子分类：
| 序号 | 专利名 | 申请号 | 申请日 | 公开（公告）号 | 公开（公告）日 | 发明人 |
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| 21 | 一种液晶显示器件光电参数检测接口系统 | CN201910319478.3 | 2019-04-19 | CN109917571B | 2024-05-28 | 卓朝松; 崔少军; 何学铧; 杨浩; 陈乐珠; 王艳 |
| 本发明公开了一种液晶显示器件光电参数检测接口系统，包括接口装置和测试软件系统；所述测试软件系统设置在控制计算机，所述计算机电性连接接口装置；所述接口装置用于液晶显示器件光电参数检测；所述测试软件系统测试液晶显示器件的参数。本发明可连接任何种类的被测液晶显示器件及需要的驱动电源、驱动信号源及外围检测设备，解决了因类型和型号不同需要购置和准备繁多的驱动电源、驱动信号源等设备的难题和反复连接线路的麻烦。 | ||||||
| 22 | 一种旋转全息显示装置 | CN201811155727.1 | 2018-09-29 | CN108986725B | 2024-05-28 | 罗鸿飞; 吕巍 |
| 本发明提供了一种旋转全息显示装置，属于全息显示设备领域，其包括固定组件、旋转组件和驱动件。固定组件包括第一基体、第一PCB板和第一线圈，第一基体内部设有第一容纳空间，第一线圈和第一PCB板均安装于第一容纳空间内，第一线圈与第一PCB板电连接。旋转组件包括第二基体、灯条PCB板、第二PCB板和第二线圈，灯条PCB板、第二PCB板和第二线圈均安装于第二基体，灯条PCB板与第二PCB板电连接，第二线圈与第二PCB板电连接。驱动件用于驱动第二基体相对第一基体转动。第二线圈位于第一容纳空间内，第二线圈与第一线圈耦合。这种结构的旋转全息显示装置极大地降低了非旋转部分的体积，大大提高了全息显示的透视性，使显示效果更佳。 | ||||||
| 23 | 一种显示装置高温老化方法 | CN202410292160.1 | 2024-03-14 | CN118072640A | 2024-05-24 | 边亚帆; 钱涛; 耿晓峰 |
| 本发明公开了一种显示装置高温老化方法，属于显示装置技术领域。所述方法包括：S1.在显示装置产线正常生产时，通过产线设备将高温老化模式写入显示装置；S2.所述高温老化模式在显示装置进入老化房并上电后生效，在高温老化模式下，显示装置会对高温老化时间和错误状态进行记录；S3.高温老化结束后，将显示装置送入测试站进行高温老化模式重置并测试。本发明减少了外部设备，降低了成本，实现了单件产品高温老化时间和错误信息的全面记录，提高了产品稳定性和品质，符合产线生产流程。 | ||||||
| 24 | 一种应用于印刷显示面板的高速电检测系统 | CN202410201485.4 | 2024-02-23 | CN118072638A | 2024-05-24 | 吴朝兴; 苏昊; 张永爱; 周雄图; 叶芸; 郭太良 |
| 本发明公开了一种应用于印刷显示面板的高速电检测系统，包括高速电检测系统包括：包含导电层的第一基板、与导电层相对设置的检测探头阵列；印刷显示面板的发光像素的阳极端、发光层、阴极端为三明治层状结构；检测探头阵列至少包括一个检测探头，检测探头阵列和导电层分别与高频交流电供电模块进行电连接；高频交流电供电模块用于向检测探头阵列和导电层进行供电以使检测探头阵列和导电层之间形成第一交变电场，第一交变电场用于使印刷显示面板电致发光；导电层旁设置有电信号测量模块，第一基板一侧设置有光信号测量模块；高速电检测系统还包括电控位移模块。本发明在避免检测损伤印刷显示面板的同时，提高检测效率。 | ||||||
| 25 | 一种基于背光模组电路智能测试系统及方法 | CN202311173585.2 | 2023-09-12 | CN117192822B | 2024-05-24 | 翁嘉煌 |
| 本发明公开了一种基于背光模组电路智能测试系统及方法，涉及电路测试技术领域。为了解决现有技术中，无法针对背光模组的电信号和图像信号进行同步检测，无法基于背光模组电路和显示的瑕疵进行同步检测，产品质量无法得到保障的问题；一种基于背光模组电路智能测试系统，包括测试平台和测试终端；可以实现对背光模组进行电路和显示图像等不同角度的检测工作，从而提高了背光模组测试得到检测效率，测试平台记录并存储背光模组的模组编码及对应的测试结果，检测人员可以通过保存的数据了解背光模组的质量变化，为后续生产提供改良意见，提高了产品的质量，降低了人工劳动力，且操作流程简单，自动化程度高，提高了检测效率。 | ||||||
