专利汇可以提供一种用于四极杆质谱仪的检测器校正方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 属于质谱仪技术领域,特别涉及一种用于四极杆质谱仪的检测器校正方法。该方法通过校正用元素或者待测元素得到校正系数,通过计算获得校正后的模拟计数强度,进而得出待测样品中各元素的校准曲线和含量。本发明运用三次曲线拟合法将检测器的脉冲计数和模拟计数进行交叉校正,使这两个计数范围标准化,提高了检测器的线性动态范围,提高了仪器的检测性能。,下面是一种用于四极杆质谱仪的检测器校正方法专利的具体信息内容。
1.一种用于四极杆质谱仪的双模式检测器校正方法,其特征在于:是通过校正用元素得到校正系数,该方法包括如下步骤:
A1、制备一系列浓度的标准溶液和待测样品;
A2、用四极杆质谱仪获得标准溶液中各待测元素的计数强度,所述计数强度包括各元素的原始脉冲计数强度和原始模拟计数强度;
A3、绘制标准溶液中各待测元素的原始脉冲计数强度—原始模拟计数强度的关系曲线图;
A4、确定各待测元素的原始脉冲计数强度和原始模拟计数强度都呈线性的公共区间,根据所述公共区间设置脉冲计数强度阈值X1和X2,以及模拟计数强度阈值Y1和Y2;其中,X1
A7、对所选各个校正用元素的质量数mi和PA校正系数ki进行三次曲线拟合,得到任意质量数mx的PA校正系数kx;
A8、用四极杆质谱仪获得待测样品中各待测元素的原始脉冲计数强度和原始模拟计数强度,按下列公式对原始模拟计数强度进行校正:
校正后的模拟计数强度=原始模拟计数强度×校正系数kx;
A9、在四极杆质谱仪软件系统中将校正后的模拟计数强度用于计算,得出待测样品中各元素的校准曲线和含量。
2.根据权利要求1所述的用于四极杆质谱仪的双模式检测器校正方法,其特征在于:所述四极杆质谱仪为电感耦合等离子体质谱仪ICP-MS、液质联用质谱仪LC-MS或气质联用质谱仪GC-MS。
3.根据权利要求1所述的用于四极杆质谱仪的双模式检测器校正方法,其特征在于:所述检测器采用的是脉冲模式和模拟模式的双模式电子倍增器。
4.根据权利要求1所述的用于四极杆质谱仪的双模式检测器校正方法,其特征在于:所述步骤A1中,所述标准溶液是用100μg/ml多元素标准溶液与18.25MΩ·cm高纯水和高纯硝酸溶液配制的0.5μg/L~200μg/L的标准溶液,所述多元素标准溶液中包含Al、As、B、Ba、Be、Bi、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Ga、Li、Mg、Mn、Ni、Pb、Sb、Sn、Sr、Ti、Tl、V和Zn。
5.根据权利要求1所述的用于四极杆质谱仪的双模式检测器校正方法,其特征在于:所述用于四极杆质谱仪的检测器校正方法集成于质谱仪的应用软件,质谱仪工作时自动完成检测器的校正。
6.一种用于四极杆质谱仪的双模式检测器校正方法,其特征在于:是通过待测元素得到校正系数,该方法包括如下步骤:
B1、制备一系列浓度的标准溶液和待测样品;
B2、用四极杆质谱仪获得标准溶液中各待测元素的原始脉冲计数强度和原始模拟计数强度;
B3、绘制标准溶液中各待测元素的原始脉冲计数强度—原始模拟计数强度的关系曲线图;
B4、确定各待测元素的原始脉冲计数强度和原始模拟计数强度都呈线性的公共区间,根据所述公共区间设置脉冲计数强度阈值X1和X2,以及模拟计数强度阈值Y1和Y2;其中,X1
B7、按如下公式对待测样品中各待测元素的原始模拟计数强度进行校正:
校正后的模拟计数强度=原始模拟计数强度×校正系数ki;
B8、在仪器软件系统中将校正后的模拟计数强度用于计算,得出待测样品中各元素的校准曲线和含量。
7.根据权利要求6所述的用于四极杆质谱仪的双模式检测器校正方法,其特征在于:所述四极杆质谱仪为电感耦合等离子体质谱仪ICP-MS、液质联用质谱仪LC-MS或气质联用质谱仪GC-MS。
8.根据权利要求6所述的用于四极杆质谱仪的双模式检测器校正方法,其特征在于:所述检测器采用的是脉冲模式和模拟模式的双模式电子倍增器。
9.根据权利要求6所述的用于四极杆质谱仪的双模式检测器校正方法,其特征在于:所述步骤B1中,标准溶液为与待测样品中所含元素一致的5~6组不同浓度梯度的溶液。
10.根据权利要求6所述的用于四极杆质谱仪的双模式检测器校正方法,其特征在于:
所述用于四极杆质谱仪的检测器校正方法集成于质谱仪的应用软件,质谱仪工作时自动完成检测器的校正。
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