序号 专利名 申请号 申请日 公开(公告)号 公开(公告)日 发明人
101 METHOD FOR OPTIMIZING AN ACCELERATED SCALED STRESS TEST PCT/FR2005002501 2005-10-07 WO2006040467A2 2006-04-20 LANTIERI PASCAL; GUERIN FABRICE
The invention concerns a method for defining scaled stresses indicating an estimation of the product reliability with maximum accuracy. It comprises a phase which consists in inputting characteristic parameters (1), defining a sequence of stresses and simulating occurrences of failure time (2), estimating the characteristic parameters with indication of trust intervals (3), estimating proportions of faulty parts (4), a phase of testing the accuracy of the estimation (5), a feedback on phase (2) defining the cycle of stresses in case of insufficient accuracy. That set of operations (6) is only simulated, but when the estimation of proportion is determined to be sufficiently accurate, the cycle of stresses is implemented on a real test. The inventive method can also be used to test electronic products sensitive to thermal or vibratory stresses as well as mechanical products sensitive to fatigue stresses.
102 配管用試験装置 JP2013553130 2012-01-11 JPWO2013105224A1 2015-05-11 西田 秀高; 秀高 西田
【課題】湾曲部を有する曲がり配管に対する加熱試験を行うための配管用試験装置に関し、装置の小型化を図る。【解決手段】湾曲部を有する金属製の曲がり配管(エルボー部7)を加熱用空間(加熱用空間13)に収納した状態で、曲がり配管に対する加熱試験を行う配管用試験装置(配管用試験装置1)であって、曲がり配管が取り付けられる台座(台座2)と、加熱用空間の一部を区画する第1凹部(外側凹部14)が設けられた第1収容体(外側収容体3)と、第1収容体に対して着脱可能に構成され、第1収容体に取り付けられた状態で加熱用空間の他の一部を区画する第2凹部(内側凹部24)が設けられた第2収容体(内側収容体4)とを有することを特徴とする。
103 プログラム、情報処理装置および冷却評価方法 JP2013092492 2013-04-25 JP2014215805A 2014-11-17 OTSUKA AKIHIRO; SUGIE MASARU; FUJII TADASHI; UEDA AKIRA; YAMAGUCHI ATSUSHI; FURUYA HIROYUKI; NIIZEKI KAZUHIRO
【課題】複数の冷却装置の個別の冷却能の検証を支援すること。【解決手段】演算部1bは、冷却装置3,4により流入された各流体が混合した混合流体6の空間2内の各位置での温度を示す情報を用いて、混合流体6に各位置で授受される熱量を算出する。演算部1bは、混合流体6に各位置で授受される熱量と混合流体6の速度分布7と冷却装置3,4により流入された各流体の流量分布8,8aとに基づいて、冷却装置3,4により流入された各流体に各位置で授受される熱量を算出する。演算部1bは、冷却装置3,4により流入された各流体に各位置で授受される熱量を用いて、冷却装置3,4それぞれが物体5の冷却に寄与する度合いを評価する。【選択図】図1
104 Inspection device for substrate deformation at high temperature and inspection method for substrate deformation at high temperature using the same JP2013035839 2013-02-26 JP2014109569A 2014-06-12 KIM GYU SEOK; CHUNG HEE SUK; HAM SUK JIN; KIM DONG YONG; PARK YONG CHOON; KIM MI YANG; KIM TAE YOUNG
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspection device for substrate deformation at high temperatures and an inspection method for substrate deformation at high temperatures using the same.SOLUTION: The inspection device for substrate deformation at high temperatures, includes a crucible including an internal space, an inspection hole disposed in an upper portion thereof so as to inspect the internal space, and means for heating the internal space, an indenter tip disposed in the crucible such that a substrate fixed to the internal space is warped, and inspection means disposed above the crucible so as to inspect a cross-section of the substrate.
