专利汇可以提供一种降低上下电对硬件测试干扰的电路及方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且一种降低上下电对 硬件 测试干扰的 电路 及方法,保留原有机械 开关 控制上电、断电的功能,在操作上兼容原有方案,只需在电路中增加简单的元器件,结构简单,易于实现,无需增加新的操作方法,可直接导入现有测试流程。该电路采用隔离电源模 块 、RC延时电路,以及MOSFET反 串联 连接的方式,在开关闭合上电瞬间,由于RC延时电路的作用,MOSFET的栅极 电压 会呈斜坡状缓慢上升,MOSFET逐渐打开;在开关闭合下电瞬间,由于RC延时电路的作用,MOSFET的栅极电压会呈斜坡状缓慢下降,MOSFET逐渐断开。消除了因机械开关闭合上电,断开下电时的 临界状态 造成的电火花对硬件测试工作的干扰,示波器不会捕捉到板卡未稳定上下电时的电火花 信号 ,提高了测试效率。,下面是一种降低上下电对硬件测试干扰的电路及方法专利的具体信息内容。
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