质量分析装置和质量分析方法
阅读：436发布：2020-06-14
专利汇可以提供质量分析装置和质量分析方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且提供 质量 分析装置和质量分析方法，能够在视觉上清晰地识别质量分析困难的副成分有无存在。一种质量分析装置(110)，其具有显示部(220)，并且对含有测定物质的试样进行分析，其中，质量分析装置(110)还具有：存储部(215)，其存储针对测定物质的质谱的区域进行计算而求取的理论峰(T)；一致度计算部(217)，其根据区域内的试样的质谱(N)与理论峰各自所具有的多个峰来计算表示一致的程度的一致度；一致度显示控制部(219a)，其使显示部显示一致度；以及重叠显示控制部(219b)，其使显示部以质荷比一致的方式将试样的质谱和理论峰重叠显示。，下面是质量分析装置和质量分析方法专利的具体信息内容。
1.一种质量分析装置，其具有显示部，并且对含有测定物质的试样进行分析，该质量分析装置的特征在于，所述质量分析装置还具有：
存储部，其存储针对所述测定物质的质谱的区域进行计算而求取的理论峰；
一致度计算部，其根据所述区域内的所述试样的质谱和所述理论峰各自所具有的多个峰来计算表示一致的程度的一致度；
一致度显示控制部，其使所述显示部显示所述一致度；以及
重叠显示控制部，其使所述显示部以质荷比一致的方式将所述试样的所述质谱和所述理论峰重叠显示。
2.根据权利要求1所述的质量分析装置，其特征在于，
所述一致度显示控制部对所述一致度和规定的第一阈值进行比较，使所述显示部显示所述测定物质有无存在。
3.根据权利要求1或2所述的质量分析装置，其特征在于，
所述一致度计算部还对与所述理论峰相同的质荷比下的所述试样的质谱的强度进行合计，计算其强度合计值，
所述一致度显示控制部使所述显示部显示所述强度合计值。
4.根据权利要求2或3所述的质量分析装置，其特征在于，
所述一致度显示控制部对所述强度合计值和规定的第二阈值进行比较，使所述显示部显示所述测定物质有无存在的可靠度。
5.根据权利要求1至4中的任意一项所述的质量分析装置，其特征在于，所述一致度计算部根据所述理论峰的规定宽度范围内的所述试样的所述质谱的强度的平均值来计算所述一致度。
6.根据权利要求1至5中的任意一项所述的质量分析装置，其特征在于，所述重叠显示控制部以使所述理论峰中的最大峰的强度和所述试样的所述质谱中的与所述最大峰相同的质荷比下的强度一致的方式将所述理论峰和所述试样的所述质谱重叠显示于所述显示部。
7.根据权利要求1至6中的任意一项所述的质量分析装置，其特征在于，所述一致度计算部使用相关系数来计算所述一致度。
8.一种质量分析方法，对含有测定物质的试样进行分析，该质量分析方法的特征在于，所述质量分析方法还具有以下的步骤：
存储步骤，存储针对所述测定物质的质谱的区域进行计算而求取的理论峰；
一致度计算步骤，根据所述区域内的所述试样的质谱和所述理论峰各自所具有的多个峰来计算表示一致的程度的一致度；
一致度显示控制步骤，使显示部显示所述一致度；以及
重叠显示控制步骤，使所述显示部以质荷比一致的方式将所述试样的所述质谱和所述理论峰重叠显示。
质量分析装置和质量分析方法
技术领域
[0001] 本发明涉及质量分析装置和质量分析方法。
背景技术
[0002] 关于作为一种多溴二苯醚类的十溴二苯醚(以下DBDE)，溴含有率高，作为阻燃材料使用，但近年来成为限制对象物质。因此，需要分析在树脂等的试样中是否含有DBDE。
[0003] 由于DBDE是挥发性成分，因此能够使用现有公知的产生气体分析(EGA；Evolved Gas Analysis：逸出气分析)进行分析。关于该产生气体分析，是指通过气相色谱仪或质谱分析等各种分析装置对加热试样而产生的气体成分进行分析。
