一种纯铝显微晶粒大小及形态观察方法
专利汇可以提供一种纯铝显微晶粒大小及形态观察方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 提供了一种纯 铝 显微晶粒大小及形态观察方法，包括制备样品、制备样品检验面、将检验面磨光、用无 水 乙醇 进行检测面清洗、配制 电解 液、将检验面进行电解 抛光 、用乙醇溶液冲洗、利用扫描电镜观察试样等步骤，本发明利用扫描电镜二次 电子 成像原理，无需进行 阳极 化 制模 处理即可进行，操作步骤简单，而且对扫描电镜设备要求较低。，下面是一种纯铝显微晶粒大小及形态观察方法专利的具体信息内容。
1.一种纯铝显微晶粒大小及形态观察方法，其特征在于，包括如下步骤：
（1）制备样品：随机选取无表面缺陷的铝导线作为待测样品，样品数量为6个；样品尺寸：横截面直径3-5mm，长度为5-8mm；
（2）制备样品检验面：将其中三个制备好的样品进行横切，获得三个横切检验面；将其余三个制备好的样品进行纵切，获得三个纵切检验面；
（3）将六个检验面均用80目、180目、280目、400目、600目和800目砂纸逐次进行磨光，每次进行下一级磨光时将试样转90°；
（4）磨光完毕后用无水乙醇进行表面清洗；
（5）配制体积浓度为2-4%的高氯酸乙醇溶液作为电解液；
（6）将步骤（4）中清洗过的检验面进行电解抛光，阴极电极为铂电极，电解抛光工艺参数如下，起始电压：15-25V，电流0.2-0.4A，电解液温度：20-40℃，电解时间：45s-90s；
（7）电解后的试样分别用乙醇溶液冲洗，然后在无尘条件下进行烘干；
（8）利用扫描电镜观察试样，参数如下，工作电压：15-20KV，工作距离：5-10mm，工作电流：30-50μA，放大倍数：1000-3000倍。
2.根据权利要求1所述的一种纯铝显微晶粒大小及形态观察方法，其特征在于，所述步骤（1）中的铝导线为1A90型铝制备的铝导线。
3.根据权利要求2所述的一种纯铝显微晶粒大小及形态观察方法，其特征在于， 1A90型铝的铝含量大于99.90%。
4.根据权利要求1所述的一种纯铝显微晶粒大小及形态观察方法，其特征在于，步骤（7）中所述乙醇溶液为浓度95%的乙醇溶液。
5.根据权利要求1所述的一种纯铝显微晶粒大小及形态观察方法，其特征在于，所述扫描电镜为HITACHI公司生产的S-3700N型扫描电镜。
一种纯铝显微晶粒大小及形态观察方法
技术领域
背景技术
发明内容
（1）制备样品：随机选取无表面缺陷的1A90型铝制备的导线作为待测样品，样品数量为
6个；样品尺寸：横截面直径3-5mm，长度为5-8mm；导线铝含量大于99.90%；表面缺陷指拉伤、气泡、裂纹、变形、流痕、花纹、冷隔、变色、斑点以及凹陷。
（3）将六个检验面均用80目、180目、280目、400目、600目、800目砂纸逐次进行磨光，每次进行下一级磨光时将试样转90°；
（4）磨光完毕后用无水乙醇进行检测面清洗；清洗方法是用脱脂棉蘸取无水乙醇擦拭检测面，每个检测面的擦拭次数不低于5次。
（7）电解后的试样分别用乙醇溶液冲洗，然后在无尘条件下进行烘干；乙醇溶液为浓度
95%的乙醇溶液；
（8）利用扫描电镜观察试样，参数如下，工作电压：15-20KV，工作距离：5-10mm，工作电流：30-50μA，放大倍数：1000-3000倍；所述扫描电镜为HITACHI公司生产的S-3700N型扫描电镜。
附图说明
具体实施方式
（1）制备样品：随机选取无表面缺陷的1A90型铝制备的导线作为待测样品，样品数量为
6个；样品尺寸：横截面直径4mm，长度为5mm；导线铝含量大于99.90%；
（2）制备样品检验面：将其中三个制备好的样品进行横切，获得检验面a、b和c；将其余三个制备好的样品进行纵切，获得检验面a’、b’和c’。 检测面a、b、c、a’、b’和c’要求表面平整，无毛刺、无划痕、无凹陷；
（3）将a、b、c、a’、b’和c’面均用80目、180目、280目、400目、600目、800目砂纸逐次进行磨光，每次进行下一级磨光时将试样转90°；
（4）磨光完毕后用无水乙醇进行检测面清洗；清洗方法是用脱脂棉蘸取无水乙醇擦拭检测面，每个检测面的擦拭次数为5次；
（5）配制体积浓度为2.8%的高氯酸乙醇溶液作为电解液；
（6）将步骤（4）中清洗过的检验面进行电解抛光，阴极电极为铂电极，电解抛光工艺参数如下，起始电压：15V，电流0.2A，电解液温度：20-40℃，电解时间：90s；电解过程中将电解槽置于20-40℃的水槽中进行冷却，通过对水槽中加凉水调节的方法使电解过程中的温度始终保持在20-40℃范围内；
（7）电解后的试样分别用乙醇溶液冲洗，然后在无尘条件下进行烘干；乙醇溶液为浓度
95%的乙醇溶液；
