| 序号 | 专利名 | 申请号 | 申请日 | 公开（公告）号 | 公开（公告）日 | 发明人 |
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| 181 | JPH0144046B2 - | JP17286483 | 1983-09-19 | JPH0144046B2 | 1989-09-25 | DEREKU EFU BOAAZU |
| 182 | Power sensor | JP31181888 | 1988-12-09 | JPH01196580A | 1989-08-08 | PEDERO EE SENTE; RATSUSERU BII REIRII |
| PURPOSE: To obtain a wide dynamic radio frequency power sensor that is strong against temperature change by performing capacitive coupling of a low-power sensor using a pair of diodes and a high-power sensor using a pair of thermocoupling elements to an input terminal. CONSTITUTION: Diodes 33 and 34 are connected to an input terminal 31 via a coupling capacitor 32, the other terminal of the diode 34 is grounded, the other terminal of the diode 33 is grounded via a capacitor 36, and a low-power sensor output terminal 35 is provided at the connection point. Also, thermocouples 40 and 41 and 43 and 42 are connected to a connection point N 1 of two diodes via a coupling capacitor 38, the other terminal of the thermocouples 43 and 42 is grounded, the other terminal of the thermocouples 40 and 41 is grounded via a capacitor 44, and a high-power sensor output terminal 45 is provided at the connection point, thus canceling the influence of ambient temperature and obtaining a radio frequency power sensor with a fully matched wide dynamic range. COPYRIGHT: (C)1989,JPO | ||||||
| 183 | Wide band feedback amplifier | JP30807686 | 1986-12-25 | JPS62222704A | 1987-09-30 | DEIBITSUDO EE NERUSON |
| 184 | Input current compensating circuit for superbeta transistor | JP17286483 | 1983-09-19 | JPS59115603A | 1984-07-04 | DEREKU EFU BOUAAZU |
| 185 | JPS5653882B2 - | JP6601579 | 1979-05-28 | JPS5653882B2 | 1981-12-22 | |
| 186 | Amplifying circuit | JP1793981 | 1981-02-09 | JPS56129411A | 1981-10-09 | JIEEMUSU RATSUSERU KEROTSUGU |
| 187 | JPS5526430B2 - | JP7389074 | 1974-06-29 | JPS5526430B2 | 1980-07-12 | |
| 188 | Chopper amplifier demodulator circuit | JP10088477 | 1977-08-23 | JPS5434661A | 1979-03-14 | EGAMI TSUNEYUKI; KAWAI HISASHI |
| 189 | Current detector | JP15118877 | 1977-12-15 | JPS5375979A | 1978-07-05 | HORUSUTO GEEMU |
| 190 | JPS5089073A - | JP7389074 | 1974-06-29 | JPS5089073A | 1975-07-17 | |
| 191 | 再構成可能オペアンプ | JP2014230391 | 2014-11-13 | JP6426439B2 | 2018-11-21 | 吉田 英明; 勝 満徳; 小堤 博之 |
| 192 | 電流測定回路および塩基配列解析装置 | JP2014242019 | 2014-11-28 | JP6296965B2 | 2018-03-20 | 倉持 泰秀 |
| 193 | 増幅器及び放射線検出器 | JP2017187112 | 2017-09-27 | JP2018014757A | 2018-01-25 | フィオリーニ カルロ; ボンベリ ルカ |
