近来，已经开发出允许将数据记录在盘片的数据表面上并将具有预期设计 的标签印在盘片数据表面的反面或非数据或标签表面之上的光盘。在其上印有 标签的盘片表面被称为盘片的标签表面。通常使用激光刻蚀技术(常被称为光 雕LightScribe)可将标签转移到盘片的标签表面上，其中激光将图像烧蚀或刻 蚀到光盘上特别准备的、非数据一面之上。
一般说来，必须在光盘上记录数据的激光功率基于记录速度和其他记录介 质特性而变化。通常使用受控的集成电路(IC)射频(R/F)输入电压(DAC) 在期望的量级上设置激光功率。然而，对给定输入电压(DAC)的激光功率输 出实际量级会基于光学拾取器和R/F IC特性的差异和偏差而变化。因此，在光 驱制造期间，就为每个设备测量输入电压(DAC)和相关于该输入电压(DAC) 的实际输出激光功率(P)之间的关系并将其存储在ROM(只读存储器)中， 从而能够基于测量结果设置期望量级的输出激光功率。
通常为了计算输入电压和输出激光功率之间的关系，就使用专为此目的设 计的设备(例如激光功率计)在光驱制造期间测量实际输出激光功率。施加给 R/F IC的输入电压和光学拾取器生成的激光功率之间的关系通常至少部分呈线 性。因此，广泛使用反映制造过程中被选点的功率设置的关于输入电压(DAC) 和激光功率(P)的线性方程来建立此种关系。
当在光盘的标签表面印制诸如上述光雕的标签时，就使用输入电压和在光 驱制造过程中检测到的期望激光功率之间的线性关系来计算对应于期望激光 功率的输入电压。将算出的输入电压施加给R/F IC，从而能够使用预定量级的 激光功率执行标签印制操作。
然而，此种标签印制操作要求激光器的输出功率大大高于在盘片数据表面 上执行记录通常操作所需的功率。若如图1所示，激光器的输出值基于输入电 压的增加而超过预定值，则输入电压和激光功率之间就不再是线性关系，并且 输出激光功率对输入电压之比(即斜率)就逐渐降低。由此，如果输入电压和 输出激光功率之间的线性关系发生改变，则会在激光功率建立过程中产生由式 ΔP误差＝P实际-P理想所示的非期望误差，这就导致了盘片标签表面上印刷质量的劣 化。
上述内容被包括在此以作参考，适用于另外的或可选的细节、特性和/或技 术背景。

本发明的目的在于至少解决上述问题和/或缺点并至少提供下文所描述的 优点。
因此，本发明的目的在于提供一种设置激光功率从而能够在光雕盘片上印 制高质量标签的方法。
本发明的另一个目的在于提供一种用于设置激光二极管的激光功率的方 法，使得在光雕盘片上印制标签时可以正确输出所要求的高输出激光功率。
根据在此具体实现并广泛描述的本发明，用于设置其中可存储功率建立数 据和激光二极管内部传感器的灵敏度数据的光驱的激光功率方法包括：控制使 用功率建立数据和灵敏度数据在标签表面的预定区域内控制激光功率，并若要 是光雕盘片位于光驱内的标签表面上，就在标签表面内的标签区域中执行标签 印制操作。
在某些实施例中，可以在光驱制造期间检测并存储功率建立数据和灵敏 度，并可使用指示输入值和输出激光功率之间关系的大致呈线性的方程来表示 所述功率建立数据。
在某些实施例中，预定区域可以是不与由激光功率控制操作所引起的激光 输出起反应的区域，诸如控制特性区域。
在某些实施例中，对激光功率的控制包括：计算传感器输出值的目标值， 其中所述传感器的输出值对应于要使用灵敏度数据设置的输出激光功率；计算 用于生成要使用功率建立数据设置的输出激光功率的输入值，使用算出的输入 值操作激光二极管，同时检测传感器输出值并使用算出的目标值比较测出的传 感器输出值，随后根据比较结果控制激光功率，并且在所测传感器输出值高于 算出目标值的情况下增加激光功率。
在某些实施例中，可以在光驱制造期间检测并存储功率建立数据和灵敏 度，并可使用指示输入值和输出激光功率之间关系的大致呈线性的方程来表示 所述功率建立数据，同时检测并存储与至少一个最好至少两个输出激光功率区 域相关联的功率建立数据。
在某些实施例中，可以将输出激光功率区域分类成包括用于光盘记录表面 的第一记录功率的第一区域和包括用于光雕盘片标签表面的第二记录功率的 第二区域。