（8）利用扫描电镜观察试样，参数如下，工作电压：15KV，工作距离：8.9mm，工作电流：39μA，放大倍数：2000倍；所述扫描电镜为HITACHI公司生产的S-3700N型扫描电镜。
6个；样品尺寸：横截面直径4mm，长度为5mm；导线铝含量大于99.90%；
（2）制备样品检验面：将其中三个制备好的样品进行横切，获得检验面a1、b1和c1；将其余三个制备好的样品进行纵切，获得检验面a1’、b1’和c1’。 检测面a1、b1、c1、a1’、b1’和c1’要求表面平整，无毛刺、无划痕、无凹陷；
（3）将a1、b1、c1、a1’、b1’和c1’面均用80目、180目、280目、400目、600目、800目砂纸逐次进行磨光，每次进行下一级磨光时将试样转90°；
（4）磨光完毕后用无水乙醇进行检测面清洗；清洗方法是用脱脂棉蘸取无水乙醇擦拭检测面，每个检测面的擦拭次数为5次；
（5）配制体积浓度为4%的高氯酸乙醇溶液作为电解液；
（6）将步骤（4）中清洗过的检验面进行电解抛光，阴极电极为铂电极，电解抛光工艺参数如下，起始电压：20V，电流0.3A，电解液温度：20-40℃，电解时间：75s；电解过程中将电解槽置于20-40℃的水槽中进行冷却，通过对水槽中加凉水调节的方法使电解过程中的温度始终保持在20-40℃范围内；
（7）电解后的试样分别用乙醇溶液冲洗，然后在无尘条件下进行烘干；乙醇溶液为浓度
95%的乙醇溶液；
（8）利用扫描电镜观察试样，参数如下，工作电压：20KV，工作距离：5mm，工作电流：30μA，放大倍数：3000倍；所述扫描电镜为 HITACHI公司生产的S-3700N型扫描电镜。
（1）制备样品：随机选取无表面缺陷的1A90型铝制备的导线作为待测样品，样品数量为
6个；样品尺寸：横截面直径4mm，长度为5mm；导线铝含量大于99.90%；
（2）制备样品检验面：将其中三个制备好的样品进行横切，获得检验面a2、b2和c2；将其余三个制备好的样品进行纵切，获得检验面a2’、b2’和c2’。 检测面a2、b2、c2、a2’、b2’和c2’要求表面平整，无毛刺、无划痕、无凹陷；
（3）将a2、b2、c2、a2’、b2’和c2’面均用80目、180目、280目、400目、600目、800目砂纸逐次进行磨光，每次进行下一级磨光时将试样转90°；
（4）磨光完毕后用无水乙醇进行检测面清洗；清洗方法是用脱脂棉蘸取无水乙醇擦拭检测面，每个检测面的擦拭次数为5次；
（5）配制体积浓度为2%的高氯酸乙醇溶液作为电解液；
（6）将步骤（4）中清洗过的检验面进行电解抛光，阴极电极为铂电极，电解抛光工艺参数如下，起始电压：25V，电流0.4A，电解液温度：20-40℃，电解时间：60s；电解过程中将电解槽置于20-40℃的水槽中进行冷却，通过对水槽中加凉水调节的方法使电解过程中的温度始终保持在20-40℃范围内；
（7）电解后的试样分别用乙醇溶液冲洗，然后在无尘条件下进行烘干；乙醇溶液为浓度
95%的乙醇溶液；
（8）利用扫描电镜观察试样，参数如下，工作电压：18KV，工作距离：10mm，工作电流：50μA，放大倍数：1000倍；所述扫描电镜为 HITACHI公司生产的S-3700N型扫描电镜。
| 标题 | 发布/更新时间 | 阅读量 |
|---|---|---|
| 低品位铝粒冶炼钒铁 | 2020-05-12 | 539 |
| 铝基晶粒细化剂 | 2020-05-11 | 422 |
| 改性的α氧化铝颗粒 | 2020-05-12 | 145 |
| 生产氧化铝颗粒的方法 | 2020-05-12 | 832 |
| 氧化铝颗粒 | 2020-05-11 | 1040 |
| 废铝生产铝粒的方法 | 2020-05-11 | 680 |
| 粒状氧化铝、生产粒状氧化铝的方法和含有粒状氧化铝的组合物 | 2020-05-11 | 303 |
| 溶胶－凝胶氧化铝磨粒 | 2020-05-12 | 713 |
| 氮化铝颗粒 | 2020-05-11 | 633 |
| 铝豆造粒机 | 2020-05-11 | 501 |
高效检索全球专利专利汇是专利免费检索,专利查询,专利分析-国家发明专利查询检索分析平台，是提供专利分析，专利查询，专利检索等数据服务功能的知识产权数据服务商。
我们的产品包含105个国家的1.26亿组数据，免费查、免费专利分析。
专利汇分析报告产品可以对行业情报数据进行梳理分析，涉及维度包括行业专利基本状况分析、地域分析、技术分析、发明人分析、申请人分析、专利权人分析、失效分析、核心专利分析、法律分析、研发重点分析、企业专利处境分析、技术处境分析、专利寿命分析、企业定位分析、引证分析等超过60个分析角度，系统通过AI智能系统对图表进行解读，只需1分钟，一键生成行业专利分析报告。
