屏幕测试方法及存储介质 |
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| 申请号 | CN202410365546.0 | 申请日 | 2024-03-28 | 公开(公告)号 | CN117975841A | 公开(公告)日 | 2024-05-03 |
| 申请人 | 广东匠芯创科技有限公司; | 发明人 | 许金浩; 王大志; | ||||
| 摘要 | 本 发明 公开一种屏幕测试方法及存储介质，其中，系统包括多个显示模 块 ，至少两个显示模块的显示 接口 的串口类型不同；测试 主板 ，包括存储模块、芯片安装座和与显示模块一一对应的串行接口，其中，至少两个串行接口的串口类型不同，芯片安装座用于安装待测芯片，存储模块存储有测试程序；测试程序用于指示待测芯片加载测试程序中的测试图片，并选择至少一部分串行接口发送与串行接口匹配的显示 信号 ，以使串行接口对应的显示模块根据显示信号显示测试图片。在本发明 实施例 中，能够同时测试芯片支持的多种显示功能，提高测试内容的 覆盖 率。 | ||||||
| 权利要求 | 1.一种屏幕测试方法，其特征在于，应用于屏幕测试系统，所述屏幕测试系统包括多个显示模块，至少两个所述显示模块的显示接口的串口类型不同； |
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| 说明书全文 | 屏幕测试方法及存储介质技术领域[0001] 本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种屏幕测试方法及存储介质。 背景技术[0002] 现有市场上都是采用普通单片机驱动显示屏刷屏，这种刷屏速度慢，只有8MHZ的工作频率，且点阵分辨率小，根本无法驱动现在市场新出高分辨率的接口屏。现有的SoC（System on Chip，系统级芯片）功能测试装置只能外接一种显示屏，不能测试SoC所支持的其他类型的显示屏，造成测试内容覆盖率低。当需要测试多种类型的显示屏，目前现生产的测试板均是分开不同接口测试板，导致利用率不高。 发明内容[0003] 以下是对本文详细描述的主题的概述。 [0004] 本发明实施例提供了一种屏幕测试方法及存储介质，能够同时测试芯片支持的多种显示功能，提高测试内容的覆盖率。 [0005] 第一方面，本发明实施例提供了一种屏幕测试系统，包括：多个显示模块，至少两个所述显示模块的显示接口的串口类型不同； 测试主板，包括存储模块、芯片安装座和与所述显示模块一一对应的串行接口，其 中，至少两个所述串行接口的串口类型不同，所述芯片安装座用于安装待测芯片，所述存储模块存储有测试程序； 所述测试程序用于指示所述待测芯片加载所述测试程序中的测试图片，并选择至 少一部分所述串行接口发送与所述串行接口匹配的显示信号，以使所述串行接口对应的所述显示模块根据所述显示信号显示所述测试图片。 [0006] 在一些实施例中，所述串行接口包括LVDS接口和MIPI接口。 [0007] 在一些实施例中，所述显示模块包括LVDS显示屏和MIPI显示屏。 [0008] 第二方面，本发明实施例还提供了一种屏幕测试方法，应用于屏幕测试系统，所述屏幕测试系统包括多个显示模块，至少两个所述显示模块的显示接口的串口类型不同；测试主板，包括存储模块、芯片安装座和与所述显示模块一一对应的串行接口，其 中，至少两个所述串行接口的串口类型不同，所述芯片安装座用于安装待测芯片，所述存储模块存储有测试程序； 所述方法包括： 读取所述存储模块中的测试程序； 加载所述测试程序中的测试图片，并选择至少一部分所述串行接口发送与所述串 行接口匹配的显示信号，以使所述串行接口对应的所述显示模块根据所述显示信号显示所述测试图片。 [0009] 本发明实施例提供的屏幕测试方法，至少具有如下有益效果：屏幕测试系统包括多个显示模块和测试主板，其中，测试主板包括存储有测试程序的存储模块、用于安装待测芯片的芯片安装座和与显示模块一一对应的串行接口，并且至少两个显示模块的显示接口的串口类型不同，从而能够外接多种串口类型的显示屏，便于对待测芯片显示功能的测试，测试程序用于指示待测芯片加载测试程序中的测试图片，并选择至少一部分串行接口发送与串行接口匹配的显示信号，实现对多种类型的显示屏的测试，以使串行接口对应的显示模块根据显示信号显示测试图片，从而实现对待测芯片显示功能的测试，提高测试内容的覆盖率。