首页 / 专利库 / 光学 / 双光子显微术 / 一种基于双光子显微镜的电动平移装置及该装置的二维螺旋扫描方法

一种基于双光子显微镜的电动平移装置及该装置的二维螺旋扫描方法

阅读:610发布:2020-05-16

专利汇可以提供一种基于双光子显微镜的电动平移装置及该装置的二维螺旋扫描方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且一种基于双 光子 显微镜 的电动平移装置及该装置的二维螺旋扫描方法,涉及一种基于双光子显微镜的电动平移台二维扫描技术,属于电动平移台自动化控制领域。它为了解决传统手动控制平移台扫描 位置 精确性差的问题。本 发明 所述的一种基于双光子显微镜的电动平移装置包括电动平移台、 控制器 、RS232 接口 、计算机和手动摇杆及显示装置。扫描轨迹为螺旋形。扫描过程中,计算机计算扫描轨迹各边界点坐标值,并通过控制器控制电动平移台移动,控制器不断将电动平移台的实际位置反馈给计算机,实现计算机对电动平移台实际位置的监测,保证电动平移台能够达到预设位置,确保扫描位置的精确性。本发明适用于基于双光子显微镜的电动平移台二维扫描技术领域。,下面是一种基于双光子显微镜的电动平移装置及该装置的二维螺旋扫描方法专利的具体信息内容。

