解码之后，再现数据通过接口(未示出)被输出到外部。再现信号处理单元15对被提供的聚焦误差信号和跟踪误差信号执行预定的信号处理和A/D转换，并将数字化的信号提供给双轴控制单元17。 [0047] 图2示出了示例性再现信号处理单元15的配置。在图2中所示的示例中，为了清楚起见，只有那些与对从RF单元14提供的再现RF信号的信号处理和A/D转换相关的元件被示出了，而与A/D转换之后的处理相关的元件被省略了。再现信号处理单元15在再现RF信号被输入的一侧包括高通滤波器(HPF)21、自动增益控制(AGC)电路22、均衡器23、模拟/数字(A/D)转换单元24和锁相环(PLL)电路25。 [0048] 高通滤波器21抑制被输入到再现信号处理单元15中的再现RF信号的频带中的低频成分。要被抑制的低频成分由低频截止频率决定。低频截止频率可以在下述CPU 16的控制下被改变和设置。 [0049] 高通滤波器21包括例如图3中所示的与信号线串联的电容器C和与信号线并联的电阻器R。高通滤波器21中的低频截止频率可以由电容器C和电阻器R的值确定并且可以例如通过改变电阻器R的值而被改变。更具体而言，多个电阻器R可以并联以例如用开关等进行选择。低频截止频率可以利用从并联的多个电阻器R中选择特定的电阻器的开关来改变。 [0050] 当从高通滤波器21输出的再现RF信号的信号电平随着光盘10或者RF信号的读取位置而改变时，AGC电路22自动地将信号电平稳定在特定电平上。从AGC电路22输出的再现RF信号的响应速度，即上升速度，由AGC时间常数决定。AGC时间常数可以在CPU 16的控制下被改变和设置。 [0051] 均衡器23补偿从AGC电路22输出的再现RF信号的高频电平的衰减。A/D转换单元24把从均衡器23输出的模拟信号转换成数字信号。PLL电路25基于被记录在光盘10上的同步信号生成时钟信号，并将它们提供给A/D转换单元24。 [0052] 再次参考图1，CPU 16根据被预先存储在只读存储器(ROM)(未示出)中的程序对再现装置1作为一个整体进行控制。基于被存储在存储单元20中的参数表中所列出的参数值，CPU 16控制再现信号处理单元15以设置高通滤波器21的低频截止频率和AGC电路22的AGC时间常数，如图2中所示。下面将更详细地描述参数表。 [0053] 基于被提供的信号，双轴控制单元17控制光学拾取器12的双轴机制的操作。双轴控制单元17根据来自CPU 16的指示生成驱动信号，并将它们提供给移动电机13以将光学拾取器12移动到光盘10上的被指定跟踪位置。基于从双轴控制单元17提供的驱动信号，移动电机13沿光盘10的径向移动光学拾取器12。 [0054] [再现方法的概览] [0055] 现在将详细描述可应用于本发明实施例的再现装置的再现方法。为了再现被记录在诸如光盘之类的记录介质上的数据，再现装置以RUB(读取单元块)为单位读取数据，并且通过应用预定参数执行对所述数据的ECC解码，其中RUB是光盘上的最小记录单位。 [0056] 在针对从特定RUB中读出的数据的第一再现处理(下面视情况被称为“正常再现处理”)中，参数被设置为其初始值，并且针对所述数据的ECC解码被尝试。正常再现处理中的ECC解码可能会由于诸如划痕、灰尘和指纹污渍之类的光盘表面上的缺陷而失败。如果在正常再现处理中ECC解码失败，则再现处理被重试(下面视情况被称为“重试再现处理”)，其中参数设置被改变并且ECC解码被再次尝试。 [0057] 参数的初始值是当光盘10的表面上的无缺陷位置被再现时、确保最佳错误率的值。对于由于光盘10表面上的缺陷而引起的重试再现处理，参数设置被改变。在重试再现处理中，参数被设置为适合于当前缺陷的值以使得ECC解码可以被成功完成。 [0058] 对于重试再现处理，若干的参数值被预先准备好并被列在参数表中。