| 26 | 一种显示基板、其检测方法及显示装置 | CN202110815371.5 | 2021-07-19 | CN113555401B | 2024-05-24 | 张桂雪; 史鲁斌; 沙一鸣; 刘利宾; 晁晋予 |
| 本发明提供了一种显示基板、其检测方法及显示装置，显示基板包括衬底基板，衬底基板包括显示区和围绕显示区包括位于显示区一侧且依次背离显示区的互不交叠的第一绑定区和第二绑定区的非显示区；显示区包括多条数据线，第一绑定区包括依次背离显示区的多个第一绑定电极、多个第二绑定电极及位于多个第一绑定电极和多个第二绑定电极之间并与多个第一绑定电极耦接的多个第一测试电极，多个第一绑定电极与多条数据线耦接，并与控制芯片的输出端绑定，多个第二绑定电极用于与控制芯片的输入端绑定；第二绑定区包括与多个第二绑定电极耦接的多个第三绑定电极，并与多个第一测试电极耦接的至少一个第二测试电极，多个第三绑定电极用于与柔性电路板绑定。 | ||||||
| 27 | 一种眼戴设备和照明方法 | CN201980084520.6 | 2019-12-11 | CN113228145B | 2024-05-24 | 拉杰夫·拉曼斯 |
| 公开的一种眼戴设备包括照明设备和空间光调制器，所述照明设备包括照明源，每个照明源包括第一照明器、第二照明器和第三照明器，所述空间光调制器耦合到所述照明设备以控制所述第一照明器、第二照明器和第三照明器中的每一个在照明帧期间打开的时间。所述空间光调制器适于在所述第二照明器和第三照明器关闭时打开所述第一照明器，在所述第一照明器和第三照明器关闭时打开所述第二照明器，在所述照明帧的第三时间段期间打开所述第三照明器，关闭所述第一照明器和第二照明器，并且在第四时间段期间打开所述第一照明器、第二照明器和第三照明器。还公开了一种照明方法。 | ||||||
| 28 | 缺陷检测方法、装置及存储介质 | CN202010380877.3 | 2020-05-08 | CN111583225B | 2024-05-24 | 周乔珂 |
| 本发明公开了一种缺陷检测方法、装置及存储介质。缺陷检测方法用于显示器件。缺陷检测方法包括：获取显示器件处于显示状态的图像；基于经验模态分解算法去除图像的噪声信号并提取特征信号；基于支持向量机对特征信号进行处理以检测图像的亮度缺陷。本发明实施方式的缺陷检测方法，通过经验模态分解算法提取图像的特征信号及支持向量机对特征信号的处理，可自动检测显示器件处于显示状态的图像的亮度缺陷，检测标准统一客观，能够实现亮度缺陷的可靠检测，且检测速度较快。 | ||||||
| 29 | 显示装置 | CN202311509999.8 | 2023-11-14 | CN118057514A | 2024-05-21 | 金钟彬; 安宝煐 |
| 本公开的显示装置包括：显示面板，包括多个像素；第一传感器，配置为感测所述多个像素的迁移率；以及第二传感器。所述第一传感器在从所述显示装置的通电时间点到显示开始时间点的第一周期期间使用第一处理生成初始感测值以感测所述迁移率，并且在所述显示开始时间点之后的第二周期期间使用第二处理生成第一感测值以感测所述迁移率。所述第二传感器基于所述初始感测值和所述第一感测值感测所述显示面板是否处于异常状态。 | ||||||
| 30 | 一种显示亮点缺陷的修复电路 | CN202410085444.3 | 2024-01-22 | CN117612465B | 2024-05-21 | 陈啟宏; 秦昌兵; 张白雪; 张叶明; 张春; 杨建兵 |
| 一种显示亮点缺陷的修复电路，包括行寻址电路、列寻址电路和像素电路。本发明提出的一种显示亮点缺陷的修复电路可以根据显示亮点缺陷所在行/列的坐标，通过行、列寻址电路，配合像素电路，关断异常像素中漏电的驱动管的电源，从而修复显示亮点缺陷。当像素中互为备份的两个驱动管中的一个被关断电源，该像素仍能正常显示。当像素中互为备份的两个驱动管都被关断电源，该显示亮点缺陷则被修复为暗点。 | ||||||