[0005] 专利文献1：日本特许第5502648号公报
发明内容
[0007] 因此，本发明是为了解决上述的课题而完成的，其目的在于，提供能够在视觉上清晰地识别测定物质有无存在的质量分析装置和质量分析方法。
[0008] 为了达成上述的目的，本发明的质量分析装置具有显示部，并且对含有测定物质的试样进行分析，该质量分析装置的特征在于，所述质量分析装置还具有：存储部，其存储针对所述测定物质的质谱的区域进行计算而求取的理论峰；一致度计算部，其根据所述区域内的所述试样的质谱和所述理论峰各自所具有的多个峰来计算表示一致的程度的一致度；一致度显示控制部，其使所述显示部显示所述一致度；以及重叠显示控制部，其使所述显示部以质荷比一致的方式将所述试样的所述质谱和所述理论峰重叠显示。
[0009] 根据该质量分析装置，计算并显示试样的质谱与测定物质的理论峰的一致度。并且，将试样的质谱和测定物质的理论峰重叠显示。由此，即使在质量分析困难的状况下，也能够在视觉上清晰地识别测定物质有无存在。
[0010] 而且，通过使用理论峰来表示与试样的质谱的一致度，即使例如质谱自身的波形包含噪声而不清晰，也只要以与理论峰的一致度进行判定即可，因此能够可靠地判定测定物质有无存在。
[0011] 在本发明的质量分析装置中，也可以是，所述一致度显示控制部对所述一致度和规定的第一阈值进行比较，使所述显示部显示所述测定物质有无存在。
[0012] 根据该质量分析装置，对一致度与第一阈值进行比较，在系统侧显示所述测定物质有无存在，因此即使作业人员部不判断也能够识别测定物质有无存在。尤其是，在第一阈值按照每个测定物质而不同的情况下，判断各个一致度的值和有无存在需要经验，但能够在系统上容易地进行该判断。
[0013] 在本发明的质量分析装置中，也可以是，所述一致度计算部还对与所述理论峰相同的质荷比下的所述试样的质谱的强度进行合计，计算其强度合计值，所述一致度显示控制部使所述显示部显示所述强度合计值。
[0014] 根据该质量分析装置，除了一致度之外也将与理论峰相同的质荷比下的试样的质谱的强度合计值显示于显示部，因此能够提供使得更可靠地判断测定物质有无存在的材料。
[0015] 在本发明的质量分析装置中，也可以是，所述一致度显示控制部对所述强度合计值和规定的第二阈值进行比较，使所述显示部显示所述测定物质有无存在的可靠度。
[0016] 根据该质量分析装置，对强度合计值和第二阈值进行比较，在系统侧显示所述测定物质有无存在的可靠度，因此能够更可靠地判断测定物质有无存在。
[0017] 在本发明的质量分析装置中，也可以是，所述一致度计算部根据所述理论峰的规定宽度范围内的所述试样的所述质谱的强度的平均值来计算所述一致度。
[0018] 质谱有时根据时间而发生变动，在该情况下与理论峰的一致度的值变得不稳定。因此，在理论峰的质荷比的方向上求取规定宽度范围内的质谱的强度的平均值，根据该平均值来计算一致度，由此能够更可靠地判断测定物质有无存在。
[0019] 在本发明的质量分析装置中，也可以是，所述显示控制部以使所述理论峰中的最大峰的强度和所述试样的所述质谱中的与所述最大峰相同的质荷比下的强度一致的方式将所述理论峰和所述试样的所述质谱重叠显示于所述显示部。
[0020] 根据该质量分析装置，容易对试样的质谱和理论峰进行比较、观察。
[0021] 在本发明的质量分析装置中，也可以是，所述一致度计算部使用相关系数来计算所述一致度。
