一种利用锆石铀铅与裂变径迹双定年进行物源分析的方法
专利汇可以提供一种利用锆石铀铅与裂变径迹双定年进行物源分析的方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种利用锆石 铀 铅与裂变径迹双定年进行物源分析的方法，该方法包含：(1)将 砂岩 碎屑进行 磁选 ，获得非 磁性 矿物；(2)通过重质液体分离技术从非磁性矿物中组分中分离出锆石，并进行表面 抛光 ；(3)观察锆石颗粒的生长环带特征，以检查均匀成分及其岩浆生长模式；(6)采用多重蚀刻技术在锆石颗粒样品上蚀刻；(7)将 云 母作为外部探测器附在经过蚀刻的锆石颗粒样品上，辐照，进行诱发裂变径迹；(8)在高倍数 显微镜 下，分析锆石颗粒和标样颗粒的裂变径迹数量，将径迹年龄分布分解为主要年龄峰；(9)锆石U-Pb年龄测定。本发明的方法能够区分各物源不同时代形成的锆石，分辨不同物源各个时代隆升的锆石，更加精确可信。，下面是一种利用锆石铀铅与裂变径迹双定年进行物源分析的方法专利的具体信息内容。
1.一种利用锆石铀铅与裂变径迹双定年进行物源分析的方法，其特征在于，该方法包含：
(1)将直径为63～400μm的砂岩碎屑进行磁选，获得非磁性矿物；
(2)通过重质液体分离技术从非磁性矿物中组分中分离出锆石，并进行表面抛光；
(3)将锆石颗粒通过带阴极探头的扫描电镜进行阴极发光成像检查，观察锆石颗粒的生长环带特征，以检查均匀成分及其岩浆生长模式；
(6)采用多重蚀刻技术在锆石颗粒样品上蚀刻；
(7)将云母作为外部探测器附在经过蚀刻的锆石颗粒样品上，使用中子流进行辐照，进行诱发裂变径迹，直到产生诱发径迹；
(8)在高倍数显微镜下，分析锆石颗粒和标准样品的裂变径迹数量，使用Binomfit程序将径迹数量换算成径迹年龄，并将径迹年龄分布分解为主要年龄峰；
(9)采用准分子激光结合高分辨扇形磁场质谱仪，在点模式下对锆石颗粒进行激光剥蚀铀铅定年，通过每测试若干锆石颗粒测量1个外部标样的方法进行测试；其中，以GJ-1标样作为年代测定的主要参考标准，以Si元素作为内部标样，用Nist610标样计算微量元素组成，计算锆石同位素比率、年龄和元素浓度，通过谐和图和锆石铀铅年龄分布图进行物源分析。
2.根据权利要求1所述的利用锆石铀铅与裂变径迹双定年进行物源分析的方法，其特征在于，在步骤(1)中，在0.6A低电流下，将磁性矿物与非磁性矿物分离。
3.根据权利要求1所述的利用锆石铀铅与裂变径迹双定年进行物源分析的方法，其特征在于，在步骤(2)中，所述重质液体分离技术为，将碘甲烷灌满锥形漏斗的2/3，把非磁性矿物倒入漏斗中，充分搅拌后放置，再将底部的重矿物组分移出漏斗，干燥后在显微镜下进行锆石挑选。
4.根据权利要求1所述的利用锆石铀铅与裂变径迹双定年进行物源分析的方法，其特征在于，在步骤(6)中，所述采用多重蚀刻技术为，在NaOH和KOH共晶熔体中，在锆石颗粒样品上蚀刻。
5.根据权利要求4所述的利用锆石铀铅与裂变径迹双定年进行物源分析的方法，其特征在于，所述共晶熔体温度为228℃；所述蚀刻时间为14～21h。
6.根据权利要求1所述的利用锆石铀铅与裂变径迹双定年进行物源分析的方法，其特征在于，在步骤(7)中，所述中子流的密度为1x1015n·cm-2。
7.根据权利要求1所述的利用锆石铀铅与裂变径迹双定年进行物源分析的方法，其特征在于，在步骤(7)中，所述外部探测器诱发裂变径迹的条件为：21℃的40％氟化氢中蚀刻
45min。
8.根据权利要求1所述的利用锆石铀铅与裂变径迹双定年进行物源分析的方法，其特征在于，在步骤(8)中，利用Fish Canyon凝灰岩作为Zeta校准的标准。
9.根据权利要求1所述的利用锆石铀铅与裂变径迹双定年进行物源分析的方法，其特征在于，所述外部标样包含：Ausz7-5、Plesovice、Temora2、91500和Nist610中任意一种。
10.根据权利要求1所述的利用锆石铀铅与裂变径迹双定年进行物源分析的方法，其特征在于，所述锆石同位素比率、年龄和元素浓度通过IOLITE 2.5软件计算；计算得到的锆石同位素比率和年龄通过ISOPLOT 4.0软件处理，获得谐和图和锆石铀铅年龄分布图。
一种利用锆石铀铅与裂变径迹双定年进行物源分析的方法
技术领域
背景技术
发明内容
具体实施方式
3.32g/cm)灌满锥形漏斗的2/3，把非磁性矿物倒入漏斗中，充分搅拌后放置数分钟，再将底部的重矿物组分移出漏斗，冲洗风干后在显微镜下进行锆石挑选；
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