技术领域
[0001] 本
发明涉及测试技术领域，特别涉及一种
锁相环路频率合成器自动校准电路，还涉及一种锁相环路频率合成器自动校准方法。
背景技术
[0002] 基于锁相环路的频率合成器设计具有
频率范围宽的特点，是目前主流的频率合成方案。在该类型的频率合成器设计方案中，需要使用压控
振荡器如(YTO/VCO)等来产生目标频率，压控振荡器的输出频率与控制
电压成正比。在设计中，往往需要对压控振荡器进行电压预置，将其输出
信号频率限定在目标频率范围内，然后再闭环，就可以实现环路锁定。由于压控振荡器的压控曲线会受到
温度、湿度等环境参数的影响，因此在恶劣环境条件下，压控振荡器的压控曲线会发生较大的偏移，会导致环路失锁，使系统不能正常工作。因此在恶劣条件下通常需要对预置电压重新进行校准，使环路正常锁定，保证系统正常工作。
[0003] 现有的解决方案是利用频率计、温湿度
传感器搭建校准系统来实现锁相环路频率合成器的预校准。如图1所示，校准系统包括由参考输入、鉴相器、低通
滤波器、压控振荡器、功分器、
分频器构成的锁相环路、CPU单元、频率计、温
湿度传感器等4部分。校准系统的基本原理是在实验室条件下，设定各种不同的温湿度环境条件，将锁相环路频率合成器置于该温湿度条件下进行校准，由CPU单元记录该温湿度条件下对应的校准值。当锁相环路频率合成器在恶劣环境下工作时，CPU单元读取温湿度传感器的值，调用该条件下的校准值，从而保证环路锁定。
[0004] 利用频率计、温湿度传感器搭建校准系统的工作流程如下：
[0005] (1)将系统置于环境试验箱，设置温度、湿度分别为W1、S1，开机预热30分钟后，进行校准操作。校准操作分以下三个步骤进行：
[0006] 步骤一：环路开环，CPU单元控制DAC设置值，使压控振荡器输出频率；
[0007] 步骤二：CPU单元程控频率计，通过频率计读取压控振荡器的输出频率，并与目标频率进行比较；如果压控振荡器
输出信号频率高于目标频率，则减小DAC设置值，从而降低压控振荡器的输出信号频率；如果压控振荡器输出信号频率低于目标频率，则增大DAC设置值，从而提高压控振荡器输出信号频率。通过调节DAC设置值D1使压控振荡器的输出信号频率F1最大程度的接近目标频率；
[0008] 步骤三：CPU单元记录该实验条件下的W1、S1、D1、F1，并将数据进行存储。
[0009] (2)在环境试验箱内设置不同的温湿度环境条件，并且在不同的温湿度条件下重复以上校准步骤，得到每种环境条件对应的校准数据(W2、S2、D2、F2)……(Wn、Sn、Dn、Fn)，CPU单元记录以上数据。
[0010] (3)在实际应用过程中，锁相环路频率合成器处于不用的温湿度条件下时，CPU单元读取实际环境的温湿度条件，然后按照就近原则，从存储的数据中调用最接近的一组校准数据，从而保证环路锁定。
[0011] 现有的锁相环路频率合成器校准方法的缺点是：
[0012] (1)需要利用频率计、温湿度传感器、环境试验箱等进行预置电压校准，校准的环境试验参数多、需要校准的频点多，操作步骤繁琐，耗费时间较长。
[0013] (2)需要频率计、温湿度传感器、环境试验箱等组件，成本较高。
[0014] (3)无法在实际应用过程中进行自校准，在遇到特殊条件时，无法保证锁相环路频率合成器正常工作。
发明内容
[0015] 为解决上述
现有技术中的不足，本发明提出一种锁相环路频率合成器自动校准电路及方法。
[0016] 本发明的技术方案是这样实现的：
[0017] 一种锁相环路频率合成器自动校准电路，包括：锁相环路、失锁判定电路、正负电压判定电路、CPU单元，其中，锁相环路包括参考输入、鉴相器、
低通滤波器、压控振荡器、分频器；
[0018] 鉴相器比较参考输入与通过分频器反馈回来信号的
相位，得到两者的相位误差电压，该相位误差电压经过低通滤波器滤除高频分量和杂波后，控制压控振荡器，从而使压控振荡器的输出频率最终锁定到参考输入频率上；在开环的条件下，CPU单元通过控制
数模转换器DAC的设置值来调节预置电压，将压控振荡器的输出频率调节到目标频率；鉴相器会根据输入参考信号以及来自分频器的信号频率的大小关系得到极性相反的两种误差电压；
[0019] 失锁判定电路根据低通滤波器输出的电压信号的大小判断环路是否失锁；
[0020] 正负电压判定电路是将低通滤波器的
输出电压进行判断，用于环路的自校准；
[0021] CPU单元接收来自正负电压判定电路、失锁判定电路的信号，并且通过控制DAC设置值来调节预置电压。
[0022] 可选地，所述失锁判定电路包括两个比较器，当且仅当低通滤波器输出的电压在比较电平VH、VL之间时，两个比较器的输出均为高，此时环路处于锁定状态；当低通滤波器的输出电压不在此范围内时，CPU单元接收两路比较器的输出电平，判定环路失锁。