[0022] 本发明的质量分析方法对含有测定物质的试样进行分析，该质量分析方法的特征在于，所述质量分析方法还具有以下的步骤：存储步骤，存储针对所述测定物质的质谱的区域进行计算而求取的理论峰；一致度计算步骤，根据所述区域内的所述试样的质谱和所述理论峰各自所具有的多个峰来计算表示一致的程度的一致度；一致度显示控制步骤，使显示部显示所述一致度；以及重叠显示控制步骤，使所述显示部以质荷比一致的方式将所述试样的所述质谱和所述理论峰重叠显示。
[0023] 发明效果
[0025] 图1是示出包含本发明的实施方式的质量分析装置在内的产生气体分析装置的结构的立体图。
[0026] 图2是示出气体产生部的结构的立体图。
[0027] 图3是示出气体产生部的结构的纵剖视图。
[0028] 图4是示出气体产生部的结构的横剖视图。
[0029] 图5是图4的局部放大图。
[0030] 图6是示出产生气体分析装置进行的气体成分的分析动作的框图。
[0031] 图7是示出含有测定物质和DBDE的试样的气体质谱的图。
[0032] 图8是示出DBDE的质谱的理论峰的图。
[0033] 图9是示出计算质谱与理论峰的一致度的方法的示意图。
[0034] 图10是示出根据理论峰的规定宽度范围内的试样的质谱的强度的平均值来计算一致度的方法的示意图。
[0035] 图11是示出将试样的质谱和理论峰以质荷比一致的方式重叠显示的形态的图。
[0036] 标号说明
[0037] 110：质量分析计(质量分析装置)；217：一致度计算部；215：存储部；219a：一致度显示控制部；219b：重叠显示控制部；220：显示部；T：理论峰；N：区域内的试样的质谱；S：试样；W：理论峰的规定宽度；Pmax：理论峰中的最大峰的强度；Nmax：试样的质谱中的与最大峰相同的质荷比下的强度。
具体实施方式
[0038] 以下，参照附图对本发明的实施方式进行说明。图1是示出包含本发明的实施方式的质量分析计(质量分析装置)110在内的产生气体分析装置200的结构的立体图，图2是示出气体产生部100的结构的立体图，图3是示出气体产生部100的结构的沿着轴心O的纵剖视图，图4是示出气体产生部100的结构的沿着轴心O的横剖视图，图5是图4的局部放大图。
[0039] 产生气体分析装置200具有作为箱体的主体部202、安装在主体部202的正面上的箱型的气体产生部安装部204以及对整体进行控制的计算机(控制部)210。计算机210具有进行数据处理的CPU、存储计算机程序和数据的存储部215、液晶监视器等显示部220、以及键盘等输入部222等。
[0040] 在气体产生部安装部204的内部收纳有气体产生部100，圆筒状的加热炉10、试样架20、冷却部30、使气体分支的分流器40、离子源50、以及惰性气体流路19f以组件的形式成为一个整体从而得到该气体产生部100。并且，在主体部202的内部收纳有对加热试样而产生的气体成分进行分析的质量分析计110。
[0041] 另外，如图1所示，从气体产生部安装部204的上表面朝向前表面地设置有开口204h，当使试样架20移动到加热炉10外侧的排出位置(后述)时，该试样架20位于开口204h处，因此能够从开口204h将试样从试样架20取出或放到试样架20上。并且，在气体产生部安装部204的前表面上设置有缝204s，通过使从缝204s露出到外部的开闭把手22H左右移动，能够使试样架20向加热炉10的内外移动以设置于上述的排出位置，从而取出或放入试样。
[0042] 另外，例如如果利用由计算机210控制的步进电机等使试样架20在移动轨道204L(后述)上移动，则能够将使试样架20向加热炉10的内外移动的功能自动化。
[0043] 接下来，参照图2～图6对气体产生部100的各部分的结构进行说明。
