掺银缺陷负折射光子晶体三平板组探测系统
专利汇可以提供掺银缺陷负折射光子晶体三平板组探测系统专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 公开一种掺 银 缺陷 负折射 光子 晶体三平板组探测系统，包括上、中、下三 块 平行的有掺银缺陷杂质的平板透镜，上、下平板透镜上的掺银缺陷均是以中 心轴 Y左右对称、以中心轴X上下对称，均是最上一排以中心轴Y为界，分别沿中心轴X的左、右方向排列的第7个空气孔为掺银缺陷，从最上一排空气孔依次地向下各排空气孔中，依次地在左、右方向再向外错位一个空气孔为掺银缺陷,直至中心轴X所在这一排空气孔为止；中间平板透镜上的掺银缺陷以中心轴Y左右对称，最上一排以中心轴Y为界，分别沿中心轴X的左、右方向排列的第5个空气孔为掺银缺陷，从上至下的各排空气孔中，左、右依次往外错位一个空气孔为掺银缺陷，提高了系统的再聚焦 分辨率 。，下面是掺银缺陷负折射光子晶体三平板组探测系统专利的具体信息内容。
1.一种掺银缺陷负折射光子晶体三平板组探测系统，包括位置重合的光源和探测器，其特征是：在光源和探测器上方置放上、中、下三块平行的、由空气隔离的、有掺银缺陷杂质的等效负折射光子晶体平板透镜，每块平板透镜均是由在GaAs介质基底刻蚀呈三角排列的圆柱型空气孔构成；上、下平板透镜上的掺银缺陷的排列结构相同，均是以中心轴Y左右对称、以中心轴X上下对称，均是最上一排以中心轴Y为界，分别沿中心轴X的左、右方向排列的第7个空气孔为掺银缺陷，从最上一排空气孔依次地向下各排空气孔中，依次地在左、右方向再向外错位一个空气孔为掺银缺陷, 直至中心轴X所在的这一排空气孔为止；中间平板透镜上的掺银缺陷以中心轴Y左右对称，最上一排以中心轴Y为界，分别沿中心轴X的左、右方向排列的第5个空气孔为掺银缺陷，从上至下的各排空气孔中，左、右依次往外错位一个空气孔为掺银缺陷。
2.根据权利要求1所述掺银缺陷负折射光子晶体三平板组探测系统，其特征是：距离上平板透镜的上表面2μm处置放探测目标，目标直径为D=1/6 ， 等于 ；探测器与光源位置重合，探测器与光源放置在与下平板透镜下表面之间的垂直距离为3.5μm的位置处，光源发射的光波中心频率为0.3068。
3.根据权利要求1所述掺银缺陷负折射光子晶体三平板组探测系统，其特征是：空气孔在GaAs介质基底下的排列为Y方向7排，X方向30列，空气孔的半径是 0.4a，a是二维光子晶体的晶格常数。
4.根据权利要求1所述掺银缺陷负折射光子晶体三平板组探测系统，其特征是： GaAs介质基底的相对介电常数是 =12.96。
5.根据权利要求1所述掺银缺陷负折射光子晶体三平板组探测系统，其特征是：相邻两块平板透镜之间的空气隔离距离相同。
掺银缺陷负折射光子晶体三平板组探测系统
技术领域
背景技术
中国专利申请号为201310544501.1、名称为“采用双平板负折射二维光子晶体组成的探测系统”公开一种具体结构包括光源、探测器、上平板和下平板的探测系统，其中上平板和下平板相互平行，两平板均为二维光子晶体负折射率材料构成，通过在GaAs介质基底刻蚀三角晶格排列的圆柱型空气孔制成。掺入少数几个缺陷，比单个无缺陷的负折射光子晶体透镜进一步提高了再聚焦分辨率，再聚焦分辨率达到0.165 （ 等于 ），但
其在Y轴向上的纵向探测距离小，再聚焦分辨率仍然小。
发明内容
附图说明
具体实施方式
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