本实施例通过外接多种不同类型的显示屏，可以同时测试待测芯片支持的多种显示功能，提高测试内容的覆盖率，进一步能够验证待测芯片在不同显示环境下的表现，确保待测芯片的适用性和稳定性。 [0010] 在一些实施例中，在读取所述存储模块中的测试程序之后，所述方法还包括：加载所述测试程序中的测试序列，并根据所述测试序列确定第一串行接口和第二 串行接口，其中，所述测试序列中串行接口被选择的优先级依次递减，所述第一串行接口的优先级高于所述第二串行接口的优先级； 向所有所述串行接口发送开启信号，以使所述串行接口对应的所述显示模块根据 所述开启信号开启； 加载所述测试程序中的第一图片，并发送与所述第一串行接口匹配的第一显示信 号，以使所述第一串行接口对应的第一显示模块根据所述第一显示信号以第一预设时长显示所述第一图片； 发送与所述第二串行接口匹配的第二显示信号，以使所述第二串行接口对应的所 述第二显示模块根据所述第二显示信号以第二预设时长显示所述第一图片。 [0011] 在一些实施例中，在向所有所述串行接口发送开启信号之后，所述方法还包括：加载所述测试程序中与所述第一串行接口对应的第二图片和与所述第二串行接 口对应的第三图片，并发送与所述第一串行接口匹配的第一显示信号，以使所述第一串行接口对应的第一显示模块根据所述第一显示信号以第三预设时长显示所述第二图片； 发送与所述第二串行接口匹配的第二显示信号，以使所述第二串行接口对应的所 述第二显示模块根据所述第二显示信号以第四预设时长显示所述第三图片。 [0012] 在一些实施例中，在发送与所述第二串行接口匹配的第二显示信号之前，所述方法还包括：通过所述第一串行接口发送关闭信号，以使所述第一串行接口对应的第一显示模 块根据所述关闭信号关闭。 [0013] 在一些实施例中，在根据所述测试序列确定第一串行接口和第二串行接口之后，所述方法还包括：通过所述第一串行接口发送第一开启信号，以使所述第一串行接口对应的第一显 示模块根据所述第一开启信号开启； 加载所述测试程序中的第四图片，并发送与所述第一串行接口匹配的第三显示信 号，以使所述第一串行接口对应的第一显示模块根据所述第三显示信号以第四预设时长显示所述第四图片； 通过所述第一串行接口发送第一关闭信号，以使所述第一串行接口对应的第一显 示模块根据所述第一关闭信号关闭； 通过所述第二串行接口发送第二开启信号，以使所述第二串行接口对应的第二显 示模块根据所述第二开启信号开启； 发送与所述第一串行接口匹配的第四显示信号，以使所述第二串行接口对应的第 二显示模块根据所述第四显示信号以第五预设时长显示所述第四图片； 通过所述第二串行接口发送第二关闭信号，以使所述第二串行接口对应的第二显 示模块根据所述第二关闭信号关闭。 [0014] 在一些实施例中，在通过所述第二串行接口发送第二开启信号之后，所述方法还包括：加载所述测试程序中与所述第二串行接口对应的第五图片，并发送与所述第二串 行接口匹配的第五显示信号，以使所述第二串行接口对应的第二显示模块根据所述第五显示信号以第六预设时长显示所述第五图片； 通过所述第二串行接口发送第三关闭信号，以使所述第二串行接口对应的第二显 示模块根据所述第三关闭信号关闭。 [0015] 第三方面，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于使计算机执行如第二方面所述的屏幕测试方法。 附图说明[0017] 附图用来提供对本发明技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的示例一起用于解释本发明的技术方案，并不构成对本发明技术方案的限制。 [0018] 图1为本发明实施例提供的屏幕测试系统的示意图；图2是本发明实施例提供的屏幕测试方法的整体流程图； 图3为本发明另一实施例提供的屏幕测试方法的流程图； 图4为本发明另一实施例提供的屏幕测试方法的流程图； 图5为本发明另一实施例提供的屏幕测试方法的流程图； 图6为本发明另一实施例提供的屏幕测试方法的流程图； 图7为本发明另一实施例提供的屏幕测试方法的流程图。 