专利汇可以提供一种浊度分析光路装置专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种 浊度 分析光路装置,包括入射光路、前检测光路、后检测光路和光学窗片,所述光学窗片的外侧设置有入射光路、前检测光路和后检测光路;所述光学窗片包括分光片、第一表面和第二表面,所述分光片的两端分别设置有第一表面和第二表面;所述入射光路包括LED 光源 和聚焦透镜,所述LED光源的底部一侧设置有聚焦透镜;所述前检测光路包括前检测器、前滤光片和前检测窗片,所述前检测器的底部一侧安装有前滤光片,且前滤光片侧底部一侧设置有前检测窗片;所述后检测光路包括后检测器和后滤光片,该浊度分析光路装置,通过使用较少的光学器件,简单的结构,合理的 空间布局 ,极大的提高了分析装置的灵敏度和检出限。,下面是一种浊度分析光路装置专利的具体信息内容。
1.一种浊度分析光路装置,其特征在于,包括入射光路(10)、前检测光路(20)、后检测光路(30)和光学窗片(40),所述光学窗片(40)的外侧设置有入射光路(10)、前检测光路(20)和后检测光路(30)。
2.根据权利要求1所述的一种浊度分析光路装置,其特征在于,所述光学窗片(40)包括分光片(401)、第一表面(402)和第二表面(403),所述分光片(401)的两端分别设置有第一表面(402)和第二表面(403)。
3.根据权利要求1所述的一种浊度分析光路装置,其特征在于,所述入射光路(10)包括LED光源(101)和聚焦透镜(102),所述LED光源(101)的底部一侧设置有聚焦透镜(102)。
4.根据权利要求1所述的一种浊度分析光路装置,其特征在于,所述前检测光路(20)包括前检测器(201)、前滤光片(202)和前检测窗片(203),所述前检测器(201)的底部一侧安装有前滤光片(202),且前滤光片(202)侧底部一侧设置有前检测窗片(203)。
5.根据权利要求1所述的一种浊度分析光路装置,其特征在于,所述后检测光路(30)包括后检测器(301)和后滤光片(302),所述后检测器(301)的底部一侧设置有后滤光片(302)。
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