一种目标物的系列X光像的坐标对应方法
专利汇可以提供一种目标物的系列X光像的坐标对应方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种目标物的系列X光像的坐标对应方法。该方法包括下列步骤：a.记录目标物的系列X光像，将每幅X光像中的各记录单元记录的X光强度求和，获得每幅X光总强度，得到A；b.将每幅X光像中的各记录单元的X光强度与对应的二维坐标相乘，并求和，得到B；c.C=B/A，得出每幅X光像的光强 重心 坐标；d.利用系列X光像中的每幅X光像的光强重心坐标相对应的属性，给出系列X光像中的每幅X光像的二维坐标对应关系。该方法能够实现不同观测方位的各幅X光像坐标精确对应，定量化分析不同时间段的各幅X光像坐标时间演化，坐标对应 精度 达到成像系统空间分辨 水 平，在 惯性约束聚变 、实验室天体物理或高 能量 密度 物理中具有广阔且重要应用前景。，下面是一种目标物的系列X光像的坐标对应方法专利的具体信息内容。
1.一种目标物的系列X光像的坐标对应方法，其特征在于，所述的方法包括以下步骤：
a.记录目标物的系列X光像，将每幅X光像中的各记录单元记录的X光强度求和，获得每幅X光总强度，得到A；
b.将每幅X光像中的各记录单元的X光强度与对应的二维坐标相乘，并求和，得到B；
c.C=B/A，得出每幅X光像的光强重心坐标；
d.利用系列X光像中的每幅X光像的光强重心坐标相对应的属性，给出系列X光像中的每幅X光像的二维坐标对应关系。
2.根据权利要求1所述的目标物的系列X光像的坐标对应方法，其特征在于，所述的X光像为由针孔、Kirkpatrick–Baez镜或弯晶成像器件中的一种所成的X光像。
3.根据权利要求1所述的目标物的系列X光像的坐标对应方法，其特征在于，所述的系列X光像包括针对同一个目标物在不同方位记录的X光像，或者在不同时间段记录的X光像。
4.根据权利要求1 3任一所述的目标物的系列X光像的坐标对应方法，其特征在于，所~
述的坐标对应方法应用于惯性约束聚变、实验室天体物理或高能量密度物理中的目标物X光像数据处理。
一种目标物的系列X光像的坐标对应方法
技术领域
背景技术
发明内容
b.将每幅X光像中的各记录单元的X光强度与对应的二维坐标相乘，并求和，得到B；
c.C=B/A，得出每幅X光像的光强重心坐标；
d.利用系列X光像中的每幅X光像的光强重心坐标相对应的属性，给出系列X光像中的每幅X光像的二维坐标对应关系。
具体实施方式
b.将每幅X光像中的各记录单元的X光强度与对应的二维坐标相乘，并求和，得到B；
c.C=B/A，得出每幅X光像的光强重心坐标；
d.利用系列X光像中的每幅X光像的光强重心坐标相对应的属性，给出系列X光像中的每幅X光像的二维坐标对应关系。
（2）
其中， 是 在 平面的投影与 轴的夹角， 是 与 平面的夹角， 是三维坐标的旋转矩阵
（3）
令目标物X光源光强重心坐标为 ，投影的每幅X光像的光强重心坐标为C
，依据重心的定义
（4）
T为目标物X光源强度 的体积分即三维目标物X光源总强度。则投影（观测）的每幅X光像的光强重心坐标C
（5）
其中， 为每幅X光像中的各记录单元的X光强度与对应的二维
坐标乘积的总和B， 为投影（观测）X光像光强 的面积分即投影（观测）的每幅X光总强度A。 与T之间的关系为
（6）
其中 为投影（观测）X光像对目标物X光源所占立体角，R是与r相关的常数。
其中S是矩阵K的第一行和第二行所构成的矩阵，即
（8）
因此，通过从各幅X光像中提取每幅X光总强度A即 ，而后提取每幅X光像中的各记录单元的X光强度与对应的二维坐标乘积的总和B，即可通过公式（5）得出每幅X光像的光强重心坐标C。根据公式（7）即利用系列X光像中的每幅X光像的光强重心坐标相对应的属性，给出系列X光像中的每幅X光像的二维坐标对应关系。这样得到的坐标对应精度由针孔成像系统的空间分辨决定，为10μm量级。
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