| 序号 | 专利名 | 申请号 | 申请日 | 公开（公告）号 | 公开（公告）日 | 发明人 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 141 | 用于免疫方法的被电化学发光标记的探针、使用这类探针的方法和包含这类探针的试剂盒 | CN202510162120.X | 2020-02-28 | CN120098057A | 2025-06-06 | J·肯坦; M·赫格斯; G·西加尔 |
| 本发明涉及被标记的探针。本发明还涉及分析方法和用于这类分析的化合物和试剂盒。 | ||||||
| 142 | 电致变色产品的测试方法、系统、电子设备及存储介质 | CN202311530499.2 | 2023-11-15 | CN120009253A | 2025-05-16 | 胡国阳; 高浩鑫 |
| 本申请适用于电致变色技术领域，提供了一种电致变色产品的测试方法、系统、电子设备及存储介质。上述方法通过确定测试场景的环境特征对应的测试参数，测试参数包括充放电参数；根据所述充放电参数，对电致变色产品进行充放电循环测试；根据测试场景的环境特征确定对应的测试参数，并根据充放电参数对电致变色产品进行循环测试，可以验证电致变色产品在相应测试场景下的工作稳定性，有利于开发人员将场景与充放电参数进行匹配，从而提升电致变色产品出厂后的使用寿命。 | ||||||
| 143 | 微区下发光件的外量子效率检测系统及其检测方法 | CN202010245645.7 | 2020-03-31 | CN111323408B | 2025-04-18 | 洪少欣; 贺晓龙; 周燕飞; 殷海玮 |
| 本发明提供了一种微区下发光件的外量子效率检测系统及其检测方法，该检测系统包括：接收光路，包括第一显微物镜及用于测定光强的第一检测装置，第一检测装置对准于第一显微物镜的后端；用于获取接收光路的响应函数的标定设备，包括光源、用于将光线汇聚于第一显微物镜的焦平面上的聚光件、用于将不同频率光线导入第一显微物镜的前端的传导件和用于测定焦平面上的不同频率光线的光谱强度分布的第二检测装置，聚光件的第一端对准于光源，聚光件的第二端对准于焦平面，传导件设置于所述焦平面；以及用于测定待测发光件的电流的第三检测装置。本发明解决了传统的外量子效率检测装置检测单像素或亚毫米级别的微小尺寸的发光器件时准确性差的问题。 | ||||||
| 144 | 生物传感器盒及包括其的生物传感器装置 | CN202380062971.6 | 2023-07-27 | CN119790295A | 2025-04-08 | 申益洙 |
| 本发明公开生物传感器盒。本发明一实施方式的生物传感器盒检测生物物质来生成电化学发光信号，上述生物传感器盒包括：电极部，包括多个电极；划分部，配置在上述电极部上，以将形成于上述电极部上的整个空间划分为信号腔室及包围上述信号腔室的N个反应腔室，上述电极部包括：第一电极，至少一部分配置在上述反应腔室内；第二电极，配置在上述信号腔室内；以及N个连接电极，以使上述反应腔室内的化学反应与在上述信号腔室内发生的上述电化学发光信号联动的方式配置。 | ||||||
| 145 | 一种自动识别岩石不同矿物阴极发光颜色的方法及系统 | CN202411492038.5 | 2024-10-24 | CN119470393A | 2025-02-18 | 王佳; 谭先锋; 瞿雪姣; 罗龙; 蒋威; 刘建平; 王敦繁; 张薇; 张琪 |
