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一种高温环境下物体变形测量方法

阅读:287发布:2020-05-27

专利汇可以提供一种高温环境下物体变形测量方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且一种高温环境下物体 变形 测量方法,涉及材料、光学实验及固体 力 学等领域。该方法利用物体在高温环境下的变形测量装置,将被测物体置于高温加载平台上,并在被测物体两侧分别放置反射镜,由CCD相机采集加热前后物体和反射镜反射的背景散斑图像,通过数字图像相关 算法 分别分析采集到的图像,得到被测物体和反射镜反映的散斑位移场,在被测物体反映的位移场中去除两侧反射镜反映的位移场的插值,即得到去除空气扰动后的变形所反映的位移场,通过计算可得到高温下物体的表面形貌。本 发明 充分利用了光学装置的灵活性,易于实现,可实现对物体在高温环境下表面形貌变化的实时在线、全场分布测量。,下面是一种高温环境下物体变形测量方法专利的具体信息内容。

1.一种高温环境下物体变形测量方法,其特征在于该方法包括如下步骤:
a).建立测量系统:该系统包括背景散斑(1)、高温加载平台(6)、分光镜(3)、反射镜(5)、CCD相机(7)及含有计算程序的计算机(8);在所述高温加载平台上放置反射镜,反射镜上放置被测物体,将被测物体表面抛光喷涂成镜面;
CCD相机距背景散斑的光程为L,被测物体与背景散斑距离为D,被测物体和反射镜厚度远小于D,这样被测物体和反射镜视为在同一平面上;
背景散斑用照明光源照亮,被测物体和反射镜透过分光镜反射背景散斑,CCD相机在分光镜的平方向拍摄经过被测物体和分光镜两次反射的背景散斑图;
b).利用高温加载平台对被测物体进行加载,在高温环境下分别记录温度T、载荷P、电场强度E和磁场强度H,用CCD相机拍摄加载前后的背景散斑图像;
c).将加载前后的背景散斑图像输入计算机,建立坐标系:被测物体所在平面为OXY平面,背景散斑所在平面为OXoYo平面,用数字图像相关方法分别计算得到加载前后被测物体和反射镜反射的背景散斑位移场(uo,vo)和(uk,vk),
其中,(uo,vo)由被测物体表面变形和被测物体上方空气折射率变化产生,(uk,vk)仅由反射镜上方空气折射率变化产生,由(uk,vk)采用最小二乘曲面拟合得到仅由物体上方空气折射率变化引起的位移场(u'o,v'o),将(uo,vo)对应减去(u'o,v'o),即得到去除空气折射率变化影响的位移场(u,v);

d).设仅由物体表面变形引起的光线反射后的偏折为(φx,φy),由下式计算:

其中,u和v分别为加载前后仅由物体表面变形反映的散斑在x和y方向的位移,φx和φy为光线垂直物体表面入射后的反射光线沿x和y方向的偏折角,被测物体平面OXY上的坐标(x,y)和散斑平面OXoYo上的坐标(xo,yo)之间的关系为:

e).物体变形较小时,即 物体加载后表面形貌梯度的全场分布由下式计算:

由表面形貌梯度求得物体变形后真实形貌z,由下式计算:

物体变形后曲率κxx、κyy由下式计算:

