一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置
阅读：1488发布：2021-03-23
专利汇可以提供一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 实施例 提出了一种TFT 液晶 玻璃 缺陷 自动检测装置，包括：拍摄设备、辅助 光源 、拍摄设备上的影像光学组件、自动位移平台、视觉处理设备；其中，辅助光源与拍摄设备连接，影像光学组件设置在拍摄设备的底部，辅助光源在自动位移平台上的灯光投射 位置 与影像光学组件正对自动位移平台上的位置相同；自动位移平台的表层用以放置待测TFT液晶玻璃，并移动待测TFT液晶玻璃到正对影像光学组件的位置；拍摄设备电性连接视觉处理设备，用以将获取到的待测TFT液晶玻璃的影像发送至视觉处理设备进行识别。通过发明实施例提出的TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置，实现了对TFT液晶玻璃缺陷的自动检测，提高了检测的准确性，快捷性。，下面是一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置专利的具体信息内容。
1.一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置，其特征在于，包括：拍摄设备、辅助光源、所述拍摄设备上的影像光学组件、自动位移平台、视觉处理设备；其中，所述辅助光源与所述拍摄设备连接，所述影像光学组件设置在所述拍摄设备的底部，所述辅助光源在所述自动位移平台上的灯光投射位置与所述影像光学组件正对所述自动位移平台上的位置相同；所述自动位移平台的表层用以放置待测TFT液晶玻璃，并移动所述待测TFT液晶玻璃到正对所述影像光学组件的位置；所述拍摄设备电性连接所述视觉处理设备，用以将获取到的待测TFT液晶玻璃的影像发送至视觉处理设备进行识别。
2.如权利要求1所述的一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置，其特征在于，所述拍摄设备包括：工业相机。
3.如权利要求1所述的一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置，其特征在于，所述影像光学组件包括：镜头。
4.如权利要求1所述的一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置，其特征在于，所述影像光学组件的数量为一个或多个；所述影像光学组件与所述拍摄设备可拆卸连接。
5.如权利要求1所述的一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置，其特征在于，所述辅助光源包括：LED灯。
6.如权利要求1所述的一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置，其特征在于，所述辅助光源包括：亮度可调的同轴光源。
7.如权利要求1所述的一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置，其特征在于，所述辅助光源上还设置有亮度调节旋钮，所述亮度调节旋钮用以控制所述辅助光源内电源的电流大小。
8.如权利要求1所述的一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置，其特征在于，所述自动位移平台为表层可实现X轴、Y轴、以及Z轴移动的平台。
9.如权利要求1所述的一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置，其特征在于，所述视觉处理设备包括微处理器。
10.如权利要求1所述的一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置，其特征在于，所述拍摄设备、所述影像光学组件、所述辅助光源、所述自动位移平台沿着重力方向依次设置。
一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置
技术领域
[0001] 本发明涉及液晶检测装置领域，特别涉及一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置。
背景技术
[0002] TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶体管)液晶屏玻璃在生产的过程中，不可避免的会在光路曝光或导电层排布过程中因杂质引起液晶AA(Ative Area，有效显示区域)区形成短路或开路，从而出现线或点缺陷。目前所有制造商在对所有需出货的产品只能用点灯测试治具进行测试，针对缺陷产品只能进行区分，而若是没法快速准确找到问题点，一概作为不良品处理。
