1.一种用于测试探测器、光学器件的装置，包括测试电路，其特征在于：所述的测试电路包括控制器、时钟模块、时间位置测量模块、光源模块、光衰减模块、分光器模块、采样模块、高压控制模块、温度控制及采样模块和单光子APD夹具；
控制器，用于接收人机交换设备发出的指令并根据接收到的指令生成相应的控制指令，并将所述控制指令发送给对应模块，且能够接收所述对应模块传输来的信息并传输给所述人机交换设备；在控制器上设置有能够与人机交换设备相连接的端口以及多个与对应模块相连接的端口；
时钟模块，用于接收所述控制器发出的控制指令并根据所述控制指令生成同步时钟信号，将所述同步时钟信号发送给单光子探测器设备和时间位置测量模块；在时钟模块上设置有与单光子探测器设备和时间位置测量模块相连接的端口；
时间位置测量模块，用于接收所述单光子探测器设备发出的计数脉冲信号和接收所述时钟模块输出的所述同步时钟信号，将所述计数脉冲信号直接传输给所述控制器、或者根据所述计数脉冲信号和所述同步时钟信号进行时间位置测量并将所述时间位置测量的结果传输给所述控制器；在时间位置测量模块上设置有与单光子探测器设备相连接的端口；
光源模块，用于接收所述控制器发出的发光指令并生成窄脉冲激光发射至所述的光衰减模块；
光衰减模块，用于接收所述光源模块发出的窄脉冲激光和接收所述控制器发出的控制指令，并根据所述控制指令将接收到的所述窄脉冲激光衰减生成特定光强的衰减激光；
分光器模块，用于接收所述特定光强的衰减激光，并将单光子状态的衰减激光输出至所述单光子探测器设备、或者将非单光子状态的衰减激光作为测试光源输送给所述的单光子APD夹具；在分光器模块上设置有与所述单光子探测器设备相连接的端口和所述单光子APD夹具相连接的端口；
单光子APD夹具，用于放置待测设备；在单光子APD夹具上设置有能够分别与分光器模块、采样模块、高压控制模块、温度控制及采样模块相连接的端口；
采样模块，用于采样所述单光子APD夹具上的待测设备因加载光而产生的电流信号，并将所述的电流信号变换为数字信号传递给所述控制器；
高压控制模块，用于接收所述控制器发出的指令并根据所述指令向所述单光子APD夹具上的待测设备加载反向偏置电压；
温度控制及采样模块，用于根据所述控制器发出的指令去控制单光子APD夹具上的待测设备的温度、用于对单光子APD夹具上的待测设备的实时温度进行采样并传递给所述控制器；
上述控制器、时钟模块、时间位置测量模块、光源模块、光衰减模块、分光器模块、采样模块、高压控制模块、温度控制及采样模块和单光子APD夹具构成的测试电路能够进行单光子探测器设备的性能测试、单光子探测器设备中的单光子APD管的响应度测试以及光学器件APD管和PIN管的性能测试。
2.根据权利要求1所述的用于测试探测器、光学器件的装置，其特征在于：所述的时钟模块包括：
输出比较器，用于将控制器输出的控制指令转化为标准的电平信号，并将所述电平信号输出给时钟驱动器；
时钟驱动器，用于接收所述输出比较器输出的所述电平信号，并根据所述电平信号生成时钟信号，将所述时钟信号输出至所述单光子探测器设备和所述时间位置测量模块。
3.根据权利要求1或2所述的用于测试探测器、光学器件的装置，其特征在于：所述的时间位置测量模块包括：
输入比较器，用于接收所述单光子探测器设备发出的计数脉冲信号并转化为标准的电平信号，并将所述电平信号输出给1:2时钟驱动器；
1:2时钟驱动器，用于接收所述输入比较器输出的所述电平信号，并生成时钟信号输出给时间位置测量单元和所述控制器；
时间位置测量单元，用于接收所述1:2时钟驱动器输出的所述时钟信号和所述时钟模块输出的所述同步时钟信号，根据所述时钟信号和所述同步时钟信号进行时间位置测量并将所述时间位置测量的结果传输给所述控制器。
4.根据权利要求1所述的用于测试探测器、光学器件的装置，其特征在于：所述光源模块包括窄脉冲调节电路、DFB激光器；
窄脉冲调节电路，用于接收所述控制器输出的驱动信号，并生成百ps量级的窄脉冲电流；
DFB激光器，用于接收所述百ps量级的窄脉冲电流并出射窄脉冲激光，在DFB激光器的出射端设有能够与光衰减模块相连接的端口。
5.根据权利要求1或4所述的用于测试探测器、光学器件的装置，其特征在于：所述的光衰减模块包括：
VOA衰减电路，用于接收所述控制器的控制指令，并根据所述的控制指令生成VOA衰减控制指令；
