炉前检测设备及利用该设备检测IC类零件的方法
专利汇可以提供炉前检测设备及利用该设备检测IC类零件的方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 公开一种炉前检测设备及利用该设备检测IC类零件的方法，设备包括有 机架 、PCB接驳台、活动架、取像装置、 光源 装置以及驱动装置；该PCB接驳台设置于机架上，PCB接驳台输出端与焊 锡 炉的输入端连接，PCB接驳台上设置有 输送机 构；该活动架设置于机架上并位于PCB接驳台的上方；该取像装置设置于活动架上并位于PCB接驳台的上方；该光源装置设置于活动架上并位于取像装置之下方的侧旁。通过采用本发明设备和方法对PCB上的IC类零件进行炉前检测，在IC类零件 焊接 固定在PCB之前，能及早发现IC类零件 位置 是否有放错或者放偏，以便及时快速返修，避免材料浪费，从而大大减少了不必要的生产成本。，下面是炉前检测设备及利用该设备检测IC类零件的方法专利的具体信息内容。
1.一种炉前检测设备，其特征在于：包括有机架、PCB接驳台、活动架、取像装置、光源装置以及驱动装置；该PCB接驳台设置于机架上，PCB接驳台输出端与焊锡炉的输入端连接，PCB接驳台上设置有输送机构；该活动架设置于机架上并位于PCB接驳台的上方，活动架可沿输送机构之输送方向来回活动地设置；该取像装置设置于活动架上并位于PCB接驳台的上方；该光源装置设置于活动架上并位于取像装置之下方的侧旁；该驱动装置设置于机架上并带动活动架来回活动。
2.一种炉前检测设备，其特征在于：包括有机架、活动座、PCB接驳台、取像装置、光源装置以及驱动装置；该活动座可横向活动地设置于机架上，该PCB接驳台设置于活动座上随活动座横向活动，PCB接驳台输出端与焊锡炉的输入端连接，PCB接驳台上设置有输送机构；该取像装置固定于机架上并位于PCB接驳台的上方；该光源装置固定于机架上并位于取像装置之下方的侧旁；该驱动装置设置于机架上并带动活动座横向来回活动。
3.根据权利要求1所述的炉前检测设备，其特征在于：所述PCB接驳台包括有两导轨，每一导轨的内侧均安装有一前述输送机构，该输送机构为皮带式输送机构。
4.根据权利要求3所述的炉前检测设备，其特征在于：所述机架上具有一工作台，该PCB接驳台位于工作台上，工作台上设置有横向延伸的导柱和调节螺杆，该两导轨均纵向延伸并横向间隔排布，每一导轨均沿导柱横向来回活动地设置，调节螺杆与两导轨螺合连接并带动两导轨彼此靠近或远离，调节螺杆的外端连接有手轮或自动驱动机构。
5.根据权利要求1所述的炉前检测设备，其特征在于：所述机架上具有一支撑板，该支撑板位于PCB接驳台的正上方，前述驱动装置设置于支撑板上。
6.根据权利要求5所述的炉前检测设备，其特征在于：所述活动架包括有U形架体和主架体，该U形架体与驱动装置安装连接，U形架体的两端穿过支撑板向下延伸，该主架体可上下调整位置地与U形架体的两端安装连接，主架体悬于支撑板的下方，前述取像装置和光源装置均设置于主架体上。
7.根据权利要求1所述的炉前检测设备，其特征在于：所述取像装置包括有多个相机，该多个相机横向间隔排布并可调整位置地安装在活动架上。
8.根据权利要求1所述的炉前检测设备，其特征在于：所述光源装置为多个，其分布在取像装置之下方的两侧，每一光源装置均可调整位置及角度的安装在活动架上。
9.根据权利要求1所述的炉前检测设备，其特征在于：所述驱动装置包括有丝杠和电机；该丝杠可转动地安装在机架上并纵向延伸，该机架上设置滑轨，该活动架滑动安装在滑轨上，活动架与丝杠螺合连接，该电机固定在机架上并通过皮带带动丝杠来回转动。
10.一种利用如权利要求1-9任一项所述的炉前检测设备检测IC类零件的方法，其特征在于：包括有以下步骤：
(1)使用取像装置拍摄待测物品，调整硬件参数后，获得清晰影像的FOV之下，用指针设备圈选待测IC类零件的ROI，设ROI图像为：A，图像A的大小为：X*Y，图像A中任意一点像素坐标为：K(i，j)，其中i＝1，2，…，X；j＝1，2，…，Y；
(2)将图像A的像素坐标由K(0，0)开始，至K(X，Y)结束，取出每一个像素坐标内的像素值RGB(R：0-255；G：0-255；B：0-255)，并统计每个RGB的值计算成为一个直方图H；
于直方图H中，使用累积分布函数CDF计算后，获得一个分布概率函数：Function(H)，对图像A使用Function(H)做影像转换，获得一个新图像为：A’；
将图像A’使用二值化图像处理，针对设备摆放的工作环境、架设各式不同光源方式与待测物品的背景参数，调整出最适合的转换阀值T1，图像A’透过阀值T转换计算处理后得到新图像为：B；
其中：
(3)将图像B进行边缘运算处理，得到新图像为：B’；
其中：the Gaussian|filter(kernel of size＝5)，
B(x)：the horizontal direction；B(y)：the vertical
direction θ is four possible angles
(0，45，90，135)；
(4)将图像B’进行直线侦测运算处理，得到新图像为：C；
其中：for Hough Line Transforms，we express line equation in the Polar System as：
r＝x(ccoθ)+y(sinθ)；
(5)先设定一个用来填充背景的基础填充色彩RGB(R：0-255，G：0-255，B：0-255)，于图像C的内缘区域，指定任意坐标K(I，j)设定为填充色彩起始坐标，并将起始坐标内的像素值进行填充色彩转换运算处理；
色彩转换完成，再依据起始坐标点的上、下、左、右四个方向进行填充色彩转换运算，得到一个使用基础填充色彩，填满背景色的新图像为：C’；
(6)将图像C’进行影像型态运算处理，得到新图像为：D；
其中：D(i，j)＝min(i′，j′)：element(i′，j′)is not equal 0C′(i+i′，j+j′)；
(7)将图像D使用第二次二值化图像处理，调整最适合的转换阀值T2，获得新图像为：
D’；
其中：
(8)将图像D’使用第二次边缘运算处理，得到新图像为：E；
其中：
θ is four possible angles(0，45，90，135)；
(9)计算图像E的内缘所有像素面积总和，即得到待测IC类零件的最佳中心坐标K’(ic，jc)；
其中：零阶矩：m00＝∑I∑JV(i，j)；
一阶矩：m10＝∑I∑Ji*V(i，j)，m01＝∑I∑Jj*V(i，j)；
图像E重心坐标表示：K′(ic，jc)，
炉前检测设备及利用该设备检测IC类零件的方法
技术领域
背景技术
发明内容
direction θ is four possible angles
(0，45,90,135)
附图说明
具体实施方式
direction θ is four possible angles
(0，45，90，135)。
60设置于机架10上并带动活动座80横向来回活动。
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