专利汇可以提供一种八英寸硅单晶硅片切割方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 提供一种八英寸 硅 单晶 硅片 多线切割机及其切割方法,包括 导轨 丝杠 、 工作台 、 砂浆 喷嘴 、槽轮和接片槽;所述导轨丝杠设于工作台上,所述导轨丝杠与工作台间从上到下依次设有工作台 铁 垫和绝缘垫,所述工作台配有喷浆沙嘴,所述喷浆沙嘴下设有接片槽,所述接片槽的两侧设有槽轮,所述槽轮上部布有线网,所述工作台的下表面的中间 位置 设有一倒梯型内凹槽,用于夹持 工件 。本发明的有益效果是可以满足大直径硅片生产的需求,并使其具备更高的加工能 力 ,达到节约成本,提高效率的目的。,下面是一种八英寸硅单晶硅片切割方法专利的具体信息内容。
1.一种切割八英寸硅单晶硅片的方法,该方法采用多线切割机作为设备,该设备包括导轨丝杠、工作台、砂浆喷嘴、槽轮和接片槽;所述导轨丝杠设于工作台上,所述导轨丝杠与工作台间从上到下依次设有工作台铁垫和绝缘垫,所述工作台配有砂浆喷嘴,所述砂浆喷嘴下设有接片槽,所述接片槽的两侧设有槽轮,所述槽轮上布有线网,所述工作台的下表面的中间位置设有一倒梯型内凹槽,用于夹持工件;所述砂浆喷嘴由两根水平管和九根下砂管组成,第一水平管下表面与第一至五根所述下砂管的上端垂直相交,所述第一至五根下砂管的下端又与第二水平管的上表面相交,所述第二水平管长于第一水平管,所述第二水平管的下表面与第六至九根所述下砂管垂直相交,所述第六至九根下砂管平均分为两组,两组分别位于所述第二水平管的两端,两两下砂管间平行;其特征在于,该方法包括以下步骤:(1)硅单晶安放在所述工作台中,并与所述工作台的内凹槽夹紧;(2)调整供线侧线网张力和回收侧线网张力,在所述槽轮上绕上钢线形成所述线网;(3)向下移动硅单晶,使硅单晶接触到所述线网,设定切割起始位置,然后将硅单晶提升1mm;(4)在砂浆搅拌桶中放入按照质量比=1:0.95的碳化硅和聚乙二醇切削液混合液,设置所述砂浆喷嘴的砂浆流量;(5)设置切速与线网运转速度,预热30分钟后,切削液流经所述砂浆喷嘴的水平管及下砂管,从所述第六至九根下砂管管口喷至所述线网上,硅单晶下降,所述槽轮带动线网开始转动,开始切割;(6)切割完成后,确认切割位置是否完全切透,将工作台上升至原点,卸下硅单晶,进行去胶清洗。
2.根据权利要求1所述的切割八英寸硅单晶硅片的方法,其特征在于:所述槽轮直径为250±5mm。
3.根据权利要求1所述的切割八英寸硅单晶硅片的方法,其特征在于:所述接片槽深
230±5mm。
4.根据权利要求1所述的切割八英寸硅单晶硅片的方法,其特征在于:步骤(2)中的供线侧线网张力为26‐28N,回收侧线网张力为25‐26N。
5.根据权利要求1所述的切割八英寸硅单晶硅片的方法,其特征在于:步骤(4)中的砂浆流量设置为:40‐60L/min。
6.根据权利要求1所述的切割八英寸硅单晶硅片的方法,其特征在于:步骤(5)中的切速设置为0.3mm/min‐0.45mm/min;线网运转速度设置为600‐900m/min。
标题 | 发布/更新时间 | 阅读量 |
---|---|---|
一种全自动晶体硅太阳能电池质量测试机 | 2020-08-09 | 2 |
基于干涉仪测量的气磁结合气浮双工件台矢量圆弧回转换台方法及装置 | 2022-11-25 | 0 |
一种双工件台换台自转装置及其使用方法 | 2023-04-29 | 1 |
表面等离激元增强型InGaN/GaN多量子阱光电极及其制备方法 | 2020-05-29 | 1 |
一种基于变形镜产生可调艾里光束的系统 | 2020-10-17 | 1 |
一种用于切割GaAs基LED芯片的刀片的磨刀方法 | 2022-04-20 | 0 |
焊带定位装置 | 2021-09-09 | 0 |
一种阵列式多炉管PECVD设备 | 2020-06-05 | 1 |
一种硅片插片检测装置 | 2020-09-26 | 0 |
一种外延炉取片手装载监控系统 | 2020-05-20 | 0 |
高效检索全球专利专利汇是专利免费检索,专利查询,专利分析-国家发明专利查询检索分析平台,是提供专利分析,专利查询,专利检索等数据服务功能的知识产权数据服务商。
我们的产品包含105个国家的1.26亿组数据,免费查、免费专利分析。
专利汇分析报告产品可以对行业情报数据进行梳理分析,涉及维度包括行业专利基本状况分析、地域分析、技术分析、发明人分析、申请人分析、专利权人分析、失效分析、核心专利分析、法律分析、研发重点分析、企业专利处境分析、技术处境分析、专利寿命分析、企业定位分析、引证分析等超过60个分析角度,系统通过AI智能系统对图表进行解读,只需1分钟,一键生成行业专利分析报告。