具体实施方式[0019] 为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。 [0020] 现有市场上都是采用普通单片机驱动显示屏刷屏，这种刷屏速度慢，只有8MHZ的工作频率，且点阵分辨率小，根本无法驱动现在市场新出高分辨率的接口屏。现有的SoC（System on Chip，系统级芯片）功能测试装置只能外接一种显示屏，不能测试SoC所支持的其他类型的显示屏，造成测试内容覆盖率低。当需要测试多种类型的显示屏，目前现生产的测试板均是分开不同接口测试板，导致利用率不高。 [0021] 为了解决上述问题，本发明实施例提供了一种屏幕测试方法，屏幕测试系统包括多个显示模块和测试主板，其中，测试主板包括存储有测试程序的存储模块、用于安装待测芯片的芯片安装座和与显示模块一一对应的串行接口，并且至少两个显示模块的显示接口的串口类型不同，从而能够外接多种串口类型的显示屏，便于对待测芯片显示功能的测试，测试程序用于指示待测芯片加载测试程序中的测试图片，并选择至少一部分串行接口发送与串行接口匹配的显示信号，实现对多种类型的显示屏的测试，以使串行接口对应的显示模块根据显示信号显示测试图片，从而实现对待测芯片显示功能的测试，提高测试内容的覆盖率。本实施例通过外接多种不同类型的显示屏，可以同时测试待测芯片支持的多种显示功能，提高测试内容的覆盖率，进一步能够验证待测芯片在不同显示环境下的表现，确保待测芯片的适用性和稳定性。 [0022] 下面结合附图，对本发明实施例作进一步阐述。 [0023] 参照图1，图1为本发明实施例提供的屏幕测试系统的示意图；在一些实施例中，屏幕测试系统包括多个显示模块100，至少两个显示模块100的 显示接口的串口类型不同，其中，显示模块100包括LVDS（Low Voltage Differential Signaling，低电压差分信号）显示屏和MIPI（Mobile Industry Processor Interface，移动产业处理器接口）显示屏。 [0024] 可以理解的是，LVDS是一种用于平面显示器和其他低功耗应用的数字化视频传输接口标准。MIPI是针对移动设备设计的接口标准，用于连接显示屏和摄像头等外设。 [0025] 测试主板200，包括存储模块210、芯片安装座和与显示模块100一一对应的串行接口230，其中，至少两个串行接口230的串口类型不同，芯片安装座用于安装待测芯片300，存储模块210存储有测试程序，便于后续测试待测芯片300的显示功能，实现对待测芯片300支持的多种显示功能的测试。 [0026] 可以理解的是，图1以设置三个串行接口230和三个显示模块100为例，对屏幕测试系统的框架进行展示，实际串行接口230和显示模块100的数量可以根据使用者的需求执行设置，本实施例不做具体限制。 [0027] 在一些实施例中，串行接口230包括LVDS接口和MIPI接口，本实施例中LVDS显示屏与LVDS接口对应，并且MIPI显示屏与MIPI接口对应。 [0028] 需要说明的是，本实施例中的串行接口230的接口类型和显示模块100的显示接口的串口类型均为待测芯片300支持的类型，例如，HDMI（High‑Definition Multimedia Interface，高清晰度多媒体接口）类型、VGA（Video Graphics Array，视频图形阵列）类型、LVDS类型、MIPI类型等等，其中，至少两个串行接口230的串口类型不同，对应地，至少两个显示模块100的显示接口的串口类型不同。 [0029] 可以理解的是，串口类型相同的显示模块100与串行接口230相互连接，本实施例中对串行接口230和显示模块100的具体数量不做具体限制，例如，MIPI类型的串行接口230设置有四个，对应的MIPI类型的显示模块100设置有四个，LVDS类型的串行接口230设置有一个，对应的LVDS类型的显示模块100设置有一个；或者MIPI类型的串行接口230设置有两个，对应的MIPI类型的显示模块100设置有两个，LVDS类型的串行接口230设置有一个，对应的LVDS类型的显示模块100设置有一个等等，本实施例不做具体限制。 [0030] 在一些实施例中，测试程序用于指示待测芯片300加载测试程序中的测试图片，并选择至少一部分串行接口230发送与串行接口230匹配的显示信号，以使串行接口230对应的显示模块100根据显示信号显示测试图片，从而能够在不同的显示模块100上显示测试图片，实现对待测芯片300显示功能的测试。本实施例通过连接不同类型的显示模块100，可以测试待测芯片300支持的多种显示功能，从而提高测试内容的覆盖率，确保待测芯片300在不同显示场景下的兼容性和稳定性。 [0031] 需要说明的是，传统的测试工装只会设计一种显示接口外接的屏幕，例如，只外接LVDS屏幕，那就只测试到了待测芯片300的LVDS功能，本实施例同时外接多种屏幕，那么就测试了待测芯片300的多种功能，提高了测试内容的覆盖率。 [0032] 值得注意的是，本实施例连接不同类型的显示屏可以帮助发现更多潜在的显示相关问题，如分辨率适配性、色彩准确性、屏幕刷新频率等方面的异常情况，提前发现并解决问题，并且通过全面测试不同类型的显示功能，可以有效提高待测芯片300在实际使用中的稳定性和可靠性，减少出现显示相关故障的可能性。 [0033] 可以理解的是，以显示模块100包括LVDS显示屏和MIPI显示屏、串行接口230包括LVDS接口和MIPI接口为例进行说明，本实施例中首先将待测芯片300放置在测试主板200的芯片安装座上，从而将待测芯片300接入测试主板200的电路，待测芯片300与存储模块210、LVDS接口、MIPI接口接通，然后通过LVDS接口与LVDS显示屏连接，并通过MIPI接口与MIPI显示屏连接，从而完成硬件层次的连接。 [0034] 参照图2，本发明实施例提供了一种屏幕测试方法，应用但不限于应用于图1中的屏幕测试系统中的待测芯片300，屏幕测试方法包括但不限于以下步骤S101至S102。 [0035] 步骤S101，读取存储模块210中的测试程序；步骤S102，加载测试程序中的测试图片，并选择至少一部分串行接口230发送与串 行接口230匹配的显示信号，以使串行接口230对应的显示模块100根据显示信号显示测试图片。 [0036] 在一些实施例的步骤S101至步骤S102中，在测试主板200上电后，待测芯片300读取存储模块210中的测试程序，再加载测试程序中的测试图片，并选择至少一部分串行接口230发送与串行接口230匹配的显示信号，通过发送匹配的显示信号，可以验证待测芯片300对串行接口230的支持是否正确，以使串行接口230对应的显示模块100根据显示信号显示测试图片，便于后续通过观察显示模块100中的测试图片验证待测芯片300对不同显示功能的支持程度，并且还能够通过观察显示效果，实时调整待测芯片300的显示屏的参数，实现对待测芯片300的显示功能的客观评估。 [0037] 需要说明的是，本实施例中可以通过观察测试图片的分辨率、色彩表现、刷新率等参数确定待测芯片300的显示功能是否正常，并且还可以通过观察上述参数评估显示模块100的色彩准确性和还原度，例如，颜色饱和度、色彩平衡和灰度级别等等。 [0038] 值得注意的是，本实施例中通过观察显示效果，可以实时调整待测芯片300和显示模块100的参数，如亮度、对比度、色彩配置等，以优化显示效果并确保最佳的视觉体验，并且观察测试图片有助于客观评估待测芯片300在不同显示功能下的性能表现，包括显示稳定性、动态响应能力等，以便进行性能比较和优化。 [0039] 可以理解的是，本实施例中的屏幕测试方法可以随机选择串行接口230进行测试，也可以按照特定的顺序选择串行接口230进行测试，下面对顺序选择串行接口230进行测试的方法进行具体说明。 [0040] 参照图3，图3为本发明另一实施例提供的屏幕测试方法的流程图，屏幕测试方法包括但不限于以下步骤S201至S204。 [0041] 需要说明的是，步骤S201至步骤S204发生在读取存储模块210中的测试程序之后，其中，步骤S201至步骤S204为第一串行接口和第二串行接口按照顺序展示同一张测试图片的实施例。 [0042] 步骤S201，加载测试程序中的测试序列，并根据测试序列确定第一串行接口和第二串行接口；需要说明的是，测试序列中串行接口230被选择的优先级依次递减，第一串行接口 的优先级高于第二串行接口的优先级。 [0043] 在一些实施例的步骤S201中，加载测试程序中的测试序列，并根据测试序列确定第一串行接口和第二串行接口，并且第一串行接口的优先级高于第二串行接口的优先级，即与第一串行接口对应的第一显示模块先进行图片展示，与第二串行接口对应的第二显示模块后进行图片展示，实现对显示功能的有序测试，避免出现测试功能混淆和交叉干扰，实现对不同显示功能的逐步验证。 [0044] 需要说明的是，测试序列为串行接口230被选择的顺序序列，并且按照串行接口230被选择的优先级依次递减，其中，测试序列可以根据串行接口230的重要程度进行排序，也可以根据串行接口230的编号进行排序，本实施例不做具体限制。 [0045] 步骤S202，向所有串行接口230发送开启信号，以使串行接口230对应的显示模块100根据开启信号开启； 在一些实施例的步骤S202中，向所有串行接口230发送开启信号，以使串行接口 230对应的显示模块100根据开启信号开启，从而简化测试流程，减少测试操作的复杂性，提高测试效率和准确性，并且同时发送开启信号可以节省测试时间，避免逐个操作每个串行接口230，加快测试速度。 [0046] 步骤S203，加载测试程序中的第一图片，并发送与第一串行接口匹配的第一显示信号，以使第一串行接口对应的第一显示模块根据第一显示信号以第一预设时长显示第一图片；在一些实施例的步骤S203中，加载测试程序中的第一图片，并发送与第一串行接 口匹配的第一显示信号，以使第一串行接口对应的第一显示模块根据第一显示信号以第一预设时长显示第一图片，实现待测芯片300支持的与第一串行接口的接口类型对应的显示功能的测试，从而能够展示待测芯片300在第一显示模块上的显示性能。 [0047] 可以理解的是，本实施例中的第一预设时长可以根据使用者的需求自行设置，例如，两分钟、三分钟、五分钟等等，本实施例不做具体限制。 [0048] 步骤S204，发送与第二串行接口匹配的第二显示信号，以使第二串行接口对应的第二显示模块根据第二显示信号以第二预设时长显示第一图片。 [0049] 在一些实施例的步骤S204中，发送与第二串行接口匹配的第二显示信号，以使第二串行接口对应的第二显示模块根据第二显示信号以第二预设时长显示第一图片，实现待测芯片300支持的与第二串行接口的接口类型对应的显示功能的测试，从而能够展示待测芯片300在第二显示模块上的显示性能。 [0050] 值得注意的是，本实施例通过在第一显示模块和第二显示模块展示相同图片，能够直观地比较两个显示模块100的显示效果和表现，可以更直观地对比第一图片在不同显示模块100上的色彩还原、对比度和亮度等方面的显示效果，便于评估待测芯片300在不同显示模块100之间的展示性能，并且通过先在第一显示模块显示第一图片，后在第二显示模块显示第一图片，能够逐步验证待测芯片300对该显示功能的支持情况，确保每个显示模块100都能够独立地被测试和评估，提高待测芯片300的测试功能的可靠性，除此之外，通过逐步测试每个显示模块100可以有助于确保系统的稳定性和可靠性，避免同时测试可能引起的系统崩溃或者异常，保证测试程序的顺序执行。 [0051] 需要说明的是，本实施在第二显示模块以第二预设时长显示第一图片后，还可以发送与第一串行接口和第二串行接口匹配的关闭信号以关闭第一显示模块和第二显示模块。并且本实施例中的第一预设时长和第二预设时长可以相同，也可以不同，例如，本实施例中的第一显示模块显示第一图片五分钟，之后第二显示模块显示第一图片两分钟，或者第一显示模块和第二显示模块分别显示第一图片三分钟等等，本实施例不做具体限制。 [0052] 在一些实施例中，本实施例还可以同时发送与第一串行接口匹配的第一显示信号和与第二串行接口匹配的第二显示信号，以使第一显示模块根据第一显示信号以第一预设时长显示第一图片，并使第二显示模块根据第二显示信号以第二预设时长显示第二图片，实现对两种测试功能的同时测试，可以直观地比较图片在不同显示模块100上的色彩还原、对比度、亮度等显示性能，有助于评估在不同显示模块100上显示功能的差异，并且能够验证待测芯片300对不同串口类型的显示功能的兼容性，检查待测芯片300是否能够适配不同类型的显示模块100，并且通过同时测试多种显示模块100能够减少测试所需的时间，提高测试效率，更快地评估待测芯片300的性能。 [0053] 参照图4，图4为本发明另一实施例提供的屏幕测试方法的流程图，屏幕测试方法包括但不限于以下步骤S301至S302。 [0054] 需要说明的是，步骤S301至步骤S302发生在向所有串行接口230发送开启信号之后，其中，步骤S301至步骤S302为第一串行接口和第二串行接口按照顺序展示不同测试图片的实施例。 [0055] 步骤S301，加载测试程序中与第一串行接口对应的第二图片和与第二串行接口对应的第三图片，并发送与第一串行接口匹配的第一显示信号，以使第一串行接口对应的第一显示模块根据第一显示信号以第三预设时长显示第二图片；步骤S302，发送与第二串行接口匹配的第二显示信号，以使第二串行接口对应的 第二显示模块根据第二显示信号以第四预设时长显示第三图片。 [0056] 在一些实施例的步骤S301至步骤S302中，在向所有串行接口230发送开启信号之后，加载测试程序中与第一串行接口对应的第二图片和与第二串行接口对应的第三图片，并发送与第一串行接口匹配的第一显示信号，以使第一串行接口对应的第一显示模块根据第一显示信号以第三预设时长显示第二图片，之后再发送与第二串行接口匹配的第二显示信号，以使第二串行接口对应的第二显示模块根据第二显示信号以第四预设时长显示第三图片，从而能够测试待测芯片300对多种不同图像内容的显示支持情况，实现对待测芯片 300所支持的显示性能的综合评估，进一步能够评估出待测芯片300对多种显示功能的支持情况和对多种显示内容的适配能力。 [0057] 需要说明的是，本实施例通过先在第一显示模块上以第三预设时长显示第二图片，再通过第二显示模块以第四预设时长显示第三图片，实现对待测芯片300多种显示性能的评估，通过在不同显示模块100上展示不同图片可以验证待测芯片300的多任务处理能 力，并且检查其能够处理并输出不同内容至对应的显示模块100，从而便于后续更真实地模拟实际应用场景，实现对待测芯片300的显示性能的全面测试。 [0058] 可以理解的是，本实施例中的第三预设时长和第四预设时长可以相同，也可以不同，例如，本实施例中的第一显示模块显示第二图片五分钟，之后第二显示模块显示第三图片两分钟，或者第一显示模块显示第二图片三分钟，之后第二显示模块显示第三图片三分钟等等，本实施例不做具体限制。 [0059] 参照图5，图5为本发明另一实施例提供的屏幕测试方法的流程图，屏幕测试方法包括但不限于以下步骤S401。 [0060] 需要说明的是，步骤S401发生在发送与第二串行接口匹配的第二显示信号之前，其中，上述步骤中的显示模块100均为一直开启的情况，本实施例为在通过第一串行接口发送第一显示信号，以使第一显示模块显示图片之后关闭第一显示模块的实施例。 [0061] 步骤S401，通过第一串行接口发送关闭信号，以使第一串行接口对应的第一显示模块根据关闭信号关闭。 [0062] 在一些实施例的步骤S401中，通过第一串行接口发送关闭信号，以使第一串行接口对应的第一显示模块根据关闭信号关闭，从而能够在第一显示模块显示图片完成后关闭第一显示模块，确保在不同显示模块100的显示功能不受干扰，实现对不同测试功能的隔离测试，避免两个显示模块100同时工作可能产生的干扰，确保测试结果准确可靠，避免资源浪费和冲突。 [0063] 参照图6，图6为本发明另一实施例提供的屏幕测试方法的流程图，屏幕测试方法包括但不限于以下步骤S501至步骤S506。 [0064] 需要说明的是，步骤S501至步骤S506发生在根据测试序列确定第一串行接口和第二串行接口之后，其中，步骤S501至步骤S506为分阶段开启不同显示模块100的实施例。 [0065] 步骤S501，通过第一串行接口发送第一开启信号，以使第一串行接口对应的第一显示模块根据第一开启信号开启；步骤S502，加载测试程序中的第四图片，并发送与第一串行接口匹配的第三显示 信号，以使第一串行接口对应的第一显示模块根据第三显示信号以第四预设时长显示第四图片； 步骤S503，通过第一串行接口发送第一关闭信号，以使第一串行接口对应的第一 显示模块根据第一关闭信号关闭； 步骤S504，通过第二串行接口发送第二开启信号，以使第二串行接口对应的第二 显示模块根据第二开启信号开启； 步骤S505，发送与第一串行接口匹配的第四显示信号，以使第二串行接口对应的 第二显示模块根据第四显示信号以第五预设时长显示第四图片； 步骤S506，通过第二串行接口发送第二关闭信号，以使第二串行接口对应的第二 显示模块根据第二关闭信号关闭。 [0066] 在一些实施例的步骤S501至步骤S506中，首先，通过第一串行接口发送第一开启信号，以使第一串行接口对应的第一显示模块根据第一开启信号开启，实现对第一显示模块的开启，再加载测试程序中的第四图片，并发送与第一串行接口匹配的第三显示信号，以使第一串行接口对应的第一显示模块根据第三显示信号以第四预设时长显示第四图片，从而能够在第一显示模块上测试对应的显示功能，进一步测试待测芯片300在第一显示模块上的显示性能，在第一显示模块显示第四图片之后，通过第一串行接口发送第一关闭信号，以使第一串行接口对应的第一显示模块根据第一关闭信号关闭，确保在不同显示模块100的显示功能不受干扰，避免两个显示模块100同时工作可能产生的干扰，之后，通过第二串行接口发送第二开启信号，以使第二串行接口对应的第二显示模块根据第二开启信号开启，在关闭第一显示模块后开启第二显示模块，实现对不同测试功能的隔离测试，能够在同一时间只开启一个显示屏进行测试，可以节省资源的同时提高测试效率，避免资源浪费和冲突，再发送与第一串行接口匹配的第四显示信号，以使第二串行接口对应的第二显示模块根据第四显示信号以第五预设时长显示第四图片，能够测试待测芯片300在第二显示模块上的显示性能，实现对待测芯片300支持的显示功能的测试，最后，通过第二串行接口发送第二关闭信号，以使第二串行接口对应的第二显示模块根据第二关闭信号关闭，从而更准确地评估待测芯片300对不同类型显示功能的支持情况。 [0067] 可以理解的是，本实施例中的第四预设时长和第五预设时长的设置方式与第一预设时长和第二预设时长相同，本实施例在此不再赘述。 [0068] 参照图7，图7为本发明另一实施例提供的屏幕测试方法的流程图，屏幕测试方法包括但不限于以下步骤S601至步骤S602。 [0069] 需要说明的是，步骤S601至步骤S602发生在通过第二串行接口发送第二开启信号之后，其中，步骤S601至步骤S602为分阶段开启不同显示模块100展示不同图片的实施例。 [0070] 步骤S601，加载测试程序中与第二串行接口对应的第五图片，并发送与第二串行接口匹配的第五显示信号，以使第二串行接口对应的第二显示模块根据第五显示信号以第六预设时长显示第五图片；步骤S602，通过第二串行接口发送第三关闭信号，以使第二串行接口对应的第二 显示模块根据第三关闭信号关闭。 [0071] 在一些实施例的步骤S601至步骤S602中，在通过第二串行接口发送第二开启信号之后，加载测试程序中与第二串行接口对应的第五图片，并发送与第二串行接口匹配的第五显示信号，以使第二串行接口对应的第二显示模块根据第五显示信号以第六预设时长显示第五图片，通过展示不同种类的图片在不同类型的显示模块100上，可以进行全面的测试，涵盖了多种显示功能和应用场景，有助于发现潜在问题并优化待测芯片300的性能，最后，通过第二串行接口发送第三关闭信号，以使第二串行接口对应的第二显示模块根据第三关闭信号关闭，完成在第一显示模块和第二显示模块上的功能测试。 [0073] 存储器作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序以及非暂态性计算机可执行程序。此外，存储器可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施方式中，存储器可选包括相对于处理器远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至该处理器。