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Method and device for generating random number

阅读:345发布:2021-11-22

专利汇可以提供Method and device for generating random number专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a random number generating device capable of improving performance as random numbers and enhancing security strength. SOLUTION: The appearing probability distribution of random numbers generated by a device dependent type random number generator is measured by a signal analyzing part 111. A sampling controlling part 112 decides sampling interval width for making the deviation of the measured appearing capability distribution almost uniform, and samples the random numbers with the decided sampling interval width, and corrects the output distribution of the random numbers. In the main method of correction, the sampling interval width is changed exponentially with the most frequent appearing point of the random numbers as a center.,下面是Method and device for generating random number专利的具体信息内容。

【特許請求の範囲】
  • 【請求項1】 乱数の出現確率分布に一様性が保証されない乱数発生器における前記乱数の出現頻度の補正方法であって、 前記乱数の出現確率の分布を実測した後、当該乱数の出現確率の分布偏差が均等に近づくサンプリング間隔幅を決定し、決定したサンプリング間隔幅で前記乱数をサンプリングして新たな乱数とすることを特徴とする、乱数発生方法。
  • 【請求項2】 前記実測した出現確率の分布間隔が前記サンプリング時の最小間隔幅よりも小さな等間隔幅であることを特徴とする、 請求項1記載の乱数発生方法。
  • 【請求項3】 乱数を発生する乱数発生手段と、 発生した乱数の出現確率分布を検出するとともに検出した出現確率分布の偏差が均等に近づくサンプリング間隔幅を決定し、決定したサンプリング間隔幅で前記乱数をサンプリングして前記乱数の出力分布を補正する補正手段とを有することを特徴とする、乱数発生装置。
  • 【請求項4】 前記乱数発生手段がデバイス型の乱数発生器であることを特徴とする、請求項3記載の乱数発生装置。
  • 【請求項5】 前記補正手段は、前記サンプリング間隔幅を、前記乱数の最多出現点を中心として指数関数的に変化させるように構成されていることを特徴とする、 請求項3又は4記載の乱数発生装置。
  • 说明书全文

    【発明の詳細な説明】

    【0001】

    【発明の属する技術分野】本発明は、統計的一様性が十分に保証されないデバイスを利用する乱数発生装置に係り、特に、乱数の出現頻度の補正技術に関する。

    【0002】

    【従来の技術】デバイス依存型の乱数発生器として、以下の2つのものが知られている。 (1)PETカード型乱数発生器 PET(polyethylene terephthalate)カードの裏面に磁性繊維をランダムに散乱させ、さらにその表面に磁気層をコーティング又はラミネートする。 磁石を利用した特殊ヘッドをカード裏面の磁性繊維上を走行させて、その特殊ヘッドからの信号を読み取る。 読み取った信号は、散乱した磁性繊維に依存するレベルをもつ信号と考えられるので、この信号をサンプリング(アナログ/デジタル変換)し、サンプリング結果を当該PETカードのユニークコードとして磁気層に書き込む。 このときのサンプリング結果を出乱数として用いる。 つまり、カード裏面の磁性繊維の散らばり方は、一枚一枚異なる点、その散らばり方が予測できない点、さらに、同じ繊維の散らばり方を再現することが困難である点から、このPETカードを、一種の乱数発生器と扱っている。

    【0003】(2)IC型乱数発生器 IC(integrated circuit)カード内の暗号・認証プロトコルで用いる乱数として、ICチップ内のあるデバイスの出力する自然乱数をサンプリングしたものを用いる。 この場合は、ICチップ内のデバイスを乱数発生器として扱っていることになる。

    【0004】

    【発明が解決しようとしている課題】従来のデバイス依存型の乱数発生器では、信号を一定間隔でサンプリングした結果を出力乱数として用いている。 このような出力乱数は、例えば電気信号等におけるノイズと同等に扱うことができるが、ノイズ等は、ガウス分布に従うこと、
    つまり、一定の偏りをもっていることがあるため、従来の乱数発生器では、理想的な乱数発生器の性能として要求される統計的一様性がなくなってしまい、乱数を予測される確率が高くなってしまう危険性があった。