[0046] 另外，安装板204a沿与轴心O垂直的方向延伸，分流器40和离子化部50安装于加热炉10。而且，离子化部50被气体产生部安装部204的上下延伸的支柱204b支承。
[0047] 在加热炉10中的与开口侧相反的一侧(图3的右侧)连接有分流器40。并且，在加热炉10的下侧连接有载气保护管18，在载气保护管18的内部收纳有与加热室12的下表面连通并且向加热室12内导入载气C的载气流路18f。并且，在载气流路18f上配置有对载气C的流量F1进行调整的控制阀18v。
[0048] 而且，后面描述详细内容，在加热室12中的与开口侧相反的一侧(图3的右侧)的端面上连通有混合气体流路41，载气C与在加热炉10(加热室12)中生成的气体成分G的混合气体M在混合气体流路41中流动。
[0049] 另一方面，如图3所示，在离子化部50的下侧连接有惰性气体保护管19，在惰性气体保护管19的内部收纳有向离子化部50导入惰性气体T的惰性气体流路19f。并且，在惰性气体流路19f上配置有对惰性气体T的流量F4进行调整的控制阀19v。
[0050] 试样架20具有：载台22，其在安装于气体产生部安装部204的内部上表面上的移动轨道204L上移动；托架24c，其安装在载台22上而上下延伸；绝热材料24b、26，它们安装在托架24c的前表面上(图3的左侧)；试样保持部24a，其从托架24c沿轴心O方向向加热室12侧延伸；加热器27，其埋设于试样保持部24a的正下方；以及试样皿28，其收纳试样，在加热器27的正上方配置于试样保持部24a的上表面。
[0051] 这里，移动轨道204L沿轴心O方向(图3的左右方向)延伸，试样架20连同载台22沿轴心O方向进退。并且，开闭把手22H沿与轴心O方向垂直的方向延伸并且安装在载台22上。
[0052] 另外，托架24c呈上部为半圆形的条状，绝热材料24b呈大致圆筒状，安装在托架24c上部的前表面上，加热器27的电极27a贯通绝热材料24b而被引出到外部。绝热材料26呈大致矩形状，在比绝热材料24b靠下方的位置安装在托架24c的前表面上。并且，在托架24c的下方不安装绝热材料26而使托架24c的前表面露出，形成了接触面24f。
[0053] 托架24c的直径比加热室12稍大，气密地封堵加热室12，试样保持部24a收纳于加热室12的内部。
[0054] 而且，载置于加热室12的内部的试样皿28内的试样在加热炉10内被加热，生成气体成分G。
[0055] 冷却部30以与试样架20的托架24c对置的方式配置于加热炉10的外侧(图3的加热炉10的左侧)。冷却部30具有：呈大致矩形的冷却块32，其具有凹部32r；冷却片34，其与冷却块32的下表面连接；以及风冷风扇36，其与冷却片34的下表面连接，使空气与冷却片34接触。
[0056] 而且，当试样架20在移动轨道204L上沿轴心O方向向图3的左侧移动而被排出到加热炉10之外时，托架24c的接触面24f收纳于冷却块32的凹部32r内并且与凹部32r接触，托架24c的热经由冷却块32而被带走，从而对试样架20(尤其是试样保持部24a)进行冷却。
[0057] 如图3、图4所示，分流器40具有：上述的混合气体流路41，其与加热室12连通；分支路42，其与混合气体流路41连通并且向外部开放；背压调整机构42a，其与分支路42的排出侧连接，对从分支路42排出的混合气体M的排出压力进行调整；箱体部43，混合气体流路41的终端侧在该箱体部43的内部开口；以及保温部44，其包围箱体部43。
[0058] 而且，在本例中，在分支路42与背压调整机构42a之间配置有去除混合气体中的杂质等的过滤器42b、流量计42c。并且，也可以不设置背压调整机构42a等对背压进行调整的阀等，使分支路42的端部维持裸管的状态。