105 Foreign substance detecting method has adhered to the peripheral edge of the substrate, device and storage medium JP2008189101 2008-07-22 JP5008618B2 2012-08-22 剛 守屋; 栄一 西村
106 Fire retardancy testing equipment JP2010000931 2010-01-06 JP2011141147A 2011-07-21 TSUKAMOTO SOICHIRO; KOBAYASHI TOSHIHIDE
PROBLEM TO BE SOLVED: To rapidly regulate a temperature in a test tank to a predetermined tolerance temperature by an extremely simple constitution in fire retardancy testing equipment equipped with the test tank where a substance to be tested of a fire retardancy test is burnt. SOLUTION: A control part (6) holds an outlet damper 3 in an opened state until a detection temperature of a temperature sensor 5 falls down to a target temperature corresponding to the detection of a start event, holds cool air supply switches (41 and 42) to states that cool air is supplied into the test tank (10) and holds a blower (3) for inducing the air in the test tank (10) in an operation state. Thereafter, the control part (6) closes the outlet damper (3) when the detection temperature of the temperature sensor (5) falls down to the target temperature and changes over the cool air supply switches (41 and 42) to states that cool air is not supplied into the test tank (10) to stop the blower (2). COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT
107 Integrated memory map controller circuit for optical fiber transceiver JP2006015985 2006-01-25 JP4414968B2 2010-02-17 ルイス ビー アロンソン; スティーブン ジー ホスキング
A controller (110) for controlling a transceiver having a laser transmitter and a photodiode receiver. The controller includes memory (120, 122, 128) for storing information related to the transceiver, and analog to digital conversion circuitry (127) for receiving a plurality of analog signals from the laser transmitter and photodiode receiver, converting the received analog signals into digital values, and storing the digital values in predefined locations within the memory. Comparison logic (131) compares one or more of these digital values with limit values, generates flag values based on the comparisons, and stores the flag values in predefined locations within the memory. Control circuitry (123-1, 123-2) in the controller controls the operation of the laser transmitter in accordance with one or more values stored in the memory. A serial interface (121) is provided to enable a host device to read from and write to locations within the memory. Excluding a small number of binary input and output signals, all control and monitoring functions of the transceiver are mapped to unique memory mapped locations within the controller. A plurality of the control functions and a plurality of the monitoring functions of the controller are exercised by a host computer by accessing corresponding memory mapped locations within the controller. <IMAGE>
108 Method and apparatus of detecting foreign matter sticking on peripheral end of substrate, and storage medium JP2008189101 2008-07-22 JP2010027931A 2010-02-04 MORIYA TAKESHI; NISHIMURA EIICHI
<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of detecting foreign matter sticking on the peripheral end of a substrate, with which even fine foreign matter smaller the detection limit of an existent measuring instrument, sticking on the peripheral end of the substrate is accurately detected, the method of detecting the foreign matter being suitable for inspection during mass-production of the substrate and also high in flexibility. <P>SOLUTION: The method of detecting the foreign matter sticking on the peripheral end of the substrate includes a cooling step of freezing condensed moisture content 52 to grow crystal 53 of ice after cooling the wafer W to condense moisture content 51 in vapor phase at the periphery of a bevel portion polymer B as the foreign matter sticking on the peripheral end of the wafer W; and a peripheral end inspection step of detecting the bevel portion polymer B sticking on the peripheral end of the substrate emphasized by the crystal 53 of ice by the existent measuring instrument. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT
109 Temperature chamber and the temperature control system, as well as self-closing cable penetration module JP2009501454 2007-03-13 JP2009530588A 2009-08-27 ケネス エム コール; マイケル エフ コンロイ; ジェームズ ペルリン; エドワード ロウアー
収容された装置を検査する温度チャンバが、チャンバの温度を制御するための温度制御された空気の供給源に接続される。 温度チャンバは、チャンバの側面に形成された断熱材を有する。 温度制御された空気を検査される装置に直接導くために汎用マニホールド・アダプタがチャンバに接続される。 温度チャンバは、排出システムも有する。 自動閉鎖ケーブル貫通モジュールは、チャンバの外側面に接続される。 貫通モジュールは、第1の部分と第2の部分を有し、ケーブルは、第1の位置で第1と第2の部分を通ってチャンバ内に送り込まれ、第1と第2の部分は、第2の位置でケーブルのまわりに漏れ止めシールを形成する。
110 Evaluation of the components using a non-engine-based test system (componentevaluationusingnon-enginebasedtestsystem) JP2007525787 2005-08-11 JP2008513733A 2008-05-01 アンダスン,アンディ,エム; ウエブ,シンスィア,シー; ゲイブハート,タマス,アー; バートリ,ゴードン,ジェイ,ジェイ; ハイムリク,マーティン,ジェイ; ビコウスキ,ブルース,ビー
非エンジン・ベースの試験システムを用いて1つまたは複数の構成要素を評価するための方法において、1つまたは複数の構成要素と流体連通する燃焼室を含む非エンジン・ベースの試験システムを提供するステップと、制御された空燃比(AFR)を含む供給状態の下で燃焼室に燃料および空気を供給するステップであって、供給状態が供給ストリームの流路を生成するステップと、燃焼室への実質的な損傷を防止する一方で、排気生成物を生成する燃焼状態の下で、供給ストリームの流路中の燃料の少なくとも一部を燃焼するステップと、加速エージング状態または運転サイクル状態以外の交互に代わる状態の下で、1つまたは複数の構成要素を排気生成物にさらすステップとを含む方法。
111 Tensile support strength monitoring system and method JP2007503874 2004-03-16 JP2007532437A 2007-11-15 スタッキー,ポール,エー.; ベロネシー,ウィリアム,エー.
エレベータ用の支持構造の健全性を、構造の温度ではなく、抵抗など支持構造の電気特性に基づいて監視するシステムおよび方法。 監視される支持構造と同じ温度条件下における未使用支持構造の抵抗が計算され、監視支持構造の測定抵抗から減算される。 未使用支持構造および監視支持構造の抵抗値は、計算および支持構造の監視を簡略化するため、基準温度に揃えて変換されることができる。
112 Integrated memory map controller circuit for optical fiber transceiver JP2002563630 2002-02-04 JP2004523958A 2004-08-05 ルイス ビー アロンソン; スティーブン ジー ホスキング
A controller (110) for controlling a transceiver having a laser transmitter and a photodiode receiver. The controller includes memory (120, 122, 128) for storing information related to the transceiver, and analog to digital conversion circuitry (127) for receiving a plurality of analog signals from the laser transmitter and photodiode receiver, converting the received analog signals into digital values, and storing the digital values in predefined locations within the memory. Comparison logic (131) compares one or more of these digital values with limit values, generates flag values based on the comparisons, and stores the flag values in predefined locations within the memory. Control circuitry (123-1, 123-2) in the controller controls the operation of the laser transmitter in accordance with one or more values stored in the memory. A serial interface (121) is provided to enable a host device to read from and write to locations within the memory. Excluding a small number of binary input and output signals, all control and monitoring functions of the transceiver are mapped to unique memory mapped locations within the controller. A plurality of the control functions and a plurality of the monitoring functions of the controller are exercised by a host computer by accessing corresponding memory mapped locations within the controller. <IMAGE>
113 Variable volume test chamber JP51628996 1995-11-13 JP3148930B2 2001-03-26 ウィーンマン,ロバート・エイチ; ネセルロード,クリストファー・ダブリュ; バスティーン,ギルバート・ジェイ; ディ ベイカー,ピーター; ベイカー,ルーシー・エイ; メルカード,ロバート
114 Environmental testing equipment JP26672192 1992-09-09 JP2777953B2 1998-07-23 UEDA ICHIRO; ISHIZUKA MASANORI
115 JPH07500673A - JP50566093 1993-08-18 JPH07500673A 1995-01-19
116 Environment test device JP26672192 1992-09-09 JPH0694598A 1994-04-05 UEDA ICHIRO; ISHIZUKA MASANORI
PURPOSE:To conduct tests at the same conditions of actual transportation and storing. CONSTITUTION:In the concave 6 of a floating base 3, a vibration stage 4 is placed. The vibration stage is vibrated with a vibration mechanism 7. A body 9 to be tested is fixed on the vibration stage 4. The vibration stage 4 is covered with a cover body 11 and the inside of the cover body 11 is made to be sealed space 12. The temperature and humidity in the sealed space 12 is controlled with a temperature and humidity controller 28. Temperature and humidity inside the tested body 9 are controlled with an inside temperature and humidity controller 30. The gas component in the tested body 9 is controlled with a gas component controller 31. A vibration mechanism 7 is moved with a oil pressure drive device 8. Each device 8, 28, 30, 31 is controlled with a controller 33 to be the same conditions as actual transportation and storing.
