专利汇可以提供一种表面等离子体共振传感器专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种 表面 等离子体 共振 传感器 ,包括耦合棱镜、空气填充层、高折射率介质层、金属 薄膜 层和 单层 石墨 烯;所述空气填充层位于耦合棱镜之上;所述高折射率介质层附在金属薄膜层的上下两侧,附于金属薄膜层下侧的高折射率介质层与空气填充层相邻;所述单层 石墨烯 作为 生物 分子识别层 覆盖 在位于金属薄膜层上方的高折射率介质层上与待测物 接触 ,在 角 度调制的模式下检测待测物。与传统的单层金属结构的 表面等离子体 共振传感器相比,采用了多层介质的结构,在总厚度较小的情况下,有效地提高了传感器的灵敏度,具有较强的使用价值。,下面是一种表面等离子体共振传感器专利的具体信息内容。
1.一种表面等离子体共振传感器,其特征是,包括耦合棱镜、高折射率的介质层、金属薄膜层和石墨烯层;所述耦合棱镜与所述介质层之间为空气填充层;所述介质层位于所述金属薄膜层的上下两侧,位于所述金属薄膜层下侧的介质层与所述空气填充层相邻;所述石墨烯层位于所述金属薄膜层上侧的介质层的上方。
2.根据权利要求1所述的一种表面等离子体共振传感器,其特征是,所述空气填充层的厚度为10~50nm,所述空气填充层与耦合棱镜之间设有垫圈;所述金属薄膜层与其下方的介质层之间设置垫圈。
3.根据权利要求2所述的一种表面等离子体共振传感器,其特征是,所述空气填充层的厚度为35nm。
4.根据权利要求1所述的一种表面等离子体共振传感器,其特征是,所述金属薄膜层的厚度为5~100nm,所述介质层的层数为1~10层。
5.根据权利要求4所述的一种表面等离子体共振传感器,其特征是,所述金属薄膜层的厚度为36nm;所述介质层的层数为7层,其每层厚度为0.80nm。
6.根据权利要求1所述的一种表面等离子体共振传感器,其特征是,所述耦合棱镜采用BK7玻璃的半球形棱镜,所述耦合棱镜的折射率必须大于等于待测物的折射率。
7.根据权利要求1所述的一种表面等离子体共振传感器,其特征是,所述介质层为二硫化钨(WS2)高折射率的介质层,激发金属薄膜层表面的等离子体波,所述金属薄膜层为铝薄膜层。
8.根据权利要求1所述的一种表面等离子体共振传感器,其特征是,传感器不同角度下的反射率通过公式(1)~(6)计算得到;
Rp=|rp|2 (6)
其中,M为N层结构的特征转移矩阵;M11、M12、M21和M22为矩阵M的4个元素;εk和dk分别为第k层的介电常数和厚度;θ1和n1分别代表了耦合棱镜的折射率和耦合棱镜底部的入射角度;λ和rp分别为入射的p-偏振光的波长和总反射系数;q1和qN分别对应第1层的耦合棱镜和第N层的待测物;Rp为入射的偏振光的反射率。
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