| 31 | 屏幕亮灭检测系统、方法和传感器 | CN202410453965.X | 2024-04-16 | CN118055180A | 2024-05-17 | 林华均; 林盛诺; 唐可信; 叶立平 |
| 本申请公开了一种屏幕亮灭检测系统、方法和传感器。所述屏幕亮灭检测系统包括供电电路，将电源电压降压以输出供电电压；第一转换电路，接收LCD屏幕发出的光信号转换为第一电信号；第二转换电路，接收OLED屏幕发出的光信号转换为第二电信号；状态输出电路，根据屏幕的亮灭状态输出亮屏指示信号和灭屏指示信号；MCU，接收第一电信号以检测LCD屏幕的亮灭状态，控制状态输出电路输出，及接收第二电信号以检测OLED屏幕的亮灭状态，控制状态输出电路输出；切换电路，控制MCU检测LCD屏幕或检测OLED屏幕。本申请实现了对LCD屏幕和OLED屏幕亮灭的稳定检测，并且大幅度降低了产品尺寸，满足将产品安装在小空间进行手机屏幕亮灭检测，以及降低了产品成本。 | ||||||
| 32 | 微显示屏的像素检测方法、检测电路及屏蔽方法 | CN202410438757.2 | 2024-04-12 | CN118053368A | 2024-05-17 | 苏畅; 黄苒; 赵博华 |
| 本发明涉及集成电路技术领域，其公开了一种微显示屏的像素检测方法、检测电路及像素屏蔽方法，包括：测试图形生成单元、ADC转换模块、电流值比较单元及计数单元；测试图形生成单元用于生成第一至第四测试图像，并传输至微显示面板进行显示；ADC转换模块用于采集微显示面板的公共电流，并将公共电流转换为数字信号输入至电流值比较单元，电流值比较单元对不同测试图像下的公共电流值进行比较以检测出缺陷像素；计数单元，用于统计及存储缺陷像素数量。本发明构建于微显示芯片内部，通过检测流过公共电极的电流的方式判断像素点是否为缺陷点，并能够自动实施像素屏蔽，相较于现有技术，能够更为简单高效的完成像素检测及屏蔽工作。 | ||||||
| 33 | 显示装置及显示装置的驱动方法 | CN202410239157.3 | 2024-03-01 | CN118053352A | 2024-05-17 | 吴昊 |
| 本申请涉及一种显示装置及显示装置的驱动方法，其中，显示装置包括：支撑组件，包括第一支撑部、第二支撑部，所述第一支撑部与所述第二支撑部转动连接并具有连接区；显示面板，围绕所述支撑组件设置；驱动组件，设置于所述支撑组件，在所述折叠状态下，所述驱动组件与所述显示面板相抵接并能够驱动所述显示面板沿所述支撑组件的周向移动，以调节所述连接区在所述显示面板上的正投影与所述显示面板的相对位置。本申请实施例提供的显示装置能够减轻折痕、改善显示效果。 | ||||||
| 34 | 面板裂纹检测电路、方法、显示模组及装置 | CN202111365961.9 | 2021-11-17 | CN113889013B | 2024-05-17 | 汪祥; 章祯; 马俊才; 汤洋 |
| 本申请涉及一种面板裂纹检测电路、方法、显示模组及装置，该面板裂纹检测电路包括：裂纹检测线和柔性线路板；所述裂纹检测线位于面板的非显示区域内，且部分包围所述面板的显示区域，所述裂纹检测线的第一端与所述柔性线路板的第一端连接，所述裂纹检测线的第二端与所述柔性线路板的连接器引脚连接；所述柔性线路板的第一端与所述柔性线路板的接地区域连接；所述柔性线路板的连接器引脚用于向所述裂纹检测线的第一端提供测试电压信号，并检测所述裂纹检测线的电流信号；所述电流信号用于确定所述面板的裂纹检测结果。本申请解决了显示模组因面板裂纹的微裂纹延伸导致的隔行等不良问题，提高显示模组的可靠性。 | ||||||
| 35 | 投影系统及其控制方法 | CN202310081586.8 | 2023-01-19 | CN118042091A | 2024-05-14 | 崔源茂; 吴佳蒨; 袁先正; 王薇榕 |
| 提供一种投影系统及其控制方法。控制方法包含：确认是否检测到第一触发事件；响应于第一触发事件，启动投影机的助眠模式，其中助眠模式具有对应的控制参数；在助眠模式时，使投影模块根据控制参数播放多媒体档案，并且使处理器调整控制参数的参数值，以对应调整多媒体档案；确认是否检测到第二触发事件；以及响应于第二触发事件，使投影模块停止播放多媒体档案并停止助眠模式。在助眠模式中调整播放的投影内容，并借由投影内容来改善使用者的进入睡眠前的状况。 | ||||||