117 Vacuum container JP8544880 1980-06-24 JPS5712824A 1982-01-22 SASAKI TATSUO
PURPOSE: To obtain a vacuum container having a permeability for electromagnetic wave, an electric insulating property, and a safety by making up the vacuum container body of a fiber-reinforced plastic. CONSTITUTION: As a vacuum container 21 to be used in a heated vacuum chamber, etc., a voidless layer 211 of epoxy resin, etc., is first provided over the whole contact area of the inner surface of the container 21, a less gas-releasing fiber-reinforced plastic layer 212 as bonded with epoxy resin, etc., is then provided on the outside of the layer 211, and then a fiber (e.g., unsaturated polyester fiber, etc.)-reinforced plastic layer is further integrally laminated on the outside of the layer 212. Thus, a container 21 having an electromagnetic wave permeability, an electric insulating property, and a high impact resistance as well as a high safety can be obtained. COPYRIGHT: (C)1982,JPO&Japio
118 光ファイバ温度分布測定システムおよび光ファイバ温度分布測定方法 JP2016034472 2016-02-25 JP6284051B2 2018-02-28 志田 秀夫
119 機関構成部品の疲労寿命消耗を求める方法 JP2017076696 2017-04-07 JP2017187497A 2017-10-12 メイサム シスタニニア; トーマス エフ. クラーマー; ディエゴ ウジェル; ダレル リリー; アレクサンダー マーラー
【課題】機関構成部品の疲労寿命消耗を求める方法を提供する。
【解決手段】この方法はさらに、機関構成部品の温度を測定するステップと、温度の測定に基づき、熱負荷サイクルを求めるステップと、熱負荷サイクル中に測定された最大温度と、熱負荷サイクル中に測定された最小温度との差として定義された、負荷サイクル振幅を求めるステップと、負荷サイクル時間を求めるステップと、負荷サイクル時間を基準負荷サイクル時間に関連づけて、負荷サイクル時間係数を求めるステップと、負荷サイクル振幅を基準負荷サイクル振幅に関連づけて、負荷サイクル振幅係数を求めるステップと、負荷サイクル時間係数と負荷サイクル振幅係数とを組み合わせて、複合負荷サイクル係数を形成するステップと、複合負荷サイクル係数に依存して負荷サイクル寿命消耗を求めるステップとを含む。
【選択図】図1
120 光ファイバ温度分布測定システムおよび光ファイバ温度分布測定方法 JP2016034472 2016-02-25 JP2017150987A 2017-08-31 志田 秀夫
【課題】簡易な光ファイバ敷設工事でベルトコンベアのローラ異常を簡易な検出可能な光ファイバ温度分布測定システムを提供する。
【解決手段】ローラ列に沿って敷設される第1光ファイバ部211からの戻り光で得られる第1温度分布と、第1光ファイバ部よりもローラ列の遠方に第1光ファイバ部と並べて敷設される第2光ファイバ部212からの戻り光で得られる第2温度分布とに基づいて、対応する空間分解能区間同士の温度差分を算出する温度差分算出部122と、各空間分解能区間について、その空間分解能区間の温度差分と、隣接する空間分解能区間の温度差分との和である評価用温度差分を算出し、算出された評価用温度差分が基準値を超える場合に、その空間分解能区間付近のローラに異常が発生したと判定する異常検出部123とを備える。
【選択図】図1
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