[0023] 可选地，所述正负电压判定电路包括一个比例
放大器和一个电压比较器，将来自低通滤波器的相位误差电压首先利用比例放大器进行比例放大，放大后的电压与0V电压进行比较，如果来自低通滤波器的电压为正，则输出为正；如果来自低通滤波器的电压为负，则输出为负；CPU单元根据比较结果判断压控振荡器输出频率大于或小于参考输入频率，控制DAC设置值来调节预置电压，控制压控振荡器的输出频率。
[0024] 基于上述电路，本发明还提出了一种自动校准方法，包括以下步骤：
[0025] 第一步：系统加电并预热后开始工作，CPU单元接收来自失锁判定电路的指示信号，如果锁相环路锁定状态良好，那么自校准流程不启动；而一旦接收到表征环路失锁的指示信号，则启动自校准流程；
[0026] 第二步：将压控振荡器的整个频段分段为L1、L2……Ln，并选取每段的起始频率和终止频率为校准点；
[0027] 第三步：判断DAC设置值调节的方向，CPU单元选取L1为校准频段，选取L1的起始频率FL11为校准点，CPU单元读取来自正负电压判定电路的返回值；如果返回值为正，而且此时环路失锁，说明DAC设置值偏小，环路输出正电压仍然不能补偿环路偏移引起的频率正偏移，需要增大预置值；如果返回值为负，说明DAC设置值偏大，环路输出负电压仍然不能补偿环路偏移引起的频率负偏移，需要减小预置值；
[0028] 第四步：在确定原校准数据偏大或偏小后，在原校准数据的
基础上以最小步进调节DAC设置值，直到来自正负电压判定电路的信号极性发生翻转，则此时DAC的设置值dL11为最合适的值，CPU单元记录该设置值；按照同样的方法对L1的终止频率FL12进行校准，并记录校准值dL12；
[0029] 第五步：对每段的起始频率和终止频率进行第三步和第四步的校准流程，得到其校准的DAC设置值，并记录为(FL11、dL11)、(FL12、dL12)……(FLn1、dLn1)、(FLn2、dLn2)；然后对每一频段进行线性拟合，得到该频段的压控曲线F＝kLndLn+aLn，其中kLn＝(FLn2-FLn1)/(dLn2-dLn1)，aLn＝(FLn1dLn2-FLn2dLn1)/(dLn2-dLn1)，从而保证每一段内每个频点Fx都可以根据上述公式反推得到最佳的DAC设置值，即dx＝(Fx-aLn)/kLn；
[0030] 其中，kLn为频段Ln的压控灵敏度，aLn为频段Ln在DAC设置值为0时对应的振荡频率，即为频段Ln的固有振荡频率。
[0031] 本发明的有益效果是：
[0032] (1)不需要复杂的系统设计，通过电路本身的失锁判定单元、正负电压判定单元，就可以进行自校准，缩小了电路体积，降低了设计难度；
[0033] (2)不需要频率计、温湿度传感器、环境试验箱等组件，降低了成本；
[0034] (3)在各种复杂环境条件下，都可以通过自校准实现环路锁定。
附图说明
[0035] 为了更清楚地说明本发明
实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0036] 图1为现有技术中利用频率计搭建校准系统的原理
框图；
[0037] 图2为本发明的锁相环路频率合成器自动校准电路原理框图；
[0038] 图3为本发明的失锁判定电路原理图；
[0039] 图4为本发明的正负电压判定电路原理图。
具体实施方式
[0040] 下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0041] 锁相环是间接频率合成器采用的一种重要方案，它由参考输入、鉴相器、低通滤波器、压控振荡器、分频器等部分构成，其工作原理是利用相位的
负反馈产生误差信号来驱动压控振荡器输出频率跟随参考输入频率。压控振荡器是输出频率随控制电压发生变化的器件，在其线性区间内，输出频率与控制电压成正比。在锁相环路频率合成方案中，通常需要对压控振荡器进行预置，将其输出频率调整到目标频率附近，然后再通过闭环锁定，就可以将压控振荡器输出频率固定到参考频率上。现实中遇到的问题是，当温度、湿度等条件发生变化时，环路状态也会发生变化，尤其是压控振荡器(如YTO)的压控特性会发生变化，因此在使用锁相环路进行频率合成器设计时，人们希望能够实时的调整环路参数，以保证在恶劣环境条件下，频率合成器正常工作。
[0042] 为了解决在恶劣环境条件下锁相环路频率合成器正常锁定的难题，本发明设计了一种自动校准电路及方法，当环路失锁时，会通知系统进行自校准，通过检测环路误差电压的正负极性变化，将预置电压设定在最佳值，从而保证锁相环路频率合成器正常工作。
[0043] 下面结合
说明书附图对本发明的锁相环路频率合成器自动校准电路进行详细说明。
[0044] 如图2所示，本发明的锁相环路频率合成器自动校准电路包括：锁相环路、失锁判定电路、正负电压判定电路、CPU单元，其中，锁相环路包括参考输入、鉴相器、低通滤波器、压控振荡器、分频器。
