一种荧光寿命测量方法及装置
专利汇可以提供一种荧光寿命测量方法及装置专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 涉及一种利用简单配置进行 荧光 寿命测试的方法和装置。所述装置包括载样装置、激发装置、成像装置和 数据处理 装置，将荧光样品放置在样品装置上，利用激发装置的 光源 来激发样品的荧光，然后关掉光源利用测量和成像装置实时对样品所发荧光进行成像，得到系列荧光强度随时间变化图像，利用该系列图像即可以计算出 荧光寿命 。相比较其他的方法和装置，本发明装置简单，成本低，易操作，可以实现快速和高通量实时在线测量。，下面是一种荧光寿命测量方法及装置专利的具体信息内容。
1.一种荧光寿命测量方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
(1)用激发光源激发待测荧光样品；
(2)荧光样品受激发光源激发后，开始发光；成像装置采集荧光图像，并记录采集时间；获得一系列荧光图像；
(3)数据处理，将荧光图像转换成灰度图后，读取灰度值；根据灰度值以及对应的采集时间，输出荧光衰减曲线，得到荧光寿命。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述激发光源为脉冲光源或由开关控制的连续光源；所述由开关控制的连续光源在激发荧光样品后，通过开关关闭。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，待测荧光样品由多种荧光材料组成，样品受到激发后，不同种荧光材料分别形成荧光图像。
4.一种实现权利要求1所述方法的装置，其特征在于，所述装置一般包括：
载样装置，用于放置或者移动待测荧光样品；
激发装置，设置有激发光源，用于产生激发光以激发待测样品；
成像装置，用于对待测样品所发荧光进行图像采集并存储；
数据处理装置，用于根据成像装置中所采集的图像计算荧光寿命。
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述装置还包括调整装置，用于调整激发装置与样品装置的相对位置，以及成像装置与样品装置的相对位置，以使得在成像装置上获得荧光图像。
一种荧光寿命测量方法及装置
技术领域
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发明内容
具体实施方式
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