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。 [0074] 本申请实施例描述的实施例是为了更加清楚的说明本申请实施例的技术方案，并不构成对于本申请实施例提供的技术方案的限定，本领域技术人员可知，随着技术的演变和新应用场景的出现，本申请实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。 [0075] 本领域技术人员可以理解的是，图1‑7中示出的技术方案并不构成对本申请实施例的限定，可以包括比图示更多或更少的步骤，或者组合某些步骤，或者不同的步骤。 [0076] 以上所描述的系统实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。 [0077] 本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、设备中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。 [0078] 本申请的说明书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。 [0079] 应当理解，在本申请中，“至少一个(项)”是指一个或者多个，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，用于描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，“A和/或B”可以表示：只存在A，只存在B以及同时存在A和B三种情况，其中A，B可以是单数或者复数。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。“以下至少一项(个)”或其类似表达，是指这些项中的任意组合，包括单项(个)或复数项(个)的任意组合。例如，a，b或c中的至少一项(个)，可以表示：a，b，c，“a和b”，“a和c”，“b和c”，或“a和b和c”，其中a，b，c可以是单个，也可以是多个。 [0080] 在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的系统实施例仅仅是示意性的，例如，上述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，系统或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。 [0081] 上述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。 [0082] 另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。 [0083] 集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括多指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例的方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read‑Only Memory，简称ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，简称RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序的介质。 [0084] 以上参照附图说明了本申请实施例的优选实施例，并非因此局限本申请实施例的权利范围。本领域技术人员不脱离本申请实施例的范围和实质内所作的任何修改、等同替换和改进，均应在本申请实施例的权利范围之内。 |
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