专利汇可以提供高阻抗顺应性探针尖端专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 涉及高阻抗 顺应性 探针尖端。测试探针尖端可包括顺应性构件或 力 偏转组件、以及尖端部件。顺应性构件或力偏转组件可包括 柱塞 部件和用于接收柱塞部件的桶状部件,其中柱塞部件被构造成在桶状部件的内侧轴向滑动。测试探针尖端还可包括:在桶状部件内并且用于作用于柱塞部件上的 弹簧 机构;以及例如圆棒 电阻 器 的电阻/阻抗元件,其在一端与柱塞部件联接并且在相对的另一端与尖端部件联接。,下面是高阻抗顺应性探针尖端专利的具体信息内容。
1.一种测试探针尖端,包括:
力偏转组件;
电阻/阻抗元件,其构造成与所述力偏转组件联接,其中所述电阻/阻抗元件为圆棒电阻器;以及
尖端部件,其构造成与所述电阻/阻抗元件联接。
2.根据权利要求1所述的测试探针尖端,其中,所述力偏转组件包括:
柱塞部件,其构造成与所述电阻/阻抗元件联接;
桶状部件,其构造成接收所述柱塞部件,其中所述柱塞部件被构造成在所述桶状部件的内侧轴向滑动;以及
弹簧机构,其位于所述桶状部件内并且构造成响应于所述柱塞部件在所述桶状部件的内侧沿着向内方向滑动而作用在所述柱塞部件上。
3.根据权利要求2所述的测试探针尖端,其中,所述电阻/阻抗元件借助于机电结合而与所述柱塞部件联接。
4.根据权利要求1所述的测试探针尖端,其中,所述尖端部件借助于机电结合而与所述电阻/阻抗元件联接。
5.根据权利要求1所述的测试探针尖端,其中,所述尖端部件包括至少一个尖头点,所述尖头点被构造成与待测设备(DUT)上的测试点建立电连接。
6.根据权利要求2所述的测试探针尖端,其中,所述弹簧机构被构造成在所述探针尖端与待测设备(DUT)上的测试点之间产生耐压缩。
7.根据权利要求1所述的测试探针尖端,其中,所述圆棒电阻器包括覆盖管的电阻涂层。
8.根据权利要求7所述的测试探针尖端,其中,所述圆棒电阻器的金属连接包括在每端上的短叠置管。
9.一种测试探针,包括:
测试探针体;以及
与所述测试探针体集成的至少一个测试探针尖端,每个测试探针尖端包括:
顺应性构件;
电阻/阻抗元件,其构造成与所述顺应性构件联接,其中所述电阻/阻抗元件为圆棒电阻器;以及
尖端部件,其构造成与所述电阻/阻抗元件联接。
10.根据权利要求9所述的测试探针,其中,所述顺应性构件包括:
柱塞部件;
桶状部件,其构造成接收所述柱塞部件,其中所述柱塞部件被构造成在所述桶状部件的内侧轴向滑动;
定位在所述桶状部件中的弹簧机构,所述弹簧机构被构造成响应于所述柱塞部件在所述桶状部件的内侧沿着向内方向滑动而作用在所述柱塞部件上。
11.根据权利要求10所述的测试探针,其中,所述电阻/阻抗元件借助于机电结合而与所述柱塞部件联接。
12.根据权利要求9所述的测试探针,其中,所述尖端部件借助于机电结合而与所述电阻/阻抗元件联接。
13.根据权利要求9所述的测试探针,其中,所述尖端部件包括至少一个尖头点,所述尖头点被构造成在所述测试探针与待测设备(DUT)上的测试点之间建立电连接。
14.根据权利要求10所述的测试探针,其中,所述弹簧机构被构造成在所述探针尖端与待测设备(DUT)上的测试点之间产生耐压缩。
15.根据权利要求9所述的测试探针,包括两个测试探针尖端。
16.根据权利要求15所述的测试探针,其中,所述两个测试探针尖端中的每个的顺应性构件包括:
柱塞部件;
桶状部件,其构造成接收所述柱塞部件,其中所述柱塞部件被构造成在所述桶状部件的内侧轴向滑动;
定位在所述桶状部件中的弹簧机构,所述弹簧机构被构造成响应于所述柱塞部件在所述桶状部件的内侧沿着向内方向滑动而作用在所述柱塞部件上。
17.根据权利要求9所述的测试探针,其中,所述圆棒电阻器包括覆盖管的电阻涂层。
18.根据权利要求17所述的测试探针尖端,其中,所述圆棒电阻器的金属连接包括在每端上的短叠置管。
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