| 本发明公开了岩矿鉴定技术领域的一种自动识别岩石不同矿物阴极发光颜色的方法及系统，包括以下步骤：步骤一、制作岩石薄片样本；步骤二、通过阴极发光显微镜获取第一荧光图像，建立基础模型；步骤三、使用不同的滤光片获取第二荧光图像，基于第二荧光图像和第一荧光图像确定亮度变化值和光波波长标记，并将光波波长标记至基础模型中；步骤四、将亮度变化值依次与设定的亮度参照值比对得到差值，得到差值小于阈值对应的荧光颜色区域；使用偏光显微镜获取第三荧光图像，基于不同矿物对应的阴极发光特征确定该荧光颜色区域对应的荧光颜色标记，并添加至基础模型中；实现对颜色微弱变化区分荧光颜色，以此对岩石不同矿物阴极发光颜色进行自动识别。 | ||||||
| 146 | 一种柔性支架组件面板的隐裂测试方法及相关装置 | CN202411436218.1 | 2024-10-14 | CN119321865A | 2025-01-17 | 鞠晓辉; 曹梦; 左乐; 王程; 夏登福 |
| 本申请提供了一种柔性支架组件面板的隐裂测试方法及相关装置，涉及光伏领域。基于目标面板的振动参数的参数值，确定牵引装置的牵引行程，根据振动参数的参数值以及牵引装置的牵引行程，确定隐裂测试参数的参数值，利用隐裂测试参数的参数值，对目标面板进行隐裂测试操作，得到隐裂测试结果，实现了柔性支架组件面板隐裂测试，从而能够在柔性支架组件面板隐裂测试不合格时及时更换。另外，在测试过程中，牵引装置上下运动，安装有目标面板的组件索的伸长量相应变化，从而带动目标面板运动，模拟实际安装场景中的风压作用和实际组件面板受到风压时的振动情况，使得测试场景与实际安装场景相匹配，提高隐裂测试的准确度。 | ||||||
| 147 | 一种有机电致发光材料电激发时原位红外光谱测试工装及测试方法 | CN202411205530.X | 2024-08-30 | CN119064338A | 2024-12-03 | 马皓; 吕都; 贺泽民; 陈智群; 张慧敏; 樊龙; 赵玉真; 苗宗成 |
| 本发明公开了一种有机电致发光材料电激发时原位红外光谱测试工装及测试方法，在溴化钾晶片表面镀一层微纳米厚度的单质材料导电膜，作为阳极基板和阴极基板，将试样置于阳极基板和阴极基板之间，制成原位测试器件，溴化钾晶片和导电膜均无红外信号，不干扰试样测试，为了达到光电响应与红外光谱测试速率一致，测试时用快速扫描模式和Hg‑Cd‑Te半导体光电导型检测器(MCT‑A型)接收红外光谱吸收信号；该方法具有原位获得加电工况下的有机电致发光材料的红外光谱图变化规律，最快响应速率在毫秒级；通过对比分析电激发时红外谱峰位移、强度变化，研究发光机制、电稳定性规律等，为优化电致发光器件结构设计、稳定使用提供化学结构信息。 | ||||||
| 148 | 一种应用于电催化反应的多功能流动型原位光谱检测装置及其应用 | CN202411376120.1 | 2024-09-30 | CN119044265A | 2024-11-29 | 谢顺吉; 何潇洋; 林莉; 黄海滨; 张庆红; 王野 |
| 一种应用于电催化反应的多功能流动型原位光谱检测装置及其应用，涉及催化分析领域。装置包括原位反应池和电化学工作站，原位反应池包括透光密封窗片、第一阴极腔体、第二阴极腔体、阴极气体室；第二阴极腔体和阴极气体室分别与第一阴极腔体和第二阴极腔体螺接；装置设有阳极电解液、阴极电解液和阴极反应气体的循环进、出口，以及连通第二阴极腔体和阴极气体室的气体流道。此外，装置还包括参比电极、对电极、工作电极和离子交换膜，分别与电化学工作站连接。将原位反应池与原位光谱仪连接，通过旋转第二阴极腔体调节工作电极与透光密封窗片之间的距离，通过电化学工作站施加电压和电流，同时利用原位光谱仪采集电催化反应过程中的光谱信号。 | ||||||