在某些实施例中，在预定数目的输出激光功率区域中检测独立的功率建立 数据单元并存储检测到的功率建立数据单元可包括：在希望包含在相应区域内 的值将被生成生成处检测两个预定输入值的输出激光功率，并且在两个预定的 输入值和所述测得的输出激光功率的基础上计算关于输入值和输出激光功率 关系的线性方程，并且存储算出的线性方程。
可选地，在预定数目的输出激光功率区域中检测独立的功率建立数据单元 并存储检测到的功率建立数据单元可包括：在希望包含在相应区域内的值将被 生成生成处检测预定输入值的输出激光功率，并且在预定输入值、检测的输出 激光功率和输入值和输出激光功率之间斜率特性的基础上计算关于输入值和 输出激光功率关系的线性方程，并且存储算出的线性方程。
可选地，在预定数目的输出激光功率区域中检测独立的功率建立数据单元 并存储检测到的功率建立数据单元可包括：检测与预定输入值相关联的输出激 光功率，搜索从存储曲线数据中生成的被测激光功率的第二输入值，计算第二 输入值和预定输入值之间的差值，在该差值和存储线性方程的基础上计算关于 光盘输入值和输出激光功率关系的线性方程，并且存储算出的线性方程。
本发明另外的优点、目的和特性将会在下面的描述中得到部分阐明，并且 当本领域的技术人员在查看下面的内容时或通过实施本发明都可以清楚地看 到本发明的这些优点、目的和特性。本发明的目的和优点可以像所附的权利要 求书中所特别指出的那样得到实现和获得。
附图说明
参照下面的附图，将详细描述本发明，其中相同的数字指代相同的元件， 其中：
图1是输入电压(DAC)和激光功率(P)之间的关系图；
图2是在其中可以实现根据本发明实施例的激光功率建立方法的光驱框 图；
图3是根据本发明一个实施例的一种用于设置光驱激光功率的方法流程 图；
图4示出了典型光盘标签表面的布局；
图5是激光功率(P)和FPDO电压之间的关系图；
图6示出了图4所示典型光盘的控制特性区域的布局；
图7是根据本发明一个实施例的一种用于设置光驱激光功率的方法流程 图；
图8是根据本发明一个实施例的输入电压和激光功率之间的关系图，其中 使用所述激光功率确定在最低和最高参考激光功率电平处的线性函数；
图9是根据本发明一个实施例的输入电压和相关于三个设备的激光功率之 间的非线性关系图；
图10是当实现根据本发明一个实施例的方法时的实际激光功率与使用传 统方法的激光功率输出相比较的表格；以及
图11是图10所示表格数据的图示。

图2是在其中可以实现根据本发明实施例的激光功率建立方法的光盘驱动 器(ODD)的框图。ODD可以包括具有增益&S/H(采样/保持)单元21和运 放(OP-AMP)的自动功率控制(APC)电路20；具有激光二极管(LD)驱动 器31和前光电检测器(FPD)32的光学拾取单元30；用于检测由FPD32输出 的信号电平的前光电检测输出(FPDO)；诸如闪存ROM的存储器51；以及 微处理器50。
APC电路20在输入FPDO信号和输入电压(WDAC)信号的基础上生成 激光功率电压(VMDC)。LD驱动31输出对应于输出激光功率电压VWDC 的光束。FPD32检测由LD驱动31生成的光束并输出对应于被测光束的FPDO 信号。存储器51存储在ODD制造期间检测到的功率建立数据，并存储LD传 感器(未示出)的灵敏度数据“m”，所述传感器包括在光学拾取单元30的 LD(未示出)内。微处理器50使用上述存储在存储器51内的值在光盘10的 标签表面上执行功率建立操作，并由上述功率建立操作确定的一个输出激光功 率来执行标签印制操作。
根据本发明另一个实施例中，可以在ODD制造期间检测相关于盘片数据 表面和标签表面的功率建立数据单元并将其存储在存储器51内。微处理器50 随后可基于上述存储在存储器51内的功率建立数据确定相关于该光盘10数据 表面或标签表面的激光功率电平。
假设建立激光功率基本等于记录功率，于是就能把根据本发明一个实施例 用于设置输出激光功率的方法以上述建立激光功率相同的方式施加给记录功 率和再现功率。