[0059] 如图4所示，在从上表面观察时，混合气体流路41呈如下的曲柄状：与加热室12连通而沿轴心O方向延伸，然后与轴心O方向垂直地弯曲，再向轴心O方向弯曲，到达终端部41e。并且，在混合气体流路41中的与轴心O方向垂直地延伸的部位的中央附近扩径而形成了分支室41M。分支室41M延伸至箱体部43的上表面，嵌合有直径比分支室41M稍小的分支路
42。
42。
[0060] 混合气体流路41也可以是与加热室12连通而沿轴心O方向延伸至终端部41e的直线状，根据加热室12和离子源50的位置关系，也可以是各种曲线或与轴心O具有角度的线状等。
[0061] 如图3、图4所示，离子化部50具有箱体部53、包围箱体部53的保温部54、放电针56以及保持放电针56的支撑件55。箱体部53呈板状，其板面沿着轴心O方向，并且在中央贯通有小孔53c。而且，混合气体流路41的终端部41e穿过箱体部53的内部而面对小孔53c的侧壁。另一方面，放电针56与轴心O方向垂直地延伸，面对小孔53c。
[0062] 而且，如图4、图5所示，惰性气体流路19f沿上下贯通箱体部53，惰性气体流路19f的前端面对箱体部53的小孔53c的底面，形成了与混合气体流路41的终端部41e合流的合流部45。
[0063] 而且，来自惰性气体流路19f的惰性气体T与从终端部41e导入到小孔53c附近的合流部45的混合气体M混合而成为综合气体M+T，向放电针56侧流动，综合气体M+T中的气体成分G被放电针56离子化。
[0064] 离子化部50是公知的装置，在本实施方式中，采用了大气压化学离子化(APCI)型。APCI不容易产生气体成分G的碎片(fragment)，从而不会产生碎片峰，因此即使没有在色谱仪等中分离也能够检测测定对象，因此优选。
[0065] 将被离子化部50离子化后的气体成分G与载气C和惰性气体T一同导入到质量分析计110中进行分析。
[0066] 另外，离子化部50收纳于保温部54的内部。
[0067] 图6是示出产生气体分析装置200进行的气体成分的分析动作的框图。
[0068] 试样S在加热炉10的加热室12内被加热，生成气体成分G。加热炉10的加热状态(升温速度、最高达到温度等)是由计算机210的加热控制部212控制的。
[0069] 气体成分G与导入到加热室12中的载气C混合而成为混合气体M，被导入到分流器40中，混合气体M的一部分从分支路42向外部排出。
[0070] 混合气体M的剩余部分和来自惰性气体流路19f的惰性气体T作为综合气体M+T被导入到离子化部50中，气体成分G被离子化。
[0071] 计算机210的检测信号判定部214从质量分析计110的检测器118(后述)接收检测信号。
[0072] 流量控制部216判定从检测信号判定部214接收到的检测信号的峰强度是否在阈值的范围外。然后，在范围外的情况下，流量控制部216通过对控制阀19v的开度进行控制，从而对在分流器40内从分支路42向外部排出的混合气体M的流量进行控制，进而对从混合气体流路41向离子源50导入的混合气体M的流量进行调整，将质量分析计110的检测精度保持为最佳。
[0073] 质量分析计110具有：第一细孔111，向其导入被离子化部50离子化后的气体成分G；第二细孔112、离子引导件114和四极滤质器116，气体成分G在第一细孔111之后依次流入该第二细孔112、离子引导件114和四极滤质器116中；以及检测器118，其检测从四极滤质器116排出的气体成分G。
[0074] 四极滤质器116通过改变所施加的高频电压而能够进行质量扫描，生成四极电场，在该电场内使离子进行振动运动，由此检测离子。四极滤质器116形成仅使处于特定的质量范围内的气体成分G透过的质量分离器，因此能够通过检测器118进行气体成分G的鉴别和定量。