如图4中所示，多个参数值和相关联的参数序号被列在参数表中。在该示例中，四个参数值被列在参数表中。 [0059] 参数序号指示在重复执行重试再现处理时将要应用的参数值的顺序。这些参数值例如在预先执行的实验中被证实为对于各种缺陷是有效的。更具体而言，例如，与参数序号#1相关联的参数值对于划痕有效，与参数序号#2相关联的参数值对于灰尘有效。与参数序号#3相关联的参数值对于气泡有效，与参数序号#4相关联的参数值对于指纹污渍有效。下面将描述参数的细节。 [0060] 假设要被再现的光盘10在其表面上具有缺陷100，如图5中所示。在光盘10上，数据被记录在预定长度的RUB中，所述RUB按照类似年轮的结构被顺序地排列。为了再现被记录在光盘10上的数据，当再现装置的光学头从内圈到外圈顺序地扫描光盘10时，通过以RUB为单位从在内圈的第一个RUB 101到在外圈的第八个RUB 108顺序地读取数据来执行再现处理。在该示例中，由于指纹污渍所引起的缺陷100存在于第一RUB 101、第四RUB104和第八RUB 108上。 [0061] 首先，再现装置将参数设置为其初始值并执行针对第一RUB 101的正常再现处理。参数的初始值是当不存在缺陷100的位置被再现时确保最佳错误率的值。在该示例中，ECC解码因为第一RUB 101上的缺陷100而未被成功完成。因此，再现装置改变参数值并且执行针对第一RUB 101的重试再现处理。 [0062] 当重试再现处理被重复时，通过按照图4中所示的参数表中所列出的参数序号的顺序应用参数值来重复尝试ECC解码。 [0063] 在该示例中，在针对第一RUB 101的第一重试再现处理中，再现装置通过应用参数序号#1的参数值来尝试针对第一RUB 101的ECC解码。然而，在该示例中，缺陷100是由指纹污渍引起的。因为参数序号#1的参数值是对划痕有效而不适合于当前缺陷100，所以ECC解码未被成功完成。 [0064] 接下来，再现装置通过应用参数序号#2的参数值在第二次重试再现处理中尝试ECC解码。因为参数序号#2的参数值是对灰尘有效的，所以ECC解码再次失败。然后，再现装置通过应用参数序号#3的参数值在第三次重试再现处理中尝试ECC解码。因为参数序号#3的参数值是对气泡有效的，所以ECC解码再次失败。 [0065] 接下来，再现装置通过应用参数序号#4的参数值在第四次重试再现处理中尝试ECC解码。这一次，因为参数序号#4的参数值对指纹污渍有效、适合于当前缺陷100，所以ECC解码被成功完成。 [0066] 按照这种方式，在针对光盘10的再现处理开始之后对光盘10上的第一个缺陷RUB所执行的重试再现处理中，首先利用参数序号#1的参数值尝试ECC解码。 [0067] 在本发明的实施例中，与其中ECC解码被成功完成的前一重试再现处理中所应用的参数值相关联的参数序号被存储。在该示例中，因为利用与参数序号#4相关联的参数值成功完成了ECC解码，所以参数序号#4被存储。 [0068] 一旦针对第一RUB 101的ECC解码完成，再现装置就将参数重置为其初始值并执行针对下一个或第二RUB 102的正常再现处理。因为在第二RUB 102上没有缺陷100，所以ECC解码在正常再现处理中被成功完成。一旦针对第二RUB 102的ECC解码完成，再现装置就执行针对第三RUB103的正常再现处理。因为在RUB 103上没有缺陷100，所以ECC解码在针对第三RUB 103的正常再现处理中被成功完成。 [0069] 一旦针对第三RUB 103的ECC解码完成，再现装置就执行针对第四RUB 104的正常再现处理。由于第四RUB 104上的缺陷100，所以针对从第四RUB 104读出的数据的ECC解码失败。因此，再现装置改变参数值并执行针对第四RUB 104的重试再现处理。 [0070] 在本发明的实施例中，与其中ECC解码被成功完成的前一重试再现处理中所应用的参数值相关联的参数序号被存储。因此，再现装置通过应用与所存储的参数序号相关联的参数值来在针对第四RUB 104的第一次重试再现处理中尝试ECC解码。 [0071] 在该示例中，通过应用与所存储的参数序号#4相关联的参数值来尝试ECC解码。因为该参数值对于指纹污渍有效、适合于当前缺陷100，所以该ECC解码被成功完成。再现装置存储与该参数值相关联的参数序号#4。 [0072] 一旦针对第四RUB 104的ECC解码完成，再现装置就将参数重置为其初始值并顺序地执行针对第五RUB 105到第八RUB 108的再现处理，如上所述。在不存在缺陷100的情况下，针对第五RUB 105、第六RUB106和第七RUB 107的ECC解码在正常再现处理中被成功完成。 [0073] 在第八RUB 108中，在缺陷100存在的情况下，ECC解码在正常再现处理中未被成功完成。通过应用与所存储的参数序号#4相关联的参数值在重试再现处理中尝试ECC解码。这时，因为所述参数值对指纹污渍有效、适合于当前缺陷100，所以ECC解码被成功完成。然后，再现装置存储与所述参数值相关联的参数序号#4。 [0074] 按照这种方式，通过应用与所存储的参数序号相关联的参数值并执行ECC解码，重试再现处理的重复次数可以被减少并且成功完成ECC解码的时间可以相应地被缩短。 [0075] [参数] [0076] 现在将详细描述用于ECC解码的参数设置。如上所述，在相关技术中，通过在正常再现处理和重试再现处理中应用预定的参数来尝试针对从光盘10中读出的数据的ECC解码。 [0077] 以前，这些参数被用于设置例如用于再现RF信号的放大器增益、用于滤波的截止频率、增加的带宽、增加的电平、偏移反馈增益、偏移模式、用于获得再现时钟的PLL环路增益以及用于Viterbi解码的参考幅度值。 [0078] 但是，在这种情况下，由于参数设置中所使用的大量条目，所以对参数改变的效果的验证可能会很复杂。 [0079] 因此，在本发明的实施例中，只有图2中所示的高通滤波器21的低频截止频率和AGC电路22的AGC时间常数通过被应用于ECC解码的参数来设置。 [0080] 低频截止频率是被输入到高通滤波器21中的再现RF信号的频带的被抑制的低频成分。低频截止频率被改变以改变被抑制的低频频带，从而在数据从缺陷位置处被读出时抑制再现RF信号包络的瞬态变化。另外，不必要频带中所产生的噪声被去除，并且再现RF信号的信噪比(SNR)被提高了。 [0081] AGC时间常数指示被输入到AGC电路22中的再现RF信号的响应速度或上升速度。AGC时间常数被改变以改变被读取数据的再现RF信号的响应速度，以进行更精确的瞬态响应控制。 [0082] 按照这种方式，低频截止频率和AGC时间常数可以被设置为针对各种缺陷的最有效的值，以使得PLL电路25的操作可以被稳定，再现RF信号的SNR可以提高，并且数据读取错误率可以被改善。此外，与复杂的相关技术中的参数设置相比，本发明实施例中的参数可以简化控制软件的控制算法并且在非常短的时间内达到其效果。因此，参数改变的效果可以很容易地得到验证。 [0083] 现在将更详细地描述参数表。虽然不同的参数值被列在图4和图5中所示的示例中的参数表中，但是本发明的实施例不局限于此。例如，当数据从缺陷位置被读取出时，再现RF信号处理系统和伺服系统可能会由于随机干扰而以不稳定的方式进行操作。在这种情况下，如果对当前缺陷有效的参数值在重试再现处理中只被应用一次，数据可能不能被可靠地读取。 [0084] 在本发明的实施例中，单一参数值被连续地设置给参数表中的多个参数序号，并且重试再现处理被利用同一参数值重复若干次。