APC 20包含在ODD的R/F IC内并要求预定量级的激光功率以使得ODD 在盘片10上执行数据记录操作。激光功率由APC 20的输入电压(WDAC)确 定，并可由APC 20保持在大致恒定的电平。
FPDO信号对应于由LD驱动31生成并由FPD32馈回的激光束输出功率。 输入电压(WDAC)对应于建立激光功率。APC 20生成从FPD 32馈回的FPDO 信号，以及对应于经由外部数模转换器(DAC)(未示出)接收的输入电压 (WDAC)的激光功率输出信号(VWDC)。
图3是根据本发明一个实施例的一种用于设置光驱激光功率的方法流程 图。
在ODD制造期间建立一关于施加给R/F IC的输入电压WDAC和由光学 拾取单元30生成的激光功率的线性方程。如果光学拾取单元30基于施加给R/F IC的输入电压(WDAC1)生成激光功率(P1)，则微处理器50测量激光功 率(P1)，同时基于在由FPD 32生成之后由FPDO检测器40检测到的FPDO 值(F1)来计算与光学拾取单元30相关联的灵敏度m。
微处理器50可以使用恰当的测量设备(例如激光功率计)测量激光功率 (P1)，并使用与光学拾取单元30各组件(例如LD传感器)相关联的信息来 确定灵敏度m。微处理器50可以使用式1表示的预定方程来计算灵敏度m。
m＝(2.5-F1)/P1         (式1)
在ODD制造期间检测并包括与输入电压和激光功率相关的线性方程和LD 传感器的灵敏度m的功率建立数据可被存储在存储器51中。
现在将参考图3描述根据本发明一个实施例的一种用于设置光驱激光功率 的方法。
如果将包括了标签表面(诸如上述光雕)的光盘10放入ODD，则在步骤 S10微处理器50确定光盘10的放入表面是否是标签表面。如图4所示，盘片 10的标签表面包括其中记录有速度控制信息和媒体信息的控制特性区域以及 在其中执行标签印制操作的标签区域。如果在步骤S10处放入的是标签表面， 则在步骤S11处微处理器50将光学拾取单元30切换至光盘10的控制特性区 域，并根据将在其后详述的一个本发明的实施例执行功率记录操作。
微处理器50设置在盘片10的标签表面上执行标签印制操作所需的输出激 光功率，并在步骤S12处计算对应于该设置输出激光功率的目标FPDO值。在 本发明的一个实施例中，此输出激光功率可以是60mW。然而，其他的值也是 合适的。可由式2表示的预定方程计算目标FPDO。
F(X)＝-m*X+2.5          (式2)
在式2中，X等于输出激光功率，m等于LD传感器灵敏度，而f(X)等于 对应于输出激光功率X的FPDO值。可以在存储器51内存储X和m的值。输 出激光功率和FPDO之间的关系如图5所示。
在步骤S12处，微处理器50使用存储在存储器51内的功率建立数据来计 算对应于输出激光功率的输入电(WDAC)。在此情况下，功率建立数据就 对应于在ODD制造期间建立的关于输入电压和激光功率的线性方程。
微处理器50把算出的输入电压(WDAC)送给APC 20的OP Amp 22。 APC 20生成对应于该输入电压的激光功率电压(VWDC)。在步骤S13处， LD驱动器31生成对应于输出激光功率电压(VWDC)的发光束。
FPD 32检测由LD驱动器31生成的发光束并输出相应的FPDO信号。在 步骤S14处，FPDO检测器40检测输出FPDO信号的值，并把为讨论方便而被 称为当前FPDO的所测FPDO值发送给微处理器50。
在步骤S20处，微处理器50比较目标FPDO的值和当前FPDO的值。如 果目标FPDO的值大于当前FPDO的值，微处理器50就保持已建立的输出激 光功率而不做变化。然而，若目标FPDO的值等于或小于当前FPDO的值，则 在步骤S21处微处理器50就基于目标FPDO的值和当前FPDO的值之间的差 值通过增加预定值来增加输出激光功率。重复上述操作步骤以建立期望的激光 功率。
在标签印制操作期间需要高于数据表面所需的输出激光功率。通常若基于 输入电压的增加使得激光输出增加超过预定值，就如上参考图1所述无法建立 输入信号和输出信号之间的线性关系，这就导致了激光功率建立过程中的非期 望误差。于是虽然可为标签印制提供高输出激光功率，但仍可实现上述功率建 立操作以建立用于激光输出功率并大致无误差的最佳值。
