检测光碟片缺陷的装置
专利汇可以提供检测光碟片缺陷的装置专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 公开一种检测光碟片 缺陷 的装置。其中，用以检测光碟片的一般型缺陷区域的一般型缺陷检测装置包括：第一顶端持有单元，用以接收 信号 源并且输出第一信号，第一信号可维持在该信号源的峰值附近并以第一下落速度下降；第一减法器，连接至该第一顶端持有单元，用以将该第一信号减去第一临界值后输出第一切割信号；第二顶端持有单元，用以接收该信号源并且输出第二信号，第二信号可维持在该信号源的峰值附近并以第二下落速度下降；第二减法器，连接至该第二顶端持有单元，用以将该第二信号减去第二临界值后输出第二切割信号；以及多路复用器和比较器。本发明可以利用数字 电路 来实现，大幅减少了IC芯片的布局面积进而达到降低成本的目的。，下面是检测光碟片缺陷的装置专利的具体信息内容。
1.一种一般型缺陷检测装置，用以检测光碟片的一般型缺陷区域，包括：
第一顶端持有单元，用以接收信号源并且输出第一信号，其中，所述第一信号可维持在所述信号源的峰值附近并以第一下落速度下降；
第一减法器，连接至所述第一顶端持有单元，用以将所述第一信号减去第一临界值后输出第一切割信号；
第二顶端持有单元，用以接收所述信号源并且输出第二信号，其中，所述第二信号可维持在所述信号源的峰值附近并以第二下落速度下降；
第二减法器，连接至所述第二顶端持有单元，用以将所述第二信号减去第二临界值后输出第二切割信号；
多路复用器，连接至所述第一减法器与所述第二减法器，包含用以接收所述第一切割信号的第一输入端、用以接收所述第二切割信号的第二输入端，以及输出端；以及
比较器，其一端接收所述信号源且其另一端连接所述多路复用器的所述输出端，用以将所述信号源与所述第一切割信号或者所述第二切割信号进行比较，进而由所述比较器的输出端产生一般型缺陷信号，其中，所述多路复用器还包括选择端连接至所述比较器的所述输出端，用以根据所述一般型缺陷信号去选择输出所述第一切割信号或者所述第二切割信号。
2.如权利要求1所述的一般型缺陷检测装置，其中所述信号源为次光加总信号、射频包络信号或射频信号的顶包络信号。
3.如权利要求1所述的一般型缺陷检测装置，其中所述第一下落速度大于所述第二下落速度。
4.如权利要求3所述的一般型缺陷检测装置，其中所述一般型缺陷区域的开始是于所述信号源小于所述第一切割信号时而决定，且所述一般型缺陷区域的结束是于所述信号源大于所述第二切割信号时而决定。
5.如权利要求1所述的一般型缺陷检测装置，其中根据所述信号源去比较所述第一切割信号与所述第二切割信号，当所述第一切割信号大于所述信号源时，将所述一般型缺陷信号由一第一电位转换至第二电位，当所述第二切割信号小于所述信号源时，将所述一般型缺陷信号由所述第二电位转换至所述第一电位。
6.如权利要求5所述的一般型缺陷检测装置，其中所述一般型缺陷信号由所述第一电位转换至所述第二电位时代表所述一般缺陷区域开始，且所述一般型缺陷信号由所述第二电位转换至所述第一电位时代表所述一般缺陷区域结束。
7.一种光亮缺陷检测装置，用以检测光碟片的光亮缺陷区域，包括：
第一底端持有单元，用以接收信号源并且输出第三信号，其中，所述第三信号维持在所述信号源的谷值附近并以第一上升速度上升；
第一加法器，连接至所述第一底端持有单元，根据所述第三信号并加上第三临界值后输出第三切割信号；
第二底端持有单元，用以接收所述信号源并且输出第四信号，其中，所述第四信号维持在所述信号源的谷值附近并以第二上升速度上升；
第二加法器，连接至所述第二底端持有单元，根据所述第四信号并且加上第四临界值后输出第四切割信号；
多路复用器，包含用以接收所述第三切割信号的第一输入端、用以接收所述第四切割信号的第二输入端，以及输出端；以及
比较器，其一端接收所述信号源且其另一端连接所述多路复用器的所述输出端，用以将所述信号源与所述第三切割信号或者所述第四切割信号进行比较，进而由所述比较器的输出端产生光亮缺陷信号，其中，所述多路复用器还包括选择端连接至所述比较器的所述输出端，用以根据所述光亮缺陷信号去选择输出所述第三切割信号或者所述第四切割信号。