1.一种基于双光子显微镜的电动平移装置,其特征在于:它包括电动平移台(1)、控制器(2)、RS232接口(3)、计算机(4)和手动摇杆及显示装置(5),所述计算机(4)通过RS232接口(3)与控制器(2)的第一控制信号输入端连接,手动摇杆及显示装置(5)的控制信号输出端与控制器(2)的第二控制信号输入端连接,控制器(2)的显示信号输出端与手动摇杆及显示装置(5)的显示信号输入端连接,所述控制器(2)的控制信号输出端与电动平移台(1)的控制信号输入端连接。
2.基于权利要求1所述的一种基于双光子显微镜的电动平移装置的二维螺旋扫描方法通过以下步骤实现:
步骤一、将双光子显微镜固定在电动平移台(1)上,将待扫描物体放置在双光子显微镜的载物台上,摇动手动摇杆及显示装置(5)的摇杆使双光子显微镜的激光点落在被扫描区域的中心;执行步骤二;
步骤二、进行串口配置、状态配置和螺旋扫描参数设定,所述状态配置包括设定步长B和分辨率RES,螺旋扫描参数设定包括设定扫描半径R和扫描中心坐标值(x,y),j=0;执行步骤三;
步骤三、判断电动平移台(1)的实际位置坐标是否为(-R+x,-R+y);如果判断结果为否,执行步骤四;否则,执行步骤十三;
步骤四、计算机(4)计算右边界点横坐标值XRj;执行步骤五;
步骤五、计算机(4)控制电动平移台(1)向右移动直至电动平移台(1)的实际位置的横坐标值为XRj;执行步骤六;
步骤六、计算机(4)计算前边界点纵坐标值YFj;执行步骤七;
步骤七、计算机(4)控制电动平移台(1)向前移动直至电动平移台(1)的实际位置的纵坐标值为YFj;执行步骤八;
步骤八、计算机(4)计算左边界点纵坐标值XLj;执行步骤九;
步骤九、计算机(4)控制电动平移台(1)向左移动直至电动平移台(1)的实际位置的横坐标值为XLj;执行步骤十;
步骤十、计算机(4)计算后边界点纵坐标值YBj;执行步骤十一;
步骤十一、计算机(4)控制电动平移台(1)向后移动直至电动平移台(1)的实际位置的纵坐标值为YBj;执行步骤十二;
步骤十二、j=j+1;返回步骤三;
步骤十三、计算机(4)控制电动平移台(1)向右移动直至电动平移台(1)的实际位置的横坐标值为-R+x,扫描结束;
步骤四中所述的右边界点横坐标值XRj是通过公式:
XRj=XLj+(2j+1)×B×RES
计算获得;
步骤六中所述的前边界点横坐标值YFj是通过公式:
YFj=YBj+(2j+1)×B×RES
计算获得;
步骤八中所述的左边界点横坐标值XLj是通过公式:
XLj=XRj-(2j+2)×B×RES;
计算获得;
步骤十中所述的后边界点横坐标值YBj是通过公式:
YRj=YFj-(2j+2)×B×RES;
计算获得;
XL0=x,YB0=y。
3.根据权利要求2所述的一种基于双光子显微镜的电动平移装置的二维螺旋扫描方法,其特征在于:所述步骤五所述的计算机(4)控制电动平移台(1)向右移动直至电动平移台(1)的实际位置的横坐标值为XRj通过以下步骤实现:
步骤A1、i=0;执行步骤A2;