VOA，用于接收所述光源模块输出的所述窄脉冲激光以及接收所述的VOA衰减控制指令，生成具有特定光强的衰减激光；在VOA上设有能够与分光器模块相连接的输出端口。
6.根据权利要求1所述的用于测试探测器、光学器件的装置，其特征在于：所述的分光器模块包括：
分光器，用于接收光衰减模块输出的衰减激光，并根据衰减激光的特性分别输送给单光子探测器设备、单光子APD夹具上的待测设备以及能够直接与人机交换设备相连的功率计。
7.根据权利要求1所述的用于测试探测器、光学器件的装置，其特征在于：所述的采样模块包括：
I/V转换电路，用于接收单光子APD夹具上的待测设备因加载光产生的电流信号，并生成模拟电压信号；
ADC采样电路，用于接收所述I/V转换电路输出的所述模拟电压信号，并生成数字电压信号输出给所述控制器。
8.根据权利要求1所述的用于测试探测器、光学器件的装置，其特征在于：所述的高压控制模块包括：
DAC电路，用于接收所述控制器发出的控制指令并将该指令转化为模拟信号输出；
高压控制电路，用于接收所述DAC电路输出的模拟信号，并根据所述模拟信号向单光子APD夹具上的单光子APD管加载反向偏置电压。
9.一种采用如权利要求1-8任一所述的用于测试探测器、光学器件的装置的测试方法，其特征在于：该测试方法用于测试单光子探测器设备时的步骤为：
A1、将测试电路的控制器通过串口与人机交换设备连接且人机交换设备通过电缆直接与单光子探测器设备的控制接口相连接，测试电路中的时钟驱动器、输入比较器、分光器分别与单光子探测器设备的相应端口连接，人机交换设备通过控制接口直接给单光子探测器设备发送启动信号，单光子探测器设备接收到启动信号后启动参数标定；
A2、人机交换设备将步骤（A1）中通过参数标定得到的门控信号、温度参数、偏置电压值、延时值、有效门宽下发给单光子探测器设备，并通过控制器控制光源模块不发光，单光子探测器设备输出计数脉冲经过输入比较器以及1:2时钟驱动器后传输给时间位置测量单元，时间位置测量单元统计单位时间内的计数值为C1并传递给控制器；
A3、人机交换设备通过控制器控制光源模块发光给VOA且控制器通过VOA衰减电路控制VOA输出的光强，将该光强的光经过分光器后输出单光子强度的光给单光子探测器设备，单光子探测器设备输出计数脉冲经过输入比较器以及1:2时钟驱动器后输入时间位置测量单元，时间位置测量单元统计单位时间内的计数值为C2且C2中计数最大值即为C3并传递给控制器；
A4、测试电路将计数值C1、C2发送给人机交换设备，在人机交换设备中计算出单光子探测器设备的探测效率、暗计数概率、后脉冲概率，探测效率 ，其中 为死时间；暗计数概率 ，其中 为发光频率；后脉冲概率 。
10.根据权利要求9所述的用于测试探测器、光学器件的装置的测试方法，其特征在于：
所述步骤（A1）中的参数标定详细步骤如下：
A11、人机交换设备只控制单光子探测器设备，步骤如下：
A111、单光子探测器设备接收时钟驱动器发送的同步时钟信号并进行倍频，得到门控信号；
A112、人机交换设备下发温度参数给单光子探测器设备，单光子探测器设备内部的主控电路控制制冷设备对单光子APD管进行制冷；
A12、人机交换设备控制单光子探测器设备以及测试电路，步骤如下：
A121、人机交换设备下发APD偏压参数给单光子探测器设备，单光子探测器设备输出计数脉冲经过输入比较器以及1:2时钟驱动器后传输给控制器，控制器进行计数统计并将计数值发送给人机交换设备，不断改变单光子APD管的偏压参数，直至计数值达到阈值结束，达到阈值时对应的电压即为偏置电压，得到偏置电压值；
A122、控制器控制光源模块发光给VOA且控制器通过VOA衰减电路控制VOA输出的光强，将该光强的光经过分光器后输出单光子强度的光给单光子探测器设备，单光子探测器设备输出计数脉冲经过输入比较器以及1:2时钟驱动器后输入时间位置测量单元，人机交换设备通过控制器控制时间位置测量单元的延时位置，每调整一个延时位置，就对该延时位置的计数进行统计，将各延时位置对应的计数值发送给人机交换设备，找到最大计数值的延时位置，该延时位置对应的延时值即为寻找的延时值，根据统计的各延时位置的计数得到有效门宽。