| 149 | 一种有机电致发光材料的检测方法 | CN202411146618.9 | 2024-08-21 | CN118671050B | 2024-10-22 | 吕勇; 石超; 李成明; 崔草香; 杨少延; 刘祥林; 朱瑞平; 郭柏君; 陈兆显; 李晓东 |
| 本发明提供一种有机电致发光材料的检测方法，涉及发光检测技术领域，包括：基于预设检测设备对目标有机电致发光材料进行材料检测，得到材料特征参数；获取目标电流组，并基于目标电流组的检测电流逐一输入到目标有机电致发光材料中得到第一发光检测集合；基于第一发光检测集合中每一第一发光检测结果的时序性，判断发光稳定性能；将材料特征参数及发光稳定性能与目标有机电致发光材料的预设标准性能进行比较，从而确定目标有机电致发光材料的材料性能。通过对不同电流作用下的有机电致发光材料进行发光检测从而结合材料特征参数进行综合性能判断，可以使得对有机电致发光材料的检测更为精准，能够更加满足有机电致发光材料的发光检测需求。 | ||||||
| 150 | 一种冷热冲击器运动装置 | CN202010601744.4 | 2020-06-28 | CN111610178B | 2024-10-15 | 郑巧瑜; 王旭飞; 庞尔跃; 邹军; 石明明 |
| 本发明公开了一种冷热冲击器运动装置，包括冷热冲击箱、荧光粉激发装置、控制箱和底板，底板顶部两侧设有一组相互平行的横向滑轨，底板前后两端设有第一同步带轮；冷热冲击箱通过设于冷热冲击箱底部的冷热冲击箱导轨安装在横向滑轨上；控制箱设于底板上方，控制箱面向冷热冲击箱一侧装有一组相互平行的竖向滑轨，控制箱背离冷热冲击箱一侧装控制箱箱盖，控制箱内部下方安装第一步进电机，第一步进电机与第一同步带轮相连，控制箱内部顶端装有第二步进电机，第二步进电机与上方第二同步带轮相连；荧光粉激发装置通过设于荧光粉激发装置面向控制箱一侧的荧光粉激发装置导轨安装在竖向滑轨上；控制箱内装有控制板，控制板采用X、Y主轴立体控制。 | ||||||
| 151 | 量子效率测量及显示方法、装置、电子设备及存储介质 | CN202410784945.0 | 2024-06-18 | CN118758907A | 2024-10-11 | 蒋二龙; 胡海亮; 查俊峰 |
| 本申请涉及量子效率测量技术领域，提供了一种量子效率测量及显示方法、装置、电子设备级存储介质。本申请通过通过LED光源的激发光光谱与待测样品的第一荧光光谱、透射光光谱；得到待测样品的第一量子效率信息；根据第一量子效率信息与第一预设参数，生成第一显示图谱集合；实现对待测样品的光致发光量子效率的测量及多元化显示。通过数字源表的电流数据与待测样品的第二荧光光谱；得到待测样品的第二量子效率信息；根据第二量子效率信息与第二预设参数，生成第二显示图谱集合。实现对待测样品的电致发光量子效率的测量及多元化显示。解决了现有的量子效率测量技术得到的量子效率显示化单一的技术问题。 | ||||||
| 152 | 用于辐照损伤检测的GaN HEMT器件及其检测和制作方法 | CN202410751811.9 | 2024-06-12 | CN118335789B | 2024-10-01 | 周峰; 邹灿; 陆海; 徐尉宗; 周东; 任芳芳 |
| 本发明公开一种用于辐照损伤检测的GaN HEMT器件及其检测和制作方法，属于半导体辐照损伤检测分析领域。本发明在势垒层顶面设有p型氮化镓层，p型氮化镓层内外两侧的氮化镓层顶面分别设有漏极和源极，p型氮化镓层顶面设有肖特基金属层，p型氮化两侧的势垒层顶面分别设有第一欧姆金属层和第二欧姆金属层，第二欧姆金属层包括互为叉指的内齿轮电极和外齿轮电极。本发明采用电致发光对辐照前后的GaN HEMT器件在垂直方向与水平方向上分别采集发光波长、强度和区域的数据，对辐照前后的两组数据进行比对分析，确认缺陷在各自区域产生的类型。本发明能够从不同维度监测GaN HEMT器件在辐照前后的变化，从而识别缺陷在器件各层及区域的产生类型和分布情况。 | ||||||
