| 序号 | 专利名 | 申请号 | 申请日 | 公开（公告）号 | 公开（公告）日 | 发明人 |
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| 1 | 包括用于减少CCD测量之间串扰的器件和方法的测定装置、方法和试剂 | CN202510170520.5 | 2020-04-22 | CN120028301A | 2025-05-23 | G·I·克里沃伊; C·泽默曼; J·万德萨尔; S·库瓦斯; A·雷姆库赫勒; L·塔巴基恩; J·威尔洛吉比; M·库查尔; C·M·克林顿 |
| 本公开涉及包括用于减少CCD测量之间串扰的器件和方法的测定装置、方法和试剂。描述了用于进行测定的装置、系统、方法、试剂和试剂盒以及它们的制备方法。它们特别适用于以多孔板测定形式进行自动分析。还公开了本文提供的系统、器件和方法，其用于使用基于CCD相机的系统来生成具有减少的在多个空间分离对象的测量之间的串扰的测量。本文提供的基于CCD相机的系统使用改进的参考水平钳位电路，该电路被配置为在CCD读出期间完全重置参考水平，从而降低测量之间的串扰水平。 | ||||||
| 2 | 电池测试装置及电池测试方法 | CN202010495172.6 | 2020-06-03 | CN111521595B | 2025-04-01 | 谢毅; 周公庆; 马志强; 王璞; 陈坤 |
| 本申请提供了电池测试装置及电池测试方法，涉及电池检测技术领域。电池测试装置采用具有高透光性和高导电率的透明导电玻璃与电池的正面电极和背面电极接触，一方面可以将电流导入电池片内部，实现导电；另一方面该结构不会阻挡测试EL和PL的红外摄像头测试图像，可以减少电池正面和背面被遮挡的问题，使得测试的图像更加准确。采用平整的透明导电玻璃作为测试面，电池能够展平在透明导电玻璃平面上，完全与玻璃平面接触，可以防止电池被探针压的不平整，而引起的碎片问题。在测试双面电池时，可以直接从电池的下方测试PL。而不需要更换探针排，从而保证测试的快速。 | ||||||
| 3 | 包括用于减少CCD测量之间串扰的器件和方法的测定装置、方法和试剂 | CN202080031975.4 | 2020-04-22 | CN113874713B | 2025-03-14 | G·I·克里沃伊; C·泽默曼; J·万德萨尔; S·库瓦斯; A·雷姆库赫勒; L·塔巴基恩; J·威尔洛吉比; M·库查尔; C·M·克林顿 |
| 描述了用于进行测定的装置、系统、方法、试剂和试剂盒以及它们的制备方法。它们特别适用于以多孔板测定形式进行自动分析。还公开了本文提供的系统、器件和方法，其用于使用基于CCD相机的系统来生成具有减少的在多个空间分离对象的测量之间的串扰的测量。本文提供的基于CCD相机的系统使用改进的参考水平钳位电路，该电路被配置为在CCD读出期间完全重置参考水平，从而降低测量之间的串扰水平。 | ||||||
| 4 | 用于荧光和吸收光谱仪的电致光谱测试系统 | CN202411691510.8 | 2024-11-25 | CN119470394A | 2025-02-18 | 杨钏瑶; 公祥南; 肖冲; 刘娟丽 |
| 本发明涉及电致光谱测试技术领域，具体涉及用于荧光和吸收光谱仪的电致光谱测试系统，包括：电源模块用于在样品进行荧光测试时为样品提供使其产生电致发光现象的电压；光源模块用于在样品进行透射测试时为样品提供透射光源；探测模块用于探测样品荧光测试时发出的荧光强度，并转化成第一电信号，还用于探测样品透射测试时的透射光或反射光强度变化，并将其转化成第二电信号；处理模块用于接收第一电信号或第二电信号，并进行数据处理，生成相应的数字信号；显示模块用于接收处理模块生成的数字信号，并将处理后的数据以图谱的形式显示；样品台模块用于放置待测样品。本发明，提高现有仪器使用功能和效率的同时节约采购成本。 | ||||||
| 5 | 一种基于光学检测的电点火器故障检测结构及方法 | CN202411486072.1 | 2024-10-23 | CN119435242A | 2025-02-14 | 徐世洋; 杨进慧; 张宝金; 徐亚敏; 郑颖; 崔正阳; 梁美惠; 马兵兵; 孟祥仁; 唐浩天; 刘欣冉; 张瑞博 |
