首页 / 专利库 / 焊接,钎焊和锡焊 / 激光焊接 / 激光透射焊接 / 一种基于太赫兹技术的安检系统

一种基于太赫兹技术的安检系统

阅读:1020发布:2020-08-29

专利汇可以提供一种基于太赫兹技术的安检系统专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本实用新型公开了一种基于太赫兹技术的安检系统,包括扫描装置和本体,所述本体与扫描装置之间通过太赫兹倍频链路连接,所述扫描装置的一侧中部内嵌有成像面,所述本体内的中部 焊接 有 中央处理器 ,所述本体的左侧中部卡接有激光发射器,所述本体的左侧通过螺钉固定连接有太赫兹发射器,所述本体通过中央处理器与 信号 采集与控制系统连接,所述信号采集与控制系统包括太赫兹收发信道子系统和射频子系统,该种基于太赫兹技术的安检系统通过设置有信号采集与控制子系统、射频子系统、太赫兹收发信道子系统、光路与扫描子系统;可以获得待测对象的三维成像,而且这种成像方法有效避免了回波信号强度对成像 角 度敏感的问题。,下面是一种基于太赫兹技术的安检系统专利的具体信息内容。

1.一种基于太赫兹技术的安检系统,包括扫描装置(2)和本体(8),其特征在于:所述本体(8)与扫描装置(2)之间通过太赫兹倍频链路连接,所述扫描装置(2)的一侧中部内嵌有成像面(1),所述本体(8)内的中部焊接中央处理器(9),所述本体(8)的左侧中部卡接有激光发射器(7),所述本体(8)的左侧通过螺钉固定连接有太赫兹发射器(6),所述太赫兹发射器(6)的中部内嵌有激光调整器(5),所述本体(8)通过中央处理器(9)与信号采集与控制系统(12)连接,所述信号采集与控制系统(12)包括太赫兹收发信道子系统(10)和射频子系统(13),所述太赫兹收发信道子系统(10)通过太赫兹倍频链路双向连接有光路与扫描子系统(11),所述光路与扫描子系统(11)包括机械扫描模(15)和准光扫描模块(16),所述射频子系统(13)包括激光发射模块(17)和激光调整模块(14)。
2.根据权利要求1所述的一种基于太赫兹技术的安检系统,其特征在于:所述太赫兹发射器(6)的左端套接有透射镜(3),所述透射镜(3)与激光发射器(7)在同一平方向。
3.根据权利要求1所述的一种基于太赫兹技术的安检系统,其特征在于:所述机械扫描模块(15)和准光扫描模块(16)位于扫描装置(2)的内部。
4.根据权利要求1所述的一种基于太赫兹技术的安检系统,其特征在于:所述激光发射模块(17)和激光调整模块(14)位于太赫兹发射器(6)的内部,所述激光发射模块(17)与激光发射器(7)电性连接,所述激光调整模块(14)与激光调整器(5)电性连接。
5.根据权利要求1所述的一种基于太赫兹技术的安检系统,其特征在于:所述太赫兹发射器(6)的上方左侧铆接有红外距离传感器(4)。
6.根据权利要求1所述的一种基于太赫兹技术的安检系统,其特征在于:所述成像面(1)与扫描装置(2)粘接,且之间设置有0.1mm的缝隙。
7.根据权利要求1所述的一种基于太赫兹技术的安检系统,其特征在于:所述激光调整器(5)、激光发射器(7)和红外距离传感器(4)均与中央处理器(9)电性连接。

