专利汇可以提供对准键合精度检测装置专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本实用新型涉及一种对准键合 精度 检测装置,其特征在于它包括:一 显微镜 ,一螺旋游标测量目镜,一CCD摄像机,一图像显示器,一红外 光源 ,所述螺旋游标测量目镜连接在所述显微镜的垂直目镜的 接口 上,所述CCD摄像机连接在所述螺旋游标测量目镜上,所述图像显示器通过视频 电缆 与所述CCD摄像机连接,所述红外光源设置在所述显微镜的承片台下方。本实用新型利用在 近红外 区 硅 片 具有较好的红外通过能 力 ,CCD摄像机对红外光具有较好的成像 质量 ,以及螺旋游标测量目镜对键合误差具有较精确的测量效果等特点,将其与显微镜结合成一体,为微 电子 机械系统(MEMS)加工技术提供了一种有效的测量手段。它可以广泛用于各种硅MEMS器件加工工艺过程的质量监控中,还可以作为可见光黑白图像的摄像测量显微镜使用。,下面是对准键合精度检测装置专利的具体信息内容。
1、一种对准键合精度检测装置,其特征在于它包括:一显微镜,一螺旋游标 测量目镜,一CCD摄像机,一图像显示器,一红外光源,所述螺旋游标测量目镜 连接在所述显微镜的垂直目镜的接口上,所述CCD摄像机连接在所述螺旋游标测 量目镜上,所述图像显示器通过视频电缆与所述CCD摄像机连接,所述红外光源 设置在所述显微镜的承片台下方。
2、如权利要求1所述的对准键合精度检测装置,其特征在于:所述红外光源 为卤素聚光灯。
3、如权利要求1或2所述的对准键合精度检测装置,其特征在于:所述显微 镜为三目镜显微镜。
4、如权利要求1或2所述的对准键合精度检测装置,其特征在于:所述显微 镜包括5倍、10倍、25倍、40倍、100倍多个物镜。
5、如权利要求3所述的对准键合精度检测装置,其特征在于:所述显微镜包 括5倍、10倍、25倍、40倍、100倍多个物镜。
本实用新型涉及一种检测装置,特别是关于一种微电子机械系统中硅片与硅 片、硅片与玻璃或其它材料的对准键合精度检测装置。
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