11.根据权利要求9或10所述的用于测试探测器、光学器件的装置的测试方法，其特征在于：单光子探测器设备在进行测试前，需要对单光子探测器设备中的单光子APD管进行响应度测试，保存相应的参数，然后将该单光子APD管放入单光子探测器设备中进行测试；且当单光子APD管的探测效率降低后，需要将单光子APD管从单光子探测器设备中取下放入单光子APD夹具中，再次进行响应度测试，以获知单光子APD管耦合效率是否发生变化。
12.根据权利要求11所述的用于测试探测器、光学器件的装置的测试方法，其特征在于：单光子探测器设备中的单光子APD管进行响应度测试时的步骤为：
B1、将测试电路的控制器通过串口与人机交换设备连接，并将单光子APD管从单光子探测器设备中取出安装在单光子APD夹具中；
B2、人机交换设备通过控制器下发单光子APD管控制的温度值、反向偏置电压值；
B3、人机交换设备通过控制器向光源模块下发发光指令、向VOA衰减电路下发VOA衰减控制指令，光源模块通过VOA、分光器向单光子APD夹具上的单光子APD管发光；
B4、输出的光强加载在待测的单光子APD管上后产生一个电流值，该电流值通过I/V转换电路转换后获得一个电压值，ADC采样电路采样该电压值输出给控制器，控制器根据采样的电压值和输出的光强值，获得单光子APD管的响应度并在人机交换设备中显示；
B5、记录并保存单光子APD管的测试条件与测试结论，完成单光子APD管的响应度测试。
13.一种采用如权利要求1-8任一所述的用于测试探测器、光学器件的装置的测试方法，其特征在于：该测试方法对APD管进行测试时，其中APD管响应度测试的过程如下：
C1、将测试电路与人机交换设备之间通过串口或者网口连接，将APD管放置在单光子APD夹具上，人机交换设备通过控制器向光源模块下发发光指令、向VOA衰减电路下发VOA衰减控制指令，以向单光子APD夹具上的APD管输送加载一个固定的光强；调节DAC电路控制高压控制电路输出一个固定的反向偏置电压；
C2、通过温度控制及采样电路调节单光子APD夹具上的APD管的温度为定值，把光强加载在APD管上后产生一个电流值，经过I/V转换电路转换后获得一个电压值，该电压值由ADC采样电路采样后输出给控制器；控制器根据电压值和发光的光强值，获得APD管的响应度，完成APD管的响应度测试；
或者，APD管的温度-响应度曲线测试过程如下：
C3、将测试电路与人机交换设备之间通过串口或者网口连接，将APD管放置在单光子APD夹具上，人机交换设备通过控制器向光源模块下发发光指令、向VOA衰减电路下发VOA衰减控制指令，以向单光子APD夹具上的APD管输送加载一个固定的光强；调节DAC电路控制高压控制电路输出一个固定的反向偏置电压；
C4、通过温度控制及采样电路控制加载在APD管上的温度为 ，通过温度控制及采样电路进行温度采样得到其温度值 ；
C5、把步骤（C3）中的光强加载在APD管上后产生一个电流值，经过I/V转换电路转换后获得一个电压值，该电压值由ADC采样电路采样后输出给控制器；
C6、控制器根据采样的电压值和发光的光强值，获得APD管的响应度 ；
C7、通过温度控制及采样电路控制加载在APD管上的温度为 ，通过温度控制及采样电路进行温度采样得到其温度值 ，重复步骤（c5）以及步骤（c6），获得APD管的响应度 ，以此类推，每改变一次温度测量一个APD管的响应度值，得到不同温度下的APD管的响应度，完成APD管的温度-响应度曲线测试；
或者，APD管的反向偏置电压-响应度曲线测试过程如下：
C8、将测试电路与人机交换设备之间通过串口或者网口连接，将APD管放置在单光子APD夹具上，人机交换设备通过控制器向光源模块下发发光指令、向VOA衰减电路下发VOA衰减控制指令，以向单光子APD夹具上的APD管输送加载一个固定的光强；通过温度控制及采样电路调节单光子APD夹具上的APD管的温度控制为定值；
C9、通过调节DAC电路控制高压控制电路加载在APD管上的反向偏置电压为 ；
C10、把步骤（C8）中的光强加载在APD管上后产生一个电流值，经过I/V转换电路转换后获得一个电压值，该电压值由ADC采样电路采样后输出给控制器；
C11、控制器根据采样的电压值和发光的光强值，获得APD管的响应度 ；
C12、通过调节DAC电路控制高压控制电路加载在APD管上的反向偏置电压为 ，重复步骤（C10）以及步骤（C11），获得APD管的响应度 ，以此类推，每改变一次反向偏置电压测量一个APD管的响应度值，得到不同反向偏置电压下的APD管的响应度，完成APD管的反向偏置电压-响应度曲线测试；