| 【課題】各部分の配置を改善することにより、増幅回路に対する入力容量を低減させた増幅器及び放射線検出器を提供する。 【解決手段】放射線検出器用のプリアンプ(増幅器)では、ボンディングパッド42に接続された配線層51が帰還用のキャパシタ13の一方の電極になっている。ボンディングパッド42とキャパシタ13とを接続する配線が存在しておらず、この配線に起因する寄生容量が発生しない。また、キャパシタ13は導電層52を他方の電極としてボンディングパッド42の下方に配置されているので、キャパシタ13の帰還容量は、配線層51と基板61との間の寄生容量に含まれている。従来に比べて、配線に起因する寄生容量とキャパシタ13の帰還容量とに対応する容量が入力容量から減少することになり、増幅回路の入力容量が低減される。 【選択図】図7 |
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| 194 | 半導体装置及びそれを備えた電子制御システム | JP2016004864 | 2016-01-14 | JP2017125756A | 2017-07-20 | 黒岡 一晃; 森本 康夫; 船戸 是宏 |
| 【課題】コンバータを形成するチップ上に設けられた既存の外部端子の電位を用いて、レゾルバの短絡故障の有無を正確に検知することが可能な半導体装置を提供すること。 【解決手段】一実施の形態によれば、半導体装置は、レゾルバ11の検知結果に応じた一対の電圧信号の一方及び他方がそれぞれ入力抵抗R1,R3を介して供給される外部端子S1,S3と、外部端子S1,S3に供給された一対の電圧信号の電位差を増幅するオペアンプAP11と、オペアンプAP11の出力端子及び一方の入力端子間に設けられた帰還抵抗R13と、オペアンプAP11の2つの入力端子と外部端子S1,S3と、の間にそれぞれ設けられたスイッチSW1,SW3と、スイッチSW1,SW3がオフしたときの外部端子S1,S3のそれぞれの電圧レベルに基づいて、レゾルバ11において短絡故障が発生したか否かを検知する、短絡故障検知回路102と、を備える。 【選択図】図1 |
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| 195 | 増幅回路 | JP2015536559 | 2014-09-05 | JPWO2015037532A1 | 2017-03-02 | 潔 篠井; 陽 浅尾 |
| 【課題】負帰還によるゲインの設定に影響を受けることなく高い入力インピーダンスを保てるとともに、入力段のトランジスタに起因するノイズを低減できる増幅回路を提供する。【解決手段】差動対10の一対のゲートに差動信号が入力され、差動対10のドレインに接続される負荷回路20に発生した差動信号が差動増幅段60において増幅され、その増幅された差動信号が帰還回路40を介して差動対10の一対のソースに帰還される。差動対10の一対のゲートにおいて増幅回路の負帰還のゲインに影響を受けることなく高い入力インピーダンスを保つことができるとともに、差動対10の2個の第1トランジスタQ1及び第2トランジスタQ2によって入力段の増幅を行うことができるため、従来に比べて入力段のトランジスタの数を減らし、フリッカノイズを低減できる。【選択図】図1 | ||||||
| 196 | バックグラウンド調節を実施する測定増幅器及びそのための方法 | JP2016539418 | 2014-09-05 | JP2016539344A | 2016-12-15 | シェック・マルコ・エム; キッツィング・ヘルベルト |
| 本発明は、バックグラウンド校正及び調整を実施する測定増幅器103及びそのような測定増幅器のバックグラウンド校正及び調整を実施する方法に関する。本測定増幅器は、少なくとも一つの増幅機器108を用いて、少なくとも一つの測定変換器102の少なくとも一つの測定信号111を増幅、デジタル化及び処理する。この増幅機器は、一時的に追加の増幅機器107により置き換えられ、そのことは、その増幅機器の無中断の校正と、必要な場合の調整とを可能にする。この校正により、その増幅機器のゼロ点誤差も増幅誤差も確実に算出される。更に、その増幅機器は、間接的に校正されるのではなく、直接的に校正される。そのため、測定を中断すること無く、高い精度が達成される。更に、通常、複数チャネルを備えた測定増幅器においても、一つの追加の増幅機器しか必要としない。 | ||||||
| 197 | 増幅回路および帰還回路 | JP2012189400 | 2012-08-30 | JP6022262B2 | 2016-11-09 | 曽布川 慎吾 |
| 198 | 回路 | JP2014501311 | 2012-03-27 | JP5985603B2 | 2016-09-06 | サリバン・トーマス・ジェイ. |
| 199 | 増幅器及び放射線検出器 | JP2012172332 | 2012-08-02 | JP5973832B2 | 2016-08-23 | カルロ フィオリーニ; ルカ ボンベリ |
| 200 | 増幅器及び放射線検出器 | JP2014528184 | 2013-07-31 | JPWO2014021358A1 | 2016-07-21 | カルロ フィオリーニ; ルカ ボンベリ |
| 各部分の配置を改善することにより、増幅回路に対する入力容量を低減させた増幅器及び放射線検出器を提供する。放射線検出器用のプリアンプ(増幅器)では、ボンディングパッド42に接続された配線層51が帰還用のキャパシタ13の一方の電極になっている。ボンディングパッド42とキャパシタ13とを接続する配線が存在しておらず、この配線に起因する寄生容量が発生しない。また、キャパシタ13は導電層52を他方の電極としてボンディングパッド42の下方に配置されているので、キャパシタ13の帰還容量は、配線層51と基板61との間の寄生容量に含まれている。従来に比べて、配線に起因する寄生容量とキャパシタ13の帰還容量とに対応する容量が入力容量から減少することになり、増幅回路の入力容量が低減される。 | ||||||
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