中心波长6557nm的医用红外气体检测分析滤光片
专利汇可以提供中心波长6557nm的医用红外气体检测分析滤光片专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本实用新型所设计的一种测试 精度 高、能极大提高 信噪比 的中心 波长 6557nm的医用红外气体检测分析滤光片，包括以Si为原材料的 基板 ，以Ge、SiO为第一 镀 膜 层和以Ge、ZnS为第二镀膜层，且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间，该中心波长6557nm的医用红外气体检测分析滤光片，其中心波长6557±50nm，其在医用红外气体检测分析过程中，可大大的提高信噪比，提高测试精准度。该滤光片的峰值透过率Tp≥80％、带宽=170±20nm，400～11000nm（除 通带 外），Tavg，下面是中心波长6557nm的医用红外气体检测分析滤光片专利的具体信息内容。
1.一种中心波长6557nm的医用红外气体检测分析滤光片，包括以Si为原材料的基板，以Ge、SiO为第一镀膜层和以Ge、ZnS为第二镀膜层，且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间，其特征是：所述第一镀膜层由内向外依次排列包含有：81nm厚度的Ge层、553nm厚度的SiO层、207nm厚度的Ge层、180nm厚度的SiO层、398nm厚度的Ge层、728nm厚度的SiO层、78nm厚度的Ge层、332nm厚度的SiO层、219nm厚度的Ge层、319nm厚度的SiO层、
132nm厚度的Ge层、535nm厚度的SiO层、123nm厚度的Ge层、331nm厚度的SiO层、306nm厚度的Ge层、488nm厚度的SiO层、76nm厚度的Ge层、373nm厚度的SiO层、336nm厚度的Ge层、398nm厚度的SiO层、168nm厚度的Ge层、766nm厚度的SiO层、297nm厚度的Ge层、
744nm厚度的SiO层、254nm厚度的Ge层、277nm厚度的SiO层、352nm厚度的Ge层、709nm厚度的SiO层、348nm厚度的Ge层、360nm厚度的SiO层、126nm厚度的Ge层和200nm厚度的SiO层；所述第二镀膜层由内向外依次排列包含有：395nm厚度的Ge层、763nm厚度的ZnS层、395nm厚度的Ge层、3051nm厚度的ZnS层、395nm厚度的Ge层、763nm厚度的ZnS层、
395nm厚度的Ge层、763nm厚度的ZnS层、395nm厚度的Ge层、763nm厚度的ZnS层、395nm厚度的Ge层、1525nm厚度的ZnS层、395nm厚度的Ge层、719nm厚度的ZnS层、349nm厚度的Ge层和348nm厚度的ZnS层。
中心波长6557nm的医用红外气体检测分析滤光片
技术领域
背景技术
352nm厚度的Ge层、709nm厚度的SiO层、348nm厚度的Ge层、360nm厚度的SiO层、126nm厚度的Ge层和200nm厚度的SiO层；所述第二镀膜层由内向外依次排列包含有：395nm厚度的Ge层、763nm厚度的ZnS层、395nm厚度的Ge层、3051nm厚度的ZnS层、395nm厚度的Ge层、763nm厚度的ZnS层、395nm厚度的Ge层、763nm厚度的ZnS层、395nm厚度的Ge层、
763nm厚度的ZnS层、395nm厚度的Ge层、1525nm厚度的ZnS层、395nm厚度的Ge层、719nm厚度的ZnS层、349nm厚度的Ge层和348nm厚度的ZnS层。
具体实施方式
126nm厚度的Ge层和200nm厚度的SiO层；所述第二镀膜层3由内向外依次排列包含有：
395nm厚度的Ge层、763nm厚度的ZnS层、395nm厚度的Ge层、3051nm厚度的ZnS层、395nm厚度的Ge层、763nm厚度的ZnS层、395nm厚度的Ge层、763nm厚度的ZnS层、395nm厚度的Ge层、763nm厚度的ZnS层、395nm厚度的Ge层、1525nm厚度的ZnS层、395nm厚度的Ge层、
719nm厚度的ZnS层、349nm厚度的Ge层和348nm厚度的ZnS层。
高效检索全球专利专利汇是专利免费检索,专利查询,专利分析-国家发明专利查询检索分析平台，是提供专利分析，专利查询，专利检索等数据服务功能的知识产权数据服务商。
我们的产品包含105个国家的1.26亿组数据，免费查、免费专利分析。
专利汇分析报告产品可以对行业情报数据进行梳理分析，涉及维度包括行业专利基本状况分析、地域分析、技术分析、发明人分析、申请人分析、专利权人分析、失效分析、核心专利分析、法律分析、研发重点分析、企业专利处境分析、技术处境分析、专利寿命分析、企业定位分析、引证分析等超过60个分析角度，系统通过AI智能系统对图表进行解读，只需1分钟，一键生成行业专利分析报告。