[0003] 在TFT液晶屏玻璃的盒内ITO(Indium tin oxide，氧化铟锡)线路缺陷检测过程中，目前用点灯检测治具进行画面检测，只能确认当前检测的TFT液晶玻璃为不良品。而此种传统的检测技术不能将TFT液晶屏玻璃中缺陷的具体位置及症结点找到，使产品的真正问题产生原因难以找到，使之无法对前工序的问题点具体化，准确化。从而使生产工艺得不到实质性改善及提升，无法使企业成本得到降低而追求不到利益最大化。
[0004] 由此，目前需要一种更高效准确的方法对TFT液晶玻璃进行检测。
发明内容
[0005] 有鉴于此，本发明提出了一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置，提高了检测的准确性，快捷性。
[0006] 具体的，本发明提出了以下具体的实施例：
[0007] 本发明实施例提出了一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置，包括：拍摄设备、辅助光源、所述拍摄设备上的影像光学组件、自动位移平台、视觉处理设备；其中，所述辅助光源与所述拍摄设备连接，所述影像光学组件设置在所述拍摄设备的底部，所述辅助光源在所述自动位移平台上的灯光投射位置与所述影像光学组件正对所述自动位移平台上的位置相同；所述自动位移平台的表层用以放置待测TFT液晶玻璃，并移动所述待测TFT液晶玻璃到正对所述影像光学组件的位置；所述拍摄设备电性连接所述视觉处理设备，用以将获取到的待测TFT液晶玻璃的影像发送至视觉处理设备进行识别。
[0008] 在一个具体的实施例中，所述拍摄设备包括：工业相机。
[0009] 在一个具体的实施例中，所述影像光学组件包括：镜头。
[0010] 在一个具体的实施例中，所述影像光学组件的数量为一个或多个；所述影像光学组件与所述拍摄设备可拆卸连接。
[0012] 在一个具体的实施例中，所述辅助光源包括：亮度可调的同轴光源。
[0013] 在一个具体的实施例中，所述辅助光源上还设置有亮度调节旋钮，所述亮度调节旋钮用以控制所述辅助光源内电源的电流大小。
[0014] 在一个具体的实施例中，所述自动位移平台为表层可实现X轴、Y轴、以及Z轴移动的平台。
[0015] 在一个具体的实施例中，所述视觉处理设备包括微处理器。
[0016] 在一个具体的实施例中，所述拍摄设备、所述影像光学组件、所述辅助光源、所述自动位移平台沿着重力方向依次设置。
[0017] 以此，本发明实施例提出了一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置，包括：拍摄设备、辅助光源、所述拍摄设备上的影像光学组件、自动位移平台、视觉处理设备；其中，所述辅助光源与所述拍摄设备连接，所述影像光学组件设置在所述拍摄设备的底部，所述辅助光源在所述自动位移平台上的灯光投射位置与所述影像光学组件正对所述自动位移平台上的位置相同；所述自动位移平台的表层用以放置待测TFT液晶玻璃，并移动所述待测TFT液晶玻璃到正对所述影像光学组件的位置；所述拍摄设备电性连接所述视觉处理设备，用以将获取到的待测TFT液晶玻璃的影像发送至视觉处理设备进行识别。通过发明实施例提出的TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置，实现了对TFT液晶玻璃缺陷的自动检测，提高了检测的准确性，快捷性。附图说明
[0018] 为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0019] 图1为本发明实施例提出的一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置的结构示意图；
[0020] 图2为本发明实施例提出的一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置检测的肉眼检测存在缺陷的示意图；
[0021] 图3为本发明实施例提出的一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置拍摄到的存在缺陷的示意图；
[0022] 图4为本发明实施例提出的一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置拍摄到的处于正常状态的线路的示意图；
[0023] 图5为本发明实施例提出的一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置拍摄到的短路状态的线路的示意图；
[0024] 图6为本发明实施例提出的一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置拍摄到的开路状态的线路的示意图。
[0025] 图例说明：
[0026] 1-拍摄设备；2-辅助光源；3-影像光学组件；4-待测TFT液晶玻璃；
[0027] 5-自动位移平台；6-视觉处理设备。
具体实施方式