    【0005】このことを図面を参照して説明する。 図8
    は、デバイスが出力する信号を一定の時間間隔で、「0
    000」から「1111」までの16種類に割り当ててサンプリングを行った場合の例を示したものである。 この例では、1回のサンプリングにより、4ビットの情報を取得し、これを4回サンプリングすることで、16ビットの情報(乱数)を出力する。 すなわち、最初の時点でのサンプリングでは「1010」をサンプリング結果として出力し、以後、「0110」、「0010」、
    「1100」を出力し、これを乱数として扱っている。

    【0006】しかし、このような手法では、サンプリングの際に、「0000」から「1111」までの各ビットパターンそれぞれの出現確率が異なっているため、結局は、ガウス分布に従うことになる。 同様の手法を繰り返して48ビットの乱数を発生させた場合の実測値を図9に示す。 図9において、横軸は出力される乱数、縦軸は出現頻度(回数)である。 本来、乱数発生器としての理想は、図10に示されるように(縦軸と横軸は図9と同じ)、乱数が一様に分布して出現することであるが、
    実際には、図8のような原理でサンプリングを行っているために、図9のようなガウス分布になってしまう。 この場合の情報エントロピーに基づく情報量を計算したところ、13.04ビットであり、乱数発生器として、セキュリティ性が要求される用途に利用される場合には、
    乱数発生器そのものが、セキュリティホールとなる危険性があった。

    【0007】そこで本発明は、デバイス依存型の乱数発生器から出力される乱数をサンプリングする際の情報量の低下を抑制することができる、改良された乱数発生方法を提供することを課題とする。 本発明の他の課題は、
    乱数としての性能を改善してセキュリティ強度を高めることができる乱数発生装置を提供することにある。

    【0008】

    【課題を解決するための手段】上記課題を解決する本発明の乱数発生方法は、乱数の出現確率分布に一様性が保証されない乱数発生器における前記乱数の出現頻度の補正方法であって、前記乱数の出現確率の分布を実測した後、当該乱数の出現確率の分布偏差が均等に近づくサンプリング間隔幅を決定し、決定したサンプリング間隔幅で前記乱数をサンプリングして新たな乱数とすることを特徴とする。 実測する際の出現確率の分布間隔は、後でサンプリングするときの最小間隔幅よりもできるだけ小さな等間隔幅とすることが好ましい。

    【0009】また、上記課題を解決する本発明の乱数発生装置は、自然乱数を発生する乱数発生手段と、発生した自然乱数の出現確率分布を検出するとともに検出した出現確率分布の偏差が均等に近づくサンプリング間隔幅を決定し、決定したサンプリング間隔幅で前記自然乱数をサンプリングして乱数を出力する出力手段とを有することを特徴とする。 前記乱数発生手段は、例えば自然乱数を発生させるデバイスである。 出力手段は、サンプリング間隔幅を、前記乱数の最多出現点を中心として指数関数的に変化させるものである。

    【0010】

    【発明の実施の形態】まず、本発明の乱数発生方法の実施の形態を説明する。 この方法は、以下の手順で乱数を発生させるものである。 (1)乱数発生器における乱数の出現確率分布を実測する。 デバイス依存型の乱数発生器における乱数の出現確率分布がガウス分布に従うことは前述のとおりである。
    本発明では、乱数発生器から出力される乱数をサンプリングしてその出現確率分布を実測し、ガウス分布曲線に近似することを確認した上で、出現度数の平均値μ及び標準偏差δを求める。 このときのサンプリング数nは、
    乱数としての情報量がRビットである場合、「n=k×
    R 」(但しk:10≦k≦100程度)が理想的であるが、
    実際には、実情に応じて種々のサンプリング数を決定することになる。

    【0011】ここでは、以下のようなケース例を設定する。 (1-1)nが実行可能程度の大きさである場合 この場合は、サンプリング数n=k×2 Rだけ乱数を取得し、平均値μ、標準偏差σを求め、出現確率分布を決定する。 (1-2)nが実行困難な程大きい場合 この場合は、以下の2パターンがある。 (1-2-1)rビットの乱数発生をh回繰り返すことで、
    R=r×hビットとなっている場合 この場合は、サンプリング数n=k×2 hだけ乱数を発生させ、平均値μ、標準偏差σを求めて出現確率分布を決定する。 (1-2-2)上記以外の場合 実行可能な程度のnを適当に設定して、平均値μ、標準偏差σを求め、ヒストグラムにより出現確率分布を決定する。