步骤A2、计算机(4)通过控制器(2)向电动平移台(1)发送右移控制信号;执行步骤A3;
步骤A3、电动平移台(1)向右移动至横坐标值为Xr=XLj+(i+1)×B×RES的位置;执行步骤A4;
步骤A4、判断Xr是否等于XRj,如果判断结果为是,则移动结束;否则,执行步骤A5;
步骤A5、i=i+1;返回步骤A2。
4.根据权利要求2所述的一种基于双光子显微镜的电动平移装置的二维螺旋扫描方法,其特征在于:所述步骤七所述的计算机(4)控制电动平移台(1)向前移动直至电动平移台(1)的实际位置的纵坐标值为YFj通过以下步骤实现:
步骤B1、i=0;执行步骤B2;
步骤B2、计算机(4)通过控制器(2)向电动平移台(1)发送前移控制信号;执行步骤B3;
步骤B3、电动平移台(1)向前移动至横坐标值为Yj=YBj+(i+1)×B×RES的位置;执行步骤B4;
步骤B4、判断Yj是否等于YFj,如果判断结果为是,则移动结束;否则,执行步骤B5;
步骤B5、i=i+1;返回步骤B2。
5.根据权利要求2所述的一种基于双光子显微镜的电动平移装置的二维螺旋扫描方法,其特征在于:所述步骤九所述的计算机(4)控制电动平移台(1)向左移动直至电动平移台(1)的实际位置的横坐标值为XLj通过以下步骤实现:
步骤C1、i=0;执行步骤C2;
步骤C2、计算机(4)通过控制器(2)向电动平移台(1)发送左移控制信号;执行步骤C3;
步骤C3、电动平移台(1)向左移动至横坐标值为Xl=XRj-(i+1)×B×RES的位置;执行步骤C4;
步骤C4、判断Xi是否等于XLj,如果判断结果为是,则移动结束;否则,执行步骤C5;
步骤C5、i=i+1;返回步骤C2。
6.根据权利要求2所述的一种基于双光子显微镜的电动平移装置的二维螺旋扫描方法,其特征在于:所述步骤十一所述的计算机(4)控制电动平移台(1)向后移动直至电动平移台(1)的实际位置的纵坐标值为YBj通过以下步骤实现:
步骤D1、i=0;执行步骤D2;
步骤D2、计算机(4)通过控制器(2)向电动平移台(1)发送后移控制信号;执行步骤D3;
步骤D3、电动平移台(1)向后移动至横坐标值为Yb=YFj-(i+1)×B×RES的位置;执行步骤D3;
步骤D4、判断Yb是否等于YBj,如果判断结果为是,则移动结束;否则,执行步骤D4;
步骤D5、i=i+1;返回步骤D2。
7.根据权利要求2所述的一种基于双光子显微镜的电动平移装置的二维螺旋扫描方法,其特征在于:所述步骤十三所述的计算机(4)控制电动平移台(1)向右移动直至电动平移台(1)的实际位置的横坐标值为-R+x通过以下步骤实现:
步骤E1、i=0;执行步骤E2;
步骤E2、计算机(4)通过控制器(2)向电动平移台(1)发送右移控制信号;执行步骤E3;
步骤E3、电动平移台(1)向右移动至横坐标值为X′=-R+(i+1)×B×RES的位置;执行步骤E4;
步骤E4、判断X′是否等于-R+x,如果判断结果为是,则移动结束;否则,执行步骤E5;
步骤E5、i=i+1;返回步骤E2。

