专利汇可以提供一种去伪影方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 属于 图像处理 技术领域的一种去伪影方法,用于包含侧照 X射线 源以及位于侧照X射线源对侧的L型探测器的安检机中图像,包括调整X射线源 位置 角 度使伪影宽度最小;采集伪影所在区域探测器接收到的光通量本底值和满度值;实验获取不同物质属性下的灰度值查找表;对待检测样品进行测试获取其光通量值,经预设 算法 换算成本身灰度值;综合ab以及ab区域外灰度值得到待检测物品图像,在安检机显示器上显示。使用本发明方法能够有效解决高速安检机 图像采集 中产生的伪影问题,提高图像清晰度,进而提高 图像识别 效率和准确率。,下面是一种去伪影方法专利的具体信息内容。
1.一种去伪影方法,用于包含侧照X射线源以及位于侧照X射线源对侧的L型探测器的安检机中图像,所述安检机至少包括,机架、设置于所述机架上的检测暗室、途径所述检测暗室用于输送待检物品的皮带、设置在所述检测暗室并位于所述皮带一侧的X射线源、设置在所述检测暗室并位于所述皮带另一侧的L型探测器、设置在所述检测暗室入口处用以控制所述X射线源的光电开关、显示器以及中央控制装置,其特征在于,方法包括以下步骤:
S1:安检机开机,设置安检机侧照X射线源位于皮带所在水平面以下,调整X射线源位置及照射角度至打开控制X射线源的光电开关时L型探测器所接收到的皮带伪影宽度ab最小;
S2:关闭控制X射线源的光电开关,采集皮带空载时探测器采集区域图像ab间的光通量本底值Ib(n),再打开控制X射线源的光电开关,采集皮带空载时探测器采集到的ab之间光通量的满度值I0(n),其中n表示探测器的第n个探测点;
S3:通过实验获取ab之间不同物质属性的灰度值查找表G(n,g),其中,g表示灰度值索引;
S4:使用上述安检机采集待检测物品图像,对ab之间的每个像素点进行以下运算:
a)消除本底暗电流
;
b)计算 /ab间各个像素点对应的灰度索引g
;
其中,x代表运动方向,n表示探测器的第n个探测点,B0表示灰度信号的位数;
S5:通过灰度索引值g,在灰度值查找表中查找出对应的去除皮带后的灰度值 ;
S6:综合S4所得待检测物品图像灰度值以及ab区域外灰度值得到待检测物品图像数据,在安检机显示器上显示图像。
2.根据权利要求1所述一种去伪影方法,其特征在于,所述物质属性包括有机物、混合物和无机物或其组合,其中,有机物阶梯测试体在ab之间形成的灰度值对应表Gorg(n,g),混合物阶梯测试体在ab之间形成的灰度值对应表Gmix(n,g),无机物阶梯测试体在ab之间形成的灰度值对应表Ginorg(n,g)。
3.根据权利要求1所述的一种去伪影方法,其特征在于,S6中还包括对综合所得灰度值数据进行处理的步骤。
4.根据权利要求1所述的一种去伪影方法,其特征在于,步骤S1可在安检机生产阶段进行设置。
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