8.如权利要求7所述的光亮缺陷检测装置，其中所述信号源为次光加总信号、射频包络信号或射频信号的底包络信号。
9.如权利要求7所述的光亮缺陷检测装置，其中所述第一上升速度大于所述第二上升速度。
10.如权利要求9所述的光亮缺陷检测装置，其中所述光亮缺陷区域的开始是于所述信号源大于所述第三切割信号时而决定，且所述光亮缺陷区域的结束是于所述信号源小于所述第四切割信号时而决定。
11.如权利要求7所述的光亮缺陷检测装置，当所述第三切割信号小于所述信号源时，所述光亮缺陷信号由第一电位转换至第二电位，当所述第四切割信号大于所述信号源时，所述光亮缺陷信号由所述第二电位转换至所述第一电位。
12.如权利要求11所述的光亮缺陷检测装置，其中所述光亮缺陷信号由所述第一电位转换至所述第二电位时代表所述光亮缺陷区域开始，且所述光亮缺陷信号由所述第二电位转换至所述第一电位时代表所述光亮缺陷区域结束。
13.一种缺陷检测装置，用以检测光碟片的一般型缺陷区域与光亮缺陷区域，包括：
一般型缺陷检测装置，包括：
第一顶端持有单元，用以接收信号源并且输出第一信号，其中，所述第一信号可维持在所述信号源的峰值附近并以第一下落速度下降；
第一减法器，连接至所述第一顶端持有单元，用以将所述第一信号减去第一临界值后输出第一切割信号；
第二顶端持有单元，用以接收所述信号源并且输出第二信号，其中，所述第二信号可维持在所述信号源的峰值附近并以第二下落速度下降；
第二减法器，连接至所述第二顶端持有单元，用以将所述第二信号减去第二临界值后输出第二切割信号；
第一多路复用器，连接至所述第一减法器与所述第二减法器，包含用以接收所述第一切割信号的第一输入端、用以接收所述第二切割信号的第二输入端，以及输出端；以及
第一比较器，其一端接收所述信号源且其另一端连接所述第一多路复用器的所述输出端，用以将所述信号源与所述第一切割信号或者所述第二切割信号进行比较，进而由所述第一比较器的输出端产生一般型缺陷信号，其中，所述第一多路复用器还包括选择端连接至所述第一比较器的所述输出端，用以根据所述一般型缺陷信号去选择输出所述第一切割信号或者所述第二切割信号；以及
光亮缺陷检测装置，包括：
第一底端持有单元，用以接收前述信号源并且输出第三信号，其中，所述第三信号维持在所述信号源的谷值附近并以第一上升速度上升；
第一加法器，连接至所述第一底端持有单元，根据所述第三信号并加上第三临界值后输出第三切割信号；
第二底端持有单元，用以接收所述信号源并且输出第四信号，其中，所述第四信号维持在所述信号源的谷值附近并以第二上升速度上升；
第二加法器，连接至所述第二底端持有单元，根据所述第四信号并且加上第四临界值后输出第四切割信号；
第二多路复用器，包含第一输入端用以接收所述第三切割信号、第二输入端用以接收所述第四切割信号，以及输出端；以及
第二比较器，其一端接收所述信号源与其另一端连接所述第二多路复用器的所述输出端，用以将所述信号源与所述第三切割信号或者所述第四切割信号进行比较，进而由所述第二比较器的输出端产生光亮缺陷信号，其中，所述第二多路复用器还包括选择端连接至所述第二比较器的所述输出端，用以根据所述光亮缺陷信号去选择输出所述第三切割信号或者所述第四切割信号；
其中，当所述一般型缺陷检测装置检测出所述一般型缺陷区域时，禁能所述光亮缺陷检测装置且所述一般型缺陷信号即为缺陷信号；以及，当所述光亮缺陷检测装置检测出所述光亮缺陷区域时，禁能所述一般型缺陷检测装置且所述光亮缺陷信号即为所述缺陷信号。
技术领域
本发明涉及一种光碟机的控制装置，且特别涉及一种使用于光碟机中用以检测光碟片缺陷的装置。
背景技术