| 一种基于光学检测的电点火器故障检测结构及方法，涉及电点火器发火故障检测领域，包括电激励器、点火电缆、点火电嘴三部分组成。电点火器工作时，点火电嘴击穿碳化硅半导体会发出电火花，基于电火花的特征光谱对，电点火器的工作状态进行研究。火炬点火器内点火电嘴采用双冗余形式镜像安装，将点火电嘴与光学探头集成，采用相互检查的方法利用点火电嘴A上的光学探头检测点火电嘴B的发火情况，点火电嘴B上的光学探头检测点火电嘴A的发火情况。利用光学探头对电点火器发火时电火花的光谱进行检测，从而实现电点火器的故障检测。 | ||||||
| 6 | 瞬态电致发光探测系统和方法 | CN202310293848.7 | 2023-03-23 | CN118688181A | 2024-09-24 | 曹咏琪; 钟海政; 彭林涛; 边丽蘅 |
| 本公开涉及一种瞬态电致发光探测系统和方法。瞬态电致发光探测系统包括：函数发生器，用于输出周期性方波脉冲电压给待测电致发光器件；显微镜，用于当所述周期性方波脉冲电压触发所述电致发光器件时，收集并聚焦所述电致发光器件的发光；单光子相机，用于对经所述显微镜收集并聚焦的发光进行拍摄并保存照片；计算设备，用于对所述照片进行处理，以得到所述电致发光器件的瞬态电致发光光谱。本发明提升了对瞬态电致发光的探测灵敏度，实现了对传统光电倍增管所不能探测到的低亮度下电致发光器件瞬态电致发光信息的探测，并将电致发光器件的启亮过程实现了空间分布可视化。 | ||||||
| 7 | 一种有机电致发光材料的检测方法 | CN202411146618.9 | 2024-08-21 | CN118671050A | 2024-09-20 | 吕勇; 石超; 李成明; 崔草香; 杨少延; 刘祥林; 朱瑞平; 郭柏君; 陈兆显; 李晓东 |
| 本发明提供一种有机电致发光材料的检测方法，涉及发光检测技术领域，包括：基于预设检测设备对目标有机电致发光材料进行材料检测，得到材料特征参数；获取目标电流组，并基于目标电流组的检测电流逐一输入到目标有机电致发光材料中得到第一发光检测集合；基于第一发光检测集合中每一第一发光检测结果的时序性，判断发光稳定性能；将材料特征参数及发光稳定性能与目标有机电致发光材料的预设标准性能进行比较，从而确定目标有机电致发光材料的材料性能。通过对不同电流作用下的有机电致发光材料进行发光检测从而结合材料特征参数进行综合性能判断，可以使得对有机电致发光材料的检测更为精准，能够更加满足有机电致发光材料的发光检测需求。 | ||||||
| 8 | 一种微型传感器及其制备方法 | CN202410113427.6 | 2024-01-26 | CN117929949B | 2024-09-20 | 司马文霞; 孙魄韬; 杨宇航; 袁涛; 杨鸣; 熊鸿波 |
| 本发明公开了一种微型传感器，其特征在于它包括外部极化发光单元和内部介电调控内核，其中：外部极化发光单元：通过吸收附近电场能量来实现发光，用于可视化介电聚合材料中的电应力；内部介电调控内核：BaTiO3纳米颗粒与介电聚合材料复合微球，用于调节传感器的电场耦合性能；外部极化发光单元与内部介电调控内核呈嵌套结构。本发明通过设计基于电致发光的电场可视化微型传感器，首次实现了对介电聚合材料内部电应力的可视化，有利于缺陷的实时定位和局部放电预警，是一种潜力巨大的电气设备和电子器件的状态监测方法。 | ||||||
| 9 | 一种电位分辨多色发光组合物及其应用 | CN202310054605.8 | 2023-02-03 | CN118440691A | 2024-08-06 | 崔华; 郭明全; 舒江南; 杜德鑫 |
| 本发明提供了一种电位分辨多色电化学发光组合物，该组合物包含：(A)复合纳米颗粒和与之连接的卟吩类改性部分，所述复合纳米颗粒包含贵金属和有机配体的配位化合物、水溶性含氨基聚合物和二氧化硅；该组合物可以很容易地进行合成，并且能够实现极佳的水分散性、生物相容性、稳定性和电化学发光效率。本发明还提供了利用该电化学发光组合物作为多重生物标记物，对样品进行多重标记的电化学发光检测的方法和用途。 | ||||||
| 10 | 散射显微镜检查 | CN202410340540.8 | 2020-03-12 | CN118348667A | 2024-07-16 | 菲利普·库库拉; 萨利·法耶兹 |
| 本申请涉及散射显微镜检查。本申请的散射显微镜检查装置使用显微镜对包括表面的物体进行成像。光源发射照射光，以及光检测器检测从物体弹性散射的光。电位被施加到该表面，在进行成像时，电位影响物体的电化学特性。电位提供了一种对比度机制，该对比度机制改善了成像并且使得能够表征物体和/或周围环境。 | ||||||