说明书全文

一种高温环境下物体变形测量方法

技术领域

[0001] 本发明涉及一种利用数字相关图像技术测量物体在高温环境下的变形,属于固体学、材料科学、光学实验技术领域。

背景技术

[0002] 在航空航天、微电子等领域,常有薄板结构工作在高温环境下的情况,薄板结构的表面变形对于考察薄板的性能变化和是否失效具有重要意义。
[0003] 常规的测量物体表面变形的方法如电测法是在物体表面贴应变片测应变,然后积分求出位移,此方法只能测出面内变形,而且非全场测量,后期发展的光测法虽然一定程度上满足了面外变形测量,但也没有完全全场测量的方法,而且对于高温下空气折射率变化的影响无法修正,所以高温下物体表面变形的准确的测量方法一直是一个空缺。
[0004] 数字图像相关方法实现了一般情况下的非接触测量,利用物体表面自然纹理或者喷涂散斑,用相机记录变形前后的散斑图像,由数字相关算法求解出位移场,作为一种非接触全场的量的方法被广泛推广。但在高温复杂环境下,由于存在空气折射率变化等不利因素,使得图像记录并不精确,直接测得的位移场存在很大误差,需要修正和改进。发明内容:
[0005] 本发明提供一种物体在高温环境下物体变形测量方法,该方法可对高温环境下物体的表面变形进行非接触、全场测量,去除了空气折射率变化带来的影响,提高了测量的准确度。
[0006] 本发明技术方案如下:
[0007] 一种高温环境下物体变形测量方法,其特征在于该方法采用如下步骤:
[0008] a).高温环境下物体变形测量装置及方法采用物体在高温环境下物体变形测量装置,该装置包括该装置包括背景散斑、高温加载平台、分光镜、反射镜、支架、CCD相机及含有计算程序的计算机;
[0009] 将被测物体表面抛光或喷涂成镜面,然后将被测物体置于高温加载平台上的反射镜上,背景散斑为人工喷涂的随机分布黑色斑点图,实验时光源照亮光斑,用CCD相机拍摄经过物体表面和反射镜反射的背景散斑;
[0010] 将被测物体置于高温加载平台上的反射镜上,CCD相机拍摄经过两次反射后的背景散斑,CCD相机距背景散斑的光程为L,被测物体与背景散斑距离为D,被测物体厚度为b,且 这样被测物体和反射镜视为在同一平面上;
[0011] b).利用在高温加载平台进行加载,在高温环境下记录温度T、载荷P、电场强度E、磁场强度H,用CCD相机拍摄加载前后的背景散斑图像;
[0012] c).将加载前后的背景散斑图像输入计算机,建立坐标系:被测物体所在平面为OXY平面,背景散斑所在平面为OXoYo平面,用数字图像相关方法分别计算加载前后被测物体和反射镜反射的背景散斑位移场(uo,vo)和(uk,vk),其中(uo,vo)由被测物体表面变形和被测物体上方空气折射率变化产生,(uk,vk)仅由反射镜上方空气折射率变化产生,由(uk,vk)二维拟合得到仅由物体上方空气折射率变化引起的位移场(u'o,v'o),将(uo,vo)对应减去(u'o,v'o),即得到去除空气折射率变化影响的位移场(u,v);
[0013]
[0014] d).仅由物体表面变形引起的光线反射后的偏折(φx,φy)由下式计算:
[0015]
[0016] 其中u和v分别为加载前后仅由物体表面变形反映的散斑x和y方向的位移,φx和φy为光线垂直物体表面入射后的反射光线沿x和y方向的偏折角,被测物体平面OXY上的坐标(x,y)和散斑平面OXoYo上的坐标(xo,yo)之间的关系为:
[0017]
[0018] e).物体变形较小时, 此时物体加载后表面形貌梯度的全场分布由下式计算:
[0019]
[0020] 由表面形貌梯度求得物体变形后真实形貌z,由下式计算:
[0021]
[0022] 物体变形后曲率κxx、κyy由下式计算:
[0023]
[0024] 本发明与现有技术相比,具有以下优点及突出性的技术效果:
[0025] 本发明能在高温环境存在气流扰动的情况下,通过插值去除气流扰动造成折射率变化的影响,测量出被测物体的真实变形等信息,普通方法不能去除空气折射率变化的影响。附图说明
[0026] 图1是本发明提供的高温环境下物体变形测量装置示意图。
[0027] 附图中:1-背景散斑;2-光源;3-分光镜;4-被测物体;5-反射镜;6-高温加载平台;7-CCD相机;8-计算机;9-支架;10-光路。
[0028] 图2是本发明提供的高温环境下物体变形测量方法的流程图。具体实施方式:
[0029] 下面结合附图对本发明做进一步说明,但不应以此限制本发明的保护范围。
[0030] 图1是本发明提供的高温环境下物体变形测量装置示意图。该装置包括背景散斑、高温加载平台、分光镜、反射镜、支架、CCD相机及含有计算程序的计算机。
[0031] 将被测物体表面抛光或喷涂成镜面,然后将被测物体置于高温加载平台上的反射镜上,背景散斑为人工喷涂的随机分布黑色斑点图,实验时光源照亮光斑,被测物体正上方依次为与地面成45°角的分光镜、背景散斑。如图中光路所示,背景散斑上光线首先透过分光镜达到反射镜表面并被反射,反射光线达到分光镜下表面再次被反射,成平方向,进入CCD相机,完成对背景散斑的拍摄;利用高温加载平台进行加载。物体产生面内、面外变形,拍摄加载前后背景散斑图像,用数字图像相关方法分别计算物体和反射镜散斑位移,进而计算出被测物体在高温环境下的变形。
[0032] 将被测物体置于高温加载平台的反射镜上,加载后物体产生面内、面外变形,这样被测物体反映的散斑位移场和空气折射率及自身变形有关,反射镜反映的散斑位移场仅和空气折射率有关。对被测物体进行加载,加载前后用CCD相机拍摄经物体和反射镜反射的图像,用数字图像相关方法分别计算加载前后被测物体和反射镜反射的背景散斑位移场(uo,vo)和(uk,vk),其中(uo,vo)由被测物体表面变形和被测物体上方空气折射率变化产生,(uk,vk)仅由反射镜上方空气折射率变化产生,由(uk,vk)采用最小二乘曲面拟合得到仅由物体上方空气折射率变化引起的位移场(u'o,v'o),具体操作如下:
[0033] 将水平位移场u,和竖直位移场v的曲面拟合函数分别表示如下:
[0034]
[0035] 其中,n为(uk,vk)中所取拟合点的个数,aij、bij分别为拟合多项式的系数,fu(x,y)、fv(x,y)分别为u场、v场的拟合函数;
[0036] 误差函数为:
[0037]
[0038] 由误差函数取极值,确定系数aij、bij的值:
[0039]
[0040] 最终得到仅由物体上方空气折射率变化引起的位移场(u'o,v'o),将(uo,vo)对应减去(u'o,v'o),即得到去除空气折射率变化影响的位移场(u,v);
[0041]
[0042] d).仅由物体表面变形引起的光线反射后的偏折角(φx,φy)由下式计算:
[0043]
[0044] 其中D为被测物体与背景散斑距离,u和v分别为加载前后仅由物体表面变形反映的散斑x和y方向的位移,φx和φy为光线垂直物体表面入射后的反射光线沿x和y方向的偏折角。物体(反射镜)平面OXY上的坐标(x,y)和散斑平面OXoYo上的坐标(xo,yo)之间的关系为:
[0045]
[0046] 其中L为CCD相机和被测物体之间的光程距离,由几何关系可知,φx和φy和被测物体的表面梯度有如下关系:
[0047]
[0048] 当变形较小时,可化为:
[0049]
[0050] 其中z为物体离面高度。
[0051] 联立(4)-(8)式,离面高度z的偏导数可表示为:
[0052]
[0053] 对(9)式积分可得到全场形貌信息:
[0054]
[0055] 物体变形后曲率κxx、κyy由下式计算:
[0056]
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