而光学读取头100对光碟片110上进行存取时产生的微弱电信号，将由前级放大器(pre-amplifier)150处理后可输出伺服误差信号组，例如射频信号(Radio-Frequency signal、RF)、次光加总信号(sub-beam added signal、SBAD)、波浪信号(wobble signal)、循轨误差信号(tracking error signal、TE)与聚焦误差信号(Focusing error signal、FE)等。之后，该伺服误差信号组再输入后端的控制器170(controller)进行处理与运用。
根据该伺服误差信号组，控制器170即可输出伺服控制信号组至驱动器180。而该伺服控制信号组至少包括循轨控制信号(tracking control signal)与聚焦控制信号(focusing control signal)。再者，驱动器180中至少包括循轨线圈(tracking coil)与聚焦线圈(focusing coil)，当循轨控制信号输入至循轨线圈时即可产生径向驱动控制力用以驱动该光学读取头100进行光碟片径向的细微移动；而聚焦控制信号输入至聚焦线圈时即可产生聚焦方向驱动控制力用以驱动光学读取头100进行聚焦方向的移动。因此，在正常运作下，径向驱动控制力与聚焦方向驱动控制力可使光学读取头100维持在适当的聚焦位置并沿光碟片的轨道移动。
再者，由于光碟片工艺的瑕疵或者光碟片的刮伤都会导致光碟片的缺陷。当光学读取头100在读取光碟片110的过程中遇到光碟片110上的缺陷区域时，前级放大器150输出的伺服误差信号组会不正常，因此，控制器170也会产生不正常的伺服控制信号组并导致驱动器180无法正确地控制光学读取头100，使得光碟机的伺服控制系统呈现不稳定的状况。当伺服控制系统不稳定时，光学读取头100就会可能产生聚焦失败(focusing fail)或者滑轨(sliptrack)，并进而导致光碟片的数据无法存取或者数据存取错误。
请参照图2，其所示为已知光碟机检测光碟片缺陷的信号示意图。当光学读取头沿着光碟片轨道读取数据时，假设轨道上呈现光亮缺陷(brightdefect)时，例如反射率太强的区域，次光加总信号(SBAD)会快速上升而经过低通滤波器之后的次光加总信号(SBADLow_Pass)会缓慢上升，当两个信号相减超过第一临界值(M1)时，控制器170的缺陷信号(DEFECT)会由第一电位变化至第二电位(例如由低电位变化至高电位)，并且直到该两个信号相减低于该第一临界值(M1)时，缺陷信号(DEFECT)才会由第二电位恢复为第一电位。同理，假设轨道上呈现一般型缺陷(typical defect)时，例如刮伤的区域，则次光加总信号(SBAD)会快速下降而经过低通滤波器之后的次光加总信号(SBADLow_Pass)会缓慢下降，当两个信号相减低于第二临界值(-M2)时，控制器170的缺陷信号(DEFECT)会由第一电位变化至第二电位，并且直到该两个信号相减高于该第二临界值(-M2)时，缺陷信号(DEFECT)才会由第二电位恢复为第一电位。而利用该缺陷信号，驱动器180可在缺陷信号改变至第二电位时对驱动控制力作保护使得光碟机避免产生聚焦失败或者滑轨。
再者，请参照图3，其所示为公开于美国专利第US 6882611号背景技术的缺陷检测装置。该装置包括低通滤波器(low-pass filter)24、减法器(subtractor)28、或门(OR gate)26、以及两个比较器(comparator)22a、22b。其中，比较器22a的负极输入端连接至预设的正临界值(preset positive threshold，DFTH_P)，也就是用来检测光亮缺陷区域的第一临界值，而比较器22b的正极输入端连接至预设的负临界值(preset negative threshold，DFTH_N)，也就是用来检测一般型缺陷区域的第二临界值。
也就是说，该缺陷检测装置将次光加总信号(SBAD)与经过低通滤波器之后的次光加总信号(SBAD_LPF)相减，当两个信号相减后的结果高于第一临界值时，该区域即被决定为缺陷区域(光亮缺陷区域)，或者，当两个信号相减后低于第二临界值时，该区域即被决定为缺陷区域(一般型缺陷区域)。