或者，APD管的光强-响应度曲线测试过程如下：
C13、将测试电路与人机交换设备之间通过串口或者网口连接，将APD管放置在单光子APD夹具上，人机交换设备通过温度控制及采样电路调节单光子APD夹具上的APD管的温度值为定值，以及调节DAC电路控制高压控制电路输出一个固定的反向偏置电压；
C14、通过控制器向光源模块下发发光指令、向VOA衰减电路下发VOA衰减控制指令，调节VOA输出的光强为 ，把该光强加载在APD管上后产生一个电流值，经过I/V转换电路转换后获得一个电压值，该电压值由ADC采样电路采样后输出给控制器，控制器根据采样的电压值和发光的光强值，获得APD管的响应度 ；
C15、通过控制器向光源模块下发发光指令、向VOA衰减电路下发VOA衰减控制指令，调节VOA输出的光强为 ，把该光强加载在APD管上后产生一个电流值，经过I/V转换电路转换后获得一个电压值，该电压值由ADC采样电路采样后输出给控制器，控制器根据采样的电压值和发光的光强值，获得APD管的响应度 ，以此类推，每改变一次光强值测量一个APD管的响应度值，得到不同光强值下的APD管的响应度，完成APD管的光强-响应度曲线测试。
14.一种采用如权利要求1-8任一所述的用于测试探测器、光学器件的装置的测试方法，其特征在于：该测试方法对PIN管进行测试时，其中的PIN管响应度测试时的步骤为：
D1、将测试电路与人机交换设备之间通过串口或者网口连接，将PIN管放置在单光子APD夹具上；
D2、人机交换设备通过控制器向光源模块下发发光指令、向VOA衰减电路下发VOA衰减控制指令，向单光子APD夹具上的PIN管输送加载一个固定的光强；通过温度控制及采样电路调节单光子APD夹具上的PIN管的温度并通过温度控制及采样电路进行温度采样，将PIN管的温度控制为定值，把光强加载在PIN管上后产生一个电流值，经过I/V转换电路转换后获得一个电压值，该电压值由ADC采样电路采样后输出给控制器，控制器根据采样的电压值和发光的光强值，获得PIN管的响应度，完成出厂响应度的测试；
或者，PIN管的温度-响应度曲线测试过程如下：
D3、将测试电路与人机交换设备之间通过串口或者网口连接，将PIN管放置在单光子APD夹具上，人机交换设备通过控制器向光源模块下发发光指令、向VOA衰减电路下发VOA衰减控制指令，向单光子APD夹具上的PIN管输送加载一个固定的光强；
D4、通过温度控制及采样电路改变控制加载在PIN管上的温度为 ，通过温度控制及采样电路进行温度采样得到其温度值 ；
D5、把步骤(D3)中输送的光强加载在PIN管上后产生一个电流值，经过I/V转换电路转换后获得一个电压值，该电压值由ADC采样电路采样后输出给控制器；
D6、控制器根据采样的电压值和发光的光强值，获得PIN管的响应度 ；
D7、通过温度控制及采样电路改变控制加载在PIN管上的温度为 ，通过温度控制及采样电路进行温度采样得到其温度值 ，重复步骤（D5）以及步骤（D6），获得PIN管的响应度，以此类推，每改变一次温度测量一个PIN管的响应度值，得到不同温度下的PIN管的响应度，完成PIN管的温度-响应度曲线测试；
或者，PIN管的光强-响应度曲线测试过程如下：
D8、将测试电路与人机交换设备之间通过串口或者网口连接，将PIN管放置在单光子APD夹具上，人机交换设备通过温度控制及采样电路将PIN管的温度控制为定值；
D9、人机交换设备通过控制器向光源模块下发发光指令、向VOA衰减电路下发VOA衰减控制指令，调节VOA输出的光强为 ,将该光强加载在PIN管上后产生一个电流值，经过I/V转换电路转换后获得一个电压值，该电压值由ADC采样电路采样后输出给控制器，控制器根据采样的电压值和发光的光强值，获得PIN管的响应度 ；
D10、人机交换设备通过控制器向光源模块下发发光指令、向VOA衰减电路下发VOA衰减控制指令，调节VOA输出的光强为 ,将该光强加载在PIN管上后产生一个电流值，经过I/V转换电路转换后获得一个电压值，该电压值由ADC采样电路采样后输出给控制器，控制器根据采样的电压值和发光的光强值，获得PIN管的响应度 ，以此类推，每改变一次光强测量一个APD管的响应度值，得到不同光强下的PIN管的响应度，完成PIN管的光强-响应度曲线测试。