图6示出了光盘(诸如上述光雕盘片)标签表面的控制特性区域的详细结 构。控制特性区域包括速度控制特性区域，控制特性外环区域和镜像区域。
微处理器50将光学拾取单元30移至控制特性区域并在控制特性区域内执 行上述激光功率建立操作。微处理器50控制光学拾取单元30检测来自控制特 性外环区域内索引标记图案的索引标记，在索引标记图案起始处检测辐条值为 0的辐条，并执行从一系列媒体ID字段中读取媒体ID信息的同步操作。
如果由上述功率建立操作来确定最佳输出激光功率，则在步骤S22处微处 理器50将光学拾取单元30移至光盘10的标签区域，并在步骤S23处使用由 上述功率建立步骤S14、S20和S21所调整的输出激光功率来执行标签印制操 作。在标签印制操作过程中，由APC 20将被确定输出激光功率保持在大致恒 定的电平。
因为即使当功率建立操作时也可能在标签表面上生成非期望的轨迹或标 记，所以光学拾取单元30移动至标签表面的控制特性区域以执行功率建立操 作。仅能将标签印制操作引导入其上首先已沉积对激光输出敏感的染料的标签 区域。染料仅能沉积在盘片标签表面的标签区域部分，而不能沉积在控制特性 区域。
根据本发明的另一个实施例，可以在ODD制造期间检测并存储在盘片数 据表面记录数据所需的第一功率建立数据以及在盘片标签表面印制标签所需 的第二功率建立数据。通过基于记录操作的不同分类来选择的功率建立数据， 确定相应的激光功率。
与输入电压(DAC)相关联的输入电压(DAC)的量级可以基于光学拾取 器和R/F IC特征的差异而变化。针对这些矛盾，可以在ODD制造期间为每个 设备执行激光功率建立操作，同时检测并存储输入电压和对应于输入电压的实 际激光功率之间的关系。可以在用于光盘数据表面的第一参考记录功率处执行 激光功率建立操作，并且该操作也可在用于光盘标签表面的第二参考记录功率 处执行，从而可以检测并存储用于数据表面记录的第一功率建立数据和用于标 签表面记录的第二功率建立数据。在本发明的一个实施例中，第一参考记录功 率约为20mW，而第二参考记录功率约为40mW。然而也可使用其他合适的值。
图7是根据本发明一个实施例的一种用于设置光驱(ODD)激光功率的方 法流程图，在其后还将参考图2进行描述。
在ODD制造期间，基于为光盘10数据表面使用的低输出参考记录功率 (PL)执行激光功率建立操作，还也可基于为光盘10标签表面使用的高输出参 考记录功率(PH)执行该操作。如图8所示，基于参考记录功率值PL和PH检 测用于相应的预定输入电压DAC1-DAC4的输出激光功率值P1-P4。对应于被 测输出激光功率值P1-P4的线性函数可被确定为功率建立数据并在步骤S30处 被分别存储在存储器51内。
更具体地，由预定值DAC_L相互分开并在此可生成期望低输出参考记录 功率(诸如20mW)的两个输入电压DAC1和DAC2可被顺序施加给R/F IC， 并且可由诸如激光功率计的设备来检测实际输出激光功率值P1和P2。上述两 个输入电压DAC1和DAC2应该是在低输出参考激光功率附近的值。如果为了 讨论的目的，假定低输出参考激光功率为20mW，则DAC1和DAC2就可以是 例如15mW和25mW。两个用于线性方程
y＝ax+b          (式3)
的值a和b，其中y＝输出激光功率，而x＝输出电压，可由两点(DAC1，P1) 和(DAC2，P2)确定的的y和x来计算，并将算出的结果存储在存储器51内作 为用于数据表面的功率建立数据。可以基于上述函数简单算出生成低输出参考 激光功率的输入电压(例如20mW)，并将算出的输入电压值作为功率建立数 据存储在存储器51内。
由预定值DAC_H相互分开并在此可生成期望高输出参考记录功率(诸如 40mW)的两个输入电压DAC3和DAC4可被顺序施加给R/F IC，并可检测实 际输出激光功率值P3和P4。上述两个输入电压DAC3和DAC4应该是在高输 出参考激光功率附近的值。如果为了讨论的目的，假定高输出参考激光功率为 40mW，则DAC3和DAC4就可以是例如35mW和45mW。两个用于线性方程