请参照图4，其所示为光碟片上的缺陷区域太长时缺陷检测装置所产生误动作示意图。如图所示，假射光学读取头沿着光碟片轨道读取数据时，轨道上出现了长的一般型缺陷区域，此时，次光加总信号(SBAD)会快速下降而经过低通滤波器之后的次光加总信号(SBAD_LPF)会缓慢下降。于时间点T1时，次光加总信号(SBAD)减去经过低通滤波器之后的次光加总信号(SBAD_LPF)已经小于第二临界值(DFTH_N)，缺陷信号(DEFECT)由低电位转换至高电位，代表缺陷检测装置发现缺陷区域(一般型缺陷区域)。
由于一般型缺陷区域太长，使得经过低通滤波器之后的次光加总信号(SBAD_LPF)持续下降。因此，于时间点T2，次光加总信号(SBAD)减去经过低通滤波器之后的次光加总信号(SBAD_LPF)已经大于第二临界值(DFTH_N)，缺陷信号(DEFECT)由高电位转换至低电位。也就是说，于时间点T2之后，缺陷检测装置产生错误的判断，认为轨道已经无缺陷。
当实际上轨道的缺陷结束后，于时间点T3，次光加总信号(SBAD)减去经过低通滤波器之后的次光加总信号(SBAD_LPF)已经大于第一临界值(DFTH_P)，缺陷信号(DEFECT)由低电位转换至高电位。也就是说，于时间点T3之后，缺陷检测装置产生错误的判断，认为轨道出现另一缺陷区域(光亮缺陷区域)。而于时间点T4，次光加总信号(SBAD)减去经过低通滤波器之后的次光加总信号(SBAD_LPF)已经小于第一临界值(DFTH_P)，缺陷信号(DEFECT)由高电位转换至低电位。也就是说，于时间点T4之后，缺陷检测装置认为轨道已经无缺陷。
如前述的说明，当光碟片轨道出现长的缺陷区域时，缺陷检测装置会产生误动作。由图4可知，当长的一般型缺陷区域出现时，缺陷信号会产生两个脉冲(pulse)，依序代表一般型缺陷区域以及光亮缺陷区域。同理，当长的光亮缺陷区域出现时，缺陷信号会产生两个脉冲，依序代表光亮缺陷区域以及一般型缺陷区域。
为了解决上述缺陷检测装置的误动作，美国专利第US 6882611号公开一种检测光碟片缺陷的装置与方法。请参照图5，该装置包括开关(switch)S1、电容器30、低通滤波器24、减法器28、或门26、以及两个比较器22a、22b。其中，比较器22a的负极输入端连接至预设的正临界值，也就是第一临界值，而比较器22b的正极输入端连接至预设的负临界值，也就是第二临界值。
请参照图6，其所示为光碟片上的缺陷区域太长时缺陷检测装置所产生的信号示意图。如图所示，假设光学读取头沿着光碟片轨道读取数据时，轨道上出现了长的一般型缺陷区域，此时，次光加总信号(SBAD)会快速下降而经过低通滤波器之后的次光加总信号(SBAD_LPF)会缓慢下降。于时间点T5时，次光加总信号(SBAD)减去经过低通滤波器之后的次光加总信号(SBAD_LPF)已经小于第二临界值(DFTH_N)，缺陷信号(DEFECT)由低电位转换至高电位，代表缺陷检测装置发现缺陷区域(一般型缺陷区域)。而在缺陷信号(DEFECT)由低电位转换至高电位时，该开关S1开启(open)使得低通滤波器24不再接收次光加总信号(SBAD)，而电容器30则会维持在开关S1切换之前的电压值。
于时间点T6，次光加总信号(SBAD)减去电容器维持的电压值已经大于第二临界值(DFTH_N)，因此，缺陷信号(DEFECT)由高电位转换至低电位。同时，该开关S1关闭(close)使得低通滤波器24可以接收次光加总信号(SBAD)。
如上所述，根据缺陷信号，时间点T5与T6之间的区域为缺陷区域(一般型缺陷区域)，因此，图5的缺陷检测装置可以利用第二临界值(DFTH_N)正确的检测出长的缺陷区域。同理，当长的光亮缺陷区域出现时，缺陷检测装置也可以利用第一临界值(DFTH_P)正确的检测出长的光亮缺陷区域。
然而，上述的缺陷检测装置是利用模拟电路实现的。在IC芯片的领域中，模拟电路会占据较大的面积并且电路会受到工艺偏移(process deviation)较大的影响，再者，无法精确地控制缺陷信号由第一电位转换至第二电位的动作时间。也就是说，无法弹性地调整时间点T5以及T6，使之任意地前后移动。