[0028] 在下文中，将更全面地描述本公开的各种实施例。本公开可具有各种实施例，并且可在其中做出调整和改变。然而，应理解：不存在将本公开的各种实施例限于在此公开的特定实施例的意图，而是应将本公开理解为涵盖落入本公开的各种实施例的精神和范围内的所有调整、等同物和/或可选方案。
[0029] 在下文中，可在本公开的各种实施例中使用的术语“包括”或“可包括”指示所公开的功能、操作或元件的存在，并且不限制一个或更多个功能、操作或元件的增加。此外，如在本公开的各种实施例中所使用，术语“包括”、“具有”及其同源词仅意在表示特定特征、数字、步骤、操作、元件、组件或前述项的组合，并且不应被理解为首先排除一个或更多个其它特征、数字、步骤、操作、元件、组件或前述项的组合的存在或增加一个或更多个特征、数字、步骤、操作、元件、组件或前述项的组合的可能性。
[0030] 在本公开的各种实施例中，表述“或”或“A或/和B中的至少一个”包括同时列出的文字的任何组合或所有组合。例如，表述“A或B”或“A或/和B中的至少一个”可包括A、可包括B或可包括A和B二者。
[0031] 在本公开的各种实施例中使用的表述(诸如“第一”、“第二”等)可修饰在各种实施例中的各种组成元件，不过可不限制相应组成元件。例如，以上表述并不限制所述元件的顺序和/或重要性。以上表述仅用于将一个元件与其它元件区别开的目的。例如，第一用户装置和第二用户装置指示不同用户装置，尽管二者都是用户装置。例如，在不脱离本公开的各种实施例的范围的情况下，第一元件可被称为第二元件，同样地，第二元件也可被称为第一元件。
[0032] 应注意到：如果描述将一个组成元件“连接”到另一组成元件，则可将第一组成元件直接连接到第二组成元件，并且可在第一组成元件和第二组成元件之间“连接”第三组成元件。相反地，当将一个组成元件“直接连接”到另一组成元件时，可理解为在第一组成元件和第二组成元件之间不存在第三组成元件。
[0034] 在本公开的各种实施例中使用的术语仅用于描述特定实施例的目的并且并非意在限制本公开的各种实施例。如在此所使用，单数形式意在也包括复数形式，除非上下文清楚地另有指示。除非另有限定，否则在这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)具有与本公开的各种实施例所属领域普通技术人员通常理解的含义相同的含义。所述术语(诸如在一般使用的词典中限定的术语)将被解释为具有与在相关技术领域中的语境含义相同的含义并且将不被解释为具有理想化的含义或过于正式的含义，除非在本公开的各种实施例中被清楚地限定。
[0035] 实施例
[0036] 本发明实施例提出了一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置，如图1所示，包括：拍摄设备1、辅助光源2、所述拍摄设备上的影像光学组件3、自动位移平台5、视觉处理设备6；其中，所述辅助光源与所述拍摄设备连接，所述影像光学组件设置在所述拍摄设备的底部，所述辅助光源在所述自动位移平台上的灯光投射位置与所述影像光学组件正对所述自动位移平台上的位置相同；所述自动位移平台的表层用以放置待测TFT液晶玻璃4，并移动所述待测TFT液晶玻璃到正对所述影像光学组件的位置；所述拍摄设备电性连接所述视觉处理设备，用以将获取到的待测TFT液晶玻璃的影像发送至视觉处理设备进行识别。
[0037] 具体的，为了进一步本方案进行说明，先针对应用本装置进行TFT液晶玻璃缺陷自动检测来进行说明，具体的检测方法可以包括如下步骤；
[0038] 步骤S1，将TFT液晶屏用专用测试工具进行测试，用肉眼将线缺陷产品挑选出来，并标示出横线及竖线位置(如图2所示)；
[0039] 步骤S2，将做好标记的TFT产品放置于自动位移平台上，并将影像光学组件对位至标记处，置于缺陷首或尾的位置(对于图3所示)，调节好辅助光源亮度至合适位置；
[0040] 步骤S3，启动本装置的检测功能，本方案中的装置将自动通过拍摄设备，例如可以为工业相机进行项目检测，根据液晶屏盒内ITO线路的尺寸平台及相机会自动作调整运行，当线路正常时(如图4所示)设备将自动持续进行检测，当检测到与正常线路有差异(短路如图5或开路如图6所示)时，设备将自动报警并停止自动运行；
[0041] 步骤S4，此时设备操作者进行人为检测确认，如确认是此处引起点或线缺陷，则做好标示以利分析及改善用。
[0042] 此种TFT液晶玻璃盒内ITO线路缺陷自动检测装置，提高了检测的准确性，快捷性。
[0043] 在一个具体的实施例中，所述拍摄设备包括：工业相机。
[0045] 工业相机又俗称摄像机，相比于传统的民用相机(摄像机)而言，它具有高的图像稳定性、高传输能力和高抗干扰能力等，市面上工业相机大多是基于CCD(Charge Coupled Device)或CMOS(Complementary MetalOxide Semiconductor)芯片的相机。