[0075] 并且，在本例中，通过在比分支路42靠下游侧的位置使惰性气体T流入到混合气体流路41中，形成抑制向质量分析计110导入的混合气体M的流量的流路阻力，从而能够对从分支路42排出的混合气体M的流量进行调整。具体而言，惰性气体T的流量越大，从分支路42排出的混合气体M的流量也越大。
[0076] 由此，在气体成分大量产生而使气体浓度变得过高时，增大从分支路向外部排出的混合气体的流量，抑制了超出检测单元的检测范围、检测信号超出标度而使测定变得不准确。
[0077] 接下来，参照图7～图11，对本发明的特征部分进行说明。另外，将DBDE设为“测定物质”。
[0078] 图7是含有DBDE的试样(例如ABS树脂)的质谱。DBDE的质谱显现在质荷比(m/z)为大约950～970的区域R中。另外，与DBDE不同的物质的质谱M显现在区域R之外的位置。
[0079] 图8示出包含区域R在内的DBDE的质谱的理论峰T。在本例中，像以下那样计算理论峰T。首先，DBDE包含十个溴，各溴以大致相同的比例包含两个同位素79Br和81Br。在溴为一个的情况下，由于是两个同位素79Br和81Br，因此质谱由强度比1：1的两个峰构成。在溴为两个的情况下，具有两个都是79Br，79Br和81Br各一个，两个都是81Br这四种情况，其中，在79Br和81Br各一个的情况下具有两种情况，因此质谱由强度比为1：2：1的三个峰构成。这样，在按照二项分布来求取峰的相对强度的理论值(理论峰T)时，如图8所示，DBDE由十一个峰构成。
[0080] 另外，在图8中，表面上只能看到九个峰，但实际上有十一个峰，图8的横轴的两端的峰的强度只有最大峰的0.4％左右，几乎看不到。但是，即使两端的峰的强度几乎为零，也是重要的信息，在以下的一致度的计算中也使用了该信息。
[0081] 接下来，对区域R内的质谱N和理论峰T各自所具有的多个峰进行比较，计算表示该多个峰的一致的程度的一致度。具体而言，如图9所示，对同一质荷比C下的质谱N的强度P1与理论峰T的强度P2进行比较，关于P1与P2有多相似，针对构成理论峰T的十一个峰，分别求取P1与P2的相关系数来计算一致度。
[0082] 即，判定与构成理论峰T的十一个峰分别相同的质荷比下的质谱N的强度与理论峰T有多相似。由此，即使质谱N自身的波形包含噪声而不清晰，也只要判定与理论峰T的各个峰所示的特征部分的一致度即可，因此能够可靠地计算一致度。
[0083] 另外，如图9的虚线所示，质谱N有时根据时间而发生变动，在该情况下与理论峰T的一致度的值变得不稳定。
[0084] 因此，如图10所示，优选为，在理论峰T的各个峰的质荷比的方向上求取规定宽度W的范围内的质谱N的强度的平均值，根据该平均值来计算一致度。在该情况下，只要在规定宽度W的范围内，按照不同的质荷比，取得P11～P14这多个(在图10中为四个)质谱N的强度，并求取其平均值Pav与P2的相关系数即可。
[0085] 这样，如图11所示，将一致度(在本例中为96.8％)显示于显示部220(例如规定的框220a中)。而且，在显示部220的例如规定的区域220d内以质荷比一致的方式将试样的质谱N和理论峰T重叠显示。
[0086] 此时，在使理论峰T中的最大峰的强度Pmax和试样的质谱N中的与最大峰相同的质荷比C1下的强度Nmax一致而进行重叠显示时，容易对试样的质谱N和理论峰T进行比较、观察。
[0087] 像以上那样，在显示部220上，显示试样的质谱N与DBDE的理论峰T的一致度，并且将质谱N和理论峰T重叠显示，因此即使在质量分析困难的状况下也能够在视觉上清晰地识别DBDE有无存在。
