专利汇可以提供一种荧光寿命测量方法及系统专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种 荧光 寿命测量方法及系统,方法包括:以激发光照射样品,由 光电倍增管 接收样品产生的荧光,激发光的调制 信号 为 频率 为fE的余弦信号,并以频率为fH0的方波信号X(t)调制光电倍增管的增益 电压 ,样品产生的荧光经过光电倍增管后,由荧光屏接 收获 得第一图像,采用光电探测器采集所述第一图像,获得第二图像;根据第二图像计算样品产生荧光的 荧光寿命 。与 现有技术 相比,本发明荧光寿命测量方法及系统,基于外差高次谐波调频实现荧光寿命测量,采用低频方波信号来对光电倍增管的增益电压进行调制,可放宽对像增强器的技术要求。,下面是一种荧光寿命测量方法及系统专利的具体信息内容。
1.一种荧光寿命测量方法,其特征在于,包括:
以激发光照射样品,由光电倍增管接收样品产生的荧光,所述激发光的调制信号为频率为fE的余弦信号,并以频率为fH0的方波信号X(t)调制光电倍增管的增益电压,其中:
TH0为方波信号X(t)的最小正周期,TH0=1/fH0,TH1为方波信号为高电平时对应时域带宽的一半,fH0<
以下述方程式描述所述第二图像,对所述方程式进行傅里叶变换,计算得到去调制度和相位差,根据所述去调制度和所述相位差计算样品产生荧光的荧光寿命,所述方程式为:
其中,x,y表示空间坐标,AE为激发光的直流分量,BE为激发光的交流分量的幅值,AF为样品产生荧光的直流分量,Δf=fHk-fE,fHk为方波信号X(t)的第k次谐波分量的频率,k为大于零的正整数,m(x,y,fE)表示去调制度,δ(x,y,fE)表示相位差。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述以激发光照射样品,包括:
以频率为fE的余弦信号调制发光二极管产生激发光,以所述激发光照射样品。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述激发光描述为:
其中,AE为激发光的直流分量,BE为激发光的交流分量的幅值。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,样品产生的荧光描述为:
其中,x,y表示空间坐标,AF为样品产生荧光的直流分量,m(x,y,fE)表示去调制度,δ(x,y,fE)表示相位差。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述采用光电探测器采集所述第一图像,获得第二图像包括:
采用光电探测器采集所述第一图像,并经滤波处理后,获得所述第二图像。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述去调制度和所述相位差计算样品产生荧光的荧光寿命包括:根据以下计算式计算样品产生荧光的荧光寿命:
其中,
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,采用像增强器接收样品产生的荧光,样品产生的荧光进入所述像增强器,经光电阴极转换成电信号,电信号经过所述像增强器的微通道板后,由荧光屏接收。
8.一种荧光寿命测量系统,其特征在于,包括第一信号源、激发光源、第二信号源、光电倍增管和荧光屏、光电探测器和数据处理器;
所述第一信号源用于产生频率为fE的余弦信号,调制激发光源;
所述激发光源用于产生激发光照射样品;
所述第二信号源用于产生频率为fH0的方波信号X(t)调制光电倍增管的增益电压,其中:
TH0为方波信号X(t)的最小正周期,TH0=1/fH0,TH1为方波信号为高电平时对应时域带宽的一半,fH0<
所述光电探测器用于采集所述第一图像获得第二图像;
所述数据处理器用于以下述方程式描述所述第二图像,对所述方程式进行傅里叶变换,计算得到去调制度和相位差,根据所述去调制度和所述相位差计算样品产生荧光的荧光寿命,所述方程式为:
其中,x,y表示空间坐标,AE为激发光的直流分量,BE为激发光的交流分量的幅值,AF为样品产生荧光的直流分量,Δf=fHk-fE,fHk为方波信号X(t)的第k次谐波分量的频率,k为大于零的正整数,m(x,y,fE)表示去调制度,δ(x,y,fE)表示相位差。
9.根据权利要求8所述的系统,其特征在于,所述激发光源为发光二极管。
10.根据权利要求8所述的系统,其特征在于,所述光电探测器包括CCD相机或者CMOS相机。
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