y＝cx+d              (式4)
的值c和d可由两点(DAC3，P3)和(DAC4，P4)所确定的值来计算，并 将算出的结果存储在存储器51内作为用于标签表面的功率建立数据。同样地， 可以基于上述函数简单算出生成高输出参考激光功率的输入电压(例如 40mW)，并将算出的输入电压值作为功率建立数据存储在存储器51内。虽然 为讨论便利将40mW的高输出参考记录功率称为标签表面的参考记录功率，但 最大值小于约70mW的输出激光功率的其他值也适于作为参考记录功率。
于是，具有在制造过程中存储的并用于数据表面和标签表面的功率建立数 据的光驱(ODD)可基于上述功率建立数据设置合适的激光输出功率电平，并 可在数据表面执行记录操作和/或在标签表面执行标签印制操作。
在步骤40处将光盘10放入光驱，并且在步骤50处微处理器50确定被放 入的光盘10是否包括数据表面和标签表面(诸如上述的光雕盘片)。如果在 步骤50处被放入的光盘10包括数据表面和标签表面，则在步骤60处微处理 器50确定光盘10放入的表面是否是标签表面。反射表面的位置和来自入射标 签表面激光束的光反射量与数据表面的那些不同，于是就可基于不同的反射表 面位置和反射光轻易确定光盘10的放入表面。
微处理器50随后基于与来自存储在存储器51内多个功率建立数据单元的 相应放入表面相关联的数据，设置具有期望度量的激光功率，并且执行恰当的 记录操作。更具体地，如果在步骤S60处确定光盘10的放入表面是标签表面， 则在步骤S61处微处理器50检测对应于记录激光功率的输入电压(DAC)， 其中所述记录激光功率与来自存储在存储器51内多个功率建立数据单元内的 标签表面相关联。将检测到的输入电压(DAC)施加到包含在APC 20内的OP Amp 22。APC 20生成由FPD32馈回的FPDO信号以及对应于输入电压的激光 功率电压(VWDC)，从而在步骤S62处在光盘10的标签表面上执行诸如标 签印制操作的记录操作。
如果在步骤S70处确定光盘10的放入表面是数据表面，则微处理器50在 步骤S71处检测对应于记录激光功率的输入电压(DAC)，其中所述记录激光 功率与来自存储在存储器51内多个功率建立数据单元内的标签表面相关联。 将检测到的输入电压(DAC)施加到APC 20的OP Amp 22。生成由对应于输 入电压(DAC)的激光功率电压(VWDC)，并于步骤S72在数据表面上执行 记录操作。
能够以不同的方式执行光盘制造期间的激光功率建立操作。
图9是根据本发明一个实施例的输入电压(DAC)和用于三个设备的激光 功率(P)之间的非线性关系图。至少部分由于与光学拾取单元相关联的特征， 并且更具体地是由于光学拾取单元的激光二极管特征，所以三条曲线互相多少 有些类似。假设识别了指示输入电压和输出激光功率关系的线性函数的斜率特 征，那么就可以在仅检测到与每个设备内预定输入电压相关联的输出激光功率 的情况下识别所述线性函数。基于前述分析的结果，就能预先检测并存储与每 个数据表面和标签表面相关联的斜率特征。当执行激光功率建立操作时，就可 为每个数据表面和标签表面检测用于预定输入电压的输出激光功率。
更具体地，在激光功率建立操作期间，用于数据表面参考记录功率的第一 输入电压(DAC5)和用于标签表面参考记录功率的第二输入电压(DAC6)被 顺序施加给R/F IC，并且可使用诸如激光功率计的合适设备来检测相应的实际 输出激光功率值P5和P6。上述用于数据表面和标签表面的线性函数分别为：
y＝ax+b           (式3)
y＝cx+d           (式4)
其中x等于DAC，y等于激光功率，a和c表示预存储的斜率特征，而b 和d则可从输出激光功率值P5和P6中算出，并可使用输入电压DAC5和DAC6 来计算相应的功率建立数据，并在随后将其存储在存储器51中。
能够以不同的方式执行在光驱制造期间导入的激光功率建立操作。