再者，美国专利申请早期公开第US 20040145987号公开一种数字式检测光碟片缺陷的装置与方法。请参照图7，其所示为公开于美国专利申请申期公开第US 20040145987号所提及关于背景技术的数字式缺陷检测装置。该数字式缺陷检测装置包括模拟/数字转换器(A/D converter)200、最大值检测器(maximum value detector)202、最小值检测器(minimum value detector)204、第一比较器206、第二比较器208、或门209。其中第一比较器206与第二比较器208分别接收第一临界值(TH1)与第二临界值(TH2)。
此技术使用数字电路检测缺陷的发生，射频信号(RF signal)经过模拟/数字转换器200输出数字的射频信号，利用最大值检测器202及最小值检测器204检测出数字的射频信号的最大值及最小值，而第一比较器206比较数字的射频信号的最大值与第一临界值(TH1)的大小。当数字的射频信号的最大值较大则输出0，反之输出1。再者，第二比较器208比较数字的射频信号的最小值与第二临界值(TH2)的大小。当数字的射频信号的最小值较小则输出0，反的输出1。而第一比较器206与第二比较器208输出端连接至或门209而输出缺陷信号。
此技术的检测缺陷发生的方法使用数字电路实现，并利用计算射频信号的不对称量(asymmetry amount)，以不对称量当作射频信号不对称程度的指标，来判断缺陷是否发生。然而，此技术针对一种缺陷(一般型缺陷或者光亮缺陷)只有利用一个临界值来产生缺陷信号并无法精确地控制缺陷信号由第一电位转换至第二电位的动作时间。
发明内容
因此，本发明提出一种一般型缺陷检测装置用以检测光碟片的一般型缺陷区域，包括：第一顶端持有单元，用以接收信号源并且输出第一信号，其中，该第一信号可维持在该信号源的峰值附近并以第一下落速度下降；第一减法器，连接至该第一顶端持有单元，用以将该第一信号减去第一临界值后输出第一切割信号；第二顶端持有单元，用以接收该信号源并且输出第二信号，其中，该第二信号可维持在该信号源的峰值附近并以第二下落速度下降；第二减法器，连接至该第二顶端持有单元，用以将该第二信号减去第二临界值后输出第二切割信号；多路复用器，连接至该第一减法器与该第二减法器，包含用以接收该第一切割信号的第一输入端、用以接收该第二切割信号的第二输入端，以及输出端；以及，比较器，其一端接收该信号源且其另一端连接该多路复用器的该输出端，用以将该信号源与该第一切割信号或者该第二切割信号进行比较，进而输出一般型缺陷信号，其中，该多路复用器还包括选择端，用以根据该一般型缺陷信号去选择该第一切割信号或者该第二切割信号。
再者，本发明提出一种光亮缺陷检测装置用以检测光碟片的光亮缺陷区域，包括：第一底端持有单元，用以接收信号源并且输出第三信号，其中，该第三信号维持在该信号源的谷值附近并以第一上升速度上升；第一加法器，连接至该第一底端持有单元，根据该第三信号并加上第三临界值后输出第三切割信号；第二底端持有单元，用以接收该信号源并且输出第四信号，其中，该第四信号维持在该信号源的谷值附近并以第二上升速度上升；第二加法器，连接至该第二底端持有单元，根据该第四信号并且加上第四临界值后输出第四切割信号；多路复用器，包含用以接收该第三切割信号的第一输入端、用以接收该第四切割信号的第二输入端，以及输出端；以及比较器，其一端接收该信号源与其另一端连接该多路复用器的该输出端，用以将该信号源与该第三切割信号或者该第四切割信号进行比较，进而输出光亮缺陷信号，其中，该多路复用器还包括选择端，用以根据该光亮缺陷信号去选择该第三切割信号或者该第四切割信号。
