用于磁感应断层成像的方法和系统
专利汇可以提供用于磁感应断层成像的方法和系统专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 涉及用于磁感应 断层 成像的方法和系统，该系统包含：至少一个发射线圈（312、314），其用于生成将应用到关注对象（301）的主 磁场 ；以及至少一个测量线圈装置（315、317），其用于测量由次磁场感应形成的电 信号 ，该次磁场是由关注对象响应于主磁场而生成的，其中所述至少一个测量线圈装置包含置于基本上同一平面内的多个测量线圈。通过使用置于一个平面内的多个独立测量线圈从而替代传统单个测量线圈，可以选择两端的测量的差分 电压 对次磁场变化最敏感的那个测量线圈以用于计算电导率分布变化，使得MIT系统的灵敏度提高。，下面是用于磁感应断层成像的方法和系统专利的具体信息内容。
1. 一种用于重构关注对象（301）的图像的系统（300），所述系统包含：
- 至少一个发射线圈（312、314），其配置成生成将应用到该关注对象的主磁场；以及- 至少一个测量线圈装置（315、317），其配置成测量由次磁场感应形成的电信号，该次磁场是由该关注对象响应于该主磁场而生成的；
其中所述至少一个测量线圈装置（315、317）包含置于基本上同一平面内的多个测量线圈（201、202、203、204）。
2. 如权利要求1所述的系统，还包含用于基于由该次磁场感应形成的测量的电信号重构所述关注对象的图像的处理器（320），该处理器具有配置成控制所述多个测量线圈中的每一个以测量其上的第一和第二电信号的控制单元（322）。
3. 如权利要求2所述的系统，其中该第一和第二电信号为感应电压，且该处理器还包含第一选择单元（324），其配置成从所述多个测量线圈选择一个测量线圈，所选择的测量线圈具有所述线圈两端的该第一电压和第二电压之间的差分电压与该第一电压之间的比率的最大绝对值。
4. 如权利要求2所述的系统，其中该第一和第二电信号为感应电压，且该处理器还包含第二选择单元（325），其配置成从所述多个测量线圈选择一个测量线圈，所选择的测量线圈具有所述线圈两端的该第一电压和第二电压之间的差分电压的最大绝对值。
5. 如权利要求3或4所述的系统，其中该处理器还包含第一计算器（326），其配置成基于对应于所选择的测量线圈的差分电压计算该关注对象的电导率分布变化。
6. 如权利要求2所述的系统，其中该处理器还包含第二计算器（328），其配置成基于从所述多个第一和第二电压导出的多个加权差分电压计算该关注对象的电导率分布变化。
7. 如权利要求1所述的系统，其中所述多个测量线圈中的每一个为扇形的，且所述多个测量线圈形成圆形平面。
8. 如权利要求1所述的系统，其中所述多个测量线圈中的每一个为方形，且所述多个测量线圈形成方形平面。
9. 如权利要求7或8所述的系统，其中所述多个测量线圈中的每一个围成基本上相同的面积。
10. 一种磁感应断层成像扫描器，包含如权利要求1至9中任意一项所述的系统。
11. 一种重构关注对象的图像的方法，所述方法包含下述步骤：
（a）通过至少一个发射线圈生成（410）将应用到该关注对象的主磁场；以及（b）通过至少一个测量线圈装置测量（420）由次磁场感应形成的电信号，所述至少一个测量线圈装置包含置于基本上同一平面内的多个测量线圈，该次磁场是由该关注对象响应于该主磁场而生成的。
12. 如权利要求11所述的方法，其中步骤（b）包含步骤（430）：控制所述多个测量线圈中的每一个从而在该关注对象的电导率分布变化之前和之后测量第一和第二电信号。
13. 如权利要求12所述的方法，其中该第一和第二电信号为感应电压，该方法还包含步骤（440）：从所述多个测量线圈选择一个测量线圈，所选择的测量线圈具有该第一电压和第二电压之间的差分电压与该第一电压的比率的最大绝对值。
14. 如权利要求12所述的方法，其中该第一和第二电信号为感应电压，该方法还包含步骤（440'）：从所述多个测量线圈选择一个测量线圈，所选择的测量线圈具有该第一电压和第二电压之间的差分电压的最大绝对值。
15. 如权利要求13或14所述的方法，还包含步骤（450）：基于对应于所选择的测量线圈的差分电压，计算该关注对象的电导率分布变化。
16. 如权利要求12所述的方法，还包含步骤（450'）：基于从所述多个第一和第二电压导出的多个加权差分电压，计算该关注对象的电导率分布变化。
用于磁感应断层成像的方法和系统
技术领域
背景技术
发明内容
- 至少一个测量线圈装置，其配置成测量由次磁场感应形成的电信号，该次磁场是由关注对象响应于主磁场而生成的；
其中所述至少一个测量线圈装置包含置于基本上同一平面内的多个测量线圈。
（b）通过至少一个测量线圈装置测量由次磁场感应形成的电信号，所述至少一个测量线圈装置包含置于基本上同一平面内的多个测量线圈，该次磁场是由关注对象响应于主磁场而生成的。
图2为依照本发明的测量线圈装置的实施例的示意图；
图3为依照本发明的系统的实施例的示意图；
图4为依照本发明的方法的示意性流程图。
具体实施方式
其中σ、μ和ε分别为电导率、电容率和磁导率，以及 和 分别为自由空间的磁导率和电容率并且 。空间中任意点处的电场无法直接测量，反而是测量电压V，该电压为电场沿着该线圈的积分。
线圈的四个段其中之一上的电压差将对关注对象的电导率分布变化最为敏感。
其中 表示对应于电导率分布变化的电压变化。
其中 为加权矩阵， 为正则参数且 为正则矩阵， 为复雅可比矩阵的虚部，为 和 之间的差分电压且对应于电导率分布变化。
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