| 11 | 改进生物分析测定中的电化学发光信号的方法 | CN202080071784.0 | 2020-10-29 | CN114641554B | 2024-06-28 | 周明 |
| 本发明公开了电化学发光(ECL)标记物分子，被所述ECL标记物分子标记的检测试剂，和在生物分析检测中使用所述ECL标记物分子和被所述ECL标记物分子标记的检测试剂的方法，特别是，涉及使用非局域化的发光基团的电产生化学发光或电化学发光(ECL)的免疫分析和核酸分析。 | ||||||
| 12 | 量子点激光外延片宽波段复合测试系统、方法及应用 | CN202410312098.8 | 2024-03-19 | CN118169082A | 2024-06-11 | 王岩; 徐鹏飞 |
| 本发明公开了一种量子点激光外延片宽波段复合测试系统、方法及应用，本发明属于半导体外延片检测技术领域，所述测试系统包括电致发光的激光源、光致发光激光源以及光路收集和测试系统，所述电致发光的激光源发射的电流或光致发光激光源发射的光波分别注入到光路收集和测试系统中，量子点激光外延片宽波段复合测试系统能够进行外延片电调制光致发光光谱和光调制电致发光光谱测试，通过锁相放大器对光学斩波器的频率的数据或者电流频率的数据进行选择接收，可以研究外延片在电泵浦或者光泵浦情况下的电调制光致发光光谱或者光调制电致发光光谱，而且通过一套耦合的光路，还能对外延片的任意一点进行电致发光和光致发光的测试工作。 | ||||||
| 13 | 光伏器件动态EL测试设备及测试方法 | CN202011602486.8 | 2020-12-29 | CN112858258B | 2024-06-07 | 李华; 刘继宇 |
| 光伏器件动态EL测试设备，包括工作台、形变系统、EL系统和程序控制系统；工作台配置为提供安装平台给形变系统、EL系统和程序控制系统；形变系统安装于工作台上，配置为能够对光伏器件施加压力以使得光伏器件产生形变和/或位移；EL系统配置为检测光伏器件的不同时刻下EL图像数据；程序控制系统包括控制器，控制器配置为控制形变系统和EL系统的动作，并根据不同时刻下EL图像数据输出测试结果；和/或，EL系统配置为检测光伏器件不同区域的EL图像；程序控制系统包括控制器，控制器配置为控制形变系统和EL系统的动作，并根据不同区域的EL图像数据输出全时和/或全景测试结果。 | ||||||
| 14 | 样品分析系统 | CN202311279376.6 | 2023-09-28 | CN117848976A | 2024-04-09 | 马库斯·格罗斯曼; 尤里·卡林依特成科; 沃尔弗拉姆·魏斯海特; 菲利普·弗雷德里克·舒尔茨 |
| 本发明涉及一种样品分析系统。本发明涉及一种通过系统(1)分析样品(2)的方法，其中，样品(2)是固体样品并且包括第一化学元素和第二化学元素，其中，该系统(1)包括等离子体光谱仪(21)和分析设备(22)，其中，该方法至少包括以下步骤：通过分析设备(22)确定第一化学元素的浓度，确定等离子体光谱仪(21)对第一化学元素和对第二化学元素的灵敏度，通过等离子体光谱仪(21)测量第一化学元素的信号强度，通过等离子体光谱仪(21)测量第二化学元素的信号强度，通过所确定的第一化学元素的浓度、对第一化学元素和对第二化学元素的灵敏度以及第一化学元素和第二化学元素的信号强度来计算第二化学元素的浓度。 | ||||||
| 15 | 一种EL检测系统及EL检测方法 | CN202410212009.2 | 2024-02-27 | CN117790353A | 2024-03-29 | 林宁; 李敬宜 |
| 本申请涉及EL检测技术领域，且更为具体地公开了一种EL检测系统及EL检测方法，通过采集太阳能电池板的电致发光图像并提取特征，利用分类器判断太阳能电池板是否存在缺陷，以提高产品的合格率和等级。这样具有低成本、快速扫描和高清晰度成像的特点，对太阳能电池板生产具有重要影响。 | ||||||
| 16 | 一种半导体发光测试结构及其制备方法和测试方法 | CN202410116414.4 | 2024-01-29 | CN117650422A | 2024-03-05 | 王俊; 章宇航; 程洋; 赵武; 孙方圆; 魏志祥; 孙正明; 韩迪仪 |