再者，本发明提出一种缺陷检测装置，用以检测光碟片的一般型缺陷区域与光亮缺陷区域，包括：一般型缺陷检测装置，包括：第一顶端持有单元，用以接收信号源并且输出第一信号，其中，该第一信号可维持在该信号源的峰值附近并以一第一下落速度下降；第一减法器，连接至该第一顶端持有单元，用以将该第一信号减去第一临界值后输出第一切割信号；第二顶端持有单元，用以接收该信号源并且输出第二信号，其中，该第二信号可维持在该信号源的峰值附近并以第二下落速度下降；第二减法器，连接至该第二顶端持有单元，用以将该第二信号减去第二临界值后输出第二切割信号；第一多路复用器，连接至该第一减法器与该第二减法器，包含用以接收该第一切割信号的第一输入端、用以接收该第二切割信号的第二输入端，以及输出端；以及，第一比较器，其一端接收该信号源与其另一端连接该第一多路复用器的该输出端，用以将该信号源与该第一切割信号或者该第二切割信号进行比较，进而输出一般型缺陷信号，其中，该第一多路复用器还包括选择端，用以根据该一般型缺陷信号去选择该第一切割信号或者该第二切割信号；以及，光亮缺陷检测装置，包括：第一底端持有单元，用以接收信号源并且输出第三信号，其中，该第三信号维持在该信号源的谷值附近并以第一上升速度上升；第一加法器，连接至该第一底端持有单元，根据该第三信号并加上第三临界值后输出第三切割信号；第二底端持有单元，用以接收该信号源并且输出第四信号，其中，该第四信号维持在该信号源的谷值附近并以第二上升速度上升；第二加法器，连接至该第二底端持有单元，根据该第四信号并且加上第四临界值后输出第四切割信号；第二多路复用器，包含用以接收该第三切割信号的第一输入端、用以接收该第四切割信号的第二输入端，以及输出端；以及，第二比较器，其一端接收该信号源且其另一端连接该第二多路复用器的该输出端，用以将该信号源与该第三切割信号或者该第四切割信号进行比较，进而输出光亮缺陷信号，其中，该第二多路复用器还包括选择端，用以根据该光亮缺陷信号去选择该第三切割信号或者该第四切割信号；其中，当该一般型缺陷检测装置检测出该一般型缺陷区域时，禁能该光亮缺陷检测装置且该一般型缺陷信号即为缺陷信号；以及，当该光亮缺陷检测装置检测出该光亮缺陷区域时，禁能该一般型缺陷检测装置且该光亮缺陷信号即为该缺陷信号。
本发明可以利用数字电路来实现，大幅减少了IC芯片的布局面积进而达到降低成本的目的。
为了能更进一步了解本发明特征及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明，并非用来对本发明加以限制。
附图说明
图2所示为已知光碟机检测光碟片缺陷的信号示意图。
图3所示为公开于美国专利第US 6882611号背景技术的缺陷检测装置。
图4所示为光碟片上的缺陷区域太长时美国专利第US 6882611号公开的缺陷检测装置所产生误动作示意图。
图5所示为公开于美国专利第US 6882611号的缺陷检测装置。
图6所示为光碟片上的缺陷区域太长时美国专利第US 6882611号公开的缺陷检测装置所产生的信号示意图。
图7所示为公开于美国专利申请早期公开第US 20040145987号背景技术的数字式缺陷检测装置。
图8所示为本发明的一般型缺陷检测装置。
图9A、图9B与图9C所示为本发明一般型缺陷检测装置中所有信号示意图。
图10所示为本发明的光亮缺陷检测装置。
图11A、图11B与图11C所示为本发明光亮缺陷检测装置中所有信号示意图。
其中，附图标记说明如下：
22a、22b比较器
24低通滤波器 26或门
28减法器 30电容器
100光学读取头 110光碟片
120主轴马达 122旋转盘
150前级放大器 170控制器
180驱动器
200模拟/数字转换器 202最大值检测器
204最小值检测器 206第一比较器
208第二比较器 209或门
210第一顶端持有单元 215第一减法器
220第二顶端持有单元 225第二减法器
230多路复用器 240比较器
250第一底端持有单元 255第一加法器
260第二底端持有单元 265第二加法器
270多路复用器 280比较器
具体实施方式
根据本发明的实施例，第一顶端持有单元210以及第二顶端持有单元220输出的第一信号与第二信号可维持在该信号源的峰值并且个别地设定下落速度(droop rate)，也就是说，本发明利用数字电路的设计可以设定第一顶端持有单元210以及第二顶端持有单元220具有不同的下落速度并且搭配两个临界值(或者称之为切割信号(slicing signal))即可以检测出一般型缺陷区域以及长的一般型缺陷区域。