[0045] 锁相环路的工作原理是：鉴相器比较参考输入与通过分频器反馈回来信号的相位，得到两者的相位误差电压，该相位误差电压经过低通滤波器滤除高频分量和杂波后，控制压控振荡器，从而使压控振荡器的输出频率最终锁定到参考输入频率上；在开环的条件下，CPU单元通过控制
数模转换器DAC的设置值来调节预置电压，将压控振荡器的输出频率调节到目标频率附近，这样可以大大减少环路的捕获时间，使环路最快锁定。鉴相器会根据输入参考信号以及来自分频器的信号频率的大小关系得到极性相反的两种误差电压，本发明正是基于这一点进行设计的。
[0046] 失锁判定单元是根据低通滤波器输出的电压信号的大小判断环路是否失锁，如图3所示，失锁判定单元主要由两个比较器构成，当且仅当低通滤波器输出的电压在比较电平VH、VL之间时，两个比较器的输出均为高，此时环路处于锁定状态；当低通滤波器的输出电压不在此范围内时，CPU单元接收两路比较器的输出电平，判定环路失锁。
[0047] 正负电压判定电路是将低通滤波器的输出电压进行判断，用于环路的自校准，如图4所示，正负电压判定电路主要由一个比例放大器A4、一个电压比较器A3构成，将来自低通滤波器的相位误差电压首先利用放大器A4进行比例放大，放大倍数由
电阻R1、R2确定。放大后的电压与0V电压进行比较，如果来自低通滤波器的电压为正，则输出为正；如果来自低通滤波器的电压为负，则输出为负。CPU单元会根据比较结果判断压控振荡器输出频率大于或小于参考输入频率，控制DAC设置值来调节预置电压，控制压控振荡器的输出频率。
[0048] CPU单元接收来自正负电压判定电路、失锁判定电路的信号，并且通过控制DAC设置值来调节预置电压，是整个系统的核心单元。
[0049] 本发明自动校准电路的工作步骤为：
[0050] 第一步：系统加电并预热后开始工作。CPU单元接收来自失锁判定电路的指示信号，如果锁相环路锁定状态良好，那么自校准系统不启动；而一旦接收到表征环路失锁的指示信号，则启动自校准流程。
[0051] 第二步：压控振荡器的频带通常较宽，压控特性曲线在全频段并非完全线性，将整个频段分段为L1、L2……Ln，并选取每段的起始频率和终止频率为校准点。
[0052] 第三步：判断DAC设置值调节的方向。CPU单元选取L1为校准频段，选取L1的起始频率FL11为校准点，CPU单元读取来自正负电压判定电路的返回值。如果返回值为正，而且此时环路失锁，说明DAC设置值偏小，环路输出正电压仍然不能补偿环路偏移引起的频率正偏移，需要增大预置值；如果返回值为负，说明DAC设置值偏大，环路输出负电压仍然不能补偿环路偏移引起的频率负偏移，需要减小预置值。
[0053] 第四步：在确定原校准数据偏大或偏小后，在原校准数据的基础上以最小步进调节DAC设置值，直到来自正负电压判定电路的信号极性发生翻转，则说明此时的DAC的设置值dL11即为最合适的值，CPU单元记录该设置值。按照同样的方法对L1的终止频率FL12进行校准，并记录校准值dL12。
[0054] 第五步：对每段的起始频率和终止频率进行第三步和第四步的校准流程，得到其校准的DAC设置值，并记录为(FL11、dL11)、(FL12、dL12)……(FLn1、dLn1)、(FLn2、dLn2)。然后对每一频段进行线性拟合，得到该频段的压控曲线F＝kLndLn+aLn，其中kLn＝(FLn2-FLn1)/(dLn2-dLn1)，aLn＝(FLn1dLn2-FLn2dLn1)/(dLn2-dLn1)，从而保证每一段内每个频点Fx都可以根据上述公式反推得到最佳的DAC设置值，即dx＝(Fx-aLn)/kLn。
[0055] 其中，kLn为频段Ln的压控灵敏度，aLn为频段Ln在DAC设置值为0时对应的振荡频率，即为频段Ln的固有振荡频率。
[0056] 基于上述自动校准电路，本发明还提出了一种自动校准方法，其工作原理与自动校准电路相同，这里不再赘述。
[0057] 相对于传统的锁相环路频率合成器校准方法，本发明的优点为：
[0058] (1)不需要复杂的系统设计，通过电路本身的失锁判定单元、正负电压判定单元，就可以进行自校准，缩小了电路体积，降低了设计难度；
[0059] (2)不需要频率计、温湿度传感器、环境试验箱等组件，降低了成本；
[0060] (3)在各种复杂环境条件下，都可以通过自校准实现环路锁定；而以前的预校准的方法仅能够对有限的环境条件进行模拟，一旦真实环境超出模拟的试验箱环境条件，校准数据就失效了。
[0061] 以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何
修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