说明书全文

一种基于双光子显微镜的电动平移装置及该装置的二维螺

旋扫描方法

技术领域

[0001] 本发明涉及一种基于双光子显微镜的电动平移台二维扫描技术,属于电动平移台自动化控制领域。

背景技术

[0002] 随着生物、医学、微电子半导体制造等微观领域的科学研究不断地深入,对显微成像技术的要求也越来越高,不仅需要对物体表面形貌和光学特性进行分析,而且更需要对它内部的多层面进行三维观察与处理。双光子显微镜应运而生,它是结合了共聚焦激光扫描显微镜和双光子激发技术的一种新技术,它成为研究这些微观领域和三维高密度存储及其微细加工的重要工具。例如在应加载细胞培养中,需要长时间定期观察细胞形态的变化,并进行细胞自动识别、计数工作,观察区域较大,为了研究不同应力分布下细胞生长情况,还需要较精确的定位,以便了解细胞生长与应力分布的关系。传统的手动控制显微镜平移台对操作者来讲难以达到X-Y平面的高精度扫描观察,但是如果在观察显微标本的其中一小部分局部区域之前能够先通过人眼经验确定大概位置,再通过显微镜电动平移台1的自动机械扫描来观察,将期望提高扫描位置的精确性。

发明内容

[0003] 本发明的目的是为了解决传统手动控制平移台扫描位置精确性差的问题,提供一种基于双光子显微镜的电动平移装置及该装置的二维螺旋扫描方法
[0004] 本发明所述的一种基于双光子显微镜的电动平移装置包括电动平移台1、控制器2、RS232接口3、计算机4和手动摇杆及显示装置5,所述计算机4通过RS232接口3与控制器2的第一控制信号输入端连接,手动摇杆及显示装置5的控制信号输出端与控制器2的第二控制信号输入端连接,控制器2的显示信号输出端与手动摇杆及显示装置5的显示信号输入端连接,所述控制器2的控制信号输出端与电动平移台1的控制信号输入端连接。
[0005] 本发明所述的一种基于双光子显微镜的电动平移装置的二维螺旋扫描方法通过以下步骤实现:
[0006] 步骤一、将双光子显微镜固定在电动平移台1上,将待扫描物体放置在双光子显微镜的载物台上,摇动手动摇杆及显示装置5的摇杆使双光子显微镜的激光点落在被扫描区域的中心;执行步骤二;
[0007] 步骤二、进行串口配置、状态配置和螺旋扫描参数设定,所述状态配置包括设定步长B和分辨率RES,螺旋扫描参数设定包括设定扫描半径R和扫描中心坐标值(x,y),j=0;执行步骤三;
[0008] 步骤三、判断电动平移台1的实际位置坐标是否为(-R+x,-R+y);如果判断结果为否,执行步骤四;否则,执行步骤十三;
[0009] 步骤四、计算机4计算右边界点横坐标值XRj;执行步骤五;
[0010] 步骤五、计算机4控制电动平移台1向右移动直至电动平移台1的实际位置的横坐标值为XRj;执行步骤六;
[0011] 步骤六、计算机4计算前边界点纵坐标值YFj;执行步骤七;
[0012] 步骤七、计算机4控制电动平移台1向前移动直至电动平移台1的实际位置的纵坐标值为YFj;执行步骤八;
[0013] 步骤八、计算机4计算左边界点纵坐标值XLj;执行步骤九;
[0014] 步骤九、计算机4控制电动平移台1向左移动直至电动平移台1的实际位置的横坐标值为XLj;执行步骤十;
[0015] 步骤十、计算机4计算后边界点纵坐标值YBj;执行步骤十一;
[0016] 步骤十一、计算机4控制电动平移台1向后移动直至电动平移台1的实际位置的纵坐标值为YBj;执行步骤十二;
[0017] 步骤十二、j=j+1;返回步骤三;
[0018] 步骤十三、计算机4控制电动平移台1向右移动直至电动平移台1的实际位置的横坐标值为-R+x,扫描结束;
[0019] 步骤四中所述的右边界点横坐标值XRj是通过公式:
[0020] XRj=XLj+(2j+1)×B×RES
[0021] 计算获得;
[0022] 步骤六中所述的前边界点横坐标值YFj是通过公式:
[0023] YFj=YBj+(2j+1)×B×RES
[0024] 计算获得;
[0025] 步骤八中所述的左边界点横坐标值XLj是通过公式:
[0026] XLj=XRj-(2j+2)×B×RES;
[0027] 计算获得;
[0028] 步骤十中所述的后边界点横坐标值YBj是通过公式:
[0029] YRj=YFj-(2j+2)×B×RES;
[0030] 计算获得;
[0031] XL0=x,YB0=y。
[0032] 本发明所述的一种基于双光子显微镜的电动平移装置的二维螺旋扫描方法的步骤五所述的计算机4控制电动平移台1向右移动直至电动平移台1的实际位置的横坐标值为XRj通过以下步骤实现:
[0033] 步骤A1、i=0;执行步骤A2;
[0034] 步骤A2、计算机4通过控制器2向电动平移台1发送右移控制信号;执行步骤A3;
[0035] 步骤A3、电动平移台1向右移动至横坐标值为Xr=XLj+(i+1)×B×RES的位置;执行步骤A4;
[0036] 步骤A4、判断Xr是否等于XRj,如果判断结果为是,则移动结束;否则,执行步骤A5;
[0037] 步骤A5、i=i+1;返回步骤A2。
[0038] 本发明所述的一种基于双光子显微镜的电动平移装置的二维螺旋扫描方法的步骤七所述的计算机4控制电动平移台1向前移动直至电动平移台1的实际位置的纵坐标值为YFj通过以下步骤实现:
[0039] 步骤B1、i=0;执行步骤B2;
[0040] 步骤B2、计算机4通过控制器2向电动平移台1发送前移控制信号;执行步骤B3;
[0041] 步骤B3、电动平移台1向前移动至横坐标值为Yf=YBj+(i+1)×B×RES的位置;执行步骤B4;
[0042] 步骤B4、判断Yf是否等于YFj,如果判断结果为是,则移动结束;否则,执行步骤B5;
[0043] 步骤B5、i=i+1;返回步骤B2。
[0044] 本发明所述的一种基于双光子显微镜的电动平移装置的二维螺旋扫描方法的步骤九所述的计算机4控制电动平移台1向左移动直至电动平移台1的实际位置的横坐标值为XLj通过以下步骤实现:
[0045] 步骤C1、i=0;执行步骤C2;
[0046] 步骤C2、计算机4通过控制器2向电动平移台1发送左移控制信号;执行步骤C3;
[0047] 步骤C3、电动平移台1向左移动至横坐标值为Xl=XRj-(i+1)×B×RES的位置;执行步骤C4;
[0048] 步骤C4、判断Xl是否等于XLj,如果判断结果为是,则移动结束;否则,执行步骤C5;
[0049] 步骤C5、i=i+1;返回步骤C2。
[0050] 本发明所述的一种基于双光子显微镜的电动平移装置的二维螺旋扫描方法的步骤十一所述的计算机4控制电动平移台1向后移动直至电动平移台1的实际位置的纵坐标值为YBj通过以下步骤实现:
[0051] 步骤D1、i=0;执行步骤D2;
[0052] 步骤D2、计算机4通过控制器2向电动平移台1发送后移控制信号;执行步骤D3;
[0053] 步骤D3、电动平移台1向后移动至横坐标值为Yb=YFj-(i+1)×B×RES的位置;执行步骤D3;
[0054] 步骤D4、判断Yb是否等于YBj,如果判断结果为是,则移动结束;否则,执行步骤D4;
[0055] 步骤D5、i=i+1;返回步骤D2。
[0056] 本发明所述的一种基于双光子显微镜的电动平移装置的二维螺旋扫描方法通过计算机4控制电动平移台1沿螺旋轨迹扫描,电动平移移动每一步的位置均由计算机4精确控制,与传统手工操作相比,提高了描位置的精确性,同时也提高了工作效率。附图说明
[0057] 图1是本发明所述的一种基于双光子显微镜的电动平移装置的结构示意图;
[0058] 图2是本发明所述的一种基于双光子显微镜的电动平移装置的二维螺旋扫描方法流程图
[0059] 图3是电动平移台1向右移动直至横坐标值为XRj的流程图;
[0060] 图4是电动平移台1向前移动直至纵坐标值为YFj的流程图;
[0061] 图5是电动平移台1向左移动直至横坐标值为XLj的流程图;
[0062] 图6是电动平移台1向后移动直至纵坐标值为YBj的流程图。