[0046] CCD是目前机器视觉最为常用的图像传感器。它集光电转换及电荷存贮、电荷转移、信号读取于一体，是典型的固体成像器件。CCD的突出特点是以电荷作为信号，而不同于其它器件是以电流或者电压为信号。这类成像器件通过光电转换形成电荷包，而后在驱动脉冲的作用下转移、放大输出图像信号。典型的CCD相机由光学镜头、时序及同步信号发生器、垂直驱动器、模拟/数字信号处理电路组成。CCD作为一种功能器件，与真空管相比，具有无灼伤、无滞后、低电压工作、低功耗等优点。
[0047] CMOS图像传感器的开发最早出现在20世纪70年代初，90年代初期，随着超大规模集成电路(VLSI)制造工艺技术的发展，CMOS图像传感器得到迅速发展。CMOS图像传感器将光敏元阵列、图像信号放大器、信号读取电路、模数转换电路、图像信号处理器及控制器集成在一块芯片上，还具有局部像素的编程随机访问的优点。CMOS图像传感器以其良好的集成性、低功耗、高速传输和宽动态范围等特点在高分辨率和高速场合得到了广泛的应用。
[0048] 在一个具体的实施例中，所述影像光学组件包括：镜头。
[0049] 进一步的，为了更好的拍摄，且满足各种不同条件下针对不同待测产品的拍摄，所述影像光学组件的数量为一个或多个；所述影像光学组件与所述拍摄设备可拆卸连接。
[0050] 具体的，镜头可以卡口的方式实现与摄拍设备可拆卸连接
[0051] 在一个具体的实施例中，所述辅助光源包括：LED灯。
[0053] 具体的，LED具有以下特点：节能：白光LED的能耗仅为白炽灯的1/10，节能灯的1/4；长寿：寿命可达10万小时以上；属于冷光源类型，所以它很好运输和安装，可以被装置在任何微型和封闭的设备中，不怕振动；且目前价格也在不断的降低；环保，没有汞的有害物质；配光技术使LED点光源扩展为面光源，增大发光面，消除眩光，升华视觉效果，消除视觉疲劳；可以在低热电压下工作，安全可靠。表面温度≤60℃(环境温度Ta＝25℃时)；且工作电压适应范围宽广。
[0054] 而在另一个具体的实施例中，所述辅助光源包括：亮度可调的同轴光源。
[0055] 具体的，针对不同的应用场景，需要有不同的亮度，为此，设置亮度可调的同轴光源，以满足各种不同亮度需要。
[0056] 同轴光源(漫射同轴灯，金属平面漫反射照明光源)可以提供比传统光源更均匀的照明，因此提高了机器视觉的准确性和重现性。
[0057] 同轴光源(主要用于检测反光程度很厉害的平面物体，比如玻璃
[0058] 同轴光源能够凸显物体表面不平整，克服表面反光造成的干扰，主要用于检测物体平整光滑表面的碰伤、划伤、裂纹和异物。
[0059] 在一个具体的实施例中，为了便于用户调节亮度，所述辅助光源上还设置有亮度调节旋钮，所述亮度调节旋钮用以控制所述辅助光源内电源的电流大小。
[0060] 在一个具体的实施例中，所述自动位移平台为表层可实现X轴、Y轴、以及Z轴移动的平台。
[0061] 具体的，所述视觉处理设备包括微处理器。
[0062] 在一个具体的实施例中，所述拍摄设备、所述影像光学组件、所述辅助光源、所述自动位移平台沿着重力方向依次设置。
[0063] 具体的，本方案中的装置包括有电源模块，具体的电源模块分别连接上述其他的功能模块，用以给以上各功能模块供电，保证各功能模块的正常运行。进一步的，为了避免电源所连接的外接电源突然中断所对设备造成的影响，还可以在电源中设置蓄电模块，例如可以为蓄电池，以此即使外界电源突然中断，也不至于瞬间没电，仍可以保证装置在一定时间内的的正常运行。
[0064] 以此，本发明实施例提出了一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置，包括：拍摄设备、辅助光源、所述拍摄设备上的影像光学组件、自动位移平台、视觉处理设备；其中，所述辅助光源与所述拍摄设备连接，所述影像光学组件设置在所述拍摄设备的底部，所述辅助光源在所述自动位移平台上的灯光投射位置与所述影像光学组件正对所述自动位移平台上的位置相同；所述自动位移平台的表层用以放置待测TFT液晶玻璃，并移动所述待测TFT液晶玻璃到正对所述影像光学组件的位置；所述拍摄设备电性连接所述视觉处理设备，用以将获取到的待测TFT液晶玻璃的影像发送至视觉处理设备进行识别。通过发明实施例提出的TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置，实现了对TFT液晶玻璃缺陷的自动检测，提高了检测的准确性，快捷性。
[0065] 本领域技术人员可以理解附图只是一个优选实施场景的示意图，附图中的模块或流程并不一定是实施本发明所必须的。
[0066] 本领域技术人员可以理解实施场景中的装置中的模块可以按照实施场景描述进行分布于实施场景的装置中，也可以进行相应变化位于不同于本实施场景的一个或多个装置中。上述实施场景的模块可以合并为一个模块，也可以进一步拆分成多个子模块。
[0067] 上述本发明序号仅仅为了描述，不代表实施场景的优劣。
[0068] 以上公开的仅为本发明的几个具体实施场景，但是，本发明并非局限于此，任何本领域的技术人员能思之的变化都应落入本发明的保护范围。
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