请参照图9A、图9B与图9C，其所示为本发明一般型缺陷检测装置中所有信号示意图。如图9A所示，信号源(I)为次光加总信号(SBAD)而下落速度较快的信号则为第一顶端持有单元210所输出的第一信号(II)；而下落速度较慢的信号则为第二顶端持有单元220所输出的第二信号(III)。如图9B所示，信号源(I)为次光加总信号(SBAD)而第一切割信号(IV)则为第一减法器215的输出；而第二切割信号(V)则为第二减法器225的输出。其中，第一信号减去第一临界值(TH1)后输出第一切割信号；第二信号减去第二临界值(TH2)后输出第二切割信号。如图9C所示则为一般型缺陷信号。
由图9A、图9B与图9C可知，当光碟片的轨道出现一般型缺陷区域时次光加总信号(SBAD)值变小。此时，第一顶端持有单元210输出的第一信号(II)以第一下落速度下降，并且第一减法器215可输出减去第一临界值(TH1)后的第一切割信号(IV)；同理，第二顶端持有单元220输出的第二信号(III)以第二下落速度下降，并且第二减法器225可输出减去第二临界值(TH2)后的第二切割信号(V)。由于多路复用器230选择端(S)输入的一般型缺陷信号为低电位，因此，比较器240的正极输入端接收该第一切割信号(IV)，比较器240的负极输入端接收该次光加总信号(I)。
于时间点T1时，第一切割信号(IV)大于次光加总信号(I)，因此，比较器240输出高电位的一般型缺陷信号，代表光碟片轨道开始出现一般型缺陷区域。同时，由于多路复用器230选择端(S)输入的一般型缺陷信号为高电位，因此，比较器240的正极输入端接收该第二切割信号(V)，比较器240的负极输入端接收该次光加总信号(I)。
于时间点T2时，第二切割信号(V)小于次光加总信号(I)，因此，比较器240输出低电位的一般型缺陷信号，代表光碟片轨道的一般型缺陷区域结束。同时，由于多路复用器230选择端(S)输入的一般型缺陷信号为低电位，因此，比较器240的正极输入端接收该第一切割信号(IV)，比较器240的负极输入端接收该次光加总信号(I)。
同理，于时间点T3与T4之间以及时间点T5与T6之间，一般型缺陷检测装置可检测出另一一般型缺陷区域。也就是说，本发明的一般型缺陷检测装置可检测出如时间点T1与T2之间的长的一般型缺陷区域或者如时间点T3与T4之间以及时间点T5与T6之间的一般型缺陷区域。
请参照图10，其所示为本发明的光亮缺陷检测装置。光亮缺陷检测装置包括第一底端持有单元(bottom hold unit)250、第一加法器255、第二底端持有单元260、第二加法器265、多路复用器270、比较器280。其中，该信号源，例如可为次光加总信号(SBAD)、射频包络信号、或射频信号的底包络信号(RF bottom envelope signal)，连接至比较器280的正极输入端、第一底端持有单元250以及第二底端持有单元260。第一底端持有单元250输出第三信号经由第一加法器255加上第三临界值(TH3)后输出第三切割信号(thirdslice signal)并输入至多路复用器270的低电位输入端(L)；第二底端持有单元260输出第四信号经由第二加法器265加上第四临界值(TH4)后输出第四切割信号(fourth slice signal)并输入至多路复用器270的高电位输入端(H)；多路复用器270的输出端则连接至比较器280的负极输入端。比较器280的输出端即为光亮缺陷信号，并且，光亮缺陷信号连接至该多路复用器270的选择端(S)。
根据本发明的实施例，第一底端持有单元250以及第二底端持有单元260输出的第三信号与第四信号可维持在该信号源的谷值且个别地设定其上升速度(rise rate)，也就是说，本发明可以设定第一底端持有单元250以及第二底端持有单元260具有不同的上升速度，并且搭配两个临界值(或者称之为切割信号)，即可以分别地检测光亮缺陷区域以及长的光亮缺陷区域。