具体实施方式

[0063] 具体实施方式一:结合图1说明本实施方式,本实施方式所述的一种基于双光子显微镜的电动平移装置包括电动平移台1、控制器2、RS232接口3、计算机4和手动摇杆及显示装置5,所述计算机4通过RS232接口3与控制器2的第一控制信号输入端连接,手动摇杆及显示装置5的控制信号输出端与控制器2的第二控制信号输入端连接,控制器2的显示信号输出端与手动摇杆及显示装置5的显示信号输入端连接,所述控制器2的控制信号输出端与电动平移台1的控制信号输入端连接。
[0064] 具体实施方式二:结合图2说明本实施方式,本实施方式所述的一种基于双光子显微镜的电动平移装置的二维螺旋扫描方法通过以下步骤实现:
[0065] 步骤一、将双光子显微镜固定在电动平移台1上,将待扫描物体放置在双光子显微镜的载物台上,摇动手动摇杆及显示装置5的摇杆使双光子显微镜的激光点落在被扫描区域的中心;执行步骤二;
[0066] 步骤二、进行串口配置、状态配置和螺旋扫描参数设定,所述状态配置包括设定步长B和分辨率RES,螺旋扫描参数设定包括设定扫描半径R和扫描中心坐标值(x,y),j=0;执行步骤三;
[0067] 步骤三、判断电动平移台1的实际位置坐标是否为(-R+x,-R+y);如果判断结果为否,执行步骤四;否则,执行步骤十三;
[0068] 步骤四、计算机4计算右边界点横坐标值XRj;执行步骤五;
[0069] 步骤五、计算机4控制电动平移台1向右移动直至电动平移台1的实际位置的横坐标值为XRj;执行步骤六;
[0070] 步骤六、计算机4计算前边界点纵坐标值YFj;执行步骤七;
[0071] 步骤七、计算机4控制电动平移台1向前移动直至电动平移台1的实际位置的纵坐标值为YFj;执行步骤八;
[0072] 步骤八、计算机4计算左边界点纵坐标值XLj;执行步骤九;
[0073] 步骤九、计算机4控制电动平移台1向左移动直至电动平移台1的实际位置的横坐标值为XLj;执行步骤十;
[0074] 步骤十、计算机4计算后边界点纵坐标值YBj;执行步骤十一;
[0075] 步骤十一、计算机4控制电动平移台1向后移动直至电动平移台1的实际位置的纵坐标值为YBj;执行步骤十二;
[0076] 步骤十二、j=j+1;返回步骤三;
[0077] 步骤十三、计算机4控制电动平移台1向右移动直至电动平移台1的实际位置的横坐标值为-R+x,扫描结束;
[0078] 步骤四中所述的右边界点横坐标值XRj是通过公式:
[0079] XRj=XLj+(2j+1)×B×RES
[0080] 计算获得;
[0081] 步骤六中所述的前边界点横坐标值YFj是通过公式:
[0082] YFj=YBj+(2j+1)×B×RES
[0083] 计算获得;
[0084] 步骤八中所述的左边界点横坐标值XLj是通过公式:
[0085] XLj=XRj-(2j+2)×B×RES;
[0086] 计算获得;
[0087] 步骤十中所述的后边界点横坐标值YBj是通过公式:
[0088] YRj=YFj-(2j+2)×B×RES;
[0089] 计算获得;
[0090] XL0=x,YB0=y。
[0091] 本实施方式所述的一种基于双光子显微镜的电动平移装置的二维螺旋扫描方法通过计算机4软件控制。扫描前,摇动手动摇杆及显示装置5的摇杆使双光子显微镜的激光点落在被扫描区域的中心,即确定扫描区域,然后在软件操作界面进行串口配置、状态配置和螺旋扫描参数设置。串口配置包括COM口,波特率、数据位、停止位以及奇偶校验,状态配置包括设置分辨率、设置加速度、设置速度值和设置步长值,螺旋扫描参数设置包括设置扫描中心和扫描半径,扫描中心坐标值通过读取手动摇杆及显示装置5的显示屏上所显示的坐标值获得,计算机4按照用户输入的参数来控制电动平移台1移动,以此实现双光子显微镜双被扫描物体的扫描。扫描轨迹为从扫描中心开始,先向右逐步扫描,其次向前逐步扫描,再向左逐步扫描,最后向后逐步扫描,即沿着正方形路径进行X方向与Y方向的扫描,每增加一次循环次数,扫描区域的面积也在逐步增大,直到到达坐标值为(-R+x,-R+y)的点,循环结束,计算机4控制电动平移台1移出扫描区域。扫描过程中,计算机4计算扫描轨迹的各边界点坐标值,并通过控制器2控制电动平移台1移动。
[0092] 具体实施方式三:结合图3说明本实施方式,本实施方式与实施方式二所述的一种基于双光子显微镜的电动平移装置的二维螺旋扫描方法的区别在于,所述步骤五所述的计算机4控制电动平移台1向右移动直至电动平移台1的实际位置的横坐标值为XRj通过以下步骤实现:
[0093] 步骤A1、i=0;执行步骤A2;
[0094] 步骤A2、计算机4通过控制器2向电动平移台1发送右移控制信号;执行步骤A3;