    【0012】(2)次に、補正すべきサンプリング(再サンプリング)の間隔幅を決定する。 ガウス分布曲線をf(μ、σ)、このガウス分布曲線f(μ、σ)を時刻t1〜t2まで積分することにより得られる値をF(t
    1,t2,f)、サンプリング間隔数をmとし、下記のような関数を定義する。

    【0013】

    【数1】 δ 0 =F(t(0),t(1),f(μ、σ))-F(-∞,t(0),f(μ、
    σ)) δ i =F(t(i+1),t(i+2),f(μ、σ))-F(t(i),t(i+
    1),f(μ、σ)) (但し、1≦i≦m-3) δ m-1 =F(t(m-2),∞,f(μ、σ))-F(t(m-1),t(m-
    2),f(μ、σ)) Z(m)=Σδ 2 i (但し、i=0,1,・・・,m-2)

    【0014】このZ(m)が最小となるt(i)を求めることで、最適なサンプリングの間隔幅を決定し、決定したサンプリング間隔幅で乱数を再サンプリングして新たな乱数とする。 これにより、乱数発生器における性能が改善される。

    【0015】以上の乱数発生方法の具体的な実施の仕方、例えば乱数発生器を搭載したIC型乱数発生装置における実施の形態例を説明する。 図1は、このIC型乱数発生装置のハードウエア構成図である。 すなわち、C
    PU11、ROM12、RAM13、EEPROM1
    4、改善したい乱数発生器15を搭載したICチップをカード媒体に埋め込んでIC型乱数発生装置を構成している。 ICチップには、図示しないI/O制御手段を介して外部装置(リーダライタ)が接続されるようになっている。 ROM12には、CPU11が読み込んで所定の機能を形成するためのプログラムコードが記録され、
    EEPROM14には、暗号鍵や所有者情報等のセキュリティ情報が記録されている。 RAM13は、CPU1
    1によるデータ処理の作業領域として使用されるメモリである。

    【0016】図2は、CPU11がROM12のプログラムコードを読み出して実行することにより形成される機能ブロック構成図である。 信号解析部111は、入力部101を介して入力された電気信号、すなわち乱数発生器15が自然乱数的に発生させた電気的信号をサンプリングしてその出現頻度を実測するものである。 このときのサンプリング間隔幅(つまり出現確率の分布間隔)
    は、後述する改善後のサンプリング時の最小間隔幅よりも十分小さな等間隔幅とする。 サンプリング制御部11
    2は、信号解析部111がサンプリングした電気的信号(乱数)を再サンプリングする際に、信号解析部111
    で実測した出現確率分布の偏差が均等に近づくサンプリング間隔幅を決定し、決定したサンプリング間隔幅で電気的信号をサンプリングするものである。 乱数出力部1
    13は、サンプリング制御部112でサンプリングした信号を乱数として出力部102から外部に出力するものである。

    【0017】次に、このIC型乱数発生装置の具体的な動作を説明する。 まず、乱数発生器15で、できるだけ小さい等間隔なサンプリング間隔で乱数を発生させ、大量のサンプリングデータ、すなわち乱数パターンを信号解析部111に入力させる。 信号解析部111は、各乱数パターンの度数表を作成する。 乱数発生器15からn
    ビットの乱数を発生させるためのサンプリングであれば、2n−1通りの乱数パターンがあり、それぞれについて出現確率をもっている。 これを、乱数パターンx{i}
    (0≦i≦2 n-1 −1)の出現確率p(i)と記述することにする。 つまり、Σp{i}=1(i=0〜2 n-1 −1)である。 このとき、iはそのままサンプリング間隔幅の境界線位置に相当すると考えることができる。

    【0018】サンプリング制御部112は、以下のようなアルゴリズムを実行することにより、最適なサンプリング間隔幅を決定し、乱数の出現頻度の改善を行う。

    【0019】

    【数2】 Input n ・・・ p{i}(0≦i≦2 n-1 −1 ・・・ begin P =2 n-1・・・ Q=1/P ・・・ for i=1 to P−1 r{i}=0 ・・・ Do whiler{i}<Q r{i}=r{i}+p{j} j =j+1 ifj>P−1 then・・・ print“caution” half end if Loop r{i}=j next i end Output:r{i}(0≦i≦2 n-1 −1 ・・・