请参照图11A、图11B与图11C，其所示为本发明光亮缺陷检测装置中所有信号示意图。如图11A所示，信号源(I)为次光加总信号(SBAD)而上升速度较快的信号则为第一底端持有单元250所输出的第三信号(II)；而上升速度较慢的信号则为第二底端持有单元260所输出的第四信号(III)。如图11B所示，信号源(I)为次光加总信号(SBAD)而第一加法器255输出第三切割信号(IV)；而第二加法器265输出第四切割信号(V)。其中，第三信号加上第三临界值(TH3)后输出第三切割信号；第四信号加上第四临界值(TH4)后输出第四切割信号。如图11C所示则为光亮缺陷信号。
由图11A、图11B与图11C可知，当光碟片的轨道出现光亮缺陷区域时，次光加总信号(SBAD)值变大。此时，第一底端持有单元250输出的第三信号(II)以第一上升速度上升，并且第一加法器255可输出加上第三临界值(TH3)后的第三切割信号(IV)；同理，第二底端持有单元260输出的第四信号(III)以第二上升速度上升，并且第二加法器265可输出加上第四临界值(TH4)后的第四切割信号(V)。由于多路复用器270选择端(S)输入的光亮缺陷信号为低电位，因此，比较器280的负极输入端接收该第三切割信号(IV)，比较器280的正极输入端接收该次光加总信号(I)。
于时间点T1时，次光加总信号(I)大于第三切割信号(IV)，因此，比较器280输出高电位的光亮缺陷信号，代表光碟片轨道开始出现光亮缺陷区域。同时，由于多路复用器270选择端(S)输入的光亮缺陷信号为高电位，因此，比较器280的负极输入端接收该第四切割信号(V)，比较器280的正极输入端接收该次光加总信号(I)。
于时间点T2时，次光加总信号(I)小于第四切割信号(V)，因此，比较器280输出低电位的光亮缺陷信号，代表光碟片轨道的光亮缺陷区域结束。同时，由于多路复用器270选择端(S)输入的光亮缺陷信号为低电位，因此，比较器280的负极输入端接收该第三切割信号(IV)，比较器280的正极输入端接收该次光加总信号(I)。
同理，于时间点T3与T4之间，光亮缺陷检测装置可检测出另一光亮缺陷区域。也就是说，本发明的光亮缺陷检测装置可检测出如时间点T1与T2之间的长的光亮缺陷区域，或者是T3与T4之间的一般光亮缺陷区域。
根据本发明的实施例，结合一般型缺陷检测装置以及光亮缺陷检测装置即可以完成本发明的缺陷检测装置。也就是说，当缺陷检测装置检测出一般型缺陷区域时，为了防止光亮缺陷检测装置产生误动作必须禁能(disable)光亮缺陷检测装置并且以一般型缺陷检测装置输出的一般型缺陷信号作为缺陷信号。并且，直到一般型缺陷区域结束后才可再次致能(enable)该光亮缺陷检测装置；反的，当缺陷检测装置检测出光亮缺陷区域时，为了防止一般型缺陷检测装置产生误动作必须禁能一般型缺陷检测装置并且以光亮缺陷检测装置输出的光亮缺陷信号作为缺陷信号。并且，直到光亮缺陷区域结束后才可再次致能该一般型缺陷检测装置。
再者，本发明的一般型缺陷检测装置以及光亮缺陷检测装置都可以利用数字电路来实现，举例来说，利用模拟/数字转换器(ADC)将次光加总信号(SBAD)转换为数字的次光加总信号之后，作为一般型缺陷检测装置以及光亮缺陷检测装置的信号源。而一般型缺陷检测装置中的第一顶端持有单元210、第一减法器215、第二顶端持有单元220、第二减法器225、多路复用器230、与比较器240都可以利用数字电路来实现。同理，光亮缺陷检测装置中所有的元件也可以利用数字电路来实现。因此，利用数字电路来实现本发明的缺陷检测装置的优点在于可以大幅的减少IC芯片的布局面积进而达到降低成本的目的。
综上所述，虽然本发明已以较佳实施例公开如上，然其并非用以限定本发明，本领域技术人员在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种变化与修改，因此本发明的保护范围当视后附的权利要求所界定者为准。
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