[0095] 步骤A3、电动平移台1向右移动至横坐标值为Xr=XLj+(i+1)×B×RES的位置;执行步骤A4;
[0096] 步骤A4、判断Xr是否等于XRj,如果判断结果为是,则移动结束;否则,执行步骤A5;
[0097] 步骤A5、i=i+1;返回步骤A2。
[0098] 具体实施方式四:结合图4说明本实施方式,本实施方式与实施方式二所述的一种基于双光子显微镜的电动平移装置的二维螺旋扫描方法的区别在于,所述步骤七所述的计算机4控制电动平移台1向前移动直至电动平移台1的实际位置的纵坐标值为YFj通过以下步骤实现:
[0099] 步骤B1、i=0;执行步骤B2;
[0100] 步骤B2、计算机4通过控制器2向电动平移台1发送前移控制信号;执行步骤B3;
[0101] 步骤B3、电动平移台1向前移动至横坐标值为Yf=YBj+(i+1)×B×RES的位置;执行步骤B4;
[0102] 步骤B4、判断Yf是否等于YFj,如果判断结果为是,则移动结束;否则,执行步骤B5;
[0103] 步骤B5、i=i+1;返回步骤B2。
[0104] 具体实施方式五:结合图5说明本实施方式,本实施方式与实施方式二所述的一种基于双光子显微镜的电动平移装置的二维螺旋扫描方法的区别在于,所述步骤九所述的计算机4控制电动平移台1向左移动直至电动平移台1的实际位置的横坐标值为XLj通过以下步骤实现:
[0105] 步骤C1、i=0;执行步骤C2;
[0106] 步骤C2、计算机4通过控制器2向电动平移台1发送左移控制信号;执行步骤C3;
[0107] 步骤C3、电动平移台1向左移动至横坐标值为Xl=XRj-(i+1)×B×RES的位置;执行步骤C4;
[0108] 步骤C4、判断Xl是否等于XLj,如果判断结果为是,则移动结束;否则,执行步骤C5;
[0109] 步骤C5、i=i+1;返回步骤C2。
[0110] 具体实施方式六:结合图6说明本实施方式,本实施方式与实施方式二所述的一种基于双光子显微镜的电动平移装置的二维螺旋扫描方法的区别在于,所述步骤十一所述的计算机4控制电动平移台1向后移动直至电动平移台1的实际位置的纵坐标值为YBj通过以下步骤实现:
[0111] 步骤D1、i=0;执行步骤D2;
[0112] 步骤D2、计算机4通过控制器2向电动平移台1发送后移控制信号;执行步骤D3;
[0113] 步骤D3、电动平移台1向后移动至横坐标值为Yb=YFj-(i+1)×B×RES的位置;执行步骤D3;
[0114] 步骤D4、判断Yb是否等于YBj,如果判断结果为是,则移动结束;否则,执行步骤D4;
[0115] 步骤D5、i=i+1;返回步骤D2。
[0116] 实施方式一至实施方式六所述的基于双光子显微镜的电动平移装置的二维螺旋扫描方法在扫描过程中,控制器2不断地将电动平移台1的实际位置坐标值反馈给计算机4,以此实现计算机4对电动平移台1实际位置的监测,保证电动平移台1能够达到预设位置,实现双光子显微镜在二维平面扫描中的自动精确定位,提高了扫描位置的精确性,同时提高了扫描效率。扫描精度能够达到1nm。
[0117] 具体实施方式七:本实施方式与实施方式二所述的一种基于双光子显微镜的电动平移装置的二维螺旋扫描方法的区别在于,所述步骤十三所述的计算机4控制电动平移台1向右移动直至电动平移台1的实际位置的横坐标值为-R+x通过以下步骤实现:
[0118] 步骤E1、i=0;执行步骤E2;
[0119] 步骤E2、计算机4通过控制器2向电动平移台1发送右移控制信号;执行步骤E3;
[0120] 步骤E3、电动平移台1向右移动至横坐标值为X′=-R+(i+1)×B×RES的位置;执行步骤E4;
[0121] 步骤E4、判断X′是否等于-R+x,如果判断结果为是,则移动结束;否则,执行步骤E5;
[0122] 步骤E5、i=i+1;返回步骤E2。
高效检索全球专利

专利汇是专利免费检索,专利查询,专利分析-国家发明专利查询检索分析平台,是提供专利分析,专利查询,专利检索等数据服务功能的知识产权数据服务商。

我们的产品包含105个国家的1.26亿组数据,免费查、免费专利分析。

申请试用

分析报告

专利汇分析报告产品可以对行业情报数据进行梳理分析,涉及维度包括行业专利基本状况分析、地域分析、技术分析、发明人分析、申请人分析、专利权人分析、失效分析、核心专利分析、法律分析、研发重点分析、企业专利处境分析、技术处境分析、专利寿命分析、企业定位分析、引证分析等超过60个分析角度,系统通过AI智能系统对图表进行解读,只需1分钟,一键生成行业专利分析报告。

申请试用

QQ群二维码
意见反馈