这就确保了数据可以从缺陷位置被可靠地读出。 [0085] 实验证明当重试再现处理被利用同一参数值重复进行三次时，数据可以从缺陷位置被可靠地读出。 [0086] 图6示出了重试次数和读取完成百分比之间的示例性关系，该关系是通过在针对从100个RUB中读出的数据的重试再现处理中重复应用同一参数值而得到的。水平轴指示重试再现处理的重复次数。垂直轴指示ECC解码被成功完成的RUB的数目相对于数据被读取的RUB的总数的读取完成百分比。该示例示出了ECC解码被成功完成的RUB的数目相对于ECC解码被尝试的100个RUB的百分比。 [0087] 在图6中所示的示例中，针对从100个RUB中读出的数据的ECC解码被尝试。在第一次正常再现处理中，参数被设置为其初始值。在第一次到第三次重复进行的重试再现处理中，参数被设置为“参数值A”，并且在第四次和第五次重复进行的重试再现处理中，参数被设置为另一“参数值B”。 [0088] 在利用被设置为其初始值的参数所执行的正常再现处理(重试计数为零)中，读取完成百分比近似为40％。接下来，在利用被设置为“参数值A”所执行的第一次重试再现处理中，读取完成百分比提高到近似为75％。然后，在利用被设置为同一“参数值A”所执行的第二次重试再现处理中，读取完成百分比提高到近似为95％。最终，在利用被设置为同一“参数值A”所执行的第三次重试再现处理中，读取完成百分比达到100％，并且针对从100个RUB读出的全部数据的ECC解码被成功完成。 [0089] 在图6中，点线指示在利用被固定为其初始值的参数所执行的五次重复的重试再现处理中所得到的读取完成百分比。在这种情况下，在第五次重试再现处理之后，读取完成百分比近似为42％。 [0090] 如上所述，通过利用被设置为同一值的参数重复进行重试再现处理，可以成功完成针对从RUB读取的数据的ECC解码。 [0091] 图7示出了参数表中所设置的示例性参数值。例如，参数值“0x0d”与参数序号#1到#3相关联。另一参数值“0x09”与参数序号#4和#5相关联。每个参数值的前缀‘0x’指示该值是十六进制表示。 [0092] 参数值“0x0d”对划痕、气泡或者大小等于或大于100μm的其它缺陷有效。该参数值指示高通滤波器21中的最高低频截止频率设置，更具体而言是近似为初始参数值所设置的频率的四倍的低频截止频率。AGC时间常数被设置为初始参数值所设置的时间参数的大约两倍的值。 [0093] 参数值“0x09”对灰尘或者大小等于或小于100μm的其它缺陷有效。该参数值指示高通滤波器21中第二高的低频截止频率设置，更具体而言是近似为初始参数值所设置的频率的两倍的低频截止频率。AGC时间常数被设置为初始参数值所设置的时间参数的大约两倍的值。 [0094] 虽然五个参数值被列在该示例的参数表中，但是参数表中所列的参数值的数目不局限于该示例的情况，而是可以根据所允许的重试次数来决定的。 [0095] [再现处理] [0096] 现在将参考图8和图9中所示的流程图来描述可应用于本发明实施例的再现装置1的再现处理的流程。除另外说明，下述处理都是在CPU 16的控制下被执行的。在该示例中，允许重复五次重试再现处理。下面，从第一次到第五次重复进行的重试再现处理的一系列处理将作为一组重试再现处理来描述。 [0097] 首先，将参考图8描述针对第一次从特定光盘10中读出的数据的再现处理。在步骤S1中，参数被设置为其初始值，并且针对从特定RUB读出的数据的ECC解码在正常再现处理中被尝试。在步骤S2中，检查ECC解码在正常再现处理中是否被成功完成。如果确定ECC解码完成，则处理返回到步骤S1，其中，数据从下一个RUB中被读出并且针对所读取数据的正常再现处理被执行。如果确定ECC解码未被成功完成，则处理进行到步骤S3。 [0098] 在步骤S3中，参数被设置为与参数表中的参数序号#1相关联的值。针对所读取数据的ECC解码在第一次重试再现处理中被尝试。在步骤S4中，检查ECC解码在第一次重试再现处理中是否被成功完成。如果确定ECC解码被成功完成，则处理进行到步骤S15。如果确定ECC解码未被成功完成，则处理进行到步骤S5。 [0099] 在步骤S5中，参数被设置为与参数表中的参数序号#2相关联的值。针对所读取数据的ECC解码在第二次重试再现处理中被尝试。在步骤S6中，检查ECC解码在第二次重试再现处理中是否被成功完成。如果确定ECC解码被成功完成，则处理进行到步骤S15。如果确定ECC解码未被成功完成，则处理进行到步骤S7。 [0100] 在步骤S7中，参数被设置为与参数表中的参数序号#3相关联的值。针对所读取数据的ECC解码在第三次重试再现处理中被尝试。在步骤S8中，检查ECC解码在第三次重试再现处理中是否被成功完成。如果确定ECC解码被成功完成，则处理进行到步骤S15。如果确定ECC解码未被成功完成，则处理进行到步骤S9。 [0101] 在步骤S9中，参数被设置为与参数表中的参数序号#4相关联的值。针对所读取数据的ECC解码在第四次重试再现处理中被尝试。在步骤S10中，检查ECC解码在第四次重试再现处理中是否被成功完成。如果确定ECC解码被成功完成，则处理进行到步骤S15。如果确定ECC解码未被成功完成，则处理进行到步骤S11。 [0102] 在步骤S11中，参数被设置为与参数表中的参数序号#5相关联的值。针对所读取数据的ECC解码在第五次重试再现处理中被尝试。在步骤S12中，检查ECC解码在第五次重试再现处理中是否被成功完成。如果确定ECC解码被成功完成，则处理进行到步骤S15。如果确定ECC解码未被成功完成，则处理进行到步骤S13并且再现处理停止。在步骤S14中，参数表中的第一个参数序号#1被存储在存储单元20中的表指针中。 [0103] 如果ECC解码在第一次到第五次重复进行的重试再现处理中的任一次重试再现处理中被成功完成，则在步骤S15中，与这一次重试再现处理中所设置的参数值相关联的参数序号被存储在表指针中。例如，如果ECC解码在第一次重试再现处理中被成功完成，则与第一次重试再现处理中所设置的参数值相关联的参数序号#1被存储在表指针中。类似地，如果ECC解码在第二次到第五次重复进行的重试再现处理中的任一次处理中被成功完成，则参数序号#2到#5中的相应序号被存储在表指针中。 [0104] 参数在步骤S16中被设置为其初始值，并且处理返回到步骤S1以重复对下一个RUB的以上处理。 [0105] 接下来，将参考图9描述ECC解码在前一组重试再现处理中被完成之后针对从另一RUB读出的数据所执行的再现处理。下面所描述的是这样的情况，其中ECC解码在前一组重试再现处理中的第三次重试再现处理中被完成，并且参数序号#3被存储在表指针中。 [0106] 在步骤S21中，参数被设置为其初始值，并且针对从特定RUB读出的数据的ECC解码在正常再现处理中被尝试。在步骤S22中，检查ECC解码在正常再现处理中是否被成功完成。如果确定ECC解码完成，则处理返回到步骤S21，其中数据从下一个RUB中被读出并且针对该数据的正常再现处理被执行。如果确定ECC解码未被成功完成，则处理进行到步骤S23。 [0107] 在步骤S23中，表指针被参考并且参数被设置为与表指针中所存储的参数序号相关联的值。ECC解码在针对所读取数据的第一次重试再现处理中被尝试。更具体而言，在该示例中，参数被设置为与参数序号#3相关联的值，因为参数序号#3被存储在表指针中。在步骤S24中，检查ECC解码在第一次重试再现处理中是否被成功完成。如果确定ECC解码被成功完成，则处理进行到步骤S35。如果确定ECC解码未被成功完成，则处理进行到步骤S25。 [0108] 在步骤S25中，参数被设置为与表指针中所存储的参数序号(即，步骤S23中所参考的参数序号加1)相关联的值。ECC解码在针对所读取数据的第二次重试再现处理中被尝试。在该示例中，参数被设置为与参数序号#4(即，步骤S23中所参考的参数序号#3加1)相关联的值。 [0109] 在步骤S26中，检查ECC解码在第二次重试再现处理中是否被成功完成。如果确定ECC解码被成功完成，则处理进行到步骤S35。如果确定ECC解码未被成功完成，则处理进行到步骤S27。 [0110] 在步骤S27中，参数被设置为与表指针中所存储的参数序号(即，步骤S25中所参考的参数序号加1)相关联的值。ECC解码在针对所读取数据的第三次重试再现处理中被尝试。在该示例中，参数被设置为与参数序号#5(即，步骤S25中所参考的参数序号#4加1)相关联的值。 [0111] 在步骤S28中，检查ECC解码在第三次重试再现处理中是否被成功完成。如果确定ECC解码被成功完成，则处理进行到步骤S35。如果确定ECC解码未被成功完成，则处理进行到步骤S29。 [0112] 在步骤S29中，参数被设置为与表指针中所存储的参数序号(即，步骤S27中所参考的参数序号加1)相关联的值。ECC解码在针对所读取数据的第四次重试再现处理中被尝试。在该示例中，参数应当被设置为与参数序号#6(即，步骤S27中所参考的参数序号#5加1)相关联的值。但是，在该示例中，参数序号#5是参数表中的最高序号。在这种情况下，处理返回到第一个参数序号并且参数被设置为与参数表中的第一个参数序号#1相关联的值。 [0113] 在步骤S30中，检查ECC解码在第四次重试再现处理中是否被成功完成。如果确定ECC解码被成功完成，则处理进行到步骤S35。如果确定ECC解码未被成功完成，则处理进行到步骤S31。 [0114] 在步骤S31中，参数被设置为与表指针中所存储的参数序号(即，步骤S29中所参考的参数序号加1)相关联的值。ECC解码在针对所读取数据的第五次重试再现处理中被尝试。在该示例中，参数被设置为与参数序号#2(即，步骤S29中所参考的参数序号#1加1)相关联的值。 [0115] 在步骤S32中，检查ECC解码在第五次重试再现处理中是否被成功完成。如果确定ECC解码被成功完成，则处理进行到步骤S35。如果确定ECC解码未被成功完成，则处理进行到步骤S33并且再现处理停止。在步骤S34中，参数表中的第一参数序号#1被存储在表指针中。 [0116] 如果ECC解码在第一次到第五次重复进行的重试再现处理中的任一次重试再现处理中被成功完成，则在步骤S35中，与这一次重试再现处理中所设置的参数值相关联的参数序号被存储在表指针中。例如，如果ECC解码在第一次重试再现处理中被成功完成，则与第一次重试再现处理中所设置的参数值相关联的参数序号#3被存储在表指针中。类似地，如果ECC解码在第二次到第五次重复进行的重试再现处理中的任一次处理中被成功完成，则参数序号#4到#2中的相应序号被存储在表指针中。 [0117] 参数在步骤S36中被设置为其初始值，并且处理返回到步骤S21以重复针对下一个RUB的以上处理。 [0118] 虽然在以上描述中，针对第一次从RUB中读出的数据所执行的再现处理与在ECC解码在前一组重试再现处理中被完成之后针对从下一个RUB中读出的数据所执行的再现处理不相同，但是本发明的实施例不局限于该示例。例如，参数序号#1可以被预先存储在表指针中，并且数据第一次从RUB中被读出时所要设置的参数值可以通过参考表指针来确定。 [0119] 因此，可以针对第一次从RUB读出的数据和在前一组重试再现处理中完成ECC解码之后从另一RUB中读出的数据应用类似的再现处理。 [0120] 如上所述，在本发明的实施例中，与其中成功完成ECC解码的前一重试再现处理中所设置的参数值相关联的参数序号被存储并且被用在针对从下一个缺陷RUB中读出的数据的重试再现处理中。当数据从下一个缺陷RUB中被读出时，与所存储的参数序号相关联的参数值被首先应用于ECC解码；如果ECC解码失败，则通过顺序地改变参数值来尝试ECC解码。由于通过首先应用被认定为对当前缺陷最有效的参数值来执行重试再现处理，所以ECC解码可以在短时间内被高效地完成。 [0121] 重试再现处理的重复次数和用于ECC解码的时间的减少相应地降低了用于ECC解码的功率消耗。 [0122] <2.实施例的修改> [0123] 现在将描述对本发明实施例的修改。在再现装置1中，启动处理通常发生在光盘10被安装之后。在启动处理中，参数被设置为其初始值并且通过测量抖动和从被安装在再现装置1上的光盘10中读取的数据的再现RF信号的其它现象来评估光盘10的表面状况。基于评估结果，各种参数被设置并且在启动处理之后正常再现处理被执行。 [0124] 如果重试再现处理发生在启动处理期间，则参数设置可能会被改变并且光盘10的表面状况可能就不能被准确测量。这可能会影响基于评估结果所设置的参数的设置准确度。 [0125] 在对本发明实施例的修改中，重试再现处理功能可以在必要的情况下被关闭以防止在启动处理期间改变参数设置。 [0126] 图10示出了再现装置1的示例性操作流程。在光盘10在步骤S51中被安装之后，在步骤S52中，启动处理发生在再现装置1中。在光盘10的表面状况在启动处理中被测量之后，在步骤S53中，正常再现处理发生。在步骤S54中，光盘10被移走。 [0127] 在启动处理期间，参数被设置为其初始值并且重试再现处理功能被关闭以防止改变参数设置，从而光盘10的表面状况可以被准确测量。一旦启动处理被完成，重试再现处理功能被开启以进行正常再现处理，从而参数可以根据光盘表面状况被改变并且数据被读取。 [0128] [再现处理] [0129] 现在将参考图11中所示的流程图来描述可应用于本发明实施例的修改的再现装置1的再现处理的流程。下述处理在CPU 16的控制下被执行，除非另外说明。执行与上述实施例类似的处理的相似元件用相似的标号来表示，并且关于它们的详细描述将被省略。 [0130] 在步骤S1中，参数被设置为其初始值并且针对从特定RUB中读出的数据的ECC解码在正常再现处理中被尝试。在步骤S2中，检查ECC解码在正常再现处理中是否被成功完成。如果确定ECC解码完成，则处理返回到步骤S1，其中数据从下一个RUB中被读出并且针对所读取数据的正常再现处理被执行。如果确定ECC解码未被成功完成，则处理进行到步骤S40。 [0131] 在步骤S40中，检查启动处理是否正在进行。如果启动处理正在进行，则处理返回到步骤S1。如果启动处理没有正在进行，则处理进行到步骤S3。从步骤S3开始的再现处理与实施例中的再现处理相同，关于其的描述将被省略。 [0132] 如上所示，如果启动处理正在进行，则处理返回到正常再现处理以防止重试再现处理发生，以使得光盘10的表面状况可以被准确测量。 [0133] 本申请包含与2008年11月20日向日本专利局提交的日本在先专利申请JP2008-296734中所公开的主题有关的主题，该在先专利申请的全部内容通过引用结合于此。 [0134] 虽然参考本发明的实施例和修改实施例描述了本发明，但是本发明不局限于上述实施例和修改实施例，而是可以在不脱离本发明的精神和范围的情况下被修改和应用。例如，虽然在修改实施例中，重试再现处理功能在启动处理中被关闭，但是本发明不局限于此，并且重试再现处理功能可以在需要将参数固定为其初始值时被关闭。

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