| 153 | 一种基于便携式光谱数据优化模型的砷离子浓度分析方法 | CN202410669448.6 | 2024-05-28 | CN118624586A | 2024-09-10 | 陈冠益; 侯东昊; 颜蓓蓓; 郭炜; 陶俊宇; 程占军; 陈超 |
| 本发明公开了一种基于便携式光谱数据优化模型的砷离子浓度分析方法，属于机器学习与环境交叉技术领域。方法包括以下步骤：S1、配置若干组不同浓度的砷离子溶液，并获取所述砷离子溶液的光谱图数据；S2、对所述光谱图数据进行预处理，得到样本数据；S3、采用所述样本数据训练回归模型，得到训练后的回归模型；训练后的回归模型用于进行砷离子浓度预测；S4、对待预测砷离子浓度的光谱图数据进行预处理，将预处理后的待预测砷离子浓度的光谱图数据输入训练后的回归模型，得到砷离子浓度预测结果。本发明实现了DBD发射光谱仪高效，快速，便携式的高精确度定性定量检测分析。 | ||||||
| 154 | 一种半导体发光测试结构及其制备方法和测试方法 | CN202410116414.4 | 2024-01-29 | CN117650422B | 2024-05-28 | 王俊; 章宇航; 程洋; 赵武; 孙方圆; 魏志祥; 孙正明; 韩迪仪 |
| 本发明提供一种半导体发光测试结构及其制备方法和测试方法，半导体发光测试结构包括：位于半导体衬底层上的下限制层；位于部分下限制层背离半导体衬底层一侧的发光体；发光体包括：自下至上依次排布的下波导层、有源层、上波导层和上限制层；发光体具有前腔面和后腔面，所述前腔面为平面，后腔面与前腔面在慢轴方向两侧的侧边连接，后腔面背离前腔面凸出；后腔面与下限制层的交线呈圆弧或者椭圆弧；或者，后腔面包括依次连接的第一平面腔壁至第N平面腔壁，N为大于或等于2的整数，第一平面腔壁与前腔面在慢轴方向一侧的侧边连接，第N平面腔壁与前腔面在慢轴方向另一侧的侧边连接。提高了测试电致发光光谱的准确度。 | ||||||
| 155 | 一种微型传感器及其制备方法 | CN202410113427.6 | 2024-01-26 | CN117929949A | 2024-04-26 | 司马文霞; 孙魄韬; 杨宇航; 袁涛; 杨鸣; 熊鸿波 |
| 本发明公开了一种微型传感器，其特征在于它包括外部极化发光单元和内部介电调控内核，其中：外部极化发光单元：通过吸收附近电场能量来实现发光，用于可视化介电聚合材料中的电应力；内部介电调控内核：BaTiO3纳米颗粒与介电聚合材料复合微球，用于调节传感器的电场耦合性能；外部极化发光单元与内部介电调控内核呈嵌套结构。本发明通过设计基于电致发光的电场可视化微型传感器，首次实现了对介电聚合材料内部电应力的可视化，有利于缺陷的实时定位和局部放电预警，是一种潜力巨大的电气设备和电子器件的状态监测方法。 | ||||||
| 156 | 测定装置、方法和试剂 | CN202410024735.1 | 2020-07-15 | CN117839782A | 2024-04-09 | G·I·克里沃伊; C·泽默曼; J·万德萨尔; S·库瓦斯; A·H·雷姆库赫勒; L·塔巴基恩; J·威尔洛吉比; M·库查尔; C·M·克林顿 |
| 本公开至少涉及测定装置、方法和试剂，具体描述了用于进行测定的装置、系统、方法、试剂和试剂盒以及它们的制备方法。所述装置、系统、方法、试剂和试剂盒可用于以多孔板测定形式进行自动分析。 | ||||||