| 36 | 数据处理系统及背光驱动算法的测试方法 | CN202410338089.6 | 2024-03-22 | CN118038825A | 2024-05-14 | 何启平; 马长文; 于超; 李昱潼; 徐盼 |
| 本申请公开了一种数据处理系统及背光驱动算法的测试方法，包括：待测数据处理模块，用于在一帧原始视频数据中嵌入对应的背光数据，以得到第一视频数据；信号处理模块，与待测数据处理模块连接，信号处理模块被配置为接收第一视频数据，并将第一视频数据拆分为独立的背光数据和原始视频数据；其中，信号处理模块还用于在测试阶段，将背光数据和原始视频数据传输至待测显示装置。本申请提供的数据处理系统通过待测数据处理模块将背光数据嵌入到原始视频数据中，以获得第一视频数据，从而使得信号处理模块只需对第一视频数据进行拆分处理即可，节约了信号处理模块的处理资源，进而摆脱了硬件的局限性，提高了数据处理的效率。 | ||||||
| 37 | 一种显示模组及显示装置 | CN202410255705.1 | 2024-03-05 | CN118038807A | 2024-05-14 | 唐硕 |
| 本申请实施例提供一种显示模组及显示装置，显示模组包括显示面板、第一模块、第二模块及缓存单元。显示面板包括复位信号线、电源信号线和发光器件。第一模块用于提供复位电压和控制电压，第二模块用于接收控制电压且基于接收到的控制电压提供电源电压。缓存单元用于将接收到的第一模块输出的复位电压传输至复位信号线。其中，当控制电压更新时，第二模块基于接收到的更新后的控制电压提供更新后的电源电压，第一模块向缓存单元提供更新后的复位电压，并且缓存单元与第二模块在预设时间间隔内分别向复位信号线提供更新后的复位电压、向电源信号线提供更新后的电源电压。本申请实施例提供的显示装置克服了显示亮度切换时出现的画面闪烁的现象。 | ||||||
| 38 | Micro-LED显示面板中有源驱动阵列的测试电路 | CN202410438784.X | 2024-04-12 | CN118038777A | 2024-05-14 | 黄苒; 赵博华; 孙雷 |
| 本发明涉及集成电路技术领域，其公开了一种Micro‑LED显示面板中有源驱动阵列的测试电路，包括由多个相同的开关元件所构成的有源驱动阵列，每个所述开关元件的第二端均连接有一个测试控制单元，所述测试控制单元包括一个测试端和一个控制端，所有测试控制单元的测试端连接在一起形成公共测试端，且所有测试控制单元的控制端连接在一起形成公共控制端。本发明通过在Micro‑LED显示面板制造的中间环节中，增加了有源驱动阵列的测试电路及实施对应于该测试电路的测试方法，可以在制造的中间环节对有源驱动阵列进行良率的检测。 | ||||||
| 39 | 异常灯点检测方法、显示装置和存储介质 | CN202111371785.X | 2021-11-18 | CN114241959B | 2024-05-14 | 刘硕; 王松; 俞克强; 朱国卿; 董振昊 |
| 本申请涉及显示技术领域，特别是涉及一种异常灯点检测方法、显示装置、计算机设备和存储介质，所述方法包括：依次以显示装置的任一灯点为目标灯点，以目标灯点为中心灯点设定预设区域，并基于预设区域中各灯点与目标灯点的初始校正系数的差值以及预设区域中各灯点与目标灯点的距离值确定目标灯点的异常指标；基于各目标灯点的异常指标与预设阈值的比较结果，确定第一异常灯点掩码图；基于第一异常灯点掩码图的连通域检测结果，确定异常灯点的位置。本发明利用预设区域内目标灯点的异常指标，并利用连通域检测能够快速准确的确定异常灯点。 | ||||||
| 40 | 显示器亮度、对比度及色温测试方法 | CN202111531240.0 | 2021-12-14 | CN114170936B | 2024-05-14 | 李保贵; 卢容平 |
| 本发明涉及显示器亮度、对比度及色温测试方法，其包括待测显示器、扫描器、色彩分析仪以及主机，所述主机分别电连接待测显示器、扫描器、色彩分析仪，在待测显示器内建多种显示模式；推送待测显示器进站，扫描器扫描待测显示器的整机条码，主机获取待测显示器信息；依次进行亮度、对比度及色温测试，采用以上技术方案，减少信号发生器，减少外部信号干扰。 | ||||||
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