说明书全文

一种基于太赫兹技术的安检系统

技术领域

[0001] 本实用新型涉及太赫兹技术领域,具体为一种基于太赫兹技术的安检系统。

背景技术

[0002] 太赫兹辐射是0.1~10THz的电磁辐射,从频率上看,在无线电波和光波,毫米波和红外线之间;从能量上看,在电子光子之间,在电磁频谱上,太赫兹波段两侧的红外和微波技术已经非常成熟,但是太赫兹技术基本上还是一个空白,其原因是在此频段上,既不完全适合用光学理论来处理,也不完全适合微波的理论来研究。为此市面上出现了一些基于太赫兹技术的案件系统,但是由于系统结构简单,功能单一,导致太赫兹在空气中传播时很容易被分所吸收,信号衰减严重,还存在着传输距离较短的“短板”。实用新型内容
[0003] 本实用新型的目的在于提供一种基于太赫兹技术的安检系统,以解决上述背景技术中提出的问题。
[0004] 为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种基于太赫兹技术的安检系统,包括扫描装置和本体,所述本体与扫描装置之间通过太赫兹倍频链路连接,所述扫描装置的一侧中部内嵌有成像面,所述本体内的中部焊接中央处理器,所述本体的左侧中部卡接有激光发射器,所述本体的左侧通过螺钉固定连接有太赫兹发射器,所述太赫兹发射器的中部内嵌有激光调整器,所述本体通过中央处理器与信号采集与控制系统连接,所述信号采集与控制系统包括太赫兹收发信道子系统和射频子系统,所述太赫兹收发信道子系统通过太赫兹倍频链路双向连接有光路与扫描子系统,所述光路与扫描子系统包括机械扫描模和准光扫描模块,所述射频子系统包括激光发射模块和激光调整模块。
[0005] 优选的,所述太赫兹发射器的左端套接有透射镜,所述透射镜与激光发射器在同一水平方向。
[0006] 优选的,所述机械扫描模块和准光扫描模块位于扫描装置的内部。
[0007] 优选的,所述激光发射模块和激光调整模块位于太赫兹发射器的内部,所述激光发射模块与激光发射器电性连接,所述激光调整模块与激光调整器电性连接。
[0008] 优选的,所述太赫兹发射器的上方左侧铆接有红外距离传感器
[0009] 优选的,所述成像面与扫描装置粘接,且之间设置有0.1mm的缝隙。
[0010] 优选的,所述激光调整器、激光发射器和红外距离传感器均与中央处理器电性连接。
[0011] 与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:此种基于太赫兹技术的安检系统是基于太赫兹雷达主动探测技术,太赫兹雷达收发链路作为系统的核心采用单发单收的太赫兹倍频链路实现,通过机械扫描模块和准光扫描模块,配合红外距离传感器的作用,可以实现高精度的三维成像,这种成像方法有效避免了回波信号强度对成像度敏感的问题,通过在太赫兹发射器中设置有激光调整器,可以有效调整激光的频率,因此来减小光波在传播过程中信号减弱的问题,而且该种安检系统,检测速度快,稳定性高,太赫兹波的利用率高,具有较高的使用价值。附图说明
[0012] 图1为本实用新型整体结构示意图;
[0013] 图2为本实用新型的系统图。
[0014] 图中:1-成像面;2-扫描装置;3-透射镜;4-红外距离传感器;5-激光调整器;6-太赫兹发射器;7-激光发射器;8-本体;9-中央处理器;10-太赫兹收发信道子系统;11-光路与扫描子系统;12-信号采集与控制系统;13-射频子系统;14-激光调整模块;15-机械扫描模块;16-准光扫描模块;17-激光发射模块。

具体实施方式

[0015] 下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
[0016] 请参阅图1-2,本实用新型提供一种技术方案:一种基于太赫兹技术的安检系统,包括扫描装置2和本体8,所述本体8与扫描装置2之间通过太赫兹倍频链路连接,所述扫描装置2的一侧中部内嵌有成像面1,所述本体8内的中部焊接有中央处理器9,所述本体8的左侧中部卡接有激光发射器7,所述本体8的左侧通过螺钉固定连接有太赫兹发射器6,所述太赫兹发射器6的中部内嵌有激光调整器5,所述本体8通过中央处理器9与信号采集与控制系统 12连接,所述信号采集与控制系统12包括太赫兹收发信道子系统10和射频子系统13,所述太赫兹收发信道子系统10通过太赫兹倍频链路双向连接有光路与扫描子系统11,所述光路与扫描子系统11包括机械扫描模块15和准光扫描模块16,所述射频子系统13包括激光发射模块17和激光调整模块14,所述太赫兹发射器6的左端套接有透射镜3,所述透射镜3与激光发射器7在同一水平方向,所述机械扫描模块15和准光扫描模块16位于扫描装置2的内部,所述激光发射模块17和激光调整模块14位于太赫兹发射器6的内部,所述激光发射模块17与激光发射器7电性连接,所述激光调整模块14与激光调整器5电性连接,所述太赫兹发射器6的上方左侧铆接有红外距离传感器4,所述成像面1与扫描装置2粘接,且之间设置有
0.1mm的缝隙,所述激光调整器5、激光发射器7和红外距离传感器4均与中央处理器9电性连接。
[0017] 工作原理:当使用该种基于太赫兹技术的安检系统时,首先本体8通过激光发射器7产生激光,并通过太赫兹发射器6发射激光,此时系统基于太赫兹雷达主动探测技术,太赫兹雷达收发链路作为系统的核心采用单发单收的太赫兹倍频链路实现;系统采用宽带线性调频信号作为探测波,利用准光技术实现将太赫兹波在成像面1上聚焦成光斑,然后机械扫描模块15通过采用二维非匀速机械扫描的工作方式实现光斑在成像面1上的快速扫描;目标回波被红外距离传感器4接收馈源检测,经过处理可以获得光斑位置的精确距离,最后系统通过准光扫描模块16利用准光扫描,并利用太赫兹雷达发射宽带信号测量高精度距离数据,可以获得待测对象的三维成像。
[0018] 尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
高效检索全球专利

专利汇是专利免费检索,专利查询,专利分析-国家发明专利查询检索分析平台,是提供专利分析,专利查询,专利检索等数据服务功能的知识产权数据服务商。

我们的产品包含105个国家的1.26亿组数据,免费查、免费专利分析。

申请试用

分析报告

专利汇分析报告产品可以对行业情报数据进行梳理分析,涉及维度包括行业专利基本状况分析、地域分析、技术分析、发明人分析、申请人分析、专利权人分析、失效分析、核心专利分析、法律分析、研发重点分析、企业专利处境分析、技术处境分析、专利寿命分析、企业定位分析、引证分析等超过60个分析角度,系统通过AI智能系统对图表进行解读,只需1分钟,一键生成行业专利分析报告。

申请试用

QQ群二维码
意见反馈