| 157 | 化学发光测量池 | CN202311482993.6 | 2023-11-09 | CN117288744A | 2023-12-26 | 张强; 赵渊清; 朱子轩; 周宏鉴 |
| 本发明涉及电化学发光领域，具体涉及化学发光测量池，包括：外箱体，所述外箱体的内腔安装有电化学测量池机构。测量上镜采用刻槽工艺，使得垫片安装工艺更为简单化，密封效果提升，有效保证了垫片尺寸的精准化，提高了待测物通过测量池的精准性和稳定性，改变工作电极金属性质，使用离子镀工艺，增加金属表面的硬度和疏水性，提工作电极的使用寿命，有效降低交叉污染率，参比电极采用CNC技术进行扩容，有效防止电极插拔或连接中，虚接的情况出现，或电极接线柱表面氧化，使得参比电极稳定性降低，隔离件采用金属3D打印技术，降低工件误差，有效降低垫片漏水情况的出现，增加部件工作环境的稳定性。 | ||||||
| 158 | 7XXX系列铝合金铸态单点光谱标准样品的制备方法 | CN202011585930.X | 2020-12-28 | CN112816280B | 2023-12-26 | 马月; 周兵; 曹俊成; 王春晖; 冯超; 胡天龙; 李欣斌; 张辉玲 |
| 7XXX系列铝合金铸态单点光谱标准样品的制备方法,本发明涉及7XXX系列铝合金铸态单点光谱标准样品的制备方法领域。本发明要解决现有7XXX系列铝合金铸态单点标准样品均匀性需进一步提高的技术问题。方法:成分设计、称量、熔炼、铸造、初检、加工成型、均匀性光谱检查、均匀性化学检查、定值。本发明解决了现代分析仪器技术进步条件下,自带检测曲线的校正统一和一致性问题,保证有色行业化学成分分析高效精准。本发明制备的7XXX系列铝合金铸态单点光谱标准样品用于铝合金质量控制检测仪器的校正。 | ||||||
| 159 | 一种基于面阵相机的电致瞬态吸收显微成像方法 | CN202311242445.6 | 2023-09-25 | CN117233141A | 2023-12-15 | 姜澜; 朱彤; 刘歆悦; 邓昱铭 |
| 本发明公开的一种基于面阵相机的电致瞬态吸收显微成像方法，属于时间分辨光谱成像领域。系统包括信号发生器、皮秒脉冲激光器、第一高速面阵CMOS相机、第二高速面阵CMOS相机、成像相机、样品台、第一透镜、第二透镜、第三透镜、第一物镜、第二物镜、第一反射镜、第二反射镜、分束镜和上位机。本发明利用电脉冲在样品中产生受激载流子，并利用脉冲激光探测正负电极间的载流子迁移，使用高速CMOS面阵相机对载流子迁移过程直接成像。激发样品的电脉冲、脉冲激光以及高速面阵CMOS相机的时序逻辑由信号发生器控制。本发明能在微纳空间尺度上表征电生载流子在正负电极间的迁移过程，分析材料晶界、缺陷、掺杂等因素对电生载流子迁移的影响。 | ||||||
| 160 | 一种量子点残留检测电路、显示面板及制作方法 | CN202111217275.7 | 2021-10-19 | CN113960014B | 2023-12-12 | 孙拓; 周超 |
| 本发明公开了一种量子点残留检测电路、显示面板及制作方法，其中量子点残留检测电路包括：检测结构、待测单元和初始化单元；检测结构设置在显示面板的量子点发光层的前层，并连接待测单元的控制端；检测结构，用于与制作所述量子点发光层过程中检测结构上残留的量子点进行电荷转移；初始化单元连接待测单元的控制端以及被配置为接入初始化电压，初始化单元用于初始化所述待测单元的控制端电压；待测单元的输入端被配置为接入测试电压，待测单元中的电流变化大小用于表征检测结构上的量子点残留密度。本发明的量子点残留检测电路可实现对量子点发光层的前层的量子点残留情况进行准确检测。 | ||||||
QQ群二维码
意见反馈
意见反馈