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一种探测器及漫透射比测量系统

阅读：971发布：2020-05-12

专利汇可以提供一种探测器及漫透射比测量系统专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本发明提供了一种探测器及漫透射比测量系统，该探测器应用于漫透射比测量系统中，所述漫透射比测量系统包括所述探测器、光源系统、分光系统和电控装置，所述电控系统与所述探测器、光源系统、分光系统相连并提供电源，所述探测器为圆形，且所述探测器的内表面被光电探测器完全覆盖。使用本发明提供的探测器，测量得到的准确度可以独立与材料自身特性，且能够极大提高测量的精度。，下面是一种探测器及漫透射比测量系统专利的具体信息内容。

权利要求

1.一种探测器，其特征在于，应用于漫透射比测量系统中，所述系统包括所述探测器、光源系统、分光系统和电控装置，所述电控系统与所述探测器、光源系统、分光系统相连并提供电源，所述探测器为圆形，且所述探测器的内表面被光电探测器完全覆盖。
2.如权利要求1所述的探测器，其特征在于，所述探测器上开设有一个缺口，在进行测量时，该缺口被被检测样品覆盖。
3.如权利要求1所述的探测器，其特征在于，所述电控系统还用于监控所述漫透射比测量系统中电流电压的稳定程度。
4.如权利要求1所述的探测器，其特征在于，所述电控系统还用于控制分光系统的运行。
5.如权利要求1所述的探测器，其特征在于，所述电控系统还用于将探测器输出的电流进行放大并实现AD转换。
6.一种漫透射比测量系统，其特征在于，包括如权利要求1-6任一项所述的探测器。
7.如权利要求6所述的漫透射比测量系统，其特征在于，还包括：计算装置，与所述探测器相连，并根据如下公式计算被检测样品的漫透射比τ：
其中，I100为被检测样品未放入光路时，所述探测器测量得到的电流值，I0为将被检测样品更换为一不透光挡板时，所述探测器测量测量得到电流值，Ix为被检测样品放入时，系统测量得到的电流值。

说明书全文

一种探测器及漫透射比测量系统

技术领域

[0001] 本发明涉及测量技术领域，尤其涉及一种探测器及漫透射比测量系统。

背景技术

[0002] 随着材料学科的快速发展，对光学材料漫透射特性，即漫透射比，的高精度测量提出了很高的要求。

[0003] 目前公知的材料漫透射比的测量一般是采用积分球法进行，即在一空心球体内安置一小探测器。这种方法要求材料的漫透射特性在空间任意方向上要尽可能均匀，否则极有可能在积分球内部产生局域亮斑，局域亮斑产生的位置若直接和探测器位置重合或接近，会导致信号偏高，从而会造成较大的测量误差，甚至会出现测量得到的漫透射比大于1的情况。该特性在测量微尺度较大的压花玻璃时尤为明显，由于这些局域亮斑的位置和材料密切相关，因此，即使通过在积分球内部安装挡屏的方法或者用多积分球串联法亦无法有效避免，测量准确度一直受制于被测材料。

发明内容

[0004] 本发明提供了一种探测器及漫透射比测量系统，测量的准确度可以独立与材料自身特性，且能够极大提高测量的精度。

[0005] 本发明提供了一种探测器，应用于漫透射比测量系统中，所述漫透射比测量系统包括所述探测器、光源系统、分光系统和电控装置，所述电控系统与所述探测器、光源系统、分光系统相连并提供电源，所述探测器为圆形，且所述探测器的内表面被光电探测器完全覆盖。

[0006] 优选的，所述探测器上开设有一个缺口，在进行测量时，该缺口被被检测样品覆盖。

[0007] 优选的，所述电控系统还用于监控所述漫透射比测量系统中电流电压的稳定程度。

[0008] 优选的，所述电控系统还用于控制分光系统的运行。

[0009] 优选的，所述电控系统还用于将探测器输出的电流进行放大并实现AD转换。

[0010] 本发明还提供了一种漫透射比测量系统，包括上述任一项所述的探测器。

[0011] 优选的，所述漫透射比测量系统还包括：计算装置，与所述探测器相连，并根据如下公式计算被检测样品的漫透射比τ：

[0012] 其中，I100为被检测样品未放入光路时，所述探测器测量得到的电流值，I0为将被检测样品更换为一不透光挡板时，所述探测器测量测量得到电流值，Ix为被检测样品放入时，系统测量得到的电流值。

[0013] 本发明提供的一种探测器，所述探测器为圆形，且所述探测器的内表面被光电探测器完全覆盖。由于探测器内部被光电探测器完全覆盖，因此，不论哪个具体方位接收到多少光线，均能直接有效转换为电能信号。使用本发明提供的探测器，测量得到的准确度可以独立与材料自身特性，且能够极大提高测量的精度。附图说明

[0014] 图1为包含了本发明提供探测器的漫透射比测量系统的结构示意图。

具体实施方式

[0015] 下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案，而不能以此来限制本发明的保护范围。

[0016] 面结合附图，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不是限制本发明的范围。

[0017] 本发明了一种探测器，应用于如图1所示的漫透射比测量系统中，该系统包括光源系统1，分光系统2，被测样品3，球形探测器4和电控系统5；电控系统5与探测器4、光源系统1、分光系统2相连并提供电源，探测器4为圆形，且探测器4的内表面被光电探测器完全覆盖。

[0018] 本发明提供的探测器为圆形，且所述探测器的内表面被光电探测器完全覆盖。由于探测器内部被光电探测器完全覆盖，因此，不论哪个具体方位接收到多少光线，均能直接有效转换为电能信号。使用本发明提供的探测器，测量得到的准确度可以独立与材料自身特性，且能够极大提高测量的精度。

[0019] 优选的，该电控系统5还负责监控光源系统1实际工作时电流电压的稳定程度，和/或，控制分光系统2的各项动作，和/或，将球形探测器4输出的电流进行放大并实现AD转换。

[0020] 优选的，球形探测器4上有一开口，以利于光线进入。被测样品3和球形探测器4开口处精密贴合，进行测量时，该缺口被被检测样品覆盖。

[0021] 测量原理为，光源系统1发出的光辐射经过分光系统2被分成所需要的单色辐射，单色辐射经过样品后被散射成各个方向均有光线的无规则漫射光，由于样品3和球形探测器4紧密相连，故光线全部进入球形探测器4。由于球形探测器4内部均为探测器，因此，不论哪个具体方位接收到多少光线，均能直接有效转换为电能信号。具体实现时，需要根据以下测量流程：

[0022]

[0023] 其中τ为材料的漫透射比，I100为样品3未放入光路时，系统测量得到的电流值，I0为将样品3更换为一不透光挡板时，系统测量得到电流值，也称为背景辐射，Ix为被测样品3放入时，系统测量得到的电流值。

[0024] 基于相同的构思，本发明实施例还提供了一种漫透射比测量系统，包括上述任一项所述的探测器。

[0025] 优选的，该漫透射比测量系统还括：计算装置，与探测器4相连，并根据如下公式计算被检测样品的漫透射比τ：

[0026] 其中，I100为被检测样品未放入光路时，所述探测器测量得到的电流值，I0为将被检测样品更换为一不透光挡板时，所述探测器测量测量得到电流值，Ix为被检测样品放入时，系统测量得到的电流值。

[0027] 使用本发明提供的探测器，测量得到的准确度可以独立与材料自身特性，且能够极大提高测量的精度。

[0028] 以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明技术原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

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