    【0020】上記アルゴリズムにおいて、,はサンプリングビット数n、パターンiにおける出現確率p
    {i}の定義を表す。 例えば、4ビットの乱数であれば、
    全部で2 4 =16(=P)通りのパターンがあり、“0
    000”,“0001”〜“1110”,“1111”
    となる。 この場合の各パターンは、それぞれ1/16の確率で出現することが最も理想的である。 におけるP
    はnビットの全パターン数、におけるQは各パターンの理想的出現確率である。 はサンプリング間隔の境界線位置r{i}の初期値、は理想的な乱数発生を実現するためのサンプリング間隔幅の境界線位置である。 は、
    jが全パターン数Pを越えた場合は警告を出して実行を中断することを表す。 なお、この場合は、正常終了するまでサンプリングビット数を減らすようにする。 上記アルゴリズムの途中で実行中断した場合も同様である。

    【0021】乱数発生器15が出力する信号を「000
    0」から「1111」までの16種類に割り当ててサンプリングを行った場合の例を図3に示す。 この図は、従来手法の例を示した図8に対応するものである。

    【0022】(実例)次に、本実施形態のICカード型乱数発生装置において、実際に乱数の出現頻度を改善する場合の具体例を説明する。 ここでは、図4に示すように、乱数の平均値(図の横軸)μが0.0、標準偏差σ
    (図の縦軸)が2.00の正規分布に従う乱数を想定する。 このような分布の乱数を従来手法で200ビットサンプリングした場合のエントロピー情報量は、各ビットパターンの出現確率をpiとすると、-Σ(pi×log(pi))で表される。 従って、この場合の理想的情報量(log 2 (20
    0)ビット)は、7.664ビットになる。 これに対し、実際の情報量は6.369ビットであり、情報減衰率は16.68%となる。 なお、200ビットサンプリングを行うと、警告が出されて中断してしまう場合がある。 この場合は、サンプリングビット数を16ビットに減らしてlog
    2 (16)ビットのサンプリングを13回実行した後、
    これらのビット情報をマージしていくことになる。

    【0023】本発明のアルゴリズムでサンプリング間隔幅を改善した場合の結果は、図5に示す通りとなる。 この図5のサンプリング間隔幅を図示したのが図6である。 図6の曲線分布の中にある縦直線の位置が最適なサンプリングの境界位置である。 図示のように、サンプリング間隔幅が、乱数の最多出現点を中心として指数関数的に変化している。 このようにすることで、出現確率分布は、図7に示すように、ほぼ一様な分布となる。 図7
    の特性としては、理想情報量が4.000ビットであるのに対し、実際の情報量は3.997ビットとなり、情報減衰率は、0.0072%となる。 つまり、改善前は16.68%であった情報減衰率を0.0072%まで低減することができた。

    【0024】このように、本発明では、サンプリング間隔幅を乱数パターンの出現確率を均等に近づけるようにしたので、ガウス分布曲線に近似する特性を統計的一様の特性に改善させることができ、セキュリティ性を高めることができるようになる。

    【0025】なお、本実施形態では、IC型乱数発生装置の例を示したが、他の種類のデバイス依存型の乱数発生器を有する乱数発生装置にも同様に適用が可能である。

    【0026】

    【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明によれば、統計的一様性が十分に保証されないデバイスを利用する乱数発生装置の性能を向上させることができる。 これにより、電子商取引、暗号装置やICカードなどにおいて利用される暗号方式、通信プロトコルなどのセキュリティ性が要求される用途に本発明の乱数発生装置を使用する場合の安全性が増すという特有の効果を奏することができる。

    【図面の簡単な説明】

    【図1】本発明を適用したIC型乱数発生装置の構成図。

    【図2】本実施形態のIC型乱数発生装置の機能ブロック構成図。

    【図3】本実施形態によるサンプリングの原理説明図。

    【図4】デバイス依存型乱数発生器における一般的な出現確率分布を示したグラフ。

    【図5】本発明のアルゴリズムでサンプリング間隔幅を改善した場合の結果を示した図表。

    【図6】改善後のサンプリング間隔幅の状態を図示したグラフ。

    【図7】改善後の出現確率分布を示したグラフ。

    【図8】デバイス依存型乱数発生器における従来のサンプリングの原理説明図。

    【図9】従来手法による出現確率分布を示したグラフ。

    【図10】乱数発生器としての理想的な出現確率分布を示したグラフ

    【符号の説明】

    11 CPU 12 ROM 13 RAM 14 EEPROM 15 デバイス依存型の乱数発生器 101 入力部 102 出力部 111 信号解析部 112 サンプリング制御部 113 乱数出力部

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