| 本发明提供一种半导体发光测试结构及其制备方法和测试方法，半导体发光测试结构包括：位于半导体衬底层上的下限制层；位于部分下限制层背离半导体衬底层一侧的发光体；发光体包括：自下至上依次排布的下波导层、有源层、上波导层和上限制层；发光体具有前腔面和后腔面，所述前腔面为平面，后腔面与前腔面在慢轴方向两侧的侧边连接，后腔面背离前腔面凸出；后腔面与下限制层的交线呈圆弧或者椭圆弧；或者，后腔面包括依次连接的第一平面腔壁至第N平面腔壁，N为大于或等于2的整数，第一平面腔壁与前腔面在慢轴方向一侧的侧边连接，第N平面腔壁与前腔面在慢轴方向另一侧的侧边连接。提高了测试电致发光光谱的准确度。 | ||||||
| 17 | SF6气体绝缘设备放电缺陷的发射光谱检测识别平台及方法 | CN202311048786.X | 2023-08-21 | CN117214623A | 2023-12-12 | 韩冬; 邱宗甲; 汤贝贝; 李康; 张国强 |
| 本发明提供一种SF6气体绝缘设备放电缺陷的发射光谱检测识别平台及方法，主要包括高压击穿装置(1)，故障模拟腔(2)，放电电极(3)，光学聚焦透镜(4)，光纤(5)，光谱仪(6)，上位机(7)，光谱采集软件(8)，实验气瓶(9)，管路(10)，阀门(11)及气压表(12)。光纤探头(5)将故障模拟腔(2)放电产生的光谱信号传输至光谱仪(6)进行解谱，上位机(7)及光谱采集软件(8)用于光信号的分析与处理，以完成基于特征发射光谱的放电故障的识别与诊断。本发明可用于SF6气体绝缘电气设备放电故障的识别与诊断。 | ||||||
| 18 | 一种光伏组件层后EL检测装置及检测方法 | CN202311158369.0 | 2023-09-08 | CN117200697A | 2023-12-08 | 李高峰; 马阔; 李红召; 辛伟鹏; 周玉奇 |
| 本发明涉及光伏组件检测技术领域，特别是一种光伏组件层后EL检测装置，包括输送机构，在输送机构的上方设有移载机构，在移载机构上设有给光伏组件供电的通电模组，通电模组由移载机构带动其移动，在输送机构的下方设有检测模组；移载机构包括设在机架前侧面的轨道和滑动设在轨道上的移动立板，在移动立板的前侧面固定有伸缩气缸，在伸缩气缸的伸缩端连接有横梁，在横梁的底部两端分别设有夹持光伏组件的抱夹组件，在移动立板的背面位于机架的下方设有带动移动立板往复运动的动力机构；通电模组设在两个抱夹组件之间的横梁底部，通电模组包括依次固定在横梁底端的电极固定板、绝缘电木板、电极触头。 | ||||||
| 19 | 一种半导体激光器芯片失效分析方法 | CN202011033121.8 | 2020-09-27 | CN112179919B | 2023-11-10 | 王宝超; 任占强; 李喜荣; 赵永超; 李斌 |
| 本发明提供一种半导体激光器芯片失效分析方法，目的是解决现有方法难以准确分析和判断半导体激光器芯片失效原因的问题。该方法包括：步骤一、物理缺陷检查；步骤二、光电性能测试；步骤三、腔面光场分布测试；步骤四、扫描电子显微镜分析；步骤五、内部分析；步骤六、焊接质量分析。本发明方法是一种逐层递进、由外及内的失效分析方法，可快速找出COS芯片失效的原因及失效的深层机理。 | ||||||
| 20 | 一种电化学激励单元及其在电化学发光检测中的应用 | CN202210518636.X | 2022-05-13 | CN114878653B | 2023-09-22 | 章春笋; 钟金彪; 石延阳 |
| 本发明公开了一种电化学激励单元，包括集成于电路板上的电源模块、复位电路模块、蓝牙模块、微控制器模块、按键选择模块、第一D/A转换模块、第二D/A转换模块、恒电位模块、信号放大器模块、OLED模块，电源模块、复位电路模块、蓝牙模块、按键选择模块、第一D/A转换模块、第二D/A转换模块、OLED模块分别与微控制器模块连接，恒电位模块与第一D/A转换模块连接，信号放大器模块与第二D/A转换模块连接；电源模块与输入电源连接，电源模块包括Buck‑Boost电路模块和Buck电路模块；复位电路模块用于进行电路系统的重新启动；微控制器模块通过控制第一D/A转换模块和第二D/A转换模块来控制激励信号的各项参数值；按键选择模块用于将选择的功能和设定的参数发送给微控制器模块。 | ||||||
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