[0088] 而且，通过使用理论峰来计算与试样的质谱的一致度，由此，即使质谱自身的波形包含噪声而不清晰，也只要计算与理论峰的一致度即可，因此也能够可靠地判定DBDE有无存在。
[0089] 而且，也可以如图11所示，对一致度与规定的第一阈值进行比较，在显示部220(例如规定的框220b)上显示DBDE有无存在。
[0090] 这样，由于在系统侧显示DBDE有无存在，因此即使作业人员不判断也能够容易地识别DBDE有无存在。尤其是，在第一阈值按照每个测定物质而不同的情况下，判断各个一致度的值和有无存在需要经验，但能够容易地在系统上进行该判断。
[0091] 另外，在本例中，关于DBDE有无存在的显示，在一致度为第一阈值以上的情况下，判定为DBDE存在，显示为“×”。这是因为，DBDE作为限制物质而不优选包含于试样中，显示方法不限于此。
[0092] 而且，也可以是，对与理论峰T相同的质荷比下的试样的质谱N的强度进行合计，计算其强度合计值并显示于显示部220(例如规定的框220e)。
[0093] 此时，也可以是，设定第二阈值，对强度合计值与第二阈值进行比较，将DBDE有无存在的可靠度显示于显示部220(例如规定的框220c)。
[0094] 由此，除了一致度之外还显示与理论峰T相同的质荷比下的试样的质谱N的强度合计值，因此能够提供使作业人员更可靠地判断理论峰与试样的质谱有无一致的材料。
[0095] 并且，通过将DBDE有无存在的可靠度显示于系统侧，能够更可靠地判断DBDE有无存在。另外，在本例中，在强度合计值为第二阈值以上的情况下，将可靠度显示为较高，当作测定准确。
[0096] 另外，关于求取质谱N的强度的方法，虽然可以是与理论峰T完全相同的质荷比下的强度，但优选为，像上述的图9、图10所示那样，采用理论峰T的规定宽度W的范围内的质谱N的强度的平均值，并且对这些平均值进行合计。
[0097] 接下来，参照图6对上述的处理进行说明。
[0098] 理论峰T、第一阈值、第二阈值预先存储于硬盘等存储部215中。首先，计算机210的一致度计算部217从检测信号判定部214取得图7的区域R内的试样的质谱N，计算与理论峰T的一致度。而且，一致度计算部217根据需要来计算上述的质谱N的强度合计值。
[0099] 而且，计算机210的一致度显示控制部219a使显示部220(例如各个框220a、220e)显示所计算出的一致度(和强度合计值)。
[0100] 并且，重叠显示控制部219b使显示部220以质荷比一致的方式将质谱N和理论峰T重叠显示。
[0101] 更优选为，一致度显示控制部219a从存储部215读出第一阈值，与计算出的一致度进行比较，使显示部220(例如框220b)显示DBDE有无存在。
[0102] 更优选为，一致度显示控制部219a从存储部215读出第二阈值，与计算出的强度合计值进行比较，使显示部220(例如框220c)显示DBDE有无存在的可靠度。
[0103] 本发明不限于上述实施方式，勿需赘言，涵盖包含于本发明的思想和范围中的各种变形和等同物。
[0104] 测定物质和特定的副成分不限于上述实施方式。
[0105] 理论峰的计算方法、一致度的计算方法也不限于上述实施方式。
[0106] 向质量分析装置导入试样的方法不限于在上述的加热炉中加热分解试样以产生气体成分的方法，例如也可以是导入包含气体成分在内的溶剂、并在使溶剂挥发同时使气体成分产生的溶剂提取型的GC/MS或LC/MS等。
[0107] 并且，在计算一致度时优选使用相关系数，尤其优选使用皮尔森线性相关系数。
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