磁圆二向色性光电导谱测量系统
专利汇可以提供磁圆二向色性光电导谱测量系统专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种磁圆二向色性光电导谱测量系统，包括：液氦制冷机与低温超导磁体系统、超连续白光 光源 、单色仪、斩波器、格兰泰勒棱镜、光弹 调制器 、消色差透镜、 电流 源、两台 锁 相 放大器 、以及计算机。利用本发明，可以测量磁圆二向色性光电导谱(PC-MCD)，从而可以进一步研究物质的 磁性 质以及与自旋相关的能带结构和特性。，下面是磁圆二向色性光电导谱测量系统专利的具体信息内容。
1.一种磁圆二向色性光电导谱测量系统，其特征在于，该系统包括：
一通过波长为1064nm的泵浦光激发非线性光纤得到的波长范围覆盖450nm至1500nm，最大功率2w的超连续白光光源(LS)，其出射光经过单色仪后作为样品测试光源；
一单色仪(SP)，对该超连续白光光源(LS)的出射光进行滤波，仅选择单一波长的光通过；
一斩波器(CP)，对该单色仪(SP)出射光进行斩波调制，并为第一锁相放大器(LIA1)提供参考信号，从而得到样品光生电压的强度；
一格兰泰勒棱镜(P)，用于将单色仪(SP)出射光变为线偏振光；
一光弹调制器(MO)，用于将格兰泰勒棱镜(P)出射的线偏光变为周期性偏振调制光，光弹调制器(MO)工作在0.25λ模式，工作频率为50KHZ，光弹调制器(MO)的快轴与慢轴均与格兰泰勒棱镜的通光轴成45°角；
一消色差透镜(L)，用于聚焦入射光到样品上；
一中心带有室温孔洞的超导磁体杜瓦(MG)，提供用于光电导谱测量的磁场；
一电流源(CS)，为样品提供一稳定的直流电流；
第一锁相放大器(LIA1)和第二锁相放大器(LIA2)，二者均处于电压测量模式，其中第一锁相放大器(LIA1)的参考频率为斩波器频率，测量样品光生电压，第二锁相放大器(LIA2)的参考频率为光弹调制器频率50KHZ，测量光生电压信号中频率为50KHZ的成分的幅度，该幅度正比于样品对左圆和右圆偏振光吸收的差别；以及
一由计算机组成的数据处理与存储系统；
该测量系统采用两端电压测量法，将样品做成长条状，两端做好欧姆接触电极，通过电极通恒定电流，用锁相放大器测量两端电压。
2.根据权利要求1所述的磁圆二向色性光电导谱测量系统，其特征在于，所述中心带有室温孔洞的超导磁体杜瓦(MG)中设置有一制冷器，用于控制样品的温度，样品放置在该制冷器的冷头上。
3.根据权利要求2所述的磁圆二向色性光电导谱测量系统，其特征在于，所述超导磁体杜瓦(MG)与所述制冷器相互分离，放置样品的冷头能够伸入超导磁体杜瓦(MG)的室温孔洞中，所述超导磁体杜瓦(MG)用于提供0特斯拉到+5特斯拉范围的垂直样品表面的磁场，所述制冷器能够使样品温度在4K到300K范围变化。
磁圆二向色性光电导谱测量系统
技术领域
背景技术
发明内容
具体实施方式
4
作为起偏器，波长应用范围220nm-2500nm，消光比大于1×10。单色仪出射的光经过格兰泰勒棱镜起偏后，变成线偏振光。光弹调制器MO工作在0.25λ模式，工作频率为50KHZ，它对格兰泰勒棱镜出射的线偏振光进行周期性的调制。调整光弹调制器的快轴和慢轴(快轴与慢轴相互垂直)都与格兰泰勒棱镜的通光轴成45°角，光弹调制器MO出射的光以50KHZ的频率工作在“线偏-左圆偏振-线偏-右圆偏振-线偏”的模式，照射到样品上。样品放置在制冷器的冷头上，制冷器通过液氦制冷，并通过电阻丝加热，使样品温度可在4K-300K范围内变化。制冷器的冷头可伸入超导磁体杜瓦(MG)的室温空洞中，使样品处在均匀的磁场中，并可灵活调节样品的位置。样品平面垂直于入射光方向和磁场方向。超导磁体杜瓦(MG)由置于液氦中的超导线圈产生磁场，可产生0T-5T(特斯拉)范围的磁场，方向可平行或反平行与入射光方向。磁场可扫描，扫描速率可在0T每分钟至1T每分钟范围变化。
45°角。打开电流源，为样品提供恒定直流电流。打开第一锁相放大器(LIA1)和第二锁相放大器(LIA2)，将样品两端的电压信号连接到第一锁相放大器(LIA1)和第二锁相放大器(LIA2)，其中第二锁相放大器(LIA2)的参考信号接光弹调制器的一倍频信号(50KHZ)。施加一定磁场，扫描入射波长，就可以进行磁圆二向色性光电导谱(PC-MCD)测量了。进而可以对样品能带结构以及磁性质进行分析。得到的4K温度，0.7T磁场下的磁圆二向色性光电导谱(PC-MCD)如图2所示(横坐标为波长，纵坐标为左圆和右圆光电压差值)。
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