图9中示出的三条曲线表示了输入电压和激光功率之间独立的函数关系， 并且多少相互间有些类似。也就是说，若预定曲线沿着输入电压轴或沿着激光 功率轴移动，则是与其他曲线几乎相同的。因此，如果在相关于输入电压和激 光功率之间函数关系已经预存储用于若干光学拾取单元的平均或均值处仅为 预定的光学拾取单元测量一个点，那么就能方便地计算输入电压和用于确定光 学拾取单元的激光功率之间的函数关系。
在可测量并存储包含在平均曲线内的若干个点或输入电压和激光功率之 间的函数关系。基于这些点计算至少能使低输出参考激光功率附近曲线线性化 的第一线性函数(诸如式3)和至少能使高输出参考激光功率附近曲线线性化 的第二线性函数(诸如式4)，并将这些计算结果存储在存储器中。
当为预定光驱执行激光功率建立操作时，对R/F IC施加预定输入电压 (DAC7)并检测实际输出激光功率(P7)。如图9所示，在平均曲线的情况 下，在施加预定输入电压(DAC7)时生成的输出激光功率指示P7的预定数目。 预定输入电压(DAC7)可以是位于能够生成低输出参考激光功率的第一输入 电压和能够生成高输出参考激光功率的第二输入电压之间的预定值。
参考图9中的曲线S1，对应于预定输入电压(DAC7)的输出激光功率由 点Ps1表示，点(DAC7，Ps1)位于平均曲线S1之上，而为平均曲线上的输出激 光功率Ps1提供的输入电压是DACs1。因此，如果平均曲线向左移动g1的距离 (即DACs1至DAC7)，那么它就大致与曲线S1重合。
参考图9中的曲线S2，对应于预定输入电压(DAC7)的输出激光功率由 点Ps2表示，点(DAC7，Ps2)位于平均曲线S1之下，而为平均曲线上的输出激 光功率Ps2提供的输入电压是DACs2。因此，如果平均曲线向右移动g2的距离 (即DAC7至DACs2)，那么它就大致与曲线S1重合。
假设由式y＝ax+b表示在相关于平均曲线的低输出参考激光功率附近的 第一线性函数，并且由y＝cx+d表示在相关于平均曲线的高输出参考激光功 率附近的第二线性函数。
第一和第二线性函数值和相关曲线S1可分别由第一方程y＝a*(x+g1)+b 和第二方程y＝c*(x+g1)+d计算。结果是，由y＝a*x+b+a*g1表示第一线性函 数的值并由y＝c*x+d+c*g1表示第二线性函数的值。
相关于曲线S2的第一和第二线性函数的值可分别通过方程y＝a*(x-g2)+b 和y＝c*(x-g2)+d计算。结果是，由y＝a*x+b-a*g2表示第一线性函数的值并 由y＝c*x+d-c*g2表示第二线性函数的值。因此，斜率a和c都未改变，仅是 y轴截距值b和d变化。在曲线S1的情况下，y轴截距值由b’＝b+a*g1和d’＝d+ c*g1表示。在曲线S2的情况下，y轴截距值由b”＝b-a*g2和d”＝d-c*g2表 示。
因此，当在光驱制造期间执行激光功率建立操作时，就可方便地测量仅与 一个输入电压相关联的输出激光功率，并可以方便地计算在每个低输出参考激 光功率和高输出参考激光功率附近的线性函数。
图11是当实现根据本发明一个实施例的方法时的实际激光功率与使用传 统方法的激光功率输出相比较并在图10中列表示出的图示。如图10和图11 所示，根据本发明实施例的方法在目标功率和输出功率之间的误差和偏离方面 要优于现有技术，因为本发明产生的激光功率误差小于现有技术。当在例如 60mW的高输出激光功率处在标签表面记录数据时，根据本发明实施例的实际 输出激光功率比现有技术更接近60mW的激光功率。此外，示出的本发明输出 激光功率的偏差要小于现有技术的偏差。
从以上描述中显而易见，根据本发明的一种用于设置光驱激光功率的方法 能够确定标签表面的最佳激光功率而无需在标签表面形成图形并能最小化输 出激光功率的误差，从而导致改善标签印制操作和标签质量。
前述的实施例和优点仅是示例性的并不被解释为要限制本发明。本发明的 原理可以很容易应用于其它类型的装置。本发明的说明旨在解释性的而并非限 制权利要求书的范围。对于本领域的技术人员而言，许多替代、修改以及变化 都将是明显的。在权利要求书中，手段加功能条款旨在覆盖此处所描述的、作 为执行所引述的功能的结构，并